半導(dǎo)體物理與器件基礎(chǔ)-第4章_第1頁
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文檔簡介

雷天民西Ⅱ-206leitianmin@163.com半導(dǎo)體物理與器件基礎(chǔ)2023/2/61雷天民第四章半導(dǎo)體的導(dǎo)電性載流子的漂移運動載流子的散射遷移率與雜質(zhì)濃度和溫度的關(guān)系電阻率及其與雜質(zhì)濃度和溫度的關(guān)系玻耳茲曼方程電導(dǎo)率的統(tǒng)計理論強(qiáng)電場下的效應(yīng)熱載流子多能谷散射耿氏效應(yīng)本章主要討論載流子在外加電場作用下的漂移運動,討論半導(dǎo)體的遷移率、電導(dǎo)率、電阻率等隨溫度和雜質(zhì)濃度的變化規(guī)律以及熱載流子的概念。2023/2/62雷天民§4.1載流子的漂移運動對于載流子均勻分布的半導(dǎo)體材料,在無外加電場作用時,載流子的運動并不引起宏觀遷移,不會產(chǎn)失電流。如果在半導(dǎo)體的兩端加上一定的電壓,使載流子沿電場方向的速度分量比其它方向大,將會引起裁流子的宏觀遷移,從而形成電流。由電場作用而產(chǎn)生的、沿電場力方向的運動為漂移運動;由于載流子的漂移運動所引起的電流稱為漂移電流。一、歐姆定律的微分形式dVdxσIρ2023/2/63雷天民說明:半導(dǎo)體中某點的電流密度正比于該點的電場強(qiáng)度。二、漂移速度和遷移率在外電場作用下,半導(dǎo)體中的電子獲得一個和外場反向的速度,用vdn

表示,空穴則獲得與電場同向的速度,用vdp

表示。分別為電子和空穴的平均漂移速度。

在dt

時間內(nèi)通過ds的電荷量就是A、B面間小柱體內(nèi)的電子電荷量,即其中n是電子濃度,q是電子電量。2023/2/64雷天民所以電子漂移電流密度為同理,空穴的漂移電流密度為根據(jù)電流密度的定義對n型半導(dǎo)體,n>>p,空穴漂移電流可以忽略;對p型半導(dǎo)體,n>>p,電子漂移電流可以忽略;只有在本征或近本征情況下,才需同時考慮電子和空穴電流,即2023/2/65雷天民

在電場不太強(qiáng)時,漂移電流遵從歐姆定律,對n型半導(dǎo)體,由由于電子濃度n不隨電場變化,則載流子的平均漂移速度與電場強(qiáng)度成正比,通常用μ表示其比例系數(shù),即μn和μp分別稱為電子和空穴遷移率,它表示在單位電場下電子和空穴的平均漂移速度。遷移率是半導(dǎo)體材料的重要參數(shù),它反映了電子或空穴在外電場作用下作漂移運動的難易程度。2023/2/66雷天民三、半導(dǎo)體的電導(dǎo)率電導(dǎo)率σ表示半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電能力。對n型半導(dǎo)體對p型半導(dǎo)體對混合型半導(dǎo)體2023/2/67雷天民§4.2載流子的散射在理想晶體的周期勢場中運動的電子,共速度為在無外場作用時,它們的運動速度保持不變。這樣,在晶體一旦產(chǎn)生電流,就不需要有外電場維持。顯然,實際晶體的導(dǎo)電現(xiàn)象井非如此。當(dāng)去掉外場后,電流很快就消失。若有電場加在半導(dǎo)體上,則使載流子作加速運動,但其漂移速度不會無限增大,而表現(xiàn)為一個確定的平均值。上述事實說明:半導(dǎo)體中載流子的運動受到一種阻力,它直接影響著遷移率的大小。2023/2/68雷天民實際晶體中存在著各種因素,例如雜質(zhì)、晶格缺陷、晶格熱振動以及實際晶體有限尺寸帶來的界面等,它們都破壞了晶格場的嚴(yán)格周期性,產(chǎn)生了一個附加勢場附加勢場的存在可以直接影響晶體中電子的運動!當(dāng)載流子運動到附加勢場附近時,會受到附加力F

的作用。一、遷移率和平均自由時間這會使電子波矢

k

發(fā)生改變,即產(chǎn)生散射。2023/2/69雷天民載流子在兩次散射之間的時間間隔叫做自由時間t。在這段時間內(nèi)所經(jīng)過的距離叫做自由路程。顯然兩者應(yīng)有如下關(guān)系其中

vT

為電子的熱運動速度。如果將晶體置于外電場中,則在兩次散射之間,電子都獲得一個平均的附加速度,這就是平均漂移速度

vd

。此時電子的運動應(yīng)該是熱運動和漂移運動的迭加。2023/2/610雷天民考慮具有球形等能面的導(dǎo)帶電子,假定碰撞后電子的速度是無規(guī)則的,忽略電子的熱運動,于是電子的運動方程可表示為表示在外電場E

和散射作用下,電子動量隨時間的變化等于單位時間內(nèi)電子從電場獲得的動量與通過散射電子在單位時間內(nèi)所失去的動量之差。穩(wěn)態(tài)時有可見:平均自由時間愈長,或者說單位時間內(nèi)遭受散射的次數(shù)愈少,載流子的遷移率愈高。2023/2/611雷天民對等能面為旋轉(zhuǎn)橢球面的多極值半導(dǎo)體,因為沿其晶體的不同方向有效質(zhì)量不同,所以遷移率與有效質(zhì)量的關(guān)系稍復(fù)雜些。設(shè)電場強(qiáng)度Ex沿x方向,則[100]能谷中的電子,沿x方向的遷移率為[010]和[001]能谷中的電子,沿x方向的遷移率為設(shè)電子濃度為n,則每個能谷單位體積中有n/6個電子,電流密度Jx

應(yīng)是六個能谷中電子對電流貢獻(xiàn)的總和2023/2/612雷天民若令(μc

為電導(dǎo)遷移率)(mc

為電導(dǎo)有效質(zhì)量)二、散射概率和平均自由時間

散射概率:單位時間內(nèi)一個載流子受到散射的次數(shù)。2023/2/613雷天民設(shè)有N個電子以速度v

沿某方向運動,N(t)表示在t時刻尚未遭到散射的電子數(shù),按散射概率的定義,在t

到t+t

時間內(nèi)被散射的電子數(shù)為所以有即所以平均自由時間為2023/2/614雷天民由此可見,平均自由時間與散射幾率成倒數(shù)關(guān)系,它們均為描寫散射強(qiáng)弱的物理量,散射幾率大,說明散射作用強(qiáng),則平均自由時間就短;反之,散射幾率小,散射作用弱,平均自由時間就長。三、半導(dǎo)體的主要散射機(jī)構(gòu)散射的根本原因就是周期性勢場遭到了破壞,附加勢場對載流子引起散射。產(chǎn)生附加勢場的主要原因有三個:1)電離雜質(zhì)的散射2)晶格振動的散射3)其他因素引起的散射2023/2/615雷天民1)電離雜質(zhì)的散射施主雜質(zhì)電離后是一個帶正電的離子,受主雜質(zhì)電離后是一個帶負(fù)電的離子。在電離施主或受主周圍形成一個庫侖勢場,該勢場的存在破壞了雜質(zhì)周圍的周期性勢場,此即使載流子散射的附加勢場。在半導(dǎo)體中,載流子受帶電中心的散射與原子物理中的α粒子的盧瑟福散射極為類似,也是一種彈性散射??梢郧蟪鲭娮拥奈⒎稚⑸浣孛?023/2/616雷天民研究發(fā)現(xiàn),濃度為Ni

的電離雜質(zhì)對載流子散射的散射概率與溫度的關(guān)系為2)晶格振動的散射

在晶體的理想模型中,原子是靜止地排列在它們的平衡位置上,實際上晶體中的原子是互相聯(lián)系地在它們各自的平衡位置附近振動著,振動幅度隨溫度的升高而增加。晶格振動形成格波可以把量子數(shù)為n的格被看成是n個屬于這一格波的聲子,電子在晶體中被散射的過程可以看作是電子和聲子的碰撞過程。2023/2/617雷天民格波的散射概率聲學(xué)波散射:在能帶具有單一極值的半導(dǎo)體中起主要散射作用的是長聲學(xué)波,且以縱波為主??v波會造成原子分布的疏密變化,產(chǎn)生形變,從而使禁帶寬度發(fā)生起伏,對應(yīng)于導(dǎo)帶底和價帶頂?shù)哪軒鸱缤a(chǎn)生了附加勢場。研究發(fā)現(xiàn):光學(xué)波散射:在離子晶體中,長縱光學(xué)波有重要的散射作用。由于正負(fù)離子振動位移相反,疏密相間的分布對載流子增加了一個附加勢場引起散射。研究表明:2023/2/618雷天民3)其他因素引起的散射中性雜質(zhì)散射:沒有電離的中性雜質(zhì)對周期性勢場的微擾作用而引起散射。由于它沒有電場效應(yīng),中性雜質(zhì)的散射作用遠(yuǎn)不及帶電雜質(zhì)中心。在低溫下,由于中性雜質(zhì)較離化雜質(zhì)多得多。所以,此時中性雜質(zhì)的散射就起主要的散射作用。其遷移率為谷間散射:對于多能谷半導(dǎo)體,電子可以從一個極值附近散射到另一極值附近,稱為谷間散射。電子在谷內(nèi)或谷間散射時與聲子發(fā)生碰撞同時吸收或發(fā)射一個聲子。谷內(nèi)為長波聲子,谷間為短波聲子。2023/2/619雷天民位錯散射:位錯是一種線缺陷,它可以作為施主或受主中心。這些中心離化時位錯成為一條帶電線,在周圍存在一個半徑為R的圓柱形屏蔽電荷層,對載流子的散射幾率為實驗表明,當(dāng)位錯密度低于104cm-2時,位錯散射并不顯著,可以忽略。合金散射:對于多元化合物半導(dǎo)體混合晶體,當(dāng)其中兩種同族原子在其晶格中相應(yīng)的位置上隨機(jī)排列時,都會產(chǎn)生對載流子的合金散射作用。合金散射為混合晶體所特有的散射機(jī)制。載流子之間的散射:強(qiáng)電場下作用顯著。2023/2/620雷天民不同散射機(jī)構(gòu)的平均自由時間與溫度的關(guān)系:不同散射機(jī)構(gòu)下遷移率與溫度的關(guān)系:幾種散射機(jī)構(gòu)同時存在時,總的散射概率為各個散射概率之和,即§4.3

遷移率與雜質(zhì)和溫度的關(guān)系2023/2/621雷天民即:幾種散射機(jī)構(gòu)同時存在時,載流子總遷移率的倒數(shù)等于各遷移率倒數(shù)之和。對于摻雜Ge、Si等元素半導(dǎo)體,主要的散射機(jī)構(gòu)是聲學(xué)波和電離雜質(zhì)散射,所以雜質(zhì)散射使遷移率隨溫度增加而增大;晶格散射使遷移率隨溫度增加而降低。2023/2/622雷天民對于Ⅲ-Ⅴ族化合物半導(dǎo)體如砷化鎵,光學(xué)波散射也很重要,必須同時考慮。雜質(zhì)濃度較低時,遷移率隨溫度升高迅速減小,晶格散射起主要作用;隨著雜質(zhì)濃度的增加,雜質(zhì)散射逐漸加強(qiáng)。當(dāng)雜質(zhì)濃度很高時,在低溫范圍,遷移率隨溫度升高緩慢上升,直到很高溫度(250°C)才稍有下降。說明雜質(zhì)散射直到此時才讓位于晶格振動散射為主。2023/2/623雷天民雜質(zhì)濃度增大遷移率都下降2023/2/624雷天民2023/2/625雷天民§4.4電阻率與雜質(zhì)濃度、溫度關(guān)系2023/2/626雷天民1電阻率與雜質(zhì)濃度的關(guān)系輕摻雜時(1016-18cm-3),如果認(rèn)為室溫時雜質(zhì)全部電離,載流子濃度近似等于雜質(zhì)濃度,遷移率變化不大,電阻率與雜質(zhì)濃度成簡單反比關(guān)系。雜質(zhì)濃度很高時,由于室溫時雜質(zhì)不能全部電離,而遷移率又有明顯的下降,曲線嚴(yán)重偏離直線。摻入10-6的砷,電阻率?硅的原子密度為5x1022cm-3ElectricalResistivity(ohm-cm)10-310-210-1100101102103DopantConcentration(atoms/cm3)102110201019101810171016101510141013n-typep-type2023/2/627雷天民2023/2/628雷天民2電阻率隨溫度的變化對于純的本征半導(dǎo)體,電阻率主要由本征載流子濃度決定,電阻率隨溫度增加而單調(diào)地下降,這是半導(dǎo)體區(qū)別于金屬的一個重要特征。溫度很低時,本征激發(fā)可以忽略,散射主要由電離雜質(zhì)決定,遷移率隨溫度升高而增大,電阻率隨溫度升高而下降。溫度較高時,雜質(zhì)已全部電離,晶格振動散射上升為主要矛盾,遷移率隨溫度升高而降低,電阻率隨溫度升高而增大。高溫及本征激發(fā)成為矛盾的主要方面時,電阻率又由本征載流子濃度決定,并隨溫度急劇下降。ρT對于雜質(zhì)半導(dǎo)體,既有雜質(zhì)電離和本征激發(fā)兩個因素,有雜質(zhì)散射和晶格散射兩種散射機(jī)構(gòu)存在。2023/2/629雷天民2023/2/630雷天民§4.5玻氏方程電導(dǎo)率的統(tǒng)計理論費米分布函數(shù)在沒有外場作用下的熱平衡條件下,系統(tǒng)內(nèi)電子的分布服從費米-狄拉克統(tǒng)計規(guī)律,即如果系統(tǒng)受外場作用或晶體內(nèi)存在溫度梯度時,系統(tǒng)的統(tǒng)計平衡狀態(tài)就會遭到破壞:

外力的作用會使電子的狀態(tài)發(fā)生變化;溫度梯度的存在會使費米能與坐標(biāo)有關(guān)。即:如果存在外場、溫度梯度及散射,電子按波矢及坐標(biāo)的分布就會發(fā)生變化,電子氣系統(tǒng)將偏離平衡狀態(tài)!2023/2/631雷天民玻耳茲曼方程穩(wěn)定狀態(tài)下,分布函數(shù)所滿足的方程引入非平衡分布函數(shù)

上式等號右邊表示因各種散射所引起的散射項,等號左邊兩項分別代表外場和溫度梯度所引起的漂移項!反映任意時刻t,位置處波矢為的一個狀態(tài)被電子占據(jù)的概率。顯然,半導(dǎo)體中的各種散射也可改變非平衡分布函數(shù)!2023/2/632雷天民馳豫時間近似假定電子只有在時間τ內(nèi)是自由運動的,散射后又恢復(fù)到無規(guī)則的分布,即

如果沒有溫度梯度,f

不隨

變化,則

漂移項與散射項相等,則意味著經(jīng)過各種散射有可能使電子氣系統(tǒng)達(dá)到一種新的動態(tài)平衡狀態(tài)。

玻氏輸運方程在輸運理論中處于核心地位。一旦知道晶體中的各種散射機(jī)構(gòu),求解出各種外場作用下的分布函數(shù),就可解決晶體中的各類輸運問題。2023/2/633雷天民弱電場近似下玻耳茲曼方程的解弛豫時間近似下的穩(wěn)態(tài)玻耳茲曼方程為

球形等能面的電導(dǎo)率2023/2/634雷天民考慮速度的統(tǒng)計分布時,只需將τ用統(tǒng)計平均值代之即可

對只有長聲學(xué)波散射時,有

2023/2/635雷天民§4.6強(qiáng)電場效應(yīng)實驗表明:在外電場E

不很強(qiáng)時,載流子遷移率是一常數(shù),平均漂移速度vd=μE,歐姆定律成立。當(dāng)電場超過一定強(qiáng)度后,vd

與E的關(guān)系偏離歐姆定律,即遷移率不再為一個常數(shù)。平均漂移速度隨外電場的增加,速率開始變緩,最后趨于一個不隨場強(qiáng)變化的定值,稱為飽和漂移速度。一、強(qiáng)電場效應(yīng)在強(qiáng)電場中,遷移率隨電場的增加而變化,這種效應(yīng)稱為強(qiáng)電場效應(yīng)。2023/2/636雷天民

1951年,Ryder和Shockly首先在77K、l93K和298K下對n-Ge進(jìn)行了測量:低場強(qiáng)時場強(qiáng)增加到102~103場強(qiáng)大于2kV/cm時遷移率μ是場強(qiáng)的函數(shù)2023/2/637雷天民

遷移率與平均自由時間成正比,而平均自由時間與載流子運動速度有關(guān)。

1)弱電場時:定性分析:即:平均漂移速度與外電場呈線性關(guān)系!2023/2/638雷天民

2)較強(qiáng)電場時:即:平均漂移速度隨外電場的增大而緩慢增大。

3)強(qiáng)電場時:即:平均漂移速度與外電場無關(guān)。2023/2/639雷天民二、散射理論:載流子晶格能量交換有電場時,載流子從電場中獲得能量,隨后又以聲子的形式將能量傳給晶格。電場不是很強(qiáng)時:載流子聲學(xué)波電場進(jìn)一步增強(qiáng)后:載流子光學(xué)波2023/2/640雷天民有電場存在時,載流子從電場中獲得能量,隨后又以聲子的形式將能量傳給晶格,即主要和聲學(xué)波散射。達(dá)到穩(wěn)定狀態(tài)時,載流子與晶格系統(tǒng)處于熱平衡狀態(tài),具有相同的熱力學(xué)溫度。在強(qiáng)場情況下,載流子從電場中獲得的能量很多,在與晶格散射時,平均自由時間縮短,因而遷移率降低。由于載流子的平均能量比熱平衡狀態(tài)時的大,載流子不再與晶格系統(tǒng)保持熱平衡,此時的載流子稱為熱載流子。但是,當(dāng)場強(qiáng)進(jìn)一步增強(qiáng),載流子的能量高到散射時可以發(fā)射光學(xué)聲子,載流子從電場中獲得的能量大部分又消失,平均漂移速度達(dá)到飽和。由于溫度是平均動能的量度,所以引入Te表示熱載流子的有效溫度,顯然熱載流子溫度高于晶格溫度Tl。如果用μ0表示低場時的遷移率,則強(qiáng)場遷移率μ為三、載流子與晶格的能量交換過程2023/2/641雷天民§4.7多能谷散射耿氏效應(yīng)強(qiáng)電場下電導(dǎo)率(亦即遷移率)不再是與電場無關(guān)的常數(shù),而與場強(qiáng)相關(guān)。通常又稱這種與場強(qiáng)E

相關(guān)的電導(dǎo)為非線性電導(dǎo)!Ge中電流密度和電場強(qiáng)度的關(guān)系一、電流密度與場強(qiáng)的非線性關(guān)系2023/2/642雷天民非線性電導(dǎo)區(qū)開始出現(xiàn)時相應(yīng)的電場稱為閾值電場??梢钥闯觯洪撝惦妶雠c材料遷移率的數(shù)值有關(guān),遷移率高時閾值電場低,反之則高。在同一材料中,閾值電場將隨晶格溫度升高而增大(晶格振動散射為主)。Ge中電流密度和電場強(qiáng)度的關(guān)系特點:漂移速度在達(dá)到極大值后隨電場的進(jìn)一步增強(qiáng)而下降,這時相應(yīng)的微分電導(dǎo)率(或遷移率)是負(fù)的。2023/2/643雷天民二、非等效能谷間的電子轉(zhuǎn)移Ridley、Watkins和Hilsum先后在1961和1962年提出:上述負(fù)微分電導(dǎo)區(qū)的出現(xiàn)是由非等效能谷間的電子轉(zhuǎn)移引起的。一般稱這種引起負(fù)微分電導(dǎo)的機(jī)構(gòu)為RWH機(jī)構(gòu)(瑞瓦希機(jī)構(gòu))。Γ能谷:電子有效質(zhì)量為:0.067m0;

電子遷移率為:μn0=8000cm2/V·sL能谷:

電子有效質(zhì)量為:0.55m0;電子遷移率為:μn1=100cm2/V·s平均遷移率:2023/2/644雷天民三、耿氏效應(yīng)(Gunneffect)1963年,耿氏發(fā)現(xiàn)在n型砷化鎵兩端電極上加以電壓,當(dāng)半導(dǎo)體內(nèi)電場超過3x103V/cm時,半導(dǎo)體內(nèi)的電流便以很高的頻率振蕩,振蕩頻率約為0.47~6.5GHz。這個效應(yīng)稱為耿氏效應(yīng)。1964年,Kroemer指出耿氏所觀測到的振蕩實際上是由于電子轉(zhuǎn)移效應(yīng)所引起。1965年,Hutson等人通過觀測施加

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