GB/T 41869.2-2022光學(xué)和光子學(xué)微透鏡陣列第2部分：波前像差的測(cè)試方法

ICS31260

CCSL.51

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T418692—2022

.

光學(xué)和光子學(xué)微透鏡陣列

第2部分波前像差的測(cè)試方法

:

Opticsandphotonics—Microlensarray—

Part2Testmethodsforwavefrontaberrations

:

ISO14880-22006MOD

(:,)

2022-10-12發(fā)布2023-05-01實(shí)施

國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局發(fā)布

國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T418692—2022

.

目次

前言

…………………………Ⅰ

引言

…………………………Ⅱ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語和定義

3………………1

測(cè)試裝置及設(shè)備

4…………………………2

概述

4.1…………………2

照明光源

4.2……………2

標(biāo)準(zhǔn)透鏡

4.3……………2

準(zhǔn)直鏡

4.4………………2

縮束光學(xué)系統(tǒng)

4.5………………………2

孔徑光闌

4.6……………2

測(cè)試前準(zhǔn)備

5………………3

測(cè)試原理及程序

6…………………………3

測(cè)試方法的選擇

6.1……………………3

干涉測(cè)量法

6.2…………………………3

夏克哈特曼波前傳感器測(cè)量方法

6.3-…………………6

測(cè)試結(jié)果

7…………………8

附錄資料性橫向剪切干涉測(cè)量法

A()…………………9

測(cè)試裝置及測(cè)試設(shè)備

A.1………………9

測(cè)試原理及程序

A.2……………………9

附錄資料性微透鏡陣列一致性測(cè)量方法

B()…………12

測(cè)試裝置及測(cè)試設(shè)備

B.1………………12

測(cè)試原理及程序

B.2……………………12

微透鏡陣列波像差的同時(shí)測(cè)量

B.3……………………13

參考文獻(xiàn)

……………………14

GB/T418692—2022

.

前言

本文件按照標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第部分標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則的規(guī)定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

本文件是光學(xué)和光子學(xué)微透鏡陣列的第部分已經(jīng)發(fā)布了以下

GB/T41869《》2。GB/T41869

部分

:

第部分術(shù)語

———1:;

第部分波前像差的測(cè)試方法

———2:。

本文件修改采用光學(xué)與光子學(xué)微透鏡陣列第部分波前像差的測(cè)試

ISO14880-2:2006《2:

方法

》。

本文件與相比做了下述結(jié)構(gòu)調(diào)整

ISO14880-2:2006:

第章對(duì)應(yīng)中的第章和第章

———3ISO14880-2:200634;

第章對(duì)應(yīng)中的第章

———4ISO14880-2:20065;

第章對(duì)應(yīng)中的

———5ISO14880-2:20067.3、7.4;

第章對(duì)應(yīng)中的第章第章附錄附錄附錄和附錄的部分

———6ISO14880-2:20066、8、A、B、DE

內(nèi)容其中對(duì)應(yīng)中的第章第章及規(guī)范性附錄的微透鏡陣列測(cè)

,6.1ISO14880-2:20066、8A

量要求對(duì)應(yīng)中的規(guī)范性附錄的馬赫曾德干涉測(cè)量的兩種方法

,6.2.2.1ISO14880-2:2006B-,

對(duì)應(yīng)中的規(guī)范性附錄的泰曼格林微透鏡陣列測(cè)量法對(duì)應(yīng)

6.2.2.2ISO14880-2:2006E-,6.3

中的規(guī)范性附錄的夏克哈特曼波前傳感器測(cè)量法

ISO14880-2:2006D-;

第章對(duì)應(yīng)中的第章其中對(duì)應(yīng)中

———7ISO14880-2:20069~11,7.1.1~7.1.3ISO14880-2:2006

的第章對(duì)應(yīng)中的第章對(duì)應(yīng)中的

9,7.1.4ISO14880-2:200610,7.1.5ISO14880-2:2006

第章

11。

本文件與的技術(shù)差異及其原因如下

ISO14880-2:2006:

刪除了表中的縮寫術(shù)語及符號(hào)全文均未出現(xiàn)該參數(shù)故刪除

a)ISO14880-2:20061Θ,;

刪除了術(shù)語和定義引導(dǎo)語的引用文件同時(shí)將表的符號(hào)更

b)ISO14880-2:2006“”ISO14880-1,1

改為術(shù)語和定義形式列入第章

3;

將中的注調(diào)整為條文見以適應(yīng)我國(guó)技術(shù)條件

c)ISO14880-2:20065.2[4.2d)、4.2e)],;

刪除了中相關(guān)內(nèi)容微透鏡陣列和微透鏡單元的程序相同只有數(shù)

d)ISO14880-2:20067.1、7.2,,

據(jù)處理方法不同

;

刪除了附錄中的測(cè)試結(jié)果示例圖圖圖及圖因?yàn)闇y(cè)試

e)ISO14880-2:2006BB.3、B.4、B.5B.6,

結(jié)果的示例圖具有特殊性故刪除以增強(qiáng)標(biāo)準(zhǔn)通用性

,;

更改了規(guī)范性附錄附錄的性質(zhì)均改為資料性附錄見附錄附錄

f)ISO14880-2:2006C、F,(A、

以適應(yīng)我國(guó)技術(shù)條件

B),。

本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別專利的責(zé)任

,。

本文件由中國(guó)機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會(huì)提出

。

本文件由全國(guó)光學(xué)和光子學(xué)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口

(SAC/TC103)。

本文件起草單位中國(guó)兵器工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所電子科技大學(xué)中國(guó)科學(xué)院重慶綠色智能技術(shù)研究

:、、

院南京邁得特光學(xué)有限公司西安西谷微電子有限責(zé)任公司浙江偉星光學(xué)有限公司上海瑞立柯信息

、、、、

技術(shù)有限公司

。

本文件主要起草人孟凡萍朱懿李斌成張為國(guó)姜緒木王金玉楊宏杰汪松汪瑤

:、、、、、、、、。

Ⅰ

GB/T418692—2022

.

引言

微透鏡陣列是陣列光學(xué)器件中一類重要的光學(xué)元件以單個(gè)透鏡兩個(gè)或多個(gè)透鏡陣列的形式廣

,、,

泛應(yīng)用于三維顯示與陣列光輻射源和光探測(cè)器相關(guān)的耦合光學(xué)增強(qiáng)液晶顯示和光并行處理器元件

、、。

隨著科技不斷進(jìn)步有必要制定一套技術(shù)內(nèi)容與國(guó)際接軌的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)這樣既有利于推動(dòng)我國(guó)微透鏡陣

,,

列行業(yè)規(guī)范有序發(fā)展又能更好地促進(jìn)相關(guān)領(lǐng)域的貿(mào)易交流和技術(shù)合作光學(xué)和光子學(xué)

,、。GB/T41869《

微透鏡陣列就是在此背景下起草制定的微透鏡陣列標(biāo)準(zhǔn)擬由以下幾個(gè)部分組成

》,。

第部分術(shù)語目的在于通過定義微透鏡及其陣列的基本術(shù)語促進(jìn)微透鏡陣列產(chǎn)品的應(yīng)

———1:。,

用有助于科研工作和行業(yè)從業(yè)者在共同理解的基礎(chǔ)上交流概念

,。

第部分波前像差的測(cè)試方法目的在于通過規(guī)范波前像差的測(cè)試方法明確微透鏡的基本

———2:。,

性能特征

。

第部分光學(xué)特性測(cè)試方法目的在于通過確定光學(xué)特性重要指標(biāo)的測(cè)試方法為供貨方產(chǎn)

———3:。,

品交付提供依據(jù)

。

第部分幾何特性測(cè)試方法目的在于通過確定幾何特性重要指標(biāo)的測(cè)試方法為供貨方產(chǎn)

———4:。,

品交付提供依據(jù)

。

Ⅱ

GB/T418692—2022

.

光學(xué)和光子學(xué)微透鏡陣列

第2部分波前像差的測(cè)試方法

:

1范圍

本文件描述了微透鏡陣列中微透鏡波前像差測(cè)試的測(cè)試裝置及設(shè)備測(cè)試前準(zhǔn)備測(cè)試原理及測(cè)試