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T、K、Y管節(jié)點焊縫超聲波檢驗儀器探頭試塊及應(yīng)用3.1探傷儀、測厚儀3.1.1超聲波探傷儀(a)為滿足管節(jié)點現(xiàn)場探傷,推薦使用數(shù)字式便攜探傷儀。儀器可儲存多幅DAC曲線波形。如:國外儀器:德國KK公司:、USN60、USN52、USK7D。 美國泛美公司:EPOCHⅢ(Model2300)、EPOCHⅢB(MODEL-2400)。國產(chǎn)數(shù)字式:東大電子CUD2050、武漢中科創(chuàng)新技術(shù)公司:HS510、HS600a等。(b)探傷儀性能要求:水平線性≤1%;垂直線性≤±5%;組合靈敏度余量>40dB;衰減器精度:任意相鄰12dB誤差<1dB;步進(jìn)級:每檔不大于2dB;總調(diào)節(jié)量應(yīng)大于60dB。(管節(jié)點焊縫探傷時,模擬式和數(shù)字式儀器都可用。)(c)超聲波測厚儀。性能應(yīng)滿足:ZBN7701-89<超聲測厚儀通用技術(shù)條件>要求測厚誤差:|±1%H+0.1mm|,H為厚度值。管材測量下限使用管材最小壁厚與外徑組合表示(δmin/D),其誤差不超過0.2mm。測厚方法:按GB/T11344-89《接觸式超聲波脈沖回波法測厚》的7.3.2條規(guī)定,探頭軸中心線必須與管軸中心線垂直,并通過管中心;用雙晶探頭時,探頭分割面與管軸中心線垂直并通過管軸中心。(國產(chǎn)φ10分割探頭,測量φ20×3mm管壁,誤差±0.2mm)3.2探頭3.2.1橫波斜探頭:國產(chǎn):5Z10×10A70(60、45)、5Z8×9(60、45)、5Z8×12K2.5(2、1.5)。德國KK公司:MWB45-N4、MWB60-N4、MWB70-N4(晶片尺寸8×9)。也可以選用接觸式聚焦探頭。QCX45(60、70)晶片尺寸φ6.3(10MHZ微型探頭)輔助探頭:直探頭(國產(chǎn)2.5P20Z或5P20Z)3.2.2橫波斜探頭應(yīng)實測如下參數(shù)(含組合):入射點(探頭前沿)、折射角β、不得有雙峰、水平偏角≤2○縱向分辨力:探測CSK-1A試塊φ50、44、40三階梯,使φ50、44反射波高相等,波峰/波谷ΔdB=Z>6dB.橫向分辨力:探測JISSTBA2試塊間距6mm的φ4×4柱孔,兩孔反射應(yīng)區(qū)分開來。靈敏度余量:將儀器抑制關(guān),增益量最大,使燥聲電平達(dá)10%(FSH),記下衰減器dB讀數(shù)N2探測IIW試塊R100圖弧面反射波達(dá)50%(FSH),記下衰減器dB=N1靈敏度余量:N=N1-N2N>40dB(還有其他方法測定靈敏度余量)3.3試塊3.3.1APIRP2XA級對比試塊,見圖3-1圖3-1用于A級檢驗的對比試塊3.3.2其他試塊:IIW或CSK-IA、IIW2(牛角試塊)、I·O·W(英國焊接學(xué)會試塊)。綜合校驗:70°折射角探頭探測IIW試塊φ1.5小孔,找到最大反射波,讀出聲程W,當(dāng)(W+0.75)·cos70°=15±0.5,認(rèn)為綜合校正合格。60°、45°折射角探測φ50孔,找到最大反射波,讀出聲程W,(W+25)·cosβ=70±0.5為合格。3.4試塊的應(yīng)用3.4.1APIRP2XA級試塊與不同角度的斜探頭配合,主要用于制作DAC曲線。用1.6×1.6凹槽,制作DAC曲線步驟如下:將探頭放在探測面上對準(zhǔn)凹槽,前后移動探頭,找出凹槽最高反射波,用衰減器將反射波調(diào)節(jié)到0.5S,80%~100%(FSH),記下衰減器讀數(shù),以后靈敏度不變,分別探測1S和1.5S的凹槽,找到最高反射波,分別標(biāo)記在熒光屏上,把0.5S、1S、1.5S各點最高反射波標(biāo)記點,三點連成一條光滑曲線,即是某折射角的100%DAC曲線。把0.5S、1S、1.5S最高反射波各自下降6dB,這時三點連成光滑曲線,即為50%DAC曲線。最后把0.5S聲程前,用水平線延長到縱坐標(biāo),DAC曲線制作全部完成。圖3-21.6×1.6凹槽DAC曲線同樣步驟,取聲程……用試塊φ1.6×38mm反射體,又作了另外一幅DAC曲線,前者用于根部缺陷探測及評級,后者用于根部以外截面焊縫缺陷探測及評級。3.4.2其他試塊如CSK-IA、IIW2……用于測定儀器與探頭的組合性能或探頭性能。3.4.3關(guān)于探傷靈敏度(基準(zhǔn)靈敏度)和掃查靈敏度的調(diào)節(jié)及DAC曲線校正在以后幾章中會提到。3.5耦合劑作DAC曲線和現(xiàn)場探傷應(yīng)為同種耦合劑。以免耦合原因使靈敏度變化。因為現(xiàn)在探傷節(jié)點焊縫大多呈傾斜式,為防止耦合劑
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