導(dǎo)致浪涌沖擊抗擾度試驗失敗的原因及采取的措施有哪些

———導(dǎo)致浪涌沖擊抗擾度試驗失敗的原因及采取的措施有哪些？國家法律強制規(guī)定，任何電子產(chǎn)品在進入市場之前都要進行電磁兼容測試，這是測量電子產(chǎn)品保證平安性能必需要做的測試。浪涌(沖擊)抗擾度試驗是電子電器產(chǎn)品電磁兼容試驗中的一個基本檢驗項目,用于評價電子電氣設(shè)備在患病浪涌(沖擊)時的性能。

電磁兼容領(lǐng)域所指的浪涌沖擊一般來源于開關(guān)瞬態(tài)和雷擊瞬態(tài)。浪涌沖擊抗擾度試驗是對電氣和電子設(shè)備的供電電源端口、信號和掌握端口在受到浪涌(沖擊)干擾時的性能進行評定。在進行浪涌沖擊抗擾度試驗時需要使用雷擊浪涌發(fā)生器特性應(yīng)盡可能地模擬開關(guān)瞬態(tài)和雷擊瞬態(tài)現(xiàn)象來評定設(shè)備在患病到來自電力線和互連線上高能量浪涌(沖擊)騷擾時產(chǎn)品的性能。

試驗發(fā)生器(雷擊浪涌發(fā)生器)

a)信號發(fā)生器特性應(yīng)盡可能地模擬開關(guān)瞬態(tài)和雷擊瞬態(tài)現(xiàn)象；

b)假如干擾源與受試設(shè)備的端口在同一線路中，例如在電源網(wǎng)絡(luò)中(直接耦合)，那么信號發(fā)生器在受試設(shè)備的端口能夠模擬一個低阻抗源；

c)假如干擾源與受試設(shè)備的端口不在同一線路中(間接耦合)，那么信號發(fā)生器能夠模擬一個高阻抗源。

對于不同場合使用的產(chǎn)品及產(chǎn)品的不同端口，由于相應(yīng)的浪涌(沖擊)瞬態(tài)波形各不相同，因此對應(yīng)模擬信號發(fā)生器的參數(shù)也不相同。

假如浪涌沖擊抗擾度試驗失敗怎么辦？

導(dǎo)致浪涌沖擊抗擾度試驗失敗的緣由

浪涌脈沖的上升時間較長，脈寬較寬，不含有較高的頻率成分，因此對電路的干擾以傳導(dǎo)為主。主要體現(xiàn)在過高的差模電壓幅度導(dǎo)致輸入器件擊穿損壞，或者過高的共模電壓導(dǎo)致線路與地之間的絕緣層擊穿。由于器件擊穿后阻抗很低，浪涌發(fā)生器產(chǎn)生的很大的電流隨之使器件過熱發(fā)生損壞。對于有較大平滑電容的整流電路，過電流使器件損壞也可能是首先發(fā)生的。

例如，對開關(guān)電源的高壓整流濾波電路而言，浪涌到來時，整流電路和平滑電容供應(yīng)了很低的阻抗，浪涌發(fā)生器輸出的很大的電流流過整流二極管，當整流二極管不能承受這個電流時，就發(fā)生過熱而燒毀。隨著電容的充電，電容上的電壓也會達到很高，有可能導(dǎo)致電容擊穿損壞。

通過浪涌抗擾度試驗應(yīng)實行的措施

雷擊浪涌試驗有共模和差模兩種。因此浪涌汲取器件的使用要考慮到與試驗的對應(yīng)狀況。為保證使用效果，浪涌汲取器件要用在進線入口處。由于浪涌汲取過程中的di/dt特殊大，在器件四周不能有信號線和電源線經(jīng)過，以防止因電磁耦合將干擾引入信號