材料現(xiàn)代分析測試技術試卷

期末考試試卷記標修重--------名姓-記標修重--------名姓------號學---------級班題號題號滿分一20二20三40四20五六七合計100評閱人得分一、選擇題（每小題2分，共20評閱人得分1、下列材料現(xiàn)代分析方法中能進行局部點的微結構分析的是（）A）X射線衍射分析B）掃描電子顯微鏡C）透射電子顯微鏡D）熱重分析法2、X射線衍射分析是近代材料微觀結構與缺陷分析必不可少的重要手段之一，以下哪個選項不是X射線衍射分析的應用（）A）晶體結構研究B)物相分析C）精細結構研究D）表面元素分析3、X射線管所產生的特征譜的波長受以下哪種因素所影響（）A）管電壓B)管電流C）陽極靶材的原子序數(shù)D）電子電荷4X靶材元素確定的，根據(jù)濾波片材料選擇規(guī)律，當陽極靶材料為元素Mo料應該是下列選項中的（）A）FeB）CoC）NiD）Zr5X射線衍射定量分析中，如待測樣品中含有多個物相，各相的質量吸收系數(shù)又不同，常采用下列哪種方法（ ）A）外標法 B）內標法 C）參比強度法 D）直接對比法6、透射電子顯微鏡成像系統(tǒng)中通常包含三級放大系統(tǒng)，下列選項中不是其三級放大系統(tǒng)的是（ ）A）物鏡 B）中間鏡 C）目鏡 D）投影鏡7、利用透射電子顯微鏡觀察納米二氧化鈦形態(tài)，通常采用下列哪種制樣方法（ ）A）支持膜法 B)超薄切片法 C）復型法 D）晶體減薄法8、掃描電子顯微鏡觀察中，二次電子像的襯度主要受以下哪個因素所影響（ ）A）形貌 B）成分 C）電壓 D）電磁9、采用X光電子能譜分析Be的化學狀態(tài)，根據(jù)影響其化學位移的規(guī)律，下列選項中Be的1s電子結合能排列正確的是（ ）>BeF2 >Be B)BeF2>Be>BeO C)BeF2>BeO>Be D)Be>>BeO10、根據(jù)差熱曲線方程，為了提高儀器的檢測靈敏度，采用如下哪種方法（ ）A）高升溫速率 B)低升溫速率 C）采用惰性氣氛 D）采用氧化氣氛命題教師（簽字）命題教師（簽字）試做教師（簽字）系、室主任（簽字）第1頁共7頁評閱人得分二、填空題（每空1分，共20評閱人得分1、X射線管發(fā)出的X射線，其波長并不相同，根據(jù)其波長變化的特點可分為和 。2、布拉格方程：3、像差包含 、 、 和畸變4、德拜相機中底片的安裝方式有 、 和 。5、透射電子顯微鏡成像襯度包含 、 、 原子序數(shù)襯度。6、電子探針顯微分析中，根據(jù)其工作原理的不同可分為 和 。7、掃描隧道顯微鏡的工作模式為 和 。8X射線光電子能譜圖中，通常強度最大、峰寬最小、對稱性最好的譜峰是 。9、熱重分析中常采用的熱天平一般可分為 、 和 。評閱人得分三、簡答題（每小題10分，共40評閱人得分1、X射線衍射定量分析有哪些方法？它們各自的應用特點有哪些？（10分）2?（10分）3、透射電子顯微鏡樣品制備方法中有支持膜法、復型法以及晶體薄膜法，采用這三種制備方法的樣品分別為哪些類型？支持膜材料必須具備的條件有哪些？（10分）4、能譜儀和波譜儀的工作原理是什么？比較兩種譜儀在進行微區(qū)成分分析時的優(yōu)缺點？（10分）評閱人得分四、 計算題（每小題10分，共20評閱人得分1、某一MgCl29h后，0031.1°，110衍射峰半高寬1.0°0030.4°，1100.6°，00325.1°，實驗用CuKα003MgCl2樣品球磨后的晶粒尺寸并推測其形態(tài)？（10分）2100kVnsinβ1式計算該透射電子顯微鏡的理論分辨率？（10分）期末考試答案及評分標準課程名稱：材料現(xiàn)代分析技術 A 卷一、選擇題（220）12345678910CDCDBCAACA二、填空題（每空題1分，共20分（答案中文，或英文簡寫均可）2、1、連續(xù)譜（或硬X射線；標示譜（或特征譜、或軟X2、3、球差；像散；色差。4、正裝法；反裝法；不對稱裝法。5、質厚襯度；衍射測度；相位襯度。6、能譜儀EDX或ED；波譜儀（WD）7、恒電流模式；恒高度模式。8、光電子峰（或主峰。9、上皿式；下皿式；水平式三、簡答題（1040）關鍵知識點（下劃線部分）答對即可1、1）X射線衍射定量分析有外標法、內標法、K值法、任意內標法。（2分，每條0.5分）>2的多組分混合物相，但繪制定標曲線需配制多個復合樣品，工作量大，適用于物相種類比較固定且經(jīng)常性的樣品分析工作；K值法不需要制作內標曲線，K采用任意物質為標準物質，更為簡單（82分）2、材料科學研究領域最常見的微結構分析有光學顯微鏡、X射線衍射和電子顯微鏡。（3分，每條1分）光學顯微鏡（2分）優(yōu)點：觀察表面形貌，操作簡單，信息直觀；缺點：分辨率低0.2mX射線衍射（2分）電子顯微鏡（3分）優(yōu)點：分辨率高、可做細微圖像觀察；結構分析；成分分析以及電子結構分析；分析可在一臺儀器（TEM）上實現(xiàn)、可對局部點進行分析；缺點：但只能做局部分析；價格昂貴，獲得的信息是非直觀的，分析過程復雜；操作復雜；樣品制備過程復雜。3以制成電子束可以透過的薄膜的試樣；晶體薄膜法主要用于能制備成薄膜樣品并保持大塊材（62條）（4分）本身是“非晶體的，在高倍（如十萬倍）成像時，也不顯示其本身的任何結構細節(jié)。對電子束足夠透明（物質原子序數(shù)低；具有足夠的強度和剛度，在復制過程中不致破裂或畸變；具有良好的導電性，耐電子束轟擊。4、能譜儀和波譜儀的工作原理是什么？比較兩種譜儀在進行微區(qū)成分分析時的優(yōu)缺點？（10分）能譜儀工作原理為依據(jù)不同元素的特征X射線具有不同的能量這一特點來對檢測的X行分散展譜，實現(xiàn)對微區(qū)成分分析（3分）波譜儀則是依據(jù)不同元素的特征X射線具有不同波長這一特點對樣品進行成分分析（3分能譜儀分辨率較低，譜線有重疊現(xiàn)象，探測效率高，靈敏度較好，但對痕量元素分析精度不（2分）波譜儀分辨率較高，檢測效率低，適合用痕量元素分析，但靈敏度較低，分析速度較慢等優(yōu)缺點（2分）四、計算題（201（10）根據(jù)謝樂公式D（1D（1分）0.890.9均可ΔB=1.1o-0.4o=0.7o=0.01222弧度 （1分）D003=D003==11.5nm（3分）ΔB=1.0o-0.6o=0.