儀器分析原子發(fā)射光譜分析詳解演示文稿_第1頁
儀器分析原子發(fā)射光譜分析詳解演示文稿_第2頁
儀器分析原子發(fā)射光譜分析詳解演示文稿_第3頁
儀器分析原子發(fā)射光譜分析詳解演示文稿_第4頁
儀器分析原子發(fā)射光譜分析詳解演示文稿_第5頁
已閱讀5頁,還剩53頁未讀, 繼續(xù)免費(fèi)閱讀

下載本文檔

版權(quán)說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請進(jìn)行舉報或認(rèn)領(lǐng)

文檔簡介

儀器分析原子發(fā)射光譜分析詳解演示文稿目前一頁\總數(shù)五十八頁\編于十一點(diǎn)優(yōu)選儀器分析原子發(fā)射光譜分析目前二頁\總數(shù)五十八頁\編于十一點(diǎn)一、電磁波譜

電磁輻射按照波長(或頻率、波數(shù)、能量)大小的順序排列就得到電磁波譜。根據(jù)能量的高低,電磁波譜又可分為三個區(qū)域。1)高能輻射區(qū)包括射線區(qū)和X射線區(qū)。其粒子性比較突出。2)中能輻射區(qū)包括紫外區(qū)、可見光區(qū)和紅外區(qū)。對這部分輻射的研究和應(yīng)用要使用一些共同的光學(xué)試驗技術(shù),例如,用透鏡聚焦,用棱鏡或光柵分光等,故又稱此區(qū)為光學(xué)光譜區(qū)。3)低能輻射區(qū)包括微波區(qū)和射頻區(qū),通常稱波譜區(qū)。第一節(jié)、光學(xué)分析法概要目前三頁\總數(shù)五十八頁\編于十一點(diǎn)電磁輻射波譜圖目前四頁\總數(shù)五十八頁\編于十一點(diǎn)二、光學(xué)分析法的分類

光學(xué)分析法分為光譜法和非光譜法兩類。

光譜法:基于物質(zhì)與輻射能作用時,測量由物質(zhì)內(nèi)部發(fā)生量子化的能級之間的躍遷而產(chǎn)生的發(fā)射、吸收或散射輻射的波長和強(qiáng)度進(jìn)行分析的方法。

非光譜法:不涉及物質(zhì)內(nèi)部能級的躍遷,是基于物質(zhì)與輻射相互作用時,電磁輻射只改變了傳播方向、速度或某些物理性質(zhì),如折射、散射、干涉、衍射、偏振等變化的分析方法(即測量輻射的這些性質(zhì))。屬于這類分析方法的有折射法、偏振法、光散射法、干涉法、衍射法、旋光法和圓二向色性法等。

目前五頁\總數(shù)五十八頁\編于十一點(diǎn)第二節(jié)基本原理 原子發(fā)射光譜法(AtomicEmissionSpectrometry,AES)是根據(jù)待測物質(zhì)的氣態(tài)原子或離子受激發(fā)后所發(fā)射的特征光譜的波長及其強(qiáng)度來測定物質(zhì)中元素組成和含量的分析方法。目前六頁\總數(shù)五十八頁\編于十一點(diǎn)

一.幾個概念1)基態(tài)2)激發(fā)態(tài)3)激發(fā)電位(Excitedpotential)

通常以電子伏特來(eV)表示。每條譜線對應(yīng)一激發(fā)電位。

4)原子線:

以I表示,如Na(I)5)電離電位(Ionizationpotential)和離子線:

以II,III,IV等表示。目前七頁\總數(shù)五十八頁\編于十一點(diǎn)

二.原子發(fā)射光譜的產(chǎn)生過程:

1)能量(電或熱、光)基態(tài)原子

2)外層電子(低能態(tài)E1

高能態(tài)E2)

3)外層電子(低能態(tài)E1

高能態(tài)E2)

4)發(fā)出特征頻率()的光子:E=E2-E1=h=hc/

從上式可見,每一條所發(fā)射的譜線的波長,取決于躍遷前后兩個能級之差。

10-8S線狀光譜目前八頁\總數(shù)五十八頁\編于十一點(diǎn)由于原子或離子的能級很多并且不同元素的結(jié)構(gòu)是不同的,因此對特定元素的原子或離子可產(chǎn)生一系不同波長的特征光譜,通過識別待測元素的特征譜線存在與否鑒別元素的存在——定性分析;而這些光譜線的強(qiáng)度又與試樣中該元素的含量有關(guān),因此又可利用這些譜線的強(qiáng)度來測定元素的含量——定量分析。

AES根據(jù)物質(zhì)中不同原子的能級躍遷所產(chǎn)生的光譜線來研究物質(zhì)的化學(xué)組成的。目前九頁\總數(shù)五十八頁\編于十一點(diǎn)第二節(jié)原子發(fā)射光譜儀器目前十頁\總數(shù)五十八頁\編于十一點(diǎn)AES儀器

AES儀器由光源、分光系統(tǒng)(光譜儀)、觀測系統(tǒng)三部分組成。此節(jié)重點(diǎn)介紹光源和光譜儀。光源反射鏡準(zhǔn)直鏡三透鏡照明系統(tǒng)轉(zhuǎn)臺入射狹縫光柵物鏡焦面AES儀器略圖目前十一頁\總數(shù)五十八頁\編于十一點(diǎn)一、AES光源(一)光源的作用及要求作用:提供試樣蒸發(fā)、解離和激發(fā)所需要的能量,使之產(chǎn)生光譜。對激發(fā)光源的要求:激發(fā)能力強(qiáng),靈敏度高,穩(wěn)定性好,結(jié)構(gòu)簡單,操作方便,使用安全。目前十二頁\總數(shù)五十八頁\編于十一點(diǎn)光源電弧電感耦合等離子體,ICP現(xiàn)代光源經(jīng)典光源高壓火花直流電弧交流電弧火焰激光光源(二)光源種類及特點(diǎn)目前十三頁\總數(shù)五十八頁\編于十一點(diǎn)1、直流電弧

(1)直流電弧發(fā)生器工作原理

LVAEG220~380V5~30AR接觸短路引燃(或高頻引燃);陰極電子與氣體分子和離子相撞產(chǎn)生的離子再沖擊陰極,引起二次電子發(fā)射……電子再撞擊陽極,產(chǎn)生高溫陽極斑(4000K);產(chǎn)生的電弧溫度:4000~7000K接觸引燃,二次電子發(fā)射放電目前十四頁\總數(shù)五十八頁\編于十一點(diǎn)

(2)直流電弧的分析性能a)樣品蒸發(fā)能力強(qiáng)(陽極斑)---進(jìn)入電弧的待測物多---絕對靈敏度高---尤其適于定性分析;同時也適于部分礦物、巖石等難熔樣品及稀土難熔元素定量;b)電弧不穩(wěn)----分析重現(xiàn)性差;c)弧層厚,自吸嚴(yán)重;d)安全性差。目前十五頁\總數(shù)五十八頁\編于十一點(diǎn)2、低壓交流電?。?)低壓交流電弧發(fā)生器工作原理 發(fā)生器由高頻高壓引燃電路Ⅱ和低壓電弧放電電路Ⅰ組成。

110~220V(低壓)2~3kV(B1)

C1充電;

C1達(dá)到一定能量時,G1擊穿高頻振蕩(回路為C1-L1-G1,G1的間距可調(diào)節(jié)振蕩速度,并使每半周只振蕩一次);

上述振蕩電壓10kV(變壓器B2)G2擊穿高壓高頻振蕩引燃分析間隙(L2-C2-G2);

G被擊穿瞬間,低壓電流使G2

放電(通過R2和電流表)電??;不斷引燃電弧不滅。A

~220Vl1l2G1G2L1C1L2C2B1B2R1R2ⅠⅡ目前十六頁\總數(shù)五十八頁\編于十一點(diǎn)(2)低壓交流電弧分析性能1)蒸發(fā)溫度比直流電弧略低;電弧溫度比直流電弧略高;2)電弧穩(wěn)定,重現(xiàn)性好,適于大多數(shù)元素的定量分析;3)放電溫度較高,激發(fā)能力較強(qiáng);4)電極溫度相對較低,樣品蒸發(fā)能力比直流電弧差,故對難熔鹽分析的靈敏度略差于直流電弧;5)該激發(fā)光源廣泛用于金屬、合金中低含量元素的定量分析和定性分析。目前十七頁\總數(shù)五十八頁\編于十一點(diǎn)~VCGBLR1DD220V3、高壓火花

220V8K~12kV(B)G擊穿分析隙G放電;回路L-C-G中高壓高頻振蕩電流,G放電中斷;下一回合充放電開始火花不滅。特點(diǎn):1)放電穩(wěn)定,分析重現(xiàn)性好;2)放電間隙長,電極溫度(蒸發(fā)溫度)低,檢出限低,多適于分析易熔金屬、合金樣品及高含量元素分析;3)激發(fā)溫度高(瞬間可達(dá)10000K)適于難激發(fā)元素分析。(1)高壓火花發(fā)生器工作原理目前十八頁\總數(shù)五十八頁\編于十一點(diǎn)

4、電感耦合高頻等離子體(InductiveCoupledhighfrequencyPlasma,ICP)光源

利用高頻電感耦合的方法產(chǎn)生等離子體放電的一種裝置。由于它具有優(yōu)異的分析性能,是應(yīng)用較廣泛的一種新型激發(fā)光源。目前十九頁\總數(shù)五十八頁\編于十一點(diǎn)(1)ICP炬的組成組成:ICP高頻發(fā)生器+等離子體炬管+霧化器石英炬管包括:外管—冷卻氣,沿切線引入中管—輔助氣,點(diǎn)燃ICP(點(diǎn)燃后切斷)內(nèi)管—載氣,樣品引入(使用Ar是因為性質(zhì)穩(wěn)定、不與試樣作用、光譜簡單)載氣(Ar)輔助氣冷卻氣絕緣屏蔽載氣Ar+樣品樣品溶液廢液目前二十頁\總數(shù)五十八頁\編于十一點(diǎn)(2)ICP炬形成過程圖ICP炬形成原理1一內(nèi)層管2一中層管3一外層管4一ICP炬5一冷卻氣6一載氣7一輔助氣8一感應(yīng)圈9一感應(yīng)區(qū)1)感應(yīng)線圈高頻交變電流(27~41MHZ,2~4KW)交變感應(yīng)磁場H;2)火花氬氣氣體電離 少量電荷相互碰撞 雪崩現(xiàn)象大量載流子;3)數(shù)百安極高感應(yīng)電流(渦電流)瞬間加熱到104K

等離子體趨膚效應(yīng)內(nèi)管通入Ar形成環(huán)狀結(jié)構(gòu)樣品通道樣品蒸發(fā)、原子化、激發(fā)。目前二十一頁\總數(shù)五十八頁\編于十一點(diǎn)(3)ICP光源的分析性能(特點(diǎn))1)低檢測限:蒸發(fā)和激發(fā)溫度高;2)穩(wěn)定,精度高:高頻電流----趨膚效應(yīng)(skineffect)---渦流表面電流密度大---環(huán)狀結(jié)構(gòu)---樣品引入通道---火焰不受樣品引入影響----高穩(wěn)定性。3)基體效應(yīng)小(matrixeffect):

樣品處于化學(xué)隋性環(huán)境(Ar)的高溫分析區(qū)---待測物難生成氧化物----停留時間長(ms級)、化學(xué)干擾小;樣品處于中心通道,其加熱是間接的----樣品性質(zhì)(基體性質(zhì),如樣品組成、溶液粘度、樣品分散度等)對ICP影響小。4)背景?。和ㄟ^選擇分析高度,避開渦流區(qū)。5)自吸效應(yīng)?。涸嚇硬粩U(kuò)散到ICP周圍的冷氣層,只處于中心通道,即是處于非局部熱力學(xué)平衡;6)分析線性范圍寬:ICP在分析區(qū)溫度均勻;自吸及自蝕效應(yīng)小。7)眾多元素同時測定:激發(fā)溫度高(70多種);不足:對非金屬測定的靈敏度低;儀器昂貴;維持費(fèi)高。

目前二十二頁\總數(shù)五十八頁\編于十一點(diǎn)光

蒸發(fā)溫度K

激發(fā)溫度K

穩(wěn)定性

熱性質(zhì)

分析對象

直流電弧

800~4000(高)

4000~7000

較差

LTE

定性、難熔樣品及元素定量、導(dǎo)體、礦物純物質(zhì)

交流電弧

4000~7000

較好

LTE

礦物、低含量金屬定量分析

火花

~10000

LTE

難激發(fā)元素、高含量金屬定量分析

ICP

~10000

6000~8000

很好

非LTE

溶液、難激發(fā)元素、大多數(shù)元素

火焰

2000~3000

2000~3000

很好

LTE

溶液、堿金屬、堿土金屬

激光

~10000

~10000

很好

LTE

固體、液體

目前二十三頁\總數(shù)五十八頁\編于十一點(diǎn)二、光譜儀

作用:將光源發(fā)射的不同波長的光色散成為光譜或單色光,并且進(jìn)行記錄和檢測。

種類:按照所使用的色散元件不同,分為棱鏡攝譜儀和光柵攝譜儀;按照光譜記錄與測量方法不同,分為攝譜儀和光電直讀光譜儀。

常用光譜儀:棱鏡攝譜儀、光柵攝譜儀和光電直讀光譜儀。目前二十四頁\總數(shù)五十八頁\編于十一點(diǎn)(一)攝譜儀

它是以棱鏡或光柵為色散元件并用照相法記錄光譜的光譜儀。入射狹縫準(zhǔn)直鏡物鏡棱鏡焦面出射狹縫f入射狹縫準(zhǔn)直鏡光柵物鏡出射狹縫f其中最主要的分光原件為棱鏡和光柵目前二十五頁\總數(shù)五十八頁\編于十一點(diǎn)Cornu棱鏡bLittrow棱鏡(左旋+右旋----消除雙像)(鍍膜反射)1)棱鏡棱鏡的色散作用是基于構(gòu)成棱鏡的光學(xué)材料對不同波長的光具有不同的折射率。波長大的折射率小,波長小的折射率大。目前二十六頁\總數(shù)五十八頁\編于十一點(diǎn)2)光柵光柵攝譜儀應(yīng)用衍射光柵作為色散元件,利用光在刻痕小反射面上的衍射和衍射光的干涉作用進(jìn)行分光。下圖為平面反射光柵:ABCDdP0距離相對強(qiáng)度P’112目前二十七頁\總數(shù)五十八頁\編于十一點(diǎn)下圖為國產(chǎn)WSP—1型平面光柵攝譜儀光路圖光源反射鏡準(zhǔn)直鏡三透鏡照明系統(tǒng)轉(zhuǎn)臺入射狹縫光柵物鏡焦面AES儀器略圖目前二十八頁\總數(shù)五十八頁\編于十一點(diǎn)(三)光電直讀光譜儀(p222)

包括多道固定狹縫式(光量計)和單道掃描式兩種。多元素同時檢測入射狹縫出射狹縫凹面光柵R目前二十九頁\總數(shù)五十八頁\編于十一點(diǎn)

三、觀測設(shè)備(附屬設(shè)備)

1、光譜投影儀(映譜儀)2、測微光度計(黑度計)

3、比長儀

目前三十頁\總數(shù)五十八頁\編于十一點(diǎn)一、光譜定性分析(一)光譜定性分析的原理1、光譜定性分析 由于各種元素原子結(jié)構(gòu)的不同,在光源的激發(fā)作用下,可以產(chǎn)生許多按一定波長次序排列的譜線組——特征譜線,其波長是由每種元素的原子性質(zhì)所決定的。通過檢查譜片上有無特征譜線的出現(xiàn)來確定該元素是否存在,稱為光譜定性分析。

第三節(jié)光譜定性分析和半定量分析

目前三十一頁\總數(shù)五十八頁\編于十一點(diǎn)2、基本概念1)靈敏線:指元素特征光譜中強(qiáng)度較大的譜線,通常是具有較低激發(fā)電位和較大躍遷概率的共振線。常為原子線(電弧線)或離子線(火花線)。與實(shí)驗條件有關(guān)。2)共振線:從激發(fā)態(tài)直接躍遷到基態(tài)時所產(chǎn)生的譜線。由最低能級的激發(fā)態(tài)(第一激發(fā)態(tài))直接躍遷到基態(tài)時所產(chǎn)生的譜線稱為第一共振線。一般也是最靈敏線。與元素的激發(fā)程度難易有關(guān)。3)最后線:或稱持久線。當(dāng)待測物含量逐漸減小時,譜線數(shù)目亦相應(yīng)減少,當(dāng)c接近0時所觀察到的譜線,是理論上的靈敏線或第一共振線。目前三十二頁\總數(shù)五十八頁\編于十一點(diǎn)I1234)分析線:在進(jìn)行元素的定性或定量分析時,根據(jù)試樣中被測元素的含量不同

,可選擇不同程度的一條或幾條靈敏線作分析用的譜線。5)自吸線:當(dāng)由光源中心某元素發(fā)出的特征光向外輻射通過發(fā)光層周圍溫度較低的蒸汽原子時,將為其自身處于低能級的原子所吸收,而使譜線強(qiáng)度中心強(qiáng)度減弱的現(xiàn)象。自吸最強(qiáng)的譜線的稱為自蝕線。

1、無自吸;2、自吸;3、自蝕目前三十三頁\總數(shù)五十八頁\編于十一點(diǎn)(二)光譜定性分析方法光譜定性分析一般采用攝譜法。按照分析目的和要求不同,可分為指定元素分析和全部組分元素分析兩種。1、鐵光譜比較法(標(biāo)準(zhǔn)光譜圖比較法)目前最通用的方法,它采用鐵的光譜作為波長的標(biāo)尺,來判斷其他元素的譜線。鐵光譜作標(biāo)尺有如下特點(diǎn):①譜線多。在210~660nm范圍內(nèi)有幾千條譜線。②譜線間距離都很近。在上述波長范圍內(nèi)均勻分布。對每一條譜線波長,人們都已進(jìn)行了精確的測量。在實(shí)驗室中有標(biāo)準(zhǔn)光譜圖對照進(jìn)行分析。目前三十四頁\總數(shù)五十八頁\編于十一點(diǎn)

標(biāo)準(zhǔn)光譜圖是在相同條件下,在鐵光譜上方準(zhǔn)確地繪出68種元素的逐條譜線并放大20倍的圖片。由波長標(biāo)尺、鐵光譜、元素靈敏線及特征線組三部分組成。目前三十五頁\總數(shù)五十八頁\編于十一點(diǎn)

(a)(b)(c)樣品三次不同的曝光;(d)Fe譜;(e)(f)為標(biāo)準(zhǔn)圖譜。目前三十六頁\總數(shù)五十八頁\編于十一點(diǎn)如上圖,定性分析時,將樣品和Fe(直接以鐵棒作電極)并列攝譜于同一感光板上,經(jīng)過顯影、定影、沖洗及干燥后的譜片,放在映譜儀上放大20倍,使純鐵光譜與標(biāo)準(zhǔn)光譜圖上鐵光譜重合,若試樣光譜上某些譜線和圖譜上某些元素譜線重合,就可以確定譜線的波長及所代表的元素。

適用于測定復(fù)雜組分以及進(jìn)行光譜定性全分析或簡項分析。

注意:判斷某元素是否存在,必須檢查該元素2條以上不受干擾的最后線或靈敏線。目前三十七頁\總數(shù)五十八頁\編于十一點(diǎn)2.標(biāo)樣光譜比較法判斷樣品中某元素是否存在,可將該元素的純物質(zhì)或其化合物與樣品并列攝譜于同一譜板(此時不用鐵譜),于映譜儀上檢查該元素是否存在。

適用于試樣中指定組分的定性鑒定,且指定組分的純物質(zhì)比較容易得到。3、波長測定法

上述兩種方法無法確定試樣中某些譜線屬于何種元素時;準(zhǔn)確測定出未知譜線的波長,再從元素波長表上查出未知譜線相對應(yīng)的元素。

目前三十八頁\總數(shù)五十八頁\編于十一點(diǎn)對電極(上電極)樣品電極(下電極)(三)光譜定性分析過程分為試樣處理、攝譜、檢查譜線等步驟。1、電極和試樣的處理

a)電極多由石墨(Graphite)制成:高溶點(diǎn)、易提純、易導(dǎo)電、光譜簡單;b)固體試樣:金屬或合金直接做成電極(固體自電極);粉末試樣可與石墨粉混合裝樣;c)溶液試樣:滴在電極上,低溫烘干;使用ICP可直溶液進(jìn)樣。目前三十九頁\總數(shù)五十八頁\編于十一點(diǎn)2、攝譜定性分析中常用直流電弧作光源,狹縫應(yīng)小,感光板靈敏度要高。分段曝光法:實(shí)際工作中,多采用直流電弧作光源。起弧小電流大電流中電流中等激發(fā)元素難激發(fā)元素易激發(fā)元素Hartman光欄(置于狹縫前)t1t2t3目前四十頁\總數(shù)五十八頁\編于十一點(diǎn)3、檢查譜線 攝譜后,在暗室中進(jìn)行顯影、定影、沖洗,最后將干燥的譜片放在映譜儀上進(jìn)行譜線檢查。二、光譜半定量分析在鋼材、合金的分類,礦石晶級的評定以及在光譜定性分析中,除需要給出試樣中存在哪些元素外,還需要給出元素的大致含量,這時可用半定量分析法快速、簡便地解決問題。

迅速作出粗略含量判斷的方法——半定量分析法。半定量分析法的準(zhǔn)確度較差,相對誤差一般為30%——100%。目前四十一頁\總數(shù)五十八頁\編于十一點(diǎn)(一)譜線強(qiáng)(黑)度比較法

隨著樣品中元素含量的增加,譜線黑度增大。將試樣與配好的標(biāo)準(zhǔn)系列試樣或標(biāo)樣在相同實(shí)驗條件下并列攝譜,然后在映譜儀上用目視法直接比較試樣和標(biāo)樣光譜中元素分析線的黑度,從而估計試樣中待測元素的含量。該法的準(zhǔn)確度取決于被測試樣與標(biāo)樣基體組成的相似程度。目前四十二頁\總數(shù)五十八頁\編于十一點(diǎn)(二)譜線呈現(xiàn)法

利用譜線數(shù)目出現(xiàn)的多少來估計元素含量。被測元素譜線的數(shù)目隨著元素含量的增加,次靈敏線和其它較弱的譜線也會出現(xiàn),于是根據(jù)實(shí)驗可以編制元素譜線出現(xiàn)與含量關(guān)系表,即譜線呈現(xiàn)表。以后就根據(jù)某一譜線是否出現(xiàn)來估計試樣中該元素的大致含量。目前四十三頁\總數(shù)五十八頁\編于十一點(diǎn)例如,鉛的譜線呈現(xiàn)表Pb%譜線特征/nm0.001283.3069清晰可見261.4178和280.200弱0.003283.3069清晰可見261.4178增強(qiáng)280.200 變清晰0.01上述譜線增強(qiáng),266.317和287.332出現(xiàn)0.03上述譜線都增強(qiáng)0.10上述譜線更增強(qiáng),沒有出現(xiàn)新譜線0.30239.38,257.726出現(xiàn)(三)階梯減光板法(四)均稱線對法目前四十四頁\總數(shù)五十八頁\編于十一點(diǎn)第四節(jié) 光譜定量分析一、光譜定量分析的基本原理(一)光譜定量分析的基本關(guān)系式

AES分析進(jìn)行定量測量的基礎(chǔ)就是根據(jù)譜線強(qiáng)度與被測元素濃度的關(guān)系來進(jìn)行的。樣品光源樣品蒸發(fā)基態(tài)原子(N0)等離子體(原子+離子+電子)從整體上看,處于熱力學(xué)平衡狀態(tài)!ArcSparkICPFlame激發(fā)態(tài)原子(Ni)樣品激發(fā)E0Ei目前四十五頁\總數(shù)五十八頁\編于十一點(diǎn)考慮到譜線的自吸效應(yīng)系數(shù)b:I

=acb(Schiebe-Lomarkin公式)取對數(shù),上式變?yōu)椋?/p>

logI=blogc+loga——AES分析最基本的關(guān)系式。以logI

對logc作圖,得校正曲線。當(dāng)試樣濃度高時,b<1,工作曲線發(fā)生彎曲。只有在一定的實(shí)驗條件下,lgI—lgc關(guān)系曲線的直線部分才可作為元素定量分析的標(biāo)準(zhǔn)曲線。這種測定方法稱為絕對強(qiáng)度法。目前四十六頁\總數(shù)五十八頁\編于十一點(diǎn)(二)內(nèi)標(biāo)法光譜定量分析原理 由于以測量譜線的絕對強(qiáng)度來進(jìn)行定量分析是很難得到準(zhǔn)確結(jié)果的,故通常采用內(nèi)標(biāo)法來消除工作條件變化對分析結(jié)果的影響,提高光譜定量分析的準(zhǔn)確度。 內(nèi)標(biāo)法是通過測量譜線相對強(qiáng)度進(jìn)行定量分析的方法,又稱相對強(qiáng)度法。目前四十七頁\總數(shù)五十八頁\編于十一點(diǎn)具體做法:在分析元素的譜線中選一根譜線,稱為分析線;再在基體元素(或加入定量的其它元素)的譜線中選一根譜線,作為內(nèi)標(biāo)線。這兩條線組成分析線對。然后根據(jù)分析線對的相對強(qiáng)度與被分析元素含量的關(guān)系式進(jìn)行定量分析。

目前四十八頁\總數(shù)五十八頁\編于十一點(diǎn)內(nèi)標(biāo)法公式:設(shè)分析線和內(nèi)標(biāo)線強(qiáng)度分別為I,I0;濃度分別為c,c0;自吸系數(shù)分別為b,b0,二者之比可簡化為:取對數(shù)得:

——內(nèi)標(biāo)法光譜定量分析的基本公式目前四十九頁\總數(shù)五十八頁\編于十一點(diǎn)

內(nèi)標(biāo)元素及內(nèi)標(biāo)線的選擇原則:

內(nèi)標(biāo)元素:1)外加內(nèi)標(biāo)元素在分析試樣品中應(yīng)不存在或含量極微;如樣品基體元素的含量較穩(wěn)時,亦可用該基體元素作內(nèi)標(biāo)。2)內(nèi)標(biāo)元素與待測元素應(yīng)有相近的特性(蒸發(fā)特性);3)同族元素,具相近的電離能;目前五十頁\總數(shù)五十八頁\編于十一點(diǎn)內(nèi)標(biāo)線:1)激發(fā)能應(yīng)盡量相——均稱線對,不可選一離子線和一原子線為分析對;2)分析線的波長及強(qiáng)度接近;3)無自吸現(xiàn)象且不受其它元素干擾;4)背景應(yīng)盡量小。目前五十一頁\總數(shù)五十八頁\編于十一點(diǎn)(三)攝譜法光譜定量分析原理(1)感光板與譜線黑度

感光板:玻璃片基和感光層組成。譜線變黑的程度以黑度S來表示:其中,I0,Ii分別為未曝光部分和已曝光部分的光強(qiáng),T為透過率(%)

譜線“黑度”與待測物濃度有關(guān)。即S=f(c)

目前五十二頁\總數(shù)五十八頁\編于十一點(diǎn)(2)感光板的乳劑特性曲線

1)曝光量H與相板所接受的光強(qiáng)I

或照度E及曝光時間t成正比:2)曝光量H與黑度S之間的關(guān)系復(fù)雜——但可通過“乳劑特性曲線”——得到二者之間的定量關(guān)系!S~logH目前五十三頁\總數(shù)五十八頁\編于十一點(diǎn)S0logHiEDCBAbcSlogHS0—霧翳黑度

;BC—正常曝光段;bc—展度;Hi—惰延量;

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內(nèi)容里面會有圖紙預(yù)覽,若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 人人文庫網(wǎng)僅提供信息存儲空間,僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
  • 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

最新文檔

評論

0/150

提交評論