ESD的產(chǎn)生原理及防護措施_第1頁
ESD的產(chǎn)生原理及防護措施_第2頁
ESD的產(chǎn)生原理及防護措施_第3頁
ESD的產(chǎn)生原理及防護措施_第4頁
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文檔簡介

ESD產(chǎn)生原理與預(yù)防目前一頁\總數(shù)三十二頁\編于十二點ESD的產(chǎn)生原因幾種常見的ESD模型ESD的危害ESD的防護ESD防護器件的擺放ESD與EOS的區(qū)別ESD器件類型比較主要內(nèi)容目前二頁\總數(shù)三十二頁\編于十二點ESD:ElectrostaticDischarge,即是靜電放電。靜電是一種客觀存在的自然現(xiàn)象,是一種電能,它存在于物體表面,是正負電荷在局部失衡時產(chǎn)生的一種現(xiàn)象。靜電現(xiàn)象是指電荷在產(chǎn)生與消失過程中所表現(xiàn)出的現(xiàn)象的總稱。靜電產(chǎn)生的方式有多種,如接觸、摩擦、電器間感應(yīng)等。靜電的特點是長時間積聚、高電壓、低電量、大電流和作用時間短(ns級別)的特點。為什么會產(chǎn)生靜電呢?任何物質(zhì)都是由原子組合而成,而原子的基本結(jié)構(gòu)為質(zhì)子、中子及電子。科學(xué)家們將質(zhì)子定義為正電,中子不帶電,電子帶負電。在正常狀況下,一個原子的質(zhì)子數(shù)與電子數(shù)量相同,正負電平衡,所以對外表現(xiàn)出不帶電的現(xiàn)象。但是電子環(huán)繞于原子核周圍,一經(jīng)外力即脫離軌道,離開原來的原子A而侵入其他的原子B,A原子因缺少電子數(shù)而帶有正電現(xiàn)象,稱為陽離子、B原子因增加電子數(shù)而呈帶負電現(xiàn)象,稱為陰離子。由于外界作用如摩擦或以各種能量(如動能、位能、熱能、化學(xué)能等)的形式作用會使原子的正負電不平衡。人體自身的動作或與其他物體的接觸,分離,摩擦或感應(yīng)等因素,可以產(chǎn)生幾千伏甚至上萬伏的靜電。比如人在化纖地毯上行走大約會有35KV的靜電,翻閱塑料說明書會有7KV靜電產(chǎn)生。ESD的產(chǎn)生原因目前三頁\總數(shù)三十二頁\編于十二點ESD的產(chǎn)生原因目前四頁\總數(shù)三十二頁\編于十二點人體放電模型(Human-BodyModel,HBM)機器放電模型(MachineModel,MM)元件充電模型(Charged-DeviceModel,CDM)電場感應(yīng)模型(Field-InducedModel,FIM)幾種常見的ESD模型目前五頁\總數(shù)三十二頁\編于十二點

人體放電模型(HBM)的ESD是指人體在地上走動摩擦或其他因素在人體上累積了靜電,當此人去觸碰IC時,人體上的靜電便經(jīng)由IC的pin腳進入IC內(nèi)部,再經(jīng)由IC內(nèi)部放電到地。

放電過程會在幾百ns的時間內(nèi)產(chǎn)生數(shù)安培的瞬間放電電流,此電流可能會把IC內(nèi)的元件給燒毀。幾種常見的ESD模型

人體放電模型(Human-BodyModel,HBM)目前六頁\總數(shù)三十二頁\編于十二點幾種常見的ESD模型

人體放電模型(Human-BodyModel,HBM)目前七頁\總數(shù)三十二頁\編于十二點幾種常見的ESD模型

人體放電模型(Human-BodyModel,HBM)工業(yè)標準MIL-STD-883Cmethod3015.7中HBM的等效線路圖,其中人體的等效電容定義為100pF,人體的等效放電電阻定義為1.5kohm目前八頁\總數(shù)三十二頁\編于十二點機器放電模型的ESD是指機器本身也積累了靜電,當此機器去觸碰IC時,靜電便經(jīng)由IC的pin腳放電。機器放電的放電過程時間更短,在幾十ns的時間內(nèi)會有數(shù)安培的瞬間放電電流產(chǎn)生。幾種常見的ESD模型

機器放電模型(MachineModel,MM)工業(yè)標準EIAJ-IC-121method20中MM的等效電路圖,其中機器的等效電容定義為200pF,機器的等效放電電阻為0ohm目前九頁\總數(shù)三十二頁\編于十二點幾種常見的ESD模型

機器放電模型(MachineModel,MM)人體放電模型2kV和機器放電模型200V的放電電流比較圖目前十頁\總數(shù)三十二頁\編于十二點幾種常見的ESD模型

機器放電模型(MachineModel,MM)目前十一頁\總數(shù)三十二頁\編于十二點元件充電模型是指IC本身先因摩擦或其它因素而在IC內(nèi)部累積了靜電,但在靜電累積的過程中IC并未損傷。在處理此IC的過程中,IC的pin腳觸碰到了地,IC內(nèi)部的靜電便經(jīng)由IC內(nèi)部的pin腳流出來,而造成了放電現(xiàn)象。此種模式的放電時間更短,僅約為幾ns,而且放電現(xiàn)象更難以被真實的模擬。因為IC內(nèi)部積累的靜電會因IC內(nèi)部的等效電容的不同而改變。幾種常見的ESD模型

元件充電模型(Charged-DeviceModel,CDM)目前十二頁\總數(shù)三十二頁\編于十二點幾種常見的ESD模型

元件充電模型(Charged-DeviceModel,CDM)兩種常見的CDM的放電情況目前十三頁\總數(shù)三十二頁\編于十二點幾種常見的ESD模型

元件充電模型(Charged-DeviceModel,CDM)CDM測試標準目前十四頁\總數(shù)三十二頁\編于十二點幾種常見的ESD模型

元件充電模型(Charged-DeviceModel,CDM)HBM2kV,MM200V,CDM1kV三種模型的放電電流比較圖CDM更容易造成IC的損傷目前十五頁\總數(shù)三十二頁\編于十二點FIM的靜電放電是因電場感應(yīng)而引起的。當IC因傳輸帶或其它因素,經(jīng)過一個電場時,其相對極性的電荷可能會從IC的pin腳排放掉,這樣當IC通過電場以后,IC便累積了靜電。此靜電再以類似CDM放電模型的情況放電出來。幾種常見的ESD模型

電場感應(yīng)模型(Field-InducedModel,FIM)目前十六頁\總數(shù)三十二頁\編于十二點ESD(靜電放電)對電子產(chǎn)品造成的破壞和損傷有突發(fā)性損傷和潛在性損傷兩種。所謂突發(fā)性損傷,指的是器件被嚴重損壞,功能喪失。這種損傷通常能夠在生產(chǎn)過程中的質(zhì)量檢測中能夠發(fā)現(xiàn),因此給工廠帶來的主要是返工維修的成本。而潛在性損傷指的是器件部分被損,功能尚未喪失,且在生產(chǎn)過程的檢測中不能發(fā)現(xiàn),但在使用當中會使產(chǎn)品變得不穩(wěn)定,時好時壞,因而對產(chǎn)品質(zhì)量構(gòu)成更大的危害。

這兩種損傷中,潛在性失效占據(jù)了90%,突發(fā)性失效只占10%。也就是說90%的靜電損傷是沒辦法檢測到,只有到了用戶手里使用時才會發(fā)現(xiàn)。比如手機屏幕、攝像頭、揚聲器、聽筒、耳機插口、鍵區(qū)、MIC、USB接口、音量鍵、T-Flash卡、SIM卡等都可能成為ESD的進入點。手機出現(xiàn)的經(jīng)常死機、自動關(guān)機、話音質(zhì)量差、雜音大、信號時好時差、按鍵出錯等問題有絕大多數(shù)與靜電損傷相關(guān)。也因為這一點,靜電放電被認為是電子產(chǎn)品質(zhì)量最大的潛在殺手,靜電防護也成為電子產(chǎn)品質(zhì)量控制的一項重要內(nèi)容。而國內(nèi)外品牌手機使用時穩(wěn)定性的差異也基本上反映了他們在靜電防護及產(chǎn)品的防靜電設(shè)計上的差異。ESD的危害

目前十七頁\總數(shù)三十二頁\編于十二點基本方法1、接地,接地就是將靜電通過一條線的連接放入大地,這是防靜電措施中最直接最有效的。導(dǎo)體常用的接地方法有:帶防靜電手腕及工作表面接地等。

2、靜電屏蔽,靜電敏感元件在儲存或運輸過程中會暴露于有靜電的區(qū)域中,用靜電屏蔽的方法可削弱外界靜電對電子元件的影響。最通常的方法是用靜電屏蔽袋作為保護。3、離子中和,絕緣體往往是易產(chǎn)生靜電的,對絕緣體靜電的消除,用接地方法是無效的,通常采用的方法是離子中和,即在工作環(huán)境中使用離子風(fēng)機,離子氣槍。

電路設(shè)計中需注意一下幾點1)器件選型時必須認證ESD等級2)IO接口線路上擺放ESD防護器件(ESD防護器件可以有效的抑制由ESD放電產(chǎn)生的直接電荷注入)3)做好EMI防護(PCB設(shè)計中更重要的是克服放電電流產(chǎn)生的電磁干擾效應(yīng))ESD的防護---基本方法目前十八頁\總數(shù)三十二頁\編于十二點(1)控制靜電的生成環(huán)境

①濕度控制,在不致導(dǎo)致器材或產(chǎn)品腐蝕生銹或其他危害前提下,盡量加大濕度。

②溫度控制,在可能條件下盡量降低溫度,包括環(huán)境溫度和物體接觸溫度。

③塵??刂?,此為防止附著(吸附)帶電的重要措施。

④地板、桌椅面料和工作臺墊應(yīng)由防靜電材料制成,并正確接地。

⑤靜電敏感產(chǎn)品的運送傳遞和存儲及包裝應(yīng)采取靜電防護措施。

⑥噴射、流動、運送、纏繞和分離速度應(yīng)予控制,在液體、粉體等材料的輸送管道中使用緩和器。(2)防止人體帶電①操作者應(yīng)該佩戴防靜電腕帶,應(yīng)該穿著防靜電服裝,鞋,圍巾,椅子應(yīng)該套防靜電套。(一端與人體接觸,另一端與地線相連)

ESD的防護---工廠操作防護目前十九頁\總數(shù)三十二頁\編于十二點常用的ESD防護器件:IO口二極管陣列ESD的防護---常用器件目前二十頁\總數(shù)三十二頁\編于十二點ESD防護器件的一般連接方式ESD的防護---常用器件目前二十一頁\總數(shù)三十二頁\編于十二點ESD電流路徑上寄生自感的影響ESD防護器件的擺放被保護IC所承受的電壓Vx其中VF1為D1的正向?qū)妷耗壳岸揬總數(shù)三十二頁\編于十二點常用的ESD防護器件:電源或接口保護器件TVS目前二十三頁\總數(shù)三十二頁\編于十二點常用的ESD防護器件:電源或接口保護器件TVS目前二十四頁\總數(shù)三十二頁\編于十二點在PCB布線時,遵循幾個簡單的規(guī)則就可以使這些寄生自感最?。?)盡可能地,用Vcc和地平面充當電源和地分散能量。2)ESD器件盡量靠近接口放置,確保印刷電路上的走線從ESD保護二極管陣列的Vp和Vn到Vcc和地平面間走線盡量地短、寬。理想情況是,將Vp和Vn直接通過多個口連到Vcc和地平面。3)在Vp和地平面間連入一個高頻旁路電容---用最短的走線使自感最小。

在ESD保護器件選擇時注意以下幾個參數(shù):1)Vc即鉗位電壓不能大于被保護回路的可承受極限電壓。2)選型時應(yīng)使Vrwm(維持電壓-在此階段TVS為不導(dǎo)通之狀態(tài))應(yīng)等于或略高于電路的正常工作電壓,不能低于被保護器件或線路的正常工作電壓。3)VBR不能小于電路的最大允許工作電壓。4)Cd為ESD/TVS器件的引腳寄生電容,通信速率越高,線路上使用的ESD保護器件的結(jié)電容要越低。5)

最大峰值脈沖功率(PN=VC·IPP):確定電路的干擾脈沖情況,根據(jù)干擾脈沖的波形、脈沖持續(xù)時間,確定能夠有效抑制該干擾的TVS峰值脈沖功率。ESD防護器件的擺放及選擇目前二十五頁\總數(shù)三十二頁\編于十二點ESD與EOS的區(qū)別EOS:ElectricalOverStress指所有的過度電性應(yīng)力,超過其最大指定極限后,器件功能會減弱或損壞。ESD:ElectricalstaticDischarge靜電放電,電荷從一個物體轉(zhuǎn)移到另一個物體。目前二十六頁\總數(shù)三十二頁\編于十二點ESD與EOS的區(qū)別

目前二十七頁\總數(shù)三十二頁\編于十二點瞬態(tài)電壓抑制器(TVS)、壓敏電阻、玻璃陶瓷的GcDiode靜電抑制器和聚合物是近幾年發(fā)展起來的幾種專用ESD保護元件。其中前三種元件均采用電壓鉗位的方式進行保護,帶導(dǎo)電粒子的聚合物則是采用消弧(crowbar)保護策略。壓敏電阻、玻璃陶瓷的GcDiode靜電抑制器和聚合物支持雙向保護,但TVS可支持單向或雙向保護。

傳統(tǒng)的壓敏電阻雖然在成本上具有一定優(yōu)勢,但它存在的一個最大問題是體積太大,無法滿足手持設(shè)備的封裝要求。事實上,與壓敏電阻相比,基于硅材料的TVS具有更好的鉗制性能、更低的泄漏和更長的使用壽命。高分子聚合物和TVS在多重應(yīng)力下仍然可保持強大的性能,而壓敏電阻則會隨著使用次數(shù)的增多性能下降。TVS技術(shù)利用的是半導(dǎo)體的鉗位原理,在經(jīng)受瞬時高壓時,會立即將能量釋放出去,而壓敏電阻采用的是物理吸收原理,因此每經(jīng)過一次ESD事件,材料就會受到一定的物理損傷,形成無法恢復(fù)的漏電通道?!癟VS技術(shù)的原理就好像傳統(tǒng)的打太極,可以輕松釋放掉能量而不是直接與之對抗”。這樣做的好處是器件不會受到損害,基本上沒有壽命限制。從現(xiàn)場展示的TVS與壓敏電阻的鉗制電壓曲線來看,TVS器件可以在極短時間內(nèi)將輸入的大電壓鉗制到5至6伏的水平,而壓敏電阻的曲線則下降得非常緩慢,并且無法達到TVS器件的效果。這表明TVS器件在響應(yīng)時間和鉗制性能方面均優(yōu)于壓敏電阻。ESD器件類型比較目前二十八頁\總數(shù)三十二頁\編于十二點ESD器件類型比較目前二十九頁\總數(shù)三十二頁\編于十二點ESD器件類型比較雙向消弧保護器件(黑色)和單向鉗位保護器件(紅色)的I-V

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