脈沖反射法超聲檢測(cè)通用技術(shù)演示文稿

脈沖反射法超聲檢測(cè)通用技術(shù)演示文稿1當(dāng)前第1頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)（優(yōu)選）脈沖反射法超聲檢測(cè)通用技術(shù)當(dāng)前第2頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)36.4縱波直探頭檢測(cè)技術(shù)

檢測(cè)設(shè)備的調(diào)整缺陷的評(píng)定

Xi'anPolytechnicUniversity當(dāng)前第3頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)41.掃描速度的調(diào)節(jié)一、檢測(cè)設(shè)備的調(diào)節(jié)調(diào)整的目的使時(shí)基線顯示的范圍足以包含需要檢測(cè)的深度范圍；使時(shí)基線刻度與在材料中聲波傳播的距離成一定比例，以便準(zhǔn)確測(cè)定缺陷的深度位置。調(diào)整的內(nèi)容時(shí)基比例調(diào)整：調(diào)整儀器示波屏上時(shí)基線的水平刻度值τ與實(shí)際聲程x（單程）的比例關(guān)系，即

τ:x=1:n。零位調(diào)節(jié)：掃描速度確定后，還需采用延遲旋鈕，將聲程零位設(shè)置在所選定的水平刻線上，一般放在時(shí)基線的零點(diǎn)。Xi'anPolytechnicUniversity當(dāng)前第4頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)5例：檢測(cè)厚度為400mm的鍛件時(shí)應(yīng)如何調(diào)節(jié)掃描速度？檢測(cè)儀示波屏上的滿刻度為100格，利用ⅡW試塊的100mm可按1:4調(diào)節(jié)。調(diào)節(jié)方法：將探頭對(duì)準(zhǔn)試塊上厚度為100mm的底面，重復(fù)調(diào)節(jié)儀器上深度微調(diào)旋鈕和延遲旋鈕，使底波B2和B4分別對(duì)準(zhǔn)水平刻度50和100，這時(shí)掃描線水平刻度值與實(shí)際聲程的比例正好為1:4，同時(shí)實(shí)現(xiàn)了聲程零位和時(shí)基線零位的重合。Xi'anPolytechnicUniversity當(dāng)前第5頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)6

工件底波調(diào)整法(適用于厚度x≥3N工件)2.檢測(cè)靈敏度的調(diào)整

靈敏度：是指在確定的聲程范圍內(nèi)發(fā)現(xiàn)規(guī)定大小缺陷的能力。調(diào)整靈敏度的目的在于發(fā)現(xiàn)規(guī)定大小的缺陷，并對(duì)缺陷定量。

試塊調(diào)整法(可用于厚度x<3N工件)調(diào)整方法：Xi'anPolytechnicUniversity當(dāng)前第6頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)7

工件底波調(diào)整法(適用于厚度x≥3N工件)原理：根據(jù)工件底面回波與同深度的人工缺陷（平底孔）回波分貝差為定值的原理進(jìn)行的。

Xi'anPolytechnicUniversity當(dāng)前第7頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)81)

計(jì)算：利用理論計(jì)算公式算出400mm處大平底與φ2平底孔回波分貝差為：2)調(diào)整：將探頭對(duì)準(zhǔn)400mm大平底，調(diào)節(jié)儀器增益旋鈕使第一次底波B1達(dá)基準(zhǔn)波高（如滿刻度的80%）；然后調(diào)節(jié)增益旋鈕使幅度提高44dB。至此φ2mm靈敏度調(diào)好，即400mm處φ2mm平底孔回波正好達(dá)基準(zhǔn)波高。

例：用2.5P20Z測(cè)厚度x=400mm的餅形鋼制工件，鋼中cL=5900m/s,檢測(cè)靈敏度為400mm、φ2mm平底孔。Xi'anPolytechnicUniversity當(dāng)前第8頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)9

試塊調(diào)整法(可用于厚度x<3N工件)原理：根據(jù)工件的厚度和對(duì)靈敏度的要求選擇試塊，將探頭對(duì)準(zhǔn)試塊上人工反射體，調(diào)整儀器上的有關(guān)靈敏度旋鈕，使示波屏上人工反射體的最高反射回波達(dá)到基準(zhǔn)高度。Xi'anPolytechnicUniversity當(dāng)前第9頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)10Xi'anPolytechnicUniversity

例：檢測(cè)厚度為100mm的鍛件，檢測(cè)靈敏度要求是：不允許存在φ2mm平底孔當(dāng)量大小的缺陷，傳輸修正值為3dB。調(diào)整方法：選用CS-2標(biāo)準(zhǔn)試塊，該試塊中有一位于100mm深度的φ2mm平底孔。將探頭對(duì)準(zhǔn)φ2mm平底孔，儀器保留一定的衰減余量，將抑制旋鈕調(diào)整至“0”，調(diào)增益旋鈕使φ2mm平底孔得最高回波達(dá)80%高。完成上述調(diào)整后，再用增益旋鈕將幅度顯示提高3dB，以進(jìn)行傳輸修正。傳輸修正：當(dāng)工件表面狀態(tài)和材質(zhì)與對(duì)比試塊存在一定差異時(shí)采取的一種補(bǔ)償措施。當(dāng)前第10頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)113.傳輸修正值的測(cè)定(1)

試塊厚度與工件的厚度相同時(shí)試塊上:調(diào)節(jié)儀器的時(shí)基線和增益，使熒光屏上一次底波B1達(dá)到基準(zhǔn)高度并記錄此時(shí)衰減器讀數(shù)V1；工件上:調(diào)節(jié)衰減器旋鈕使工件的一次底波B2達(dá)到基準(zhǔn)高度并記錄此時(shí)衰減器讀數(shù)V2；說明：當(dāng)B2高于B1時(shí)，?dB為負(fù)值，表示工件的表面損失和材質(zhì)衰減小于試塊；反之，?dB為正值，表示工件的表面損失和材質(zhì)衰減大于試塊。

傳輸修正值為：?

dB

=V2-V1（增益型）Xi'anPolytechnicUniversity當(dāng)前第11頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)12(2)

試塊厚度與工件的厚度不同時(shí)按同厚度試塊測(cè)定步驟，測(cè)得?dB為值；

計(jì)算試塊與工件的聲程不同引起的底波高度的分貝差V3；說明：試塊厚度大于工件厚度時(shí)，V3為負(fù)值；試塊厚度小于工件厚度時(shí)，V3為正值。

傳輸修正值為：?dB+V3。Xi'anPolytechnicUniversity當(dāng)前第12頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)134.工件材質(zhì)衰減系數(shù)的測(cè)定(1)x<3N時(shí)：Xi'anPolytechnicUniversity當(dāng)前第13頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)14(2)x≥3N時(shí)Xi'anPolytechnicUniversity當(dāng)前第14頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)151.確定缺陷的位置二、缺陷的評(píng)定

缺陷平面位置的確定

缺陷埋藏深度的確定Xi'anPolytechnicUniversity當(dāng)前第15頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)16

缺陷平面位置的確定Xi'anPolytechnicUniversity示波屏試件探頭BT0τBxBxFFτF0xF=nτFxB=nτB→回波最大時(shí)探頭正下方當(dāng)前第16頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)17

缺陷埋藏深度的確定→時(shí)基比例法

→圖像比較法Xi'anPolytechnicUniversity(1)時(shí)基比例法用縱波直探頭進(jìn)行直接接觸法檢測(cè)時(shí)，如果超聲檢測(cè)儀的時(shí)基線是按1:n的比例調(diào)節(jié)的，觀察到缺陷回波前沿所對(duì)的水平刻度值為τf，則缺陷至探頭的距離xf為:xf=nτf

例：用縱波直探頭檢測(cè)，時(shí)基線比例為1:2，在水平刻度50處有一缺陷回波，則缺陷到探頭的距離為:當(dāng)前第17頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)18(2)圖像比較法若工件長(zhǎng)為L(zhǎng)，缺陷波和底波距發(fā)射波分別為xF和xB，那么，缺陷距探測(cè)面為：Xi'anPolytechnicUniversity當(dāng)前第18頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)192.缺陷尺寸的評(píng)定

回波高度法

當(dāng)量評(píng)定法

測(cè)長(zhǎng)法Xi'anPolytechnicUniversity當(dāng)前第19頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)20(1)回波高度法Xi'anPolytechnicUniversity當(dāng)前第20頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)21(2)

當(dāng)量評(píng)定法Xi'anPolytechnicUniversity當(dāng)前第21頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)22

試塊比較法是將缺陷波幅直接與對(duì)比試塊中同聲程的人工反射體回波幅度相比較，若兩者相等時(shí)以該人工反射體尺寸作為缺陷當(dāng)量。

試塊比較法

若人工反射體為φ2mm平底孔時(shí)，稱缺陷當(dāng)量尺寸為φ2mm平底孔當(dāng)量。

若缺陷波高與人工反射體的反射波高不相等，則以人工反射體尺寸和缺陷波幅度高于或低于人工反射體回波幅度的分貝數(shù)表示，如φ2mm+3dB平底孔當(dāng)量，表示缺陷幅度比φ2mm平底孔反射幅度高3dB。Xi'anPolytechnicUniversity當(dāng)前第22頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)23

當(dāng)量計(jì)算法是根據(jù)超聲檢測(cè)中測(cè)得的缺陷回波與基準(zhǔn)波高（或底波）的分貝差值，利用各種人工反射體反射聲壓和大平底反射聲壓之間的理論分貝差值表示缺陷的當(dāng)量尺寸的方法。

當(dāng)量計(jì)算法Xi'anPolytechnicUniversity當(dāng)前第23頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)24大平底和平底孔的回波聲壓分別為：

不同距離的平底孔與大平底回波聲壓的分貝差值為：若考慮材質(zhì)衰減引起的聲壓隨距離的變化，則有：

Xi'anPolytechnicUniversity當(dāng)前第24頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)25

例1：用4P14Z檢測(cè)厚度x=400mm的鋼制工件，鋼中cL=5900m/s,材料衰減系數(shù)a=0.01dB/mm，發(fā)現(xiàn)距離檢測(cè)面250mm處有一缺陷，此缺陷回波與工件完好區(qū)底面回波的分貝差為-16dB，求此缺陷的當(dāng)量尺寸。當(dāng)前第25頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)26例2：用2P14Z檢測(cè)厚度x=350mm的鋼制工件，鋼中cL=5900m/s，發(fā)現(xiàn)距離檢測(cè)面200mm處有一缺陷，此缺陷回波高比平底孔試塊150/φ2回波高度高11dB，求此缺陷的當(dāng)量平底孔尺寸。當(dāng)前第26頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)27通用平底孔

AVG曲線AVG曲線法(x≥3N)Xi'anPolytechnicUniversity橫坐標(biāo)表示歸一化距離A縱坐標(biāo)表示相對(duì)波高V圖中最上面一根直線代表底波高度線以下每一組曲線代表缺陷回波高度圖中G表示歸一化尺寸作用：(1)

調(diào)整檢測(cè)靈敏度。

(2)確定處缺陷的當(dāng)量大小。當(dāng)前第27頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)28

例1：用2.5P14Z探頭檢測(cè)厚度為420mm餅形鋼制工件，鋼中cl=5900m/s，(1)

利用底波調(diào)整φ2平底孔檢測(cè)靈敏度。(2)檢測(cè)中在210mm處發(fā)現(xiàn)有一缺陷，其回波比底波低26dB，求此處缺陷的當(dāng)量大小。Xi'anPolytechnicUniversity當(dāng)前第28頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)29Xi'anPolytechnicUniversitya(20,-22)d(20,-66)當(dāng)前第29頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)30Xi'anPolytechnicUniversitya(20,-22)b(20,-48)26dBc(10,-48)當(dāng)前第30頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)31(3)

測(cè)長(zhǎng)法

原理：當(dāng)聲束整個(gè)寬度全部入射到大于聲束截面的缺陷上時(shí)，缺陷的反射幅度為其最大值，而當(dāng)聲束的一部分離開缺陷時(shí)，缺陷反射面積減小，回波幅度降低，完全離開時(shí)，就沒有缺陷回波了，這樣，就可以根據(jù)缺陷最大回波高度降低的情況和探頭移動(dòng)的距離來確定缺陷的邊緣范圍或長(zhǎng)度。實(shí)際檢測(cè)時(shí)，缺陷的回波高度完全消失的臨界位置是難以界定的，所以，按規(guī)定的方法測(cè)定的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的指示長(zhǎng)度。測(cè)長(zhǎng)法分為：Xi'anPolytechnicUniversity當(dāng)前第31頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)32

相對(duì)靈敏度法a.6dB法(半波高度法)半波高度法具體做法是：移動(dòng)探頭找到缺陷的最大反射波(調(diào)節(jié)增益或衰減使不要達(dá)到100%)，然后沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，當(dāng)缺陷波高降低一半時(shí)，探頭中心線之間距離就是缺陷的指示長(zhǎng)度。6dB法的具體做法是：移動(dòng)探頭找到缺陷的最大反射波后，調(diào)節(jié)衰減器，使缺陷波高降至基準(zhǔn)波高。然后用衰減器將儀器靈敏度提高6dB，沿缺陷方向移動(dòng)探頭，當(dāng)缺陷波高降至基準(zhǔn)高度時(shí)，探頭中心線之間距離就是缺陷的指示長(zhǎng)度。Xi'anPolytechnicUniversity當(dāng)前第32頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)33b.端點(diǎn)6dB法(半波高度法)

當(dāng)掃查過程中缺陷反射波有多個(gè)高點(diǎn)時(shí)，測(cè)長(zhǎng)采用端點(diǎn)6dB法。端點(diǎn)6dB法的具體做法是：移動(dòng)探頭，當(dāng)發(fā)現(xiàn)缺陷后，探頭沿著缺陷方向左右移動(dòng)，找到缺陷兩端的最大反射波，分別以這兩個(gè)端點(diǎn)反射波高為基準(zhǔn)，繼續(xù)向左、向右移動(dòng)探頭，當(dāng)端點(diǎn)反射波高降低一半（即6dB）時(shí)，探頭中心線之間的距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度。Xi'anPolytechnicUniversity當(dāng)前第33頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)34

絕對(duì)靈敏度法

絕對(duì)靈敏度測(cè)長(zhǎng)法是在儀器靈敏度一定的條件下，探頭沿缺陷長(zhǎng)度方向平行移動(dòng)，當(dāng)缺陷波高降到規(guī)定位置時(shí)，將此時(shí)探頭移動(dòng)的距離作為缺陷的指示長(zhǎng)度。Xi'anPolytechnicUniversity當(dāng)前第34頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)35

端點(diǎn)峰值法

探頭在測(cè)長(zhǎng)掃查過程中，如發(fā)現(xiàn)缺陷反射波值起伏變化，有多個(gè)高點(diǎn)時(shí)，則可以將缺陷兩端反射波極大值之間探頭的距離作為缺陷指示長(zhǎng)度，這種方法稱為端點(diǎn)峰值法。Xi'anPolytechnicUniversity當(dāng)前第35頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)36小結(jié)：縱波直探頭檢測(cè)工藝流程：1、儀器、探頭的選擇及檢測(cè)工件的準(zhǔn)備；2、時(shí)基線的調(diào)整（掃描速度和零位調(diào)節(jié)）；3、檢測(cè)靈敏度調(diào)整（試塊法和工件底波法）；4、傳輸修正值的測(cè)定；5、工件材質(zhì)衰減系數(shù)的測(cè)定；6、評(píng)定缺陷：（定位：平面位置和埋藏深度）（定量：回波高度法、當(dāng)量評(píng)定法和測(cè)長(zhǎng)法）。Xi'anPolytechnicUniversity當(dāng)前第36頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)376.5橫波斜探頭檢測(cè)技術(shù)

檢測(cè)設(shè)備的調(diào)整缺陷的評(píng)定Xi'anPolytechnicUniversity當(dāng)前第37頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)3835o~60o(K=0.7~1.73)

60o~76o(K=1.73~3.73)

75o~80o(K=3.73~5.67)

1.探頭入射點(diǎn)和折射角的測(cè)定一、檢測(cè)設(shè)備的調(diào)節(jié)

利用ⅡW試塊或CSK-IA試塊上測(cè)定。Xi'anPolytechnicUniversity當(dāng)前第38頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)392.掃描速度的調(diào)節(jié)

聲程調(diào)節(jié)法水平調(diào)節(jié)法深度調(diào)節(jié)法Xi'anPolytechnicUniversity當(dāng)前第39頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)40(1)聲程調(diào)節(jié)法

聲程調(diào)節(jié)法是示波屏上的水平刻度值與橫波聲程x成比例。Xi'anPolytechnicUniversity當(dāng)前第40頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)41ⅡW試塊Xi'anPolytechnicUniversity當(dāng)前第41頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)42調(diào)整方法：將橫波探頭直接對(duì)準(zhǔn)R50和R100圓弧面，使回波B1(R50)對(duì)準(zhǔn)50，B2(R100)對(duì)準(zhǔn)100，于是橫波掃描速度1:1和“0”點(diǎn)同時(shí)調(diào)好校準(zhǔn)。TB1B2100050CSK-?A試塊Xi'anPolytechnicUniversity當(dāng)前第42頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)43ⅡW2試塊

半圓試塊調(diào)整方法：探頭對(duì)準(zhǔn)R25圓弧面，調(diào)節(jié)儀器使B1、B2分別對(duì)準(zhǔn)水平刻度25、100即可。調(diào)整方法：探頭對(duì)準(zhǔn)R50圓弧面，調(diào)節(jié)儀器使B1、B2分別對(duì)準(zhǔn)水平刻度0、100，然后調(diào)“脈沖移位”使B1對(duì)準(zhǔn)50即可。Xi'anPolytechnicUniversity當(dāng)前第43頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)44(2)水平調(diào)節(jié)法和深度調(diào)節(jié)法

水平調(diào)節(jié)法是示波屏上的水平刻度值與反射體的水平距離l成比例。

深度調(diào)節(jié)法是示波屏上的水平刻度值與反射體的深度d成比例。Xi'anPolytechnicUniversity當(dāng)前第44頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)45

利用CSK-ⅠA試塊，利用R50和R100圓弧Xi'anPolytechnicUniversity調(diào)整方法：將探頭對(duì)準(zhǔn)R50圓弧，調(diào)節(jié)儀器使B1、B2分別對(duì)準(zhǔn)水平刻度35、70，則掃描速度為1:1。當(dāng)前第45頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)46

利用R50半圓試塊Xi'anPolytechnicUniversity調(diào)整方法：將探頭對(duì)準(zhǔn)R50圓弧，調(diào)節(jié)儀器使B1、B2分別對(duì)準(zhǔn)水平刻度0、70，然后調(diào)“脈沖移位”使B1對(duì)準(zhǔn)35即可。當(dāng)前第46頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)47

利用CSK-ⅢA短橫孔試塊lXi'anPolytechnicUniversity當(dāng)前第47頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)48三.距離-波幅曲線的制作和靈敏度調(diào)整1.距離-波幅曲線

距離-波幅曲線是描述某一特定反射體回波高度隨距離變化關(guān)系的曲線。由評(píng)定線、定量線和判廢線組成，分三個(gè)區(qū)。

可在CSK-ⅡA

、CSK-ⅢA

或CSK-ⅣA

試塊上制作。

可進(jìn)行靈敏度的調(diào)整和缺陷當(dāng)量尺寸的評(píng)定。Xi'anPolytechnicUniversity當(dāng)前第48頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)492.不同壁厚的距離-波幅曲線靈敏度選擇CSK-ⅡA試塊Xi'anPolytechnicUniversity當(dāng)前第49頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)50CSK-ⅡA試塊CSK-ⅢA試塊Xi'anPolytechnicUniversity當(dāng)前第50頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)51Xi'anPolytechnicUniversity當(dāng)前第51頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)52Xi'anPolytechnicUniversity當(dāng)前第52頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)533.距離-波幅曲線的繪制方法及其應(yīng)用

距離-dB曲線面板曲線Xi'anPolytechnicUniversity當(dāng)前第53頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)54(1)

距離-dB曲線的繪制（例：板厚T=30mm

。）

→測(cè)定探頭入射點(diǎn)和K值，并根據(jù)板厚調(diào)節(jié)掃描速度(1:1)。

→測(cè)定CSK-ⅢA試塊不同距離處橫孔的dB值并填入表格。Xi'anPolytechnicUniversity當(dāng)前第54頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)55→

利用表中數(shù)據(jù)，以孔深為橫坐標(biāo)，以dB值為縱坐標(biāo)繪圖。Xi'anPolytechnicUniversity當(dāng)前第55頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)56

2)調(diào)整檢測(cè)靈敏度：標(biāo)準(zhǔn)要求焊接檢測(cè)靈敏度不低于評(píng)定線。

距離-dB曲線的應(yīng)用

1)了解反射體波高與距離之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系。

調(diào)節(jié)方法：本例中T=30mm，評(píng)定線為φ1×6-9dB，二次波檢測(cè)最大深度為60mm。由表中數(shù)據(jù)可得，掃查靈敏度為29dB，將衰減器調(diào)到29dB即可。Xi'anPolytechnicUniversity當(dāng)前第56頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)573)比較缺陷大小。

比較方法：如檢測(cè)中發(fā)現(xiàn)兩缺陷，缺陷1：df1=30mm，波高為45dB；缺陷2：df2=50mm，波高為40dB。

缺陷1的當(dāng)量為φ1×6+45-47=φ1×6-2dB，缺陷2的當(dāng)量為φ1×6+40-41=φ1×6-1dB，由此可得缺陷1小于缺陷2。Xi'anPolytechnicUniversity當(dāng)前第57頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)584)確定缺陷所處的區(qū)域。

比較方法：如檢測(cè)中發(fā)現(xiàn)兩缺陷，缺陷1：df1=20mm，波高為45dB；缺陷2：df2=60mm，波高為40dB。缺陷1的波高為45dB<47dB，在定量線以下，即在Ⅰ區(qū)。缺陷2的當(dāng)量為35dB<40dB<43dB，在定量線以上判廢線以下，即在Ⅱ區(qū)。Xi'anPolytechnicUniversity當(dāng)前第58頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)59(2)

面板曲線的繪制→測(cè)定探頭入射點(diǎn)和K值，并根據(jù)板厚調(diào)節(jié)掃描速度(1:1)。→探頭對(duì)準(zhǔn)CSK-ⅢA試塊上深為10mm處φ1×6橫孔找到回波，調(diào)至滿幅的100%，在面板上標(biāo)記波峰對(duì)應(yīng)的點(diǎn)①，并記下此時(shí)的dB值N?！?/p>

固定增益旋鈕和衰減器，分別檢測(cè)深度為20、30、40、50、60mm的φ1×6橫孔找到回波，在面板上標(biāo)記相應(yīng)的波峰對(duì)應(yīng)的點(diǎn)②、③、④、⑤、⑥，然后連點(diǎn)成線，得到一條φ1×6

參考曲線，即面板曲線。Xi'anPolytechnicUniversity當(dāng)前第59頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)60

面板曲線的應(yīng)用

1)調(diào)整靈敏度：若工件厚度在15～46mm范圍內(nèi)，評(píng)定線為φ1×6-9dB，只要在N(如30dB)的基礎(chǔ)上降低9dB，即衰減器讀數(shù)為21dB，此時(shí)靈敏度調(diào)好。Xi'anPolytechnicUniversity當(dāng)前第60頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)612)確定缺陷所處區(qū)域：檢測(cè)時(shí)若缺陷回波低于參考線，則說明缺陷波低于評(píng)定線，可以不考慮。若缺陷波高于參考線，則用衰減器將缺陷波調(diào)至參考線，根據(jù)衰減的dB值求出缺陷的當(dāng)量和區(qū)域。例如：+4dB，則缺陷當(dāng)量為φ1×6-9+4=φ1×6-5dB，在Ⅰ區(qū)。+8dB，則缺陷當(dāng)量為φ1×6-9+8=φ1×6-1dB，在Ⅱ區(qū)。+16dB，則缺陷當(dāng)量為φ1×6-9+16=φ1×6+7dB，在Ⅲ區(qū)。Xi'anPolytechnicUniversity當(dāng)前第61頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)62四.傳輸修正值的測(cè)定和補(bǔ)償1.單探頭法測(cè)定（采用和工件相同厚度的試塊）試塊上：移動(dòng)探頭使試塊棱角A處的反射波B1達(dá)到最高，并調(diào)節(jié)衰減器旋鈕，使其達(dá)到基準(zhǔn)高度，記下此時(shí)的衰減器讀數(shù)V1。工件上：移動(dòng)探頭使工件A處的反射波B2達(dá)到最高。調(diào)節(jié)衰減器旋鈕，使其達(dá)到基準(zhǔn)高度，記下此時(shí)的衰減器讀數(shù)V2。Xi'anPolytechnicUniversity當(dāng)前第62頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)63計(jì)算傳輸修正值：?

dB

=V2-V1（增益型）。說明：?

dB為正值，表示工件的表面損失大于試塊，調(diào)整靈敏度時(shí)應(yīng)提高增益；?

dB為負(fù)值，表示工件的表面損失小于試塊，調(diào)整靈敏度時(shí)應(yīng)降低增益。Xi'anPolytechnicUniversity當(dāng)前第63頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)642.雙探頭法測(cè)定(1)工件與試塊的厚度相同：

依次測(cè)出在試塊和工件上底面回波達(dá)到基準(zhǔn)波高時(shí)衰減器的讀數(shù)V1和V2。傳輸修正值：

?

dB

=V2-V1（增益型）

Xi'anPolytechnicUniversity當(dāng)前第64頁\共有73頁\編于星期四\9點(diǎn)65(2)工件厚度小于試塊厚度：工件上：將接收探頭置于1P處,記下反射波R1的波高和位置，以及衰減器的讀數(shù)V2；將接收探頭置于2P處---記下反射波R2的波高和位置；試塊上：將接收探頭置于1P處，找到反射波R，將R調(diào)到R1和R2的連線上，記下此時(shí)衰減器的讀數(shù)V1；傳輸修正值：?

dB

=V2-V1（增益