DB22-T 3426-2023 固定污染源廢氣 低濃度顆粒物的測(cè)定 β射線法

ICS

13．CCS

Z

2522 DB22/T

3426—2023固定污染源廢氣

低濃度顆粒物的測(cè)定β

射線法Stationary

source

—

of

of

matter

low

—

method

發(fā)布

實(shí)施吉林省市場(chǎng)監(jiān)督管理廳 發(fā)

布DB22/T

3426—2023本文件適用于便攜式β射線儀對(duì)固定污染源廢氣中低濃度顆粒物≤50

mg/m

本文件適用于便攜式β射線儀對(duì)固定污染源廢氣中低濃度顆粒物≤50

mg/m

1

m

（標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)下體積）時(shí)，方法檢出限為

，測(cè)定下限為0.8

mg/m

。1 范圍本文件規(guī)定了固定污染源廢氣中低濃度顆粒物的β射線測(cè)定方法。33 3 32 規(guī)范性引用文件文件。GB/T

16157 固定污染源排氣中顆粒物測(cè)定與氣態(tài)污染物采樣方法HJ/T

固定源廢氣監(jiān)測(cè)技術(shù)規(guī)范HJ

836 固定污染源廢氣

低濃度顆粒物的測(cè)定

3 術(shù)語(yǔ)和定義下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件。煙道外過濾 out-stack

filtration道外過濾顆粒物采樣及分析測(cè)量裝置示意圖，見圖

1。

???

=

ln??1

??2

???

=

ln??1

??2(1)

??? ——單位面積濾膜上截留的顆粒物質(zhì)量，單位為毫克每平方厘米（mg/cm

?? ——由標(biāo)準(zhǔn)膜校準(zhǔn)得出的單位質(zhì)量吸收系數(shù)，單位為平方厘米每毫克（cm

）。圖1 煙道外過濾顆粒物采樣及分析測(cè)量裝置示意圖1-2-3-4-5-9-10-11-12-13-4方法原理將具有加熱功能的顆粒物組合式采樣管由采樣孔插入煙道中，利用等速采樣原理抽取一定量的含顆粒物的廢氣，采用煙道外過濾的方式，顆粒物被截留在濾膜上。β射線通過濾膜時(shí)，能量發(fā)生衰減，通過對(duì)衰減量的測(cè)定計(jì)算出顆粒物的質(zhì)量。β射線衰減量與顆粒物的質(zhì)量遵循以下吸收定律：1??式中：2??1 ——單位時(shí)間內(nèi)通過空白濾膜的

β

射線量；??2——單位時(shí)間內(nèi)通過顆粒物截留后濾膜的

β

射線量；25 試劑和材料無水乙醇分析純。濾膜

μm

效率應(yīng)大于

99.5%，對(duì)于直徑為

0.6

μm

的標(biāo)準(zhǔn)粒子，濾膜的捕集效率應(yīng)大于

99.9%。標(biāo)準(zhǔn)膜片5.3.1 使用前檢查標(biāo)準(zhǔn)膜片，應(yīng)采用表面無破損、無變色、無污漬的膜片，若膜片表面有污漬，可用無水乙醇清洗表面。5.3.2 應(yīng)避光存放。6 儀器和設(shè)備廢氣參數(shù)監(jiān)測(cè)設(shè)備廢氣中含濕量、溫度、壓力、流速參數(shù)監(jiān)測(cè)設(shè)備應(yīng)符合

中儀器和設(shè)備的要求。低濃度顆粒物采樣設(shè)備6.2.1 應(yīng)符合

GB/T

16157

中顆粒物采樣裝置的要求。3mg/m

3.05.010.015.025.035.050.06.064.794.346.373.818.324.25當(dāng)測(cè)定結(jié)果大于

50

mg/m

時(shí)，結(jié)果表述為＞50

mg/m

。DB22/T

3426當(dāng)測(cè)定結(jié)果大于

50

mg/m

時(shí)，結(jié)果表述為＞50

mg/m

。6.2.2 采樣設(shè)備包括采樣管、冷卻和干燥系統(tǒng)、抽氣泵單元和氣體計(jì)量系統(tǒng)以及連接管線等。低濃度顆粒物分析儀器6.3.1 低濃度顆粒物分析儀器應(yīng)符合放射性同位素與射線裝置豁免管理?xiàng)l件。6.3.2 低濃度顆粒物分析儀器包括β射線源、β射線探測(cè)器、濾膜傳送控制單元和濾膜加熱單元等。7 樣品采樣位置、采樣點(diǎn)位、采樣方法、采樣步驟的設(shè)置應(yīng)符合

GB/T

16157

的規(guī)定。采樣全程應(yīng)保證采樣管加熱溫度為

℃±

℃、濾膜加熱溫度為

5

8 試驗(yàn)步驟廢氣參數(shù)測(cè)定用廢氣參數(shù)監(jiān)測(cè)設(shè)備（）測(cè)定廢氣參數(shù)，按

HJ

中方法測(cè)定。樣品測(cè)定8.2.1檢查濾膜是否存在破損或其他異常情況。檢查采樣系統(tǒng)是否漏氣，檢漏應(yīng)符合

GB/T

16157

中系統(tǒng)現(xiàn)場(chǎng)檢漏的要求。8.2.2 低濃度顆粒物采樣設(shè)備（）連接與預(yù)熱，按

7.2

設(shè)置采樣管、濾膜加熱溫度。8.2.3低濃度顆粒物分析儀器（）校準(zhǔn)，按照儀器說明書操作要求對(duì)標(biāo)準(zhǔn)膜片（）進(jìn)行測(cè)量。8.2.4 空白濾膜測(cè)量，按照儀器說明書操作要求對(duì)空白濾膜進(jìn)行測(cè)量。8.2.5 樣品濾膜測(cè)量，低濃度顆粒物分析儀器自動(dòng)測(cè)量顆粒物濃度。9 結(jié)果測(cè)得的顆粒物濃度為標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)下廢氣中顆粒物濃度，結(jié)果應(yīng)保留到小數(shù)點(diǎn)后一位。3310 精密度對(duì)不同濃度水平的顆粒物塵源進(jìn)行測(cè)定，相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差見表

1。表1不同濃度水平顆粒物塵源的相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差性條件下獲得兩次獨(dú)立測(cè)試的結(jié)果相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差見表

2。4.969.619.508.71DB22/T

3426—2023樣品采集時(shí)應(yīng)保證每個(gè)樣品的采樣體積不小于

1

m樣品采集時(shí)應(yīng)保證每個(gè)樣品的采樣體積不小于

1

m

或每個(gè)樣品的增重不小于

1

mg。表2 不同廢氣中顆粒物濃度的相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差每次測(cè)試前應(yīng)使用標(biāo)準(zhǔn)膜片對(duì)儀器進(jìn)行檢查，檢查結(jié)果與標(biāo)準(zhǔn)膜片的標(biāo)稱值誤差應(yīng)在±5%內(nèi)。否則，應(yīng)及時(shí)對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)維護(hù)。應(yīng)保證采樣后截留在濾膜上的顆粒