介電性能的測(cè)量原理

介電性能的測(cè)量原理當(dāng)前第1頁(yè)\共有30頁(yè)\編于星期二\17點(diǎn)介電性能的測(cè)量原理介電常數(shù)介質(zhì)損耗擊穿電場(chǎng)強(qiáng)度測(cè)量方法測(cè)試內(nèi)容當(dāng)前第2頁(yè)\共有30頁(yè)\編于星期二\17點(diǎn)介電性能定義：

介電性能是指在電場(chǎng)作用下,表現(xiàn)出對(duì)靜電能的儲(chǔ)蓄和損耗的性質(zhì)，通常用介電常數(shù)和介質(zhì)損耗來(lái)表示.當(dāng)前第3頁(yè)\共有30頁(yè)\編于星期二\17點(diǎn)介電常數(shù)

dielectricconstant

定義：

介電常數(shù)，又稱(chēng)電容率（permittivity

）,是電位移D與電場(chǎng)強(qiáng)度E之比ε=D/E

，其單位為F/m。介電常數(shù)小的電介質(zhì)，其分子為非極性或弱極性結(jié)構(gòu)，介電常數(shù)大的電介質(zhì)，其分子為極性或強(qiáng)極性結(jié)構(gòu)。

當(dāng)前第4頁(yè)\共有30頁(yè)\編于星期二\17點(diǎn)介電常數(shù)是表征電介質(zhì)的最基本的參量，是衡量電介質(zhì)在電場(chǎng)下的極化行為或儲(chǔ)存電荷能力的參數(shù)。電介質(zhì)電容、介電常數(shù)真空電容C0=Q0/V=0s/d電介質(zhì)電容C=Q/V=ros/d相對(duì)介電常數(shù)

εr=C/C0當(dāng)前第5頁(yè)\共有30頁(yè)\編于星期二\17點(diǎn)平行板電容器基本公式當(dāng)前第6頁(yè)\共有30頁(yè)\編于星期二\17點(diǎn)Co=Q/V=eoA/dC=eA/der=e/eoDielectric當(dāng)前第7頁(yè)\共有30頁(yè)\編于星期二\17點(diǎn)

介質(zhì)的介電損耗是指電介質(zhì)在單位時(shí)間內(nèi)每單位體積中將電能轉(zhuǎn)換為熱能而損耗的能量。

電介質(zhì)的介電損耗一般用損耗角正切tan

表示，并定義為：介電損耗Dielectricloss定義：當(dāng)前第8頁(yè)\共有30頁(yè)\編于星期二\17點(diǎn)

同時(shí)，介電損耗也是表示絕緣材料（如絕緣油料）質(zhì)量的指標(biāo)之一。介電損耗愈小，絕緣材料的質(zhì)量愈好，絕緣性能也愈好。

tanδ=1/WCR(式中W為交變電場(chǎng)的角頻率；C為介質(zhì)電容；R為損耗電阻)。當(dāng)前第9頁(yè)\共有30頁(yè)\編于星期二\17點(diǎn)tan是頻率的函數(shù)，是電介質(zhì)的自身屬性，與試樣的大小和形狀無(wú)關(guān)?？梢院徒殡姵?shù)同時(shí)測(cè)量，用介質(zhì)損耗儀、電橋、Q表等測(cè)量。電導(dǎo)時(shí)tan與頻率ω的關(guān)系當(dāng)前第10頁(yè)\共有30頁(yè)\編于星期二\17點(diǎn)介電損耗的形式電介質(zhì)在電場(chǎng)作用下，內(nèi)部通過(guò)的電流包括：（1）電容電流：由樣品的幾何電容充電引起電流（位移電流）；（2）吸收電流：由松弛極化引起，是介質(zhì)在交變電壓作用下引起介質(zhì)損耗的主要來(lái)源；（3）漏電電流：由介質(zhì)電導(dǎo)引起，與自由電荷有關(guān)，使介質(zhì)產(chǎn)生電導(dǎo)損耗。

當(dāng)前第11頁(yè)\共有30頁(yè)\編于星期二\17點(diǎn)電介質(zhì)在電場(chǎng)作用下具體損耗的能量主要包括：⑴極化損耗：在外電場(chǎng)中各種介質(zhì)極化的建立引起了電流，此電流與極化松弛等有關(guān)，引起的損耗稱(chēng)為極化損耗。⑵電導(dǎo)損耗：在電場(chǎng)作用下，導(dǎo)電載流子做定向漂移，形成傳導(dǎo)電流，電流大小由介質(zhì)本身性質(zhì)決定，這部分傳導(dǎo)電流以熱的形式消耗掉，稱(chēng)之為電導(dǎo)損耗。⑶電離損耗和結(jié)構(gòu)損耗當(dāng)前第12頁(yè)\共有30頁(yè)\編于星期二\17點(diǎn)擊穿電場(chǎng)強(qiáng)度

一般外電場(chǎng)不太強(qiáng)時(shí)，電介質(zhì)只被極化，不影響其絕緣性能。當(dāng)其處在很強(qiáng)的外電場(chǎng)中時(shí)，電介質(zhì)分子的正負(fù)電荷中心被拉開(kāi)，甚至脫離約束而成為自由電荷，電介質(zhì)變?yōu)閷?dǎo)電材料。當(dāng)施加在電介質(zhì)上的電壓增大到一定值時(shí)，使電介質(zhì)失去絕緣性的現(xiàn)象稱(chēng)為擊穿(breakdown)。外加電場(chǎng)強(qiáng)度超過(guò)某一臨界值時(shí)，介質(zhì)由介電狀態(tài)變?yōu)閷?dǎo)電狀態(tài)的現(xiàn)象。當(dāng)前第13頁(yè)\共有30頁(yè)\編于星期二\17點(diǎn)電介質(zhì)擊穿形式分類(lèi)①熱擊穿②電擊穿③電化學(xué)擊穿不均勻介質(zhì)中的電壓分配內(nèi)電離表面放電和邊緣擊穿當(dāng)前第14頁(yè)\共有30頁(yè)\編于星期二\17點(diǎn)介電性能的測(cè)量方法依據(jù)所測(cè)量的基本原理可分為三大類(lèi)①電橋法②諧振回路法③阻抗矢量法

當(dāng)前第15頁(yè)\共有30頁(yè)\編于星期二\17點(diǎn)電橋法根據(jù)電橋平衡時(shí)兩對(duì)邊阻抗乘積相等，從而來(lái)確定被測(cè)電容器或介質(zhì)材料試樣的CX和tanX。測(cè)量范圍：0.01HZ～150MHZ測(cè)量原理：當(dāng)前第16頁(yè)\共有30頁(yè)\編于星期二\17點(diǎn)諧振回路法

依據(jù)諧振回路的諧振特性進(jìn)行測(cè)量的。根據(jù)諧振時(shí)角頻率ω與回路的電感、電容之間的特定關(guān)系式，求得Cx和tanδX。測(cè)量范圍：40KHZ～200MHZ測(cè)量原理：當(dāng)前第17頁(yè)\共有30頁(yè)\編于星期二\17點(diǎn)阻抗矢量法

通過(guò)矢量電壓一電流的比值的測(cè)量來(lái)確定復(fù)阻抗的，進(jìn)而獲得網(wǎng)絡(luò)、元件或材料的有關(guān)參數(shù)。測(cè)量范圍：0.01HZ～200MHZ測(cè)量原理：當(dāng)前第18頁(yè)\共有30頁(yè)\編于星期二\17點(diǎn)當(dāng)前第19頁(yè)\共有30頁(yè)\編于星期二\17點(diǎn)

介電性能測(cè)試主要內(nèi)容簡(jiǎn)介當(dāng)前第20頁(yè)\共有30頁(yè)\編于星期二\17點(diǎn)介電性能測(cè)試內(nèi)容主要包括⑴絕緣電阻率⑵相對(duì)介電常數(shù)⑶介質(zhì)損耗角正切⑷擊穿電場(chǎng)強(qiáng)度當(dāng)前第21頁(yè)\共有30頁(yè)\編于星期二\17點(diǎn)絕緣電阻率測(cè)試

絕緣電阻率測(cè)試通常采用三電極系統(tǒng)，可以分別測(cè)出試樣的體積電阻率ρv和表面電阻率ρs，測(cè)量電路圖如下圖所示。體積電阻率測(cè)試線路圖表面電阻測(cè)量線路圖當(dāng)前第22頁(yè)\共有30頁(yè)\編于星期二\17點(diǎn)平板試樣當(dāng)前第23頁(yè)\共有30頁(yè)\編于星期二\17點(diǎn)管狀試樣電極材料可用粘貼鋁箔、導(dǎo)電橡皮、真空鍍鋁、膠體石墨等當(dāng)前第24頁(yè)\共有30頁(yè)\編于星期二\17點(diǎn)相對(duì)介電常數(shù)（εｒ）測(cè)試

相對(duì)介電常數(shù)通常是通過(guò)測(cè)量試樣與電極組成的電容、試樣厚度和電極尺寸求得。平板試樣管狀試樣當(dāng)前第25頁(yè)\共有30頁(yè)\編于星期二\17點(diǎn)介質(zhì)損耗角正切（tanδ)的測(cè)定

通過(guò)測(cè)量試樣的等效參數(shù)經(jīng)計(jì)算求得，也可在儀器上直接讀取。

工頻、音頻下一般都采用電橋法測(cè)量，高電壓時(shí)采用西林電橋法。當(dāng)前第26頁(yè)\共有30頁(yè)\編于星期二\17點(diǎn)西林電橋法電橋平衡時(shí)——標(biāo)準(zhǔn)電容——可調(diào)電容——固定電阻——可調(diào)電阻當(dāng)前第27頁(yè)\共有30頁(yè)\編于星期二\17點(diǎn)當(dāng)頻率為幾十千赫到幾百兆赫范圍