第一章激光粒儀實(shí)驗(yàn)演示文稿

第一章ls激光粒度儀實(shí)驗(yàn)演示文稿本文檔共38頁(yè)；當(dāng)前第1頁(yè)；編輯于星期六\9點(diǎn)2分優(yōu)選第一章ls激光粒度儀實(shí)驗(yàn)本文檔共38頁(yè)；當(dāng)前第2頁(yè)；編輯于星期六\9點(diǎn)2分第一章LS230激光粒度儀

本文檔共38頁(yè)；當(dāng)前第3頁(yè)；編輯于星期六\9點(diǎn)2分貝克曼庫(kù)爾特公司簡(jiǎn)介1954年由庫(kù)爾特本人創(chuàng)立1997年與貝克曼公司合并,新公司為貝克曼庫(kù)爾特公司全球最大的顆粒分析儀器制造商,專業(yè)從事顆粒分析儀器的研究、開發(fā)、生產(chǎn)。本文檔共38頁(yè)；當(dāng)前第4頁(yè)；編輯于星期六\9點(diǎn)2分庫(kù)爾特顆粒分析儀器簡(jiǎn)介顆粒計(jì)數(shù)器--Z系列顆粒粒度分析儀庫(kù)爾特原理粒度儀--MS3、Z2激光粒度儀--LS系列納米顆粒粒度儀--N4PLUS顆粒比表面及孔隙分析儀生產(chǎn)應(yīng)用型---SA3100研究應(yīng)用型---OMNISORP系列Zeta電位分析儀本文檔共38頁(yè)；當(dāng)前第5頁(yè)；編輯于星期六\9點(diǎn)2分業(yè)務(wù)特點(diǎn)及售后服務(wù)產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)---四十余年顆粒分析經(jīng)驗(yàn)，領(lǐng)先技術(shù)直銷優(yōu)勢(shì)---不通過(guò)代理公司，直接銷售維修工程師---專一產(chǎn)品維修，長(zhǎng)期穩(wěn)定維修件供應(yīng)---國(guó)內(nèi)設(shè)有保稅倉(cāng)庫(kù)，保障及時(shí)本文檔共38頁(yè)；當(dāng)前第6頁(yè)；編輯于星期六\9點(diǎn)2分激光粒度儀特點(diǎn)一次性分析粒徑范圍寬速度快、重現(xiàn)性好樣品適用范圍廣，配有各種樣品臺(tái)本文檔共38頁(yè)；當(dāng)前第7頁(yè)；編輯于星期六\9點(diǎn)2分適于分析的樣品各類粉體顆粒---金屬、非金屬及復(fù)合材料懸濁液中顆粒物---包括透明或不透明的軟、硬性顆粒乳化液中乳珠本文檔共38頁(yè)；當(dāng)前第8頁(yè)；編輯于星期六\9點(diǎn)2分激光粒度儀分析原理顆粒對(duì)入射激光產(chǎn)生散射光，利用檢測(cè)器探測(cè)散射光強(qiáng)度，計(jì)算顆粒粒度分布本文檔共38頁(yè)；當(dāng)前第9頁(yè)；編輯于星期六\9點(diǎn)2分顆粒的光散射現(xiàn)象黑暗中手電筒的光束，在各個(gè)角度可以被看到，是因?yàn)榭諝庵蓄w粒對(duì)光在各個(gè)角度產(chǎn)生散射本文檔共38頁(yè)；當(dāng)前第10頁(yè)；編輯于星期六\9點(diǎn)2分散射光的兩個(gè)區(qū)域小角度強(qiáng)散射區(qū)域，又稱喇叭體衍射區(qū)域，可用衍射理論處理大角度弱散射區(qū)域，遵循散射規(guī)律本文檔共38頁(yè)；當(dāng)前第11頁(yè)；編輯于星期六\9點(diǎn)2分衍射理論的應(yīng)用顆粒大小決定了角度，根據(jù)此角度可計(jì)算顆粒直徑第一級(jí)暗斑顆粒徑d=1.22/Sin本文檔共38頁(yè)；當(dāng)前第12頁(yè)；編輯于星期六\9點(diǎn)2分不同顆粒的區(qū)別角度大顆粒小顆粒00本文檔共38頁(yè)；當(dāng)前第13頁(yè)；編輯于星期六\9點(diǎn)2分激光粒度儀光路圖小角度檢測(cè)器大角度檢測(cè)器檢測(cè)器光強(qiáng)圖----由各組份顆粒疊加的光強(qiáng)圖本文檔共38頁(yè)；當(dāng)前第14頁(yè)；編輯于星期六\9點(diǎn)2分不同的光強(qiáng)圖反映各自粒度分布00體積%體積%粒徑粒徑本文檔共38頁(yè)；當(dāng)前第15頁(yè)；編輯于星期六\9點(diǎn)2分小結(jié)以上是激光粒度儀粒度分析的原理，在此原理基礎(chǔ)上各廠家開發(fā)的激光粒度儀---或由于瞄準(zhǔn)不同的客戶市場(chǎng)---或由于技術(shù)開發(fā)的原因而采用不同的成本與技術(shù)投入，使得各品牌粒度儀性能參差不齊本文檔共38頁(yè)；當(dāng)前第16頁(yè)；編輯于星期六\9點(diǎn)2分性能差異主要表現(xiàn)在1、探測(cè)器數(shù)量與排布方式2、激光種類與對(duì)焦方式3、小顆粒檢測(cè)方法4、亞微米顆粒測(cè)量技術(shù)5、樣品臺(tái)--進(jìn)樣系統(tǒng)的進(jìn)樣好壞與操作區(qū)別本文檔共38頁(yè)；當(dāng)前第17頁(yè)；編輯于星期六\9點(diǎn)2分1、探測(cè)器數(shù)量影響00擁有的真實(shí)解析通道多擁有的真實(shí)解析通道少本文檔共38頁(yè)；當(dāng)前第18頁(yè)；編輯于星期六\9點(diǎn)2分什么是解析通道體積%小于累積0020%40%60%80%100%粒度報(bào)告給出各粒徑顆粒擁有的數(shù)量/體積%含量，這里的粒徑是某一粒度范圍的平均值，這個(gè)粒度范圍既是一個(gè)粒徑通道本文檔共38頁(yè)；當(dāng)前第19頁(yè)；編輯于星期六\9點(diǎn)2分實(shí)測(cè)通道、虛擬通道及對(duì)粒度報(bào)告的影響檢測(cè)器少的粒度儀，實(shí)測(cè)通道少，各通道粒度寬，只能通過(guò)合成多個(gè)虛擬通道來(lái)提高解析度，但結(jié)果是：粒度報(bào)告失真，趨近正態(tài)分布檢測(cè)器多的粒度儀，實(shí)測(cè)通道多，各通道粒度窄，不用說(shuō)通過(guò)合成多個(gè)虛擬通道來(lái)提高解析度，結(jié)果接近實(shí)際本文檔共38頁(yè)；當(dāng)前第20頁(yè)；編輯于星期六\9點(diǎn)2分用混合標(biāo)準(zhǔn)顆粒驗(yàn)證庫(kù)爾特激光粒度儀132枚探測(cè)器探測(cè)器少的激光粒度儀探測(cè)器多的激光粒度儀本文檔共38頁(yè)；當(dāng)前第21頁(yè)；編輯于星期六\9點(diǎn)2分探測(cè)器排列方式當(dāng)激光對(duì)焦發(fā)生上下左右任何一個(gè)方向偏離時(shí)，將造成檢測(cè)角度在一個(gè)方向偏大，另一個(gè)方向偏小，十字星排布方式使整體偏差抵消，不至于出現(xiàn)其它排列方式造成所測(cè)數(shù)據(jù)整體偏大或偏小優(yōu)點(diǎn)：庫(kù)爾特十字形排布扇形排布直線形排布本文檔共38頁(yè)；當(dāng)前第22頁(yè)；編輯于星期六\9點(diǎn)2分2、激光種類及對(duì)焦方式對(duì)500um顆粒，偏差0.01。，粒徑漂移約10%750nm固體激光器，工作壽命達(dá)7萬(wàn)小時(shí)當(dāng)激光均勻時(shí)當(dāng)激光不均勻時(shí)一般粒度儀采取在同心圓上用三枚等距檢測(cè)器輔助對(duì)焦方式，由于光源不均勻帶來(lái)偏差可能性較大，庫(kù)爾特采取32枚參與對(duì)焦，大大降低了誤差可能性本文檔共38頁(yè)；當(dāng)前第23頁(yè)；編輯于星期六\9點(diǎn)2分3、小顆粒檢測(cè)方法傅立葉透鏡--雙鏡頭專利（單次測(cè)量問(wèn)題的解決）本文檔共38頁(yè)；當(dāng)前第24頁(yè)；編輯于星期六\9點(diǎn)2分庫(kù)爾特雙透鏡專利技術(shù)其它技術(shù)庫(kù)爾特技術(shù)透鏡的作用--使粒徑相同的顆粒產(chǎn)生的平行散射光聚焦于同一角度位置上的探測(cè)器，達(dá)到準(zhǔn)確測(cè)量的目的雙透鏡使信號(hào)采集保持一致性，降低系統(tǒng)了誤差不能使相同小顆粒的光線落在相同角度的探測(cè)器上本文檔共38頁(yè)；當(dāng)前第25頁(yè)；編輯于星期六\9點(diǎn)2分4、亞微米顆粒測(cè)量技術(shù)激光粒度儀應(yīng)用1、衍射理論處理顆粒在小角度區(qū)域內(nèi)的散射光，解析0.1um以上顆粒粒度2、顆粒在大角度區(qū)域散射光強(qiáng)度差異，解析0.1um以下顆粒粒度衍射理論在解析亞微米范圍內(nèi)（1um以下）顆粒粒度時(shí)受到限制，原因是：本文檔共38頁(yè)；當(dāng)前第26頁(yè)；編輯于星期六\9點(diǎn)2分衍射理論被限制的原因0.1um0.2um0.3um0.4um45光強(qiáng)0角度亞微米顆粒散射光特點(diǎn)但在大的角度區(qū)域，它們差異逐漸明顯，因此，細(xì)分亞微米顆粒粒度，要在大的角度上分析，而在此角度范圍衍射理論已不適用在小角度范圍（衍射理論適用區(qū)域）內(nèi)亞微米顆粒散射光強(qiáng)隨角度變化的差異很小，即衍射光斑在此范圍內(nèi)分布基本相同，所以，衍射理論只能根據(jù)它們?cè)谶@一范圍的相同光強(qiáng)將全部亞微米顆粒作為一個(gè)粒度組份給出含量，無(wú)法將之細(xì)分，衍射理論適用區(qū)域ISO13320標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定激光衍射技術(shù)分辯顆粒的下限為0.1um本文檔共38頁(yè)；當(dāng)前第27頁(yè)；編輯于星期六\9點(diǎn)2分一般的大角度散射分析技術(shù)需要改進(jìn)的問(wèn)題在大角度進(jìn)行檢測(cè)雖可獲得亞微米顆粒的更多信號(hào)，但由于采用單色光，其信號(hào)差異較小，分辨率低。采用單波長(zhǎng)，配合大角度探測(cè)器的分析技術(shù)本文檔共38頁(yè)；當(dāng)前第28頁(yè)；編輯于星期六\9點(diǎn)2分庫(kù)爾特多波長(zhǎng)偏振光強(qiáng)度差分析法起偏器可產(chǎn)生三種波長(zhǎng)的、分別為水平、垂直方向的共六種偏振光六個(gè)大角度探測(cè)器光源起偏器本文檔共38頁(yè)；當(dāng)前第29頁(yè)；編輯于星期六\9點(diǎn)2分理論依據(jù)

--為什么采用多波長(zhǎng)？

--為什么采用偏振光強(qiáng)度差？粒徑大小在入射光波長(zhǎng)10%~60%范圍內(nèi)的顆粒，對(duì)入射光產(chǎn)生較強(qiáng)散射光，因此采用多種波長(zhǎng)的光逐段進(jìn)行分析庫(kù)爾特可有效去除其它顆粒的干擾光顆粒越小，其對(duì)水平和垂直兩種方向的偏振光散射光強(qiáng)度差異越大，反之亦然，所以偏振光強(qiáng)度差信號(hào)使分辨率獲得提高因此，6個(gè)角度檢測(cè)器所獲信號(hào)的純度和信息量都大大提高本文檔共38頁(yè)；當(dāng)前第30頁(yè)；編輯于星期六\9點(diǎn)2分偏振光技術(shù)與其它技術(shù)對(duì)比對(duì)Duke公司三組份亞微米標(biāo)準(zhǔn)顆粒混合樣品分析結(jié)果83nm204nm503nm庫(kù)爾特PIDS技術(shù)測(cè)量結(jié)果其它技術(shù)測(cè)量的結(jié)果本文檔共38頁(yè)；當(dāng)前第31頁(yè)；編輯于星期六\9點(diǎn)2分光路圖對(duì)比本文檔共38頁(yè)；當(dāng)前第32頁(yè)；編輯于星期六\9點(diǎn)2分貝克曼庫(kù)爾特激光粒度儀LS230型:0.04-2000um

132枚檢測(cè)器，116個(gè)解析通道LS200型:0.4-2000um126枚檢測(cè)器，92個(gè)解析通道LS100Q型:0.4-1000um126枚檢測(cè)器，72個(gè)解析通道本文檔共38頁(yè)；當(dāng)前第33頁(yè)；編輯于星期六\9點(diǎn)2分5、進(jìn)樣系統(tǒng)-(1)

通用樣品臺(tái)LS通用樣品臺(tái)，適合各種介質(zhì)和有機(jī)溶劑PH3-11庫(kù)爾特全自動(dòng)樣品臺(tái)本文檔共38頁(yè)；當(dāng)前第34頁(yè)；編輯于星期六\9點(diǎn)2分5、進(jìn)樣系統(tǒng)-(2)

標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)LS標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)，適合各種介質(zhì)和普通有機(jī)溶劑庫(kù)爾特全自動(dòng)標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)本文檔共38頁(yè)；當(dāng)前第35頁(yè)；編輯于星期六\9點(diǎn)2分自動(dòng)工作站適于批量樣品分析用戶，省時(shí)、省力，真正實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)分析減少了樣品制備過(guò)程中人為的誤差因素本文檔共38頁(yè)；當(dāng)前第36頁(yè)；編輯于星期六\9點(diǎn)2分特點(diǎn)工作臺(tái)28個(gè)自動(dòng)旋轉(zhuǎn)式樣品管插槽2個(gè)分