金屬平均晶粒度測定方法

GB/T6394-2023《金屬平均晶粒度測定方法》介紹丹東五一八內(nèi)燃機(jī)配件廠□王開遠(yuǎn)前言,依據(jù)供需雙方協(xié)議,應(yīng)按相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)對金屬的平均1986年ANSI/ASTME112-1981《測定金屬平均晶粒度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法》,制定公布了GB/T6394-1986《金,我國曾對國家標(biāo)準(zhǔn)和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)展了清理整頓。在此次清,GB/T6394-1986YB/T5148-1993(簡稱舊標(biāo)準(zhǔn))編號,標(biāo)準(zhǔn)的內(nèi)容沒有任何變化。由于該標(biāo)準(zhǔn)所承受的國外標(biāo)準(zhǔn)已有的版本,2023年對該標(biāo)準(zhǔn)稱標(biāo)準(zhǔn))。標(biāo)準(zhǔn)的技術(shù)內(nèi)容與編寫構(gòu)造等均有轉(zhuǎn)變。標(biāo)準(zhǔn)由撫順鋼廠和冶金標(biāo)準(zhǔn)爭論院共同起草,于20231231日公布,202361日開頭實(shí)施。自實(shí)施之日起原YB/T5148-1993作廢。經(jīng)過2023年的修訂,標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容變化較大,適用范圍變寬。標(biāo)準(zhǔn)即可用于測定單相、等軸晶組織,也可用于測定非等軸,通過改進(jìn)標(biāo)準(zhǔn)構(gòu)造與表達(dá)方法使標(biāo)準(zhǔn)更加精煉,主題更加突出,更加便于標(biāo)準(zhǔn)的理解與使用。標(biāo)準(zhǔn)構(gòu)造比照,67A中“關(guān)于晶粒度測量結(jié)果的置信限”這局部內(nèi)B單獨(dú)給出。標(biāo)準(zhǔn)附錄C與舊標(biāo)準(zhǔn)312條“晶粒顯示方法”是對應(yīng)的,兩者內(nèi)容上也根本一樣。只是增加了“相關(guān)D是增加的,給出了標(biāo)準(zhǔn)與所承受的美國材料協(xié)會ASTM標(biāo)準(zhǔn)的技術(shù)差異及其緣由,以符合我國國家標(biāo)準(zhǔn)承受國際標(biāo)準(zhǔn)原則的要求,中,ABC為標(biāo)準(zhǔn)性附錄,D為資料性附錄。采標(biāo)狀況ASTME112-1996,GB/T6394-2023ASTME112-1996的技術(shù)差異及1。、舊標(biāo)準(zhǔn)的主要差異修改了晶粒度評級圖適用范圍的說明晶粒度測定方法分為比較法、面積法和截點(diǎn)法三種。其中,比較法是常用方法。比較法是依據(jù)評級圖測定晶粒度級別。標(biāo)準(zhǔn)評級圖共分四個(gè)系列,分別稱為系列圖片Ⅰ、系列圖片Ⅱ、系列圖片Ⅲ和系列圖片Ⅳ。標(biāo)準(zhǔn)對系列圖片對應(yīng)的放大倍數(shù)及適用的材料種類等未做改動(dòng),但對各系列圖片的使用范圍的說明有,而標(biāo)準(zhǔn)則相反,按“系列圖片→適用材料”這一挨次編排。同時(shí),對原內(nèi)容做了一些細(xì)化和補(bǔ)充。如:舊標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,奧氏體鋼的奧氏體晶粒度可以用系列圖片Ⅱ或Ⅳ進(jìn)展評定。由于系列圖片Ⅱ適用于有孿晶的晶粒,而系列圖片Ⅳ適用于無孿晶的晶粒,因此,標(biāo)準(zhǔn)明確說明,帶孿晶的奧氏體鋼用系列圖片Ⅱ進(jìn)展評定,:標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,系列圖片Ⅱ適用于帶孿晶的不銹鋼奧氏體晶粒度的測定。而舊標(biāo)準(zhǔn)只籠統(tǒng)規(guī)定不銹鋼承受系列圖片Ⅱ。通過對標(biāo)準(zhǔn)評級圖適用范圍說明的調(diào)整,使標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定更加明確、具體,便于實(shí)際操作。名詞術(shù)語及符號有修改本次修訂,對晶粒度測定所涉及的名詞、術(shù)語及符號進(jìn)展了局部修改。如:表示晶粒度大小的量原來稱為“顯微晶粒度級別指數(shù)”,GGMGm(3)修改了晶粒形成方法的內(nèi)容、舊標(biāo)準(zhǔn)關(guān)于晶粒形成方法的規(guī)定見表2。由表2可見,主要增加了鐵素體鋼奧氏體晶粒的兩種形成方法,即相關(guān)法和模擬滲碳法,刪去了珠光體法。:稱“滲碳體網(wǎng)法”等等。相關(guān)法對于碳素鋼和合金構(gòu)造鋼,試樣熱處理溫度與材料相應(yīng)的技術(shù)條件中改善材料使用性能的熱處理相關(guān),30℃(930℃)1h～115h,冷卻速度依據(jù)熱處理方法而定。模擬滲碳體法對于“滲碳法”所述的狀況,在沒有滲碳?xì)夥諚l件下,將試樣加熱到模擬滲碳溫度。保溫足夠時(shí)間后,試樣不能緩冷,必需從模擬滲碳溫度以足夠快的速度冷卻,以形成馬氏體。從試樣切取檢驗(yàn)面(留意:切割和拋光應(yīng)防止過熱)并經(jīng)拋光及腐蝕,以顯示出原奧氏體晶界。4a4b3大家知道,在晶粒度的三種測定方法中,除比較法是用評級圖評定晶粒度級別外,面積法和截點(diǎn)法都是利用幾何的方法,通過公式計(jì)算出平均晶粒度級別數(shù)G,截點(diǎn)法是通過統(tǒng)計(jì)給定長度的測量網(wǎng)格上的晶界L=500mm的測量網(wǎng)格,500mm了計(jì)算便利,舊標(biāo)準(zhǔn)在給出截點(diǎn)法計(jì)算晶粒度級別數(shù)公式的同時(shí),500mm測量網(wǎng)格的晶粒度4a4b500mm3。其實(shí),4a4b3,本次修訂,4a4b3,直接利用公式計(jì)算平均晶粒度級別數(shù)。(5)調(diào)整了附錄的內(nèi)容標(biāo)準(zhǔn)附錄A只保存了六個(gè)晶粒度各種測量值的計(jì)算公式。刪去了計(jì)算“弗里特直徑(df)”的兩個(gè)公,95%相對置(R·C·L95%置信區(qū)間(95%CI)95%置信區(qū)間(95%CI)通過標(biāo)準(zhǔn)所給出的計(jì)算公式可以直接求得,AA1A2A1。因此,A1A2A1一并刪除。67章這兩項(xiàng)內(nèi)容舊標(biāo)準(zhǔn)中沒有。,前述的比較法、面積法和截點(diǎn)法適用于測定單相、等軸晶組織。如用標(biāo)準(zhǔn)測定多相或多組元組織及非等軸晶試樣的晶粒度,還需補(bǔ)充的規(guī)定。為此,標(biāo)準(zhǔn)補(bǔ)充上述兩章的內(nèi)容。標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,假設(shè)晶粒外形因加工而轉(zhuǎn)變,不再是等軸外形時(shí),進(jìn)展測定;(3∶1外形比),可在縱向試樣,可使用三個(gè)主要截面的任意兩個(gè)面上進(jìn)展三個(gè)取向的測量。標(biāo)準(zhǔn)分別給出了“面積法”和“截點(diǎn)法”計(jì)算非等軸晶的晶粒度級別數(shù)公式。比較法不適用于非等軸晶組織。假設(shè)其次相(或組元),或者是其次相質(zhì)點(diǎn)(晶粒)的數(shù)量少而尺寸又小的,并位于初生晶粒的晶界處,,且其次相(組元)質(zhì)點(diǎn)(晶粒)主要存在于基體晶粒之間而不在晶粒內(nèi)時(shí),可使用面積法或截點(diǎn)法進(jìn)展晶粒度測定。標(biāo)準(zhǔn)給出了用面積法和截點(diǎn)