OTDR培訓(xùn)專業(yè)知識講座

光時域反射儀培訓(xùn)深圳市易商儀器有限公司10October2023第1頁原理篇一、基本術(shù)語二、性能參數(shù)三、常見問題第2頁一、基本術(shù)語OTDR;背向散射；非反射事件；光纖末端第3頁一、基本術(shù)語－OTDROTDR（OTDR英文全稱是OpticalTimeDomainReflectometer

）測量原理：OTDR利用其激光光源向被測光纖發(fā)送一光脈沖，光脈沖在光纖本身及各特性點上會有光信號反射回OTDR。反射回光信號又通過一種定向耦合器耦合到OTDR接收器，并在這里轉(zhuǎn)換成電信號，最后在顯示屏上顯示出成果曲線。第4頁一、基本術(shù)語－OTDROTDR用途：

測距離：可測量光纖長度、故障點詳細位置；

測損耗：可測量光纖損耗、連接損耗；

測衰減：可測量光纖兩點間衰減值(衰減系數(shù))；

測反射：可測量光纖、連接器等點反射（或回損）值大小。第5頁OTDR應(yīng)用：光纖施工安裝中可用來確認光纖各熔接頭和活動接頭點連接損耗；光纖是否存在由于微彎或外力作用而產(chǎn)生損耗；整條光纖鏈路所有損耗是否在要求指標內(nèi)。光纖維護中可使用OTDR對光纖鏈路做周期性測試，來確診光纖鏈路是否產(chǎn)生劣化；假如發(fā)生光纖故障，可用于確定光纖故障點位置。一、基本術(shù)語－OTDR第6頁一、基本術(shù)語－背向散射背向散射定義：是由于光纖瑞利散射現(xiàn)象而引發(fā)部分光信號返回OTDR現(xiàn)象。瑞利散射是由于光纖纖芯中折射率不一樣而引發(fā)，散射會存在于整條光纖內(nèi)。瑞利散射將光信號散射向四周八方，我們把其中沿光纖原鏈路返回OTDR散射光稱為背向散射光。如下列圖：第7頁一、基本術(shù)語－背向散射OTDR正是利用其接收到背向散射光強度變化來反應(yīng)被測光纖上各事件損耗大小及事件點位置。入射光線纖芯散射光背向散射光第8頁一、基本術(shù)語－非反射事件非反射事件：光纖熔接和彎折可造成光功率衰減，但沒有反射現(xiàn)象。它們在OTDR上有相同顯示成果。將只有光功率衰減沒有反射現(xiàn)象事件稱為非反射事件。第9頁一、基本術(shù)語－非反射事件非反射事件在OTDR測試成果曲線上，以背向散射電平上附加一突然下降臺階形式體現(xiàn)出來。那么在豎軸上變化即為該事件損耗大小。

熔接彎曲活動連接機械接頭光纖尾端斷裂非反射事件第10頁一、基本術(shù)語－反射事件反射事件活動連接器、機械接頭和光纖中斷裂點都會引發(fā)光損耗和反射，它們在OTDR上有相同顯示成果。我們把這種事件稱之為反射事件。如下列圖：第11頁一、基本術(shù)語－反射事件熔接彎曲活動連接機械接頭光纖尾端斷裂反射事件損耗大小同樣是由背向散射電平值變化量來決定。反射值（一般以回波損耗形式表達）是由背向散射上反射峰幅度所決定。（如圖）反射事件第12頁一、基本術(shù)語－光纖末端光纖末端一般有兩種情況：.假如光纖末端是平整端面或在末端接有活動連接器（平整、拋光），在光纖末端就會存在反射率為4％菲濕爾反射。（如圖）熔接彎曲活動連接機械接頭光纖尾端斷裂第13頁一、基本術(shù)語－光纖末端.假如光纖末端是破裂端面，由于末端端面不規(guī)則性會使光線漫反射而使原路返回能量大大減小。第14頁反射式光纖末端一、基本術(shù)語－光纖末端垂直切割端面或新連接器非反射式光纖末端無規(guī)則光纖末端第15頁二、性能參數(shù)1.動態(tài)范圍2.盲區(qū)3.距離精確度第16頁二、性能參數(shù)——動態(tài)范圍（1）定義：我們把初始背向散射電平與噪聲底電平dB差值定義為動態(tài)范圍。第17頁（2）意義：

動態(tài)范圍大小決定儀器可測量光纖最大長度。假如OTDR動態(tài)范圍不夠大，在測量遠距離背向散射信號時，就會被噪聲淹沒，對于接頭、彎曲等小特性點將不能觀測到。因此大動態(tài)范圍可提升遠端小信號辨別率。二、性能參數(shù)——動態(tài)范圍動態(tài)范圍是衡量儀表性能主要指標第18頁大、小動態(tài)范圍差異0km50km200km小動態(tài)范圍130km大動態(tài)范圍二、性能參數(shù)——動態(tài)范圍第19頁二、性能參數(shù)——動態(tài)范圍A.峰－峰值（又稱峰值動態(tài)范圍）B.信噪比（SNR）＝1（3）表達辦法：第20頁二、性能參數(shù)——動態(tài)范圍A.峰－峰值（簡稱峰值）動態(tài)范圍是一種傳統(tǒng)、比較故意義指標，它取背向散射電平初始點電平值與噪聲電平峰值電平之差為峰值動態(tài)范圍。B.SNR＝1動態(tài)范圍它取背向散射電平初始點電平值與噪聲電平均方根值之差為信噪比等于1時動態(tài)范圍。第21頁背向散射電平初始值噪聲電平（峰值）

噪聲電平（均方根值）動態(tài)范圍（峰值）動態(tài)范圍（S／N＝1）1.8dB二、性能參數(shù)——動態(tài)范圍第22頁二、性能參數(shù)——動態(tài)范圍（4）兩種動態(tài)范圍表達辦法差異：峰值比SNR＝1動態(tài)范圍小2.0dB左右。當(dāng)我們比較兩塊儀表動態(tài)范圍時，應(yīng)在相同條件下進行比較，或把SNR＝1動態(tài)范圍減去1.8dB再行比較；沒有特殊指明時，儀表給出動態(tài)范圍大多是SNR＝1時動態(tài)范圍；第23頁初始背向散射電平與一定測量精度下可識別事件點電平最大衰減差值被定義為測量范圍。（圖形表達如下列圖）二、性能參數(shù)——動態(tài)范圍測量范圍與動態(tài)范圍關(guān)系第24頁背向散射電平初始值噪聲電平（峰值）噪聲電平（均方根值）動態(tài)范圍（峰值）動態(tài)范圍（S／N＝1）1.8dB測量范圍二、性能參數(shù)——動態(tài)范圍第25頁二、性能參數(shù)——動態(tài)范圍最大測試距離刻度：把儀表給出最大距離刻度理解為可測光纖最大距離是一種常見錯誤；最長測量距離可由動態(tài)范圍和被測光纖衰減所決定。當(dāng)背向散射電平低于OTDR噪聲電平時，背向散射信號成了不可見信號，在此之外距離刻度上只能顯示噪聲。第26頁二、性能參數(shù)——盲區(qū)盲區(qū)是決定OTDR測量精細程度主要指標：1.定義：我們將由活動連接器和機械接頭等特性點產(chǎn)生反射（菲涅爾反射）后引發(fā)OTDR接收端飽合而帶來一系列“盲點”稱為盲區(qū)。第27頁二、性能參數(shù)——盲區(qū)2.盲區(qū)意義

盲區(qū)決定了兩個可測特性點接近程度，盲區(qū)有時也被稱為OTDR兩點辨別率。

對OTDR來說，盲區(qū)越小越好。第28頁二、性能參數(shù)——盲區(qū)3.盲區(qū)和動態(tài)范圍間關(guān)系

動態(tài)范圍決定OTDR可測光纖距離；

盲區(qū)決定OTDR測量精確程度。

盲區(qū)決定OTDR橫軸上事件情況；

動態(tài)范圍決定OTDR縱軸上事件情況；

盲區(qū)比較：應(yīng)在條件（脈沖、反射損耗）相同步進行比較。第29頁二、性能參數(shù)——盲區(qū)脈寬對動態(tài)范圍影響：在脈沖幅度相同條件下，脈沖寬度越大，脈沖能量就越大，此時OTDR動態(tài)范圍也越大。儀表給出動態(tài)范圍是在最大脈寬時指標。脈寬對盲區(qū)影響：脈沖寬度越寬，盲區(qū)就會越大；較窄脈沖會有較小盲區(qū)，使我們對光纖中部兩個相接近機械接頭能辨別出來，而大脈沖將不能顯示出來。儀表給出盲區(qū)是指最小脈寬時指標。第30頁

對于兩個非常接近事件,當(dāng)采取窄、寬脈沖測試時有如下不一樣曲線。二、性能參數(shù)——盲區(qū)第31頁脈沖寬度選擇：如需對接近OTDR附近光纖和緊鄰事件進行觀測時可選擇窄脈沖，方便于辨別事件，提升清楚度；如需對光纖遠端進行觀測時，可選擇寬脈沖，以提升儀表動態(tài)范圍，觀測更長距離。二、性能參數(shù)——盲區(qū)第32頁二、性能參數(shù)——盲區(qū)平均時間對動態(tài)范圍影響：OTDR測試曲線是將每次輸出脈沖后反射信號采樣，把數(shù)次采樣平均處理以消除某些隨機事件，平均時間越長，噪聲電平越接近最小值，動態(tài)范圍就越大。OTDR動態(tài)范圍是按貝爾實驗室TRTSY－000196中定義平均時間為3分鐘時指標。（廠家建議平均時間大于30秒）平均時間越長，測試精度越高，但達到一定程度時精度不再提高。第33頁10秒后3分鐘后二、性能參數(shù)——盲區(qū)第34頁二、性能參數(shù)——盲區(qū)反射對盲區(qū)影響：OTDR是利用光纖對光信號反射來觀測沿光纖分布光纖質(zhì)量。較大反射峰（光纖端面），產(chǎn)生盲區(qū)也越大（接收器恢復(fù)時間較長）。第35頁二、性能參數(shù)——距離精度距離精度是指測試距離時儀表精確度；（又叫一點辨別率）OTDR距離精度與儀表采樣間隔、時鐘精度、光纖折射率、光纜成纜原因和儀表測試誤差有關(guān)。第36頁二、性能參數(shù)——距離精度采樣間隔影響：OTDR對反射信號按一定期間間隔進行采樣（其過程為A／D轉(zhuǎn)換），然后再將這些分離采樣點連接起來形成最后顯示測量曲線（反射曲線）。采樣點數(shù)量是有限，故儀表精度也是有限。采樣間隔越小，儀表測試精度就越高，由于采樣點偏差而帶來測量誤差就越小。（如圖）第37頁×××××××××××××△抽樣時基精確性×××××××××××××儀表上看到曲線儀表實際曲線為分離點抽樣距離造成誤差二、性能參數(shù)——距離精度第38頁MT9083采樣點數(shù)：迅速辨別率為5001,高辨別率為25000。采樣間隔＝測量距離采樣點數(shù)二、性能參數(shù)——距離精度第39頁二、性能參數(shù)——小結(jié)動態(tài)范圍表達儀表能測多遠光纖；表達儀表能測多小特性；隨脈沖寬度增大而增大。

盲區(qū)（或兩點辨別率）分事件盲區(qū)和衰減盲區(qū)；表達兩個事件距離多近；隨脈沖寬度減小而減小。距離精度（又叫一點辨別率）表達儀表測試距離精度；隨采樣點數(shù)增加而提升；與折射率設(shè)置有關(guān)；與光纜成纜原因有關(guān)；與儀表測試誤差有關(guān)。

第40頁光纖類型不匹配增益現(xiàn)象用接入光纖來消除盲區(qū)第一種連接器測量鬼點（幻峰）三、常見問題第41頁三、常見問題——類型不匹配光纖類型不匹配是指OTDR測試輸出光纖與被測光纖芯徑不一樣，此時在連接器處出現(xiàn)類型不匹配。（如圖）此時光纖測試將出現(xiàn)豎軸測試不精確（即光纖損耗和衰減），但橫軸測量精確。第42頁三、常見問題——類型不匹配位置信息正確衰耗和衰減不正確第43頁三、常見問題——類型不匹配產(chǎn)生原因：這是由于當(dāng)光從芯徑小光纖入射到較大芯徑光纖時，大芯徑光纖不能被入射光線完全充滿，于是在損耗參數(shù)上引發(fā)了測試誤差。第44頁增益現(xiàn)象主要產(chǎn)生在光纖熔接接頭處。增益現(xiàn)象又叫偽增益。偽增益定義：我們把接頭背面光反射電平高于接頭前面光反射電平現(xiàn)象稱為增益現(xiàn)象（或叫偽增益如圖）。三、常見問題——增益現(xiàn)象第45頁熔接彎曲活動連接機械接頭光纖尾端斷裂AB增益B光纖背向散射系數(shù)大于A光纖三、常見問題——增益現(xiàn)象第46頁偽增益產(chǎn)生原因：OTDR測試是通過比較接頭前后背向散射電平值來對接頭損耗進行測試，一般情況下，接頭上損耗會使接頭后背向散射電平不大于接頭前電平。當(dāng)接頭損耗非常小、且接頭背面光纖背向散射系數(shù)較高時（對于同樣光強，反射系數(shù)大引發(fā)較大背向反射），接頭背面背向散射電平就也許大于接頭前背向散射電平，抵消了接頭損耗。三、常見問題——增益現(xiàn)象第47頁

最直接原因是：由于接頭后光纖反射系數(shù)大于接頭前光纖反射系數(shù)。（B段光纖反射系數(shù)大于A段光纖反射系數(shù)）三、常見問題——增益現(xiàn)象出現(xiàn)偽增益說明什么？1．說明接續(xù)點之后光纖比接頭之前光纖反射系數(shù)大；2．說明接續(xù)點接續(xù)損耗較??；接續(xù)效果較好。第48頁三、常見問題——增益現(xiàn)象測試時如何克服其影響呢？偽增益并不是真正增益，假如此時對光纖接續(xù)進行測試時可采取雙向測試辦法測量，并求兩次平均值作為接頭連接損耗。在接續(xù)損耗測試時出現(xiàn)增益現(xiàn)象說明接續(xù)損耗非常小。第49頁

消除盲區(qū)辦法：OTDR前面板上活動連接器產(chǎn)生反射（菲涅爾反射）對OTDR測量影響最大，為了更加好地對光纖始端進行測量，我們用接入光纖來消除盲區(qū)。三、常見問題——消除盲區(qū)第50頁對接入光纖要求：

接入光纖長度必須大于OTDR衰減盲區(qū)。三、常見問題——消除盲區(qū)第51頁接入光纖被測光纖熔接光接收機恢復(fù)期被測光纖起始點三、常見問題——消除盲區(qū)第52頁利用一種外部用活動連接器連接引入光纖，插入到第一種活動連接器與OTDR輸出面板之間，能幫助測得第一種活動連接器插入損耗和反射系數(shù)。三、常見問題——活動連接器測量第53頁接入光纖被測光纖活動連接器反射插入衰耗引入被測光纖盲區(qū)三、常見問題——活動連接器測量第54頁鬼點：是指在光纖末端之后出現(xiàn)光反射峰。形成原因：是由于光在光纖中數(shù)次反射而引發(fā)。三、常見問題——鬼點入射光信號達到光纖末端后，由于末端反射，一部分反射光沿逆方向向入射端傳輸，達到入射端后，由于入射端面反射較大，又有部分光線再次進入光纖，第二次達到光纖末端而形成鬼點。第55頁鬼點判定：已知光纖長度，超出長度后而形成反射峰即為鬼點；鬼點距離始端距離正好等于光纖尾端到始端距離兩倍；鬼點容易出目前短距離測量時。三、常見問題——鬼點第56頁消除鬼點辦法：減小反射：包括始、終端反射。主要辦法：A.把入射和反射端端面處理潔凈、平整，符合測試要求；B.把光纖末端放入光纖匹配液中；C.把光纖末端打一小直徑結(jié)也可達成減小反射目標。三、常見問題——鬼點第57頁1． 開機；2． 在頂層菜單選擇OTDR（故障定位）模式并確認；3.將被測光纖連接到對應(yīng)測量接口；4． 假如連接檢查功能處于啟動狀態(tài)，OTDR將自動進行連接檢查，假如連接檢查成果是正常，按“開始”鍵或F1（繼續(xù)）鍵進行測量。假如連接檢查功能是關(guān)閉，則5． 出現(xiàn)測量參數(shù)設(shè)置，然后自動進入測試進程畫面；6． 出現(xiàn)概述畫面后測量完成，畫面上出現(xiàn)測試成果概覽和詳細事件表；7． 按F6(觀測軌跡)切換到軌跡畫面并對軌跡進行分析；8． 繼續(xù)測量請連接下一條被測光纖并按“開始”鍵。故障定位測量步驟第58頁光纖總長度測量步驟：1.選擇“從原點顯示”；2.將標識A設(shè)置在測試光纖盒(脈沖干擾抑制器，假如使用)末端，或設(shè)置在0.0000km處；3.選擇“從點A顯示”；4.使用“向右”和“向上”箭頭鍵沿水平和垂直方向調(diào)整標識A附近界面，從而更精確地設(shè)置標識點；6.使用“旋鈕”將標識A設(shè)置在背向散射直線部分接近反射或非反射事件(左側(cè))；7.將標識B設(shè)置在光纖末端；8.選擇“從B點顯示”；9.使用“向右”和“向上”箭頭鍵沿水平和垂直方向調(diào)整標識B附近界面，從而更精確地設(shè)置標識點；10.使用“旋鈕”將標識B設(shè)置在背向散射直線部分接近反射或非反射事件(左邊)；11.在標識距離信息顯示區(qū)域讀取光纖長度，即A->B距離；光纖總長度測量

第59頁已知點到斷點距離測量步驟：1.選擇“從原點顯示”；2.將標識B設(shè)置在光纖斷點處；3.選擇“從B點顯示”；4.使用“向右”和“向上”箭頭鍵沿水平和垂直方向調(diào)整標識B附近界面，從而更精確地設(shè)置標識點；5.使用“旋鈕”將標識B設(shè)置在背向散射直線部分接近光纖斷點(左側(cè))；6.選擇“從原點顯示”；7.將標識A設(shè)置在光纖已知點處；8.選擇“從A點顯示”；9.使用“向右”和“向上”箭頭鍵沿水平和垂直方向調(diào)整標識A附近界面，從而更精確地設(shè)置標識點；10.使用“旋鈕”將標識A設(shè)置在背向散射直線部分接近光纖斷點(左側(cè))；11.在標識距離信息顯示區(qū)域讀取從已知點到斷點距離，即A->B距離。光纖段長度測量第60頁兩點間損耗測量通過計算標識A與標識B兩點間dB差值取得。一般，標識A(Y軸)值要大于標識B(Y軸)值,損耗測量成果應(yīng)顯示為正值。不然，損耗值為負數(shù)，稱為“增益”。測試步驟：1.選擇“從原點顯示”；2.將標識B設(shè)置在光纖末端；3.選擇“從B點顯示”；4.沿水平和垂直方向放大界面，從而更精確地設(shè)置標識點；5.將標識B設(shè)置在光纖末端反射事件起始點；6.選擇“從原點顯示”；7.將標識A設(shè)置在光纖起始段漫反射事件（假如存在）尾部；8.選擇“從點A顯示”；9.沿水平和垂直方向放大界面，從而更精確地設(shè)置標識點；10.將標識A移至漫反射尾部末端；11.設(shè)置“損耗模式”為“兩點間損耗”；12.兩點間損耗值讀數(shù)將顯示在“損耗模式、測量值和反射系數(shù)”區(qū)域。兩點間損耗測量第61頁平均損耗測量通過計算標識A與標識B兩點間dB(Y軸)差值，并將其與兩點間距離相除取得。當(dāng)標識A(Y軸)值大于標識B(Y軸)值時,測量成果顯示為正值：損耗/距離(dB/km)=測試步驟：1.選擇“從原點顯示”；2.將標識B設(shè)置在光纖末端；3.選擇“從B點顯示”；4.沿水平和垂直方向放大界面，從而更精確地設(shè)置標識點;5.將標識B設(shè)置在光纖末端反射事件起始點；6.選擇“從原點顯示”；7.將標識A設(shè)置在光纖起始段漫反射事件（假如存在）尾部；8.選擇“從點A顯示”；9.沿水平和垂直方向放大界面，從而更精確地設(shè)置標識點；10.將標識A移至漫反射尾部末端；11.設(shè)置“損耗模式”為“dB/km損耗”；12.平均損耗值讀數(shù)將顯示在“損耗模式、測量值和反射系數(shù)”區(qū)域。平均損耗測量第62頁

接續(xù)損耗模式用于由光纖光纜上連接器、接續(xù)點和耦合器引發(fā)光功率損耗測量。

測試步驟：

1.選擇“從原點顯示”；2.將標識A設(shè)置在待測接續(xù)損耗事件起始點附近；3.選擇“從A點顯示”；4.沿水平和垂直方向放大界面更精確地將標識A設(shè)置在待測接續(xù)損耗事件起始點處；5.設(shè)置“損耗模式”為“接續(xù)損耗”。；6.假如LSA間隔設(shè)置恰當(dāng)，各間隔點位置應(yīng)與下列圖所示類似,假如是這樣設(shè)置，請進入步驟8；假如是這樣設(shè)置，請進入步驟8；調(diào)整LSA間隔使各間隔點都位于背向散射軌跡線性部分。詳見6-9頁“接續(xù)損耗模式LSA間隔調(diào)整”；接續(xù)損耗值讀數(shù)將顯示在“損耗模式、測量值和反射系數(shù)”區(qū)域，如上圖所示。接續(xù)損耗模式LSA間隔調(diào)整對于某些事件點，顧客也許需要調(diào)整LSA間隔（含糊標識）來取得較好事件接續(xù)損耗測量值，尤其是當(dāng)間隔點落入實際損耗事件區(qū)域或者分布呈“膝狀”時(見下列圖)；接續(xù)損耗測量第63頁接續(xù)損耗測量7. 調(diào)整LSA間隔使各間隔點都位于背向散射軌跡線性部分。詳見下一節(jié)“接續(xù)損耗模式LSA間隔調(diào)整”；8. 接續(xù)損耗值將顯示在“損耗模式、測量值和反射系數(shù)”區(qū)域。第64頁

對于某些事件點，顧客也許需要調(diào)整LSA間隔（含糊標識）來取得較好事件接續(xù)損耗測量值，尤其是當(dāng)間隔點落入實際損耗事件區(qū)域或者分布呈“膝狀”時(見下列圖)；LSA間隔調(diào)整

第65頁測試步驟：1.設(shè)置“損耗模式”為“接續(xù)損耗”；2.移動標識A至待測事件起始點(見上圖)；3.按下“從…顯示”(f5)，設(shè)置為“從A點顯示”；4.使用“向右”和“向上”箭頭鍵放大標識A附近軌跡；5.使用旋鈕將標識A精確設(shè)置在接續(xù)事件起始點處；6.按下“更多>>(f6)”,然后按下“標識(f5)”，顯示標識軟鍵；7.按下“關(guān)閉LSA移動”(f2)。軟鍵圖標變?yōu)椤皢覮SA移動”并且左側(cè)LSA間隔左側(cè)標識顏色從黑色變?yōu)榧t色；8.按下“旋鈕”兩次，將右側(cè)LSA間隔左側(cè)標識顏色從黑色變?yōu)榧t色，然后順時針方向旋轉(zhuǎn)“旋鈕”直到標識“X”中心位于事件右側(cè)背向散射軌跡線性部分。LSA間隔調(diào)整第66頁最小均方根近似法(LSA)測量兩點損耗是基于目前標識位置使用LSA法計算出最佳Y軸交叉點值。標識A右側(cè)和標識B左側(cè)間隔將用于計算交叉點值。顧客能夠選擇LSA間隔長度，其缺省值大約是400米。間隔兩端顯示為標識“X”，如下列圖所示。當(dāng)軌跡曲線中有過多噪聲時,LSA(最小均方根近似法)十分有用。左側(cè)間隔與標識A有關(guān)，右側(cè)間隔與標識B有關(guān)。左側(cè)間隔默認位置是緊靠標識A右側(cè)，右側(cè)間隔默認位置是緊靠標識B左側(cè)。兩點間LSA測量第67頁測量步驟：1.按照端到端損耗測量辦法設(shè)置標識。詳見“光纖長度測量”；2.選擇“從原點顯示”；3.按下“更多>>(f6)”鍵進入二層軟鍵菜單；4.按下“損耗模式(f3)”鍵并設(shè)置損耗模式為“兩點間LSA”；5.從每個標識顯示并根據(jù)需要沿水平和垂直方向放大界面，從而更精確地設(shè)置標識點；6.確認LSA間隔都位于背向散射軌跡線性部分并且與接續(xù)點或其他事件點無接觸。假如需要，調(diào)整LSA間隔；7.兩點間LSA損耗值讀數(shù)將顯示在“損耗模式、測量值和反射系數(shù)”區(qū)域。兩點間LSA測量第68頁平均LSA損耗測量通過計算兩點間LSA損耗值，并將其與兩標識點間距離相除取得。

損耗/距離(dB/km)=

測試步驟：1.在軌跡曲線待測點處設(shè)置標識；2.選擇從原點顯示；3.按下更多>>(f6)鍵進入二級軟鍵菜單；4.按下?lián)p耗模式(f3)，設(shè)置損耗模式為平均LSA；5.從每個標識顯示并根據(jù)需要沿水平和垂直方向放大界面，從而更精確地設(shè)置標識點；6.確認LSA間隔位于背向散射軌跡線性部分并且與前述事件點無接觸。假如需要，調(diào)整LSA間隔；7.平均LSA損耗值讀數(shù)將顯示在“損耗模式、測量值和反射系數(shù)”區(qū)域。平均LSA損耗測量第69頁MT9083A支持光回損(ORL)測試，即通過測試光纖鏈路中反射光能量與輸入光能量之比來計算。ORL能夠是部分或整條光纖鏈路中值.測量步驟：1.按下范圍/脈沖寬度(f4),進入“距離范圍、脈寬和辨別率”對話框;進行如下設(shè)置：設(shè)置距離范圍,根據(jù)光纖長度加25%標