TTL與非門參數(shù)測(cè)試及使用

TTL與非門參數(shù)測(cè)試及使用1．TTL與非門的主要參數(shù)

TTL與非門具有較高的工作速度、較強(qiáng)的抗干擾力量、較大的輸出幅度和負(fù)載力量等優(yōu)點(diǎn),因而得到了廣泛的應(yīng)用。

（1）輸出高電平VoH：輸出高電平是指與非門有一個(gè)以上輸入端接地或接低電平常的輸出電平值?？蛰d時(shí)，VOH必需大于標(biāo)準(zhǔn)高電平（VSH=2.4V），接有拉電流負(fù)載時(shí)，VOH將下降。測(cè)試VOH的電路如圖1所示。

圖1VOh的測(cè)試電路圖2VOL的測(cè)試電路（2）輸出低電平VOL：輸出低電平是指與非門的全部輸入端都接高電平常的輸出電平值?？蛰d時(shí)，VOL必需低于標(biāo)準(zhǔn)低電平（VsL=O.4V），接有灌電流負(fù)載時(shí)，VOL將上升。測(cè)試VoL電路如圖2所示。

（3）輸入短路電流IIS：輸入短路電流IIS是指被測(cè)輸入端接地，其余輸入端懸空時(shí)，由被測(cè)輸入端流出的電流。前級(jí)輸出低電平常，后級(jí)門的IIS就是前級(jí)的灌電流負(fù)載。一般IIS＜1.6mA。測(cè)試IIS的電路見圖3所示。

（4）扇出系數(shù)N：扇出系數(shù)N是指能驅(qū)動(dòng)同類門電路的數(shù)目，用以衡量帶負(fù)載的力量。圖4所示電路能測(cè)試輸出為低電平常，最大允許負(fù)載電流IOL，然后求得N＝IOL／IIS。一般N＞8的與非門才被認(rèn)為是合格的。

圖3IIS的測(cè)試電路圖4扇出系數(shù)N的測(cè)試電路2．TTL與非門的電壓傳輸特性

利用電壓傳輸特性不僅能檢查和推斷TTL與非門的好壞，還可以從傳輸特性上直接讀出其主要靜態(tài)參數(shù)，如VOH、VOL、VON、Voff、VNH和VNL，如圖1-5所示。傳輸特性的測(cè)試電路如圖6所示。

圖5TTL與非門的電壓傳輸特性圖6TTL與非門的電壓傳輸特性測(cè)試電路從圖5中可知：

開門電平VON：是保證輸出為標(biāo)準(zhǔn)低電平VSL時(shí)，允許的最小輸入高電平值。一般VON＜1．8V。

關(guān)門電平VOFF：是保證輸出為標(biāo)準(zhǔn)高電平VSH時(shí)，允許的最大輸入低電平值。

高電平噪聲容限VNH：VNH=VSH-VON=2.4V-VON

低電平噪聲容限VNL：VNL=VOFF-VSL＝VOFF-0.4V

3．與非門的規(guī)律功能

與非門的規(guī)律功能如表1所示，只需按真值表逐項(xiàng)驗(yàn)證即可。本試驗(yàn)選用的TTL與非門為74LS00，它的外引線排列如圖7所示。