離線式IGBT開關(guān)特性測試技術(shù)綜述(完整版)實用資料

離線式IGBT開關(guān)特性測試技術(shù)綜述（完整版）實用資料(可以直接使用，可編輯完整版實用資料，歡迎下載）

２００９年１１月２５日第２６卷第６期通毪屯潦技術(shù)離線式IGBT開關(guān)特性測試技術(shù)綜述（完整版）實用資料(可以直接使用，可編輯完整版實用資料，歡迎下載）ＴｅｌｅｃｏｍＰｏｗｅ“、ｅｃｈｎｏｌｏｇｙ№ｖ．２５，２００９，ｖ０Ｌ２６№．６文章編號：１００９—３６６４（２００９）０６—０００１二０５離線式ＩＧＢＴ開關(guān)特性測試技術(shù)綜述ｉ，研制舞愛適陳娜，何湘寧，鄧焰，沈燕群（浙江大學(xué)電氣工程學(xué)院，浙江杭州３１００２７）摘要：ＩＧＢＴ功率開關(guān)器件在現(xiàn)代大功率變換器中的應(yīng)用非常廣泛，其開關(guān)特性直接影響到變換器的性能。獲得實際工作條件下的開關(guān)器件特性具有重要的實用價值。如何準(zhǔn)確測量并記錄器件開關(guān)過程自然成為研究熱點。文中分析了ＩＧＢＴ器件開關(guān)特性測試中的關(guān)鍵問題，總結(jié)了大功率下電流電壓測量的各種方法，并對國內(nèi)外的開關(guān)特性測試研究現(xiàn)狀進(jìn)行了分類和總結(jié)。關(guān)鍵詞：ＩＧＢＴ；開關(guān)特性；開關(guān)損耗；電流電壓測量；離線測試中圖分類號：ＴＭ９３（）．１文獻(xiàn)標(biāo)識碼：ＡＡＲｅｖｉｅｗｏｆＩＧＢＴＳｗｉｔｃｈｉｎｇＣｈａｒａｃｔｅｒｉｓｔｉｃｓＭｅａｓｕｒｅｍｅｎｔＣＨＥＮＮａ，ＨＥｘｉａｎｇ＿ｎｉｎｇ，ＤＥＮＧＹａｎ，ＳＨＥＮＹａｎ－ｑｕｎ（ＣｏｌｌｅｇｅｏｆＥＩｅｃｔｒｉｃａｌＥｎｇｉｎｅｅｒｉｎｇＺｈｅｊｉａｎｇＵｎｉｖｅｒｓｉｔｙ，Ｈａｎｇｚｈｏｕ３１００２７，Ｃｈｉｍ）Ａｂｓｔｍｃｔ：ｌＧ王?。螅瑁幔觯澹猓澹澹睿鳎椋洌澹欤酰螅澹洌椋睿瑁榍穑铮鳎澹颍悖铮睿觯澹颍簦澹颍螅裕瑁澹笮拢簦悖瑁椋睿纾悖瑁幔颍幔悖簦澹颍椋螅簦椋悖螅铮妫螅酰悖瑁穑铮鳎澹颍洌澹觯椋悖澹螅瑁幔觯澹洌椋颍澹悖簦椋恚穑幔悖簦螅酰穑铮睿簦瑁澹悖铮睿觯澹睿澹颍穑澹颍妫铮恚幔睿悖澹樱铮椋簦瑁幔螅幔簦簦颍幔悖簦澹洌恚铮颍澹幔睿洌恚铮颍澹幔簦簦澹睿簦椋铮睿螅簦铮幔悖悖酰颍幔簦澹欤恚澹幔螅酰颍澹幔睿洌颍澹悖铮颍洌簦瑁澹螅鳎椋簦悖瑁椋睿纾穑恚悖澹螅螅簦铮悖瑁幔颍幔悖簦澹颍椋澹簦瑁澹螅鳎椋簦悖瑁椋睿纾洌澹觯椋悖澹螅酰睿洌澹颍幔悖翎叮欤铮穑澹颍幔簦椋睿纾悖铮睿洌椋簦椋铮睿螅桑睿簦瑁椋螅穑幔穑澹颍耄澹椋蟆螅酰澹螅妫铮颍螅鳎椋簦悖瑁椋睿纾悖瑁幔颍幔悖簦澹颍椋螅簦椋悖螅簦澹螅簦椋睿纾幔颍澹幔恚欤澹洌幔睿洌簦瑁澹瑁椋纾瑁悖酰颍颍澹睿簦幔睿洌瑁椋纾?、帕ｌｔａｇｅｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔｓｂｙｖａｒｉｅｄ、＾，ａｙｓａｒｅｄｉｓｃｕｓｓｅｄ．Ｔｈｅ９１０ｂａｌｒｅｓｅａｒｃｈｏｆｓｗｉｔｃｈｉｎｇｃｈａｒａｃｔｅｒｉｓｔｉｃｓｉｓｃｌａｓｓｉｆｉｅｄａｎｄｓｕ】ｍｍａｒｋｅｄ．Ｋｅｙｗｏｒｄｓ：ＩＧｇＴ；ｓｗｉｔｃｈｉｎｇｃｈａｒａｃｔｅ“ｓｔｉｃ；ｓｗｉｔｃｈｉｎｇｌｏｓｓ；ｃｕｒｒｅｎｔａｎｄｖｏｌｔａｇｅｍｅａｓｕｒ咖ｅｎｔ；ｏｆ卜ｌｉｎｅｔｅｓｔ０引言ＩＧＢＴ是廣泛應(yīng)用于現(xiàn)代中、大功率變換器中的主流半導(dǎo)體開關(guān)器件。其開關(guān)特性決定裝置的開關(guān)損耗、功率密度、器件應(yīng)力以及電磁兼容性，直接影響變換器性能。因此準(zhǔn)確測量功率開關(guān)元件的開關(guān)性能具有重要實際意義。器件損耗在開關(guān)電路設(shè)計中至關(guān)重要，開關(guān)損耗在器件損耗中占到相當(dāng)比例。如何正確估算ＩＧＢＴ的允許損耗，國內(nèi)外的設(shè)計者目前均采用計算法，即參照制造商提供的參數(shù)、根據(jù)一定的原理進(jìn)行估算。這樣的做法有很多不足［１］：計算法所考慮的因素往往不全面；所引用的參數(shù)值往往不準(zhǔn)確；本身帶有一定的假設(shè)性，受限于模型；環(huán)境囚素、安裝工藝、負(fù)載性質(zhì)對實際允許損耗的影響無實用算法。器件開關(guān)特性參數(shù)可以從數(shù)據(jù)手冊中獲得，如上升、下降時間，延遲時間，開關(guān)損耗，通態(tài)壓降，門極電壓，門極電阻，寄生電容等，但手冊上提供的參數(shù)往往在實際工作電路中是不可重復(fù)的，如變換器中負(fù)載多收稿日期：２００９一０８—０３基金項目：臺達(dá)環(huán)境與教育基金會電力電子科教發(fā)展計劃ＤＲＲ｝２（）０６０２２項目；國家自然科學(xué)基金項目５０７３７【Ｊ（）２作者簡介：陳娜（１９８５一），女，博士研究生，從事電力電子器件建模等方向的研究。何湘寧（１９６１一），男，博士，教授，博士生導(dǎo)師，從事電力電子技術(shù)及其工業(yè)應(yīng)用方面的研究和工程設(shè)計工作。為感性，而手冊中參數(shù)測量多使用阻性負(fù)載。此外，隨著開關(guān)頻率的提高，電路板以及器件模塊的寄生參數(shù)對開關(guān)特性的影響越來越大。使用手冊參數(shù)設(shè)計分析電路會產(chǎn)生問題。為優(yōu)化變換器設(shè)計，分析開關(guān)器件、模塊的真實性能，需要對實際工作點下的開關(guān)器件特性進(jìn)行準(zhǔn)確測量，并改變影響器件開關(guān)特性的電路參數(shù)，如ＩＰＥＭ和電路的寄生參數(shù)、工作電流、電壓、門極驅(qū)動、溫度等，以獲取模塊特性的充分?jǐn)?shù)據(jù)。本文分析了功率器件開關(guān)特性測試中的關(guān)鍵問題，總結(jié)了大功率下電流電壓測量的各種方法，并對國內(nèi)外的開關(guān)特性測試研究現(xiàn)狀（主要是離線測試）進(jìn)行了分類和總結(jié)。１測量中的一些重要問題功率開關(guān)管受測試的工作行為發(fā)生在開關(guān)過程中，大幅值的電流、電壓快速上升和下降會產(chǎn)生大量電磁輻射，使開關(guān)瞬態(tài)特性的測量具有很大挑戰(zhàn)性。如何提高測量波形的準(zhǔn)確性，有幾個方向可以改進(jìn)，包括電路版圖設(shè)計，元器件寄生電感最小化，測量設(shè)備選擇以及接地問題等［３］。示波器中看到的波形可能并不是真正的波形，下面將討論準(zhǔn)確記錄開關(guān)波形涉及到的一些關(guān)鍵問題Ｌ４］。１．１信號等效頻率與測量系統(tǒng)的帶寬對開關(guān)信號來說，被測信號的最高等效頻率遠(yuǎn)大于開關(guān)頻率，陡峭的上升沿、下降沿所產(chǎn)生的高次諧波?１’萬方數(shù)據(jù)２００９年１１月２５日第２６卷第６期通饞電．球技術(shù)ＴｅｌｅｃｏｍＰｏｗｅｒＴｅｃｈｎ０１０９ｙＮｏＶ．２５，２００９，Ｖ０１．２６Ｎｏ．６需要用高帶寬的測量設(shè)備才能準(zhǔn)確記錄。由于帶寬描述基于正弦激勵，可以用與波形上下沿有相同最大斜率的正弦波來近似信號的等效頻率［４。。被測信號的等效頻率可近似為：，一竿（１）ｆ，是方波信號的上升時間（１０％～９０％）。測量系統(tǒng)由示波器和探頭串聯(lián)組成，系統(tǒng)帶寬是兩者的組合。用下面的式子近似系統(tǒng)帶寬：眺巋一ｔ三專㈣ＶＢＷ復(fù)。ＢＷ：。ｂｅ測量系統(tǒng)的帶寬限制了被測信號幅值和相位的準(zhǔn)確測量。在帶寬頻率處，測量信號的幅值約為被測信號的７０％（３ｄＢ衰減）。從幅值角度考慮，為了準(zhǔn)確描述被測信號，測量設(shè)備的帶寬應(yīng)不低于被測信號最高頻率的３～５倍。而從測量延遲時間角度考慮，在帶寬頻率處已經(jīng)發(fā)生了４５。的相移，系統(tǒng)帶寬應(yīng)該取被測信號最高頻率的１０倍以上。１．２接地問題探頭都有接地點，測試電路中一定存在地環(huán)路，這些地間的阻抗在電流變化率很大的情況下會導(dǎo)致環(huán)路能量引起的地回路振蕩，因此必須保證測試所在地環(huán)路盡可能小。１．２．１容性耦合地環(huán)路大多數(shù)測試朋斬波電路直流電源采用繞制隔離變壓器提供，直流母線有很大的對地容性耦合。結(jié)果將導(dǎo)致如圖１所示的容性耦合地回路。其中的寄生電感和環(huán)路電容會引起測量電流Ｊａ的共模振蕩。圖１容性耦合地環(huán)路為解決該問題，電路中需要引入一個在振蕩頻率處高阻抗的共模扼流罔，如圖２。共模扼流圈在振蕩頻率處的阻抗大，容性耦合地環(huán)路被打破。注意圖４與圖３的區(qū)別，引入了共模扼流圈的電路在２０５ｋＨｚ處的振蕩得到有效抑制。?２?ｎ。＿’?！菡Γ?！竺Ｉ…｛一。?。。辏?，－＿…ｉ，，。ｏ．ｆ＝皇０５ＫＨｚ．：…一／ｆ：…；一’∥ｉ，ｄ；魄：孑●圖３無共模扼流圈的電流測量０≥Ｉ≥≥｛Ｉ≯ｉ－Ｉ：荔韻ｊ｛ｊｊ｜夸≥≥≥ｊ；’！…?！骸！海?，≥≥蠹匪＿Ｉ…；…‘ｒ。ｊ圖４帶共模扼流圈的電流測量１．２．２探頭尖端對地環(huán)路電感另一重要參數(shù)是探頭分布電感。探頭接地引線環(huán)路等效為一串聯(lián)電感，在也／ｄ￡值很大或者電磁場很強(qiáng)的情況下，會使電壓的測量產(chǎn)生很大誤差。為了減小誤差，可以用探尖適配器來減小探尖對地的電感。如圖５，探尖適配器引入電磁屏蔽并減少了等效電感量，改善了測量結(jié)果。儆懈２?‘刪ｔ罕？！警…………｛圖５電壓測量（接地探頭與帶探尖適配器的探頭比較）卜－２電流測量圖２用共模扼流圈解耦地環(huán)路開關(guān)電流的測量對電流傳感器有如下要求‘３Ｉ：電流傳感器能夠準(zhǔn)確跟蹤小于幾十ｎｓ的上升時間，這意萬方數(shù)據(jù)味著其帶寬必須大于上百ＭＨｚ才能準(zhǔn)確描述上升沿和下降沿的相位；測量設(shè)備的電流幅值取決于被測系統(tǒng)的工作電流大小，要求在小電流下有足夠的靈敏度，在大電流下不飽和；傳感器不能為測試電路引入大的插入阻抗；一般電流電壓測量設(shè)備有公共點，不一定要求電氣隔離。常用的電流測量設(shè)備［５］有：分流器電阻［６｜，同軸電阻［７］，電流互感器，同軸電流互感器，羅氏線圈［８｜，霍爾電流傳感器（往往帶寬不夠），各種電流探頭，各有優(yōu)劣。２．１電流傳感器（１）采樣電阻分流器理想電阻電流傳感器的帶寬只受電壓探頭的限制，但是在開關(guān)狀態(tài)下普通電阻對于瞬態(tài)電流的測量一般是不夠的。所有實際電阻都有等效串聯(lián)電感，會在測量結(jié)果上導(dǎo)致失真；其次電阻損耗與電流平方成比例，損耗引起電阻發(fā)熱會導(dǎo)致電阻特性發(fā)生改變；集膚效應(yīng)也會引起阻值變化問題，高頻電磁干擾等問題Ｌ１１’１９］。取而代之的是同軸電阻分流器。（２）同軸電阻分流器同軸電阻有諸多優(yōu)點［３］：流過分流器的電流不會在電路周嗣產(chǎn)生電磁通量，有效消除寄生感性成分．夕ｆ、殼有效屏蔽外部噪聲源，可測量程很小的電流值和很快的瞬態(tài)過程；可測量直流，其帶寬也遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于多數(shù)電流傳感器。從制造商提供的數(shù)據(jù)，同軸電阻的帶寬可以達(dá)到８００ＭＨｚ。選取采樣電阻的標(biāo)準(zhǔn)除了帶寬，電阻值，還有其所能承受的最大能量損耗（ｋ，），這實際上限定了所允許的最大電流脈沖［５］。最大能量損耗由下式計算：ｒＥ。一Ｒ。，［Ｉｉ２出］。。（３）Ｊ同軸電阻分流器阻值小，其電壓信號一般比較小，需要給被測電路設(shè)計良好的接地系統(tǒng)以防止共模噪聲電壓十?dāng)_。分流器的引入也會給電路串入一定雜散電感而影響測量的準(zhǔn)確性［２］。（３）羅氏線圈（ＲｏｇｏｗｓｋｉＣｏｉｌ）羅氏線圈的測量線性度很好，電流量程范圍很寬。不含磁陛元件，不存在大電流和直流偏置引起的飽和問題，但有帶寬和精確度的限制ｂ］。受到線圈的自感，電容效應(yīng)以及積分器的轉(zhuǎn)換速率的限制，其帶寬上限典型值在１ＭＨｚ以內(nèi)。羅氏線罔也有可以測量頻率幾百ＭＨｚ電流信號的［１１。，但不能同時測量電流的低頻分量。而且一般其精確度隨導(dǎo)體在線圈中位置的移動會有幾個百分點的改變。（４）電流互感器電流互感器也有帶寬限。電流互感器不能測量直流電流，它的帶寬上限截止頻率受內(nèi)部諧振的限制［２¨。但是它沒有羅氏線圈的精確度改變問題。此外，它能提供電氣隔離。帶寬足夠的電流互感器在脈沖電流條件下可以準(zhǔn)確的測量開關(guān)電流波形，但在電路安裝中由于物理位置上的隔離和電源連接，可能為串入電路引入了相當(dāng)?shù)碾s散參數(shù)［２｜。（５）同軸電流互感器針對上述電流傳感器與被測點串聯(lián)引進(jìn)插入電感的缺點［１１｜，同軸電流互感器在具備電流互感器的優(yōu)點之外能很好的解決這個問題。其特點是寬帶寬。低插入阻抗和低寄生電感。其內(nèi)部有一個原邊電流管道，其外部管道流過與原邊電流等大小，方向相反的電流，再外面套著一個螺旋管狀電流互感器嘲。這種同軸結(jié)構(gòu)有效降低了雜散電感。（６）電流探頭現(xiàn)有的原理各異的商品電流探頭能夠測量從毫安級到２０ｋＡ的電流，探頭所應(yīng)用的技術(shù)包括霍爾效應(yīng)，電流互感器技術(shù)以及無芯線圈技術(shù)等，電流探頭的帶寬根據(jù)種類的不同從ＤＣ～２ＧＨｚ，精確度可高達(dá)０．１％～１％。有些電流探頭直接連接被測電流，有些則需要外接一個放大系統(tǒng)。２．２七種電流采樣設(shè)備比較［２］高頻開關(guān)電流的測量是一個難點，這是因為傳感器的插入阻抗，動態(tài)量程，物理尺寸以及傳感器的共模問題，都影響了開關(guān)電流的精確測量。文獻(xiàn)［３］提供了７種不同的電流傳感器的測量結(jié)果。七種電流傳感器依次為：（１）帶ｐｅａｒｓｏｎ２８７８的管狀電流互感器（１：５０，５ｎｓ，３０Ｈｚ～７０ＭＨｚ）；（２）閉環(huán)的霍爾傳感器；（３）同軸電阻；（４）ＰｅａｒｓｏｎＣＴ（２００ｎｓ，５Ｈｚ～２ＭＨｚ）；（５）同軸互感器；（６）羅氏線圈；（７）電流探頭。測量結(jié)果如圖６，從實驗結(jié)果可以看出，在已測的７種傳感器中（１），（３），（４），（５）較為準(zhǔn)確地再現(xiàn)了開關(guān)電流。而其中，（１），（３），（４）引入了插入阻抗，此外（３）還有共模接地的問題，這些都是（１），（３），（４）測量開關(guān)電流的不利兇素。而（５）同軸電流互感器的插入干擾和波形延時失真都是其中最小的。億。恥?！?！竺?。』?！駕竺！仁，Ｉ廠、一ｔ．，＾●能、一‘算！融０．ｒｌ瞄心。、＾ＩＭ＾Ｌ／√，２ｒｌｄＰｕｌｓｅＯＮ＆ＯＦＦＣｈａｎｎｅｌ＃１—４Ｉｃ１００Ａ／ｄ～ＡＮＤＲｅｆ＃ｌ一４Ｉｃ１００Ａ／ｄｉｖＴＵＲＮＯＮ（１ｉ／ｄｔ３００Ａ／ｕｓＴＵＲＮＯＦＦｄｉ／ｄｔ１６００Ａ／惜圖６七種電流采樣方法的開關(guān)波形比較３電壓測量開關(guān)狀態(tài)下需要測量的電壓量包括門極電壓和漏?３‘萬方數(shù)據(jù)２０（）９年１１月２５日第２６卷第６期違繾電．潦技術(shù)ＴｅｌｅｃｏｍＰｏｗｅｒＴｅｃｈｎｏｌｏｇｙＮｏｖ．２５，２００９，ＶｏＬ２６Ｎｏ．６源極電壓。電壓測量設(shè)備是測量誤差的一個來源，漏源極電壓高達(dá)幾千伏，幾十納秒內(nèi)的上千伏電壓上升和下降需要抗噪性能和共模特性好的探頭系統(tǒng)。測量高壓的電壓探頭有三種［川：差分探頭，分壓探頭和單端１０倍乘無源探頭。一般來說霍爾電壓傳感器在開關(guān)特性測試中帶寬不夠。差分探頭：無需參考地，探頭之間不存在小的地回路，共模干擾抑制能力最好。缺點是由于差分放大器的轉(zhuǎn)換速率的限制，帶寬小，一般在１００ＭＨｚ之內(nèi)。差分探頭連接到被測器件的引線要比單端探頭長，可能導(dǎo)致引線寄生電感較大，從而影響瞬態(tài)的測量。分壓探頭：能夠適應(yīng)高帶寬要求（高達(dá)幾ＧＨｚ）。此外，高分壓比的分壓探頭在測量高阻抗電壓時（如ＩＧＢＴ關(guān)斷時漏源極電壓），可能會導(dǎo)致相當(dāng)?shù)姆嫡`差。單端１０倍乘無源探頭：單端無源探頭的帶寬比差分探頭大得多，再加上探尖適配器，能大幅減小被測環(huán)路的寄生電感。同時１０倍乘探頭的阻抗要比上述探頭小得多。４損耗測試系統(tǒng)根據(jù)測試方法的不同，損耗測試系統(tǒng)可分為４種：第一種是離線測試，為ＩＧＢＴ設(shè)計測試平臺，測試電路采用開關(guān)管／二極管斬波電路，控制采用雙脈沖信號，測試開關(guān)器件在各種不同Ｔ作狀態(tài)下（電壓、電流、門極參數(shù)、溫度等）的開關(guān)特性Ｌ３’１２。１８３；第二種同樣采用ＩＧＢＴ斬波測試平臺，但控制信號與測試平臺相結(jié)合模擬真實狀態(tài)下電路的各種工作狀態(tài)［１９。２１３；第＝三種，在實際變換器巾測試開關(guān)器件，使用實際主電路但并不使用實際控制模式而使用雙脈沖驅(qū)動［２２∞３；第四種為在線測試，即在實際變換器主電路中和實際工作控制信號下測量開關(guān)特性，這種方法獲得的開關(guān)特性最接近真實工作狀態(tài)曬。２７。。在實際裝置中、實際工作模式下進(jìn)行的測量叫做在線測試，其余的測試方式或多或少都可以歸類為離線測試。４．１離線測試系統(tǒng)典型的離線測試系統(tǒng)采用類似上述第一種方式。電壓電流的測量，一般都是選用前述提到的測量方法，數(shù)據(jù)獲取往往借助示波器，ＰＣ，以及Ｌａｂｖｉｅｗ軟件及其數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)。（１）ＦｒｅｄｅＢｌａａｂｊｅｒｇ等池１５’２８吲］該系統(tǒng)不僅可以用于單個器件的參數(shù)提取，還可以測試整個電路和整個系統(tǒng)的特性，只需要對軟硬件做一些改動。系統(tǒng)包含五種測控設(shè)備：溫度檢控，供電電源，數(shù)據(jù)獲取，負(fù)載／斬波開關(guān)電路，以及系統(tǒng)控制。計算機(jī)作為系統(tǒng)控制器，控制數(shù)據(jù)采集器和溫度控制系統(tǒng)，主要任務(wù)包括：數(shù)據(jù)采集，模型參數(shù)提取的程序優(yōu)化，創(chuàng)建ｄａｔａｓｈｅｅｔ，繪制瞬態(tài)波形。電腦還連接到工作站，可以在工作站上進(jìn)行ＳＡＢＥＲ和ＰＳＰＩＣＥ仿真。電流采樣使用Ｔｅｋｔｒｏｎｉｘ電流探頭或ＰＥＡＲＳＯＮ電流互感器或ＬＥＭ同軸電阻分流器?？紤]帶莧電壓測量全部使用普通探頭，要求被測器件接地。數(shù)據(jù)獲取設(shè)備：網(wǎng)絡(luò)分析儀用于測量系統(tǒng)寄生參數(shù)；雙通道１Ｇｓａ／ｓ示波器，用作瞬態(tài)記錄器。（２）Ｙｏｎｇ，“等，ＩＧＢＴ軟開關(guān)特性測試設(shè)備［１６］如圖７，該設(shè)備的特點是可以測試ＩＧＢＴ在硬開關(guān)以及零電流開關(guān)狀態(tài)下的損耗。開關(guān)電流用羅氏線圈電流探頭，其尺寸小，能夠在緊湊的測試電路版圖中提供相對準(zhǔn)確的測量。開關(guān)電壓用Ｔｅｋｔｒｏｎｉｘ電壓探頭，開關(guān)損耗直接用示波器對電流電壓乘積做積分。ｓｘｌ一樅＝一Ｓ妞圖７ｚＩ叩下的ＩＧＢＴ特性測試（３）Ｓｔ電ｐｈａｎｅＡｚｚｏｐａｒｄｉ等‘１７］硬開關(guān)電路選用常用的斬波電路。測量選用Ｌｅｃｒｏｙ２ｋＶ電壓探頭，Ｉ。ｅｃｒｏｙＡＰ０１５電流探頭。損耗測量選用示波器積分，使用ＤＣＳ（）１５校準(zhǔn)源補償電壓探頭和電流探頭之間的延時。（４）ＡｓｔｒｉｄＰｅｔｔｅｒｔｅｉｇ［３２］電流測量通過１０：１的電流互感器使用Ｔｅｋｔｒｏｎｉｘ２０ＡＡＣ電流探頭，損耗用示波器電壓電流信號先乘積再積分。（５）Ｊｉｈ—ＳｈｅｎｇＬａｉ等，測量ＨＶ—ＩＧＢＴ在５ＭＷ功率逆變器中的工作特性∞］與一般斬波測試平臺不同，這個測試系統(tǒng)是在實際的全橋逆變器電路中進(jìn)行的，被測器件的控制信號是雙脈沖信號而不是實際工作過程中的真實信號。采用羅氏線圈測鼉脈沖電流，脈沖信號必須足夠長以保證線圈通量鶯置。４．２在線測試系統(tǒng)ＩＧＢＴ的離線測試通常在專門測試平臺中進(jìn)行，通過幾種標(biāo)準(zhǔn)測試獲?。桑牵拢缘膶?dǎo)通特性和開關(guān)特性。測試平臺電路最多可以模擬ＩＧＢＴ在實際電路中的工作環(huán)境而不是直接測量實際工作情況，所以設(shè)計者需要用推理的方法估計ＩＧＢＴ器件的實際特性。器件的實際工作特性與許多因素有關(guān)，比如緩沖電路，拓?fù)洌刂品椒?，還有裝置布局、結(jié)構(gòu)等等，這無疑增加了通過上述測試間接獲取準(zhǔn)確特性的難度［３４嘣］。在線測試直接獲取功率開關(guān)器件真實工作狀態(tài)下萬方數(shù)據(jù)的工作特性，在某種意義上這是離線測試無法替代的。ＩＧＢＴ開關(guān)特性在線測試技術(shù)較離線技術(shù)更為復(fù)雜、困難，限于篇幅本文不對此方面技術(shù)進(jìn)行闡述。５總結(jié)本文分析了功率器件開關(guān)特性測試中涉及到的一些關(guān)鍵問題，總結(jié)和比較了大功率下電流電壓測量的各種方法，并對國內(nèi)外的開關(guān)特性測試研究現(xiàn)狀進(jìn)行了分類和總結(jié)。其中離線測試技術(shù)發(fā)展較為成熟，用于研究各種電路因素對器件開關(guān)特性的影響，有利于器件的精確建模，最終方便電路設(shè)計，提高變換器性能。參考文獻(xiàn)：［１］劉軍海，陸明珠。蘇啟生．一種ＩＧ盯管損耗在線測試儀［Ｊ］．工業(yè)儀表與自動化裝置，１９９８，（４）：５４—５６．［２］ＲＬｕｋａｓｚｅｗｓｋｉＤＢｒａｕｎ，Ｐｉ】【ｌｅｒＤ，ｓｋｉｂｉｎｓｋｉＧＵｓｅｏｆｃ伊ａ）【ｉａｌＣＴａｎｄＰｌａｌｌａｒＢｕｓｔｏｈｐｒｏｖｅＩＧＢＴＤｅｖｉｃｅＣｈａｒａｃｔｅｒｉｚａｔｉｏｎ［Ｃ］．１ｎｄｕｓｔｒｙＡｐｐｌｉｃａｔｉｏｎＳＣｏｎｆｅｒｅｎｃｅ１９９６．１５（）７１５１６．［３］Ｊｏｓ?。瑁拢颍幔睿洌铮睿鳎椋簦悖瑁澹颍停澹簦瑁铮洌铮欤铮纾妫铮颍螅鳎椋簦悖瑁椋睿纾茫瑁幔颍幔悖簦澹颍椋幔簦椋铮睿铮妫校铮鳎澹颉荆澹觯椋悖澹螅幔睿洌停铮洌酰欤澹樱郏模荩停幔螅簦澹颍簦瑁澹笤嚕觯椋颍纾椋睿椋幔校铮欤簦澹悖瑁睿椋悖桑睿螅簦椋簦酰簦澹幔睿洌樱簦幔簦澹铡睿椋觯澹颍螅椋簦玻埃埃玻郏矗萆蜓嗳海^緣柵晶體管和功率二極管開關(guān)特性測試系統(tǒng)的研制［Ｄ］．碩士論文，浙江大學(xué)，２（Ｊ（）６．［５］ＡｎｄｅｒｓｏｎＪＭｗｉｄｅＦｒｅｑｕｅｎｃｙＲａｎｇｅｃｕｒｒｅｎｔＴｒａｎｓ—ｆｏｍｅｒＳ［Ｊ］．Ｒｅｖ．Ｓｃｉ．Ｉｎｓｔ邶ｕ１９７１，４２：９１５—９２６．［６］ＦｅｒｒｅｉｒａＪ八ＩｎｔｅｇｒａｔｉｏｎｏｆＨｉｇｈＦｒｅｑｕｅｎｃｙｃｕｒｒｅｎｔＳｈＬｕｌｔｓｉｎＰｏｗｅｒＥｌｅｃｔｒｏＩｌｉｃＣｉｒｃｕｉｔｓ［Ｊ］．ＩＥＥＥＴｒａｎＳａｃ—ｔｉｏｎｓｏｎＰｏ、ｖｅｒＥｌｅｃｔｒｏｎｉｃｓ．１９９５，１０（１）：３２—３７．［７］ＰａｌｍｅｒＰＲＪｏｈｎｓｏｎｃＭｃｕｒｒｅｎｔＭｅａｓｕｒ哪ｅｎｔｕｓｉｎｇｃｏｍｐｅｎｓａｔｅｄｃｏａｘｉａｌＳｈｕｆｌｔｓ［Ｊ］．ＩＥＥＰｒｏｃ．一Ｓｃｉ．Ｍｅａｓ．Ｔｅｃｈｎ０１．１９９４，１４１（６）：１１２—１１５．［８］ｗａｒｄＤ氏ＵｓｉｎｇＲｏｇｏｗｓｋｉｃｏｉｌｓｆｏｒＴｍｎｓｉｅｎｔＣｕｒｒｅｎｔＭｅａｓｕｒｅｍｅｎｔｓ［Ｊ］．ＥｎｇｉｎｅｅｒｉｎｇｓｃｉｅｎｃｅａｎｄＥｄｕｃａｔｉｏｎＪｏｕｒｍＬ１９９３，２（３）：１０５—１１３．［９］Ｃｈｕｃｈｅｌｌｇｘｉａｏ．Ａｎｏ、，ｅｎ，ｉｅｗ０ｆＩｎｔｅｇｒａ協(xié)ｂｌｅＣｕＨｅｎｔｓｅｎｓｏｒＴｅｃｈｎｏｌｏｇｉｅｓ［ｃ］．ＩｎｄｕｓｔｒｙＡｐｐｌｉｃａｔｂｎｓＣｏｎｆｅｒ—ｅｎｃｅ，２００３，２：１２５１—１２５８．［１（）］ＪｏｈａｎｎＷ．ＫｏｌａｒＧｅｍｌｄＬａｉｍｅｒ－ｗｉｄｅＢａｎｄｗｉｄｔｈＬｏｗＣａｍｐｌｅ菇ｔｙｌＳｏｌａｔｅｄＣｕＨｅｎｔＳｅｎｓｏｒｔｏｂｅＥｍｐｌｏｙｅｄｉｎａ１０ｋＷ／５ｆ）（）ｋＨｚＴｈｒｅｅ－ｐｈａｓｅＵｎｉｔｙＰｏｗｅｒＦ臺ｃｔｏｒＰＷＭＲｅｃｔｉｆｉｅｒｓｙｓｔｅｍ［Ｃ］．ＰＥＳＣ，２００２，１０６５—１０７０．［１１］ＲｅｎａｔｏｏＣＬｙｒａ．ＣｏａｘｉａｌＣｕｒｒｅｎｔＴｒａｎｓｆｏｍｅｒｆｏｒＴｅｓｔａｎｄＣｈａｒａｃｔｅｒｉｚａｔｉｏｎｏｆＨｉｇｈ＿ＰｏｗｅｒｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒＤｅ—ｖｉｃｅｓＵｎｄｅｒＨａｒｄａｎｄＳｏｆｔＳｗｉｔｃｈｉｎｇ［Ｊ］．ＩＥＥＥＴｒａｎｓａｃ—ｔｉｏｎｓｏｎｌｎｄｕｓｔｒｙＡｐｐｌｉｃａｔｉｏｎｓ．２０００，３６（４）：１１８１—１１８８．［１２］ＭｏｒｔｅｎＢａｃｈＳｒｅｎｓｅｎＢｒｇｅＰｏｕｌｓｅｌｌ．ＭｏｄｅｌｌｉｎｇａｎｄＴｅｓｔｏｆＰｏｗｅｒＳｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒｓ［Ｄ＿．ⅣＩａｓｔｅｒｔｈｅｓｉｓ．ＡａｌｂｏｒｇＵ—ｎｉｖｅｒｓｉｔｙ．Ｊｕｎｅ２００４．［１３］ＨａｉｗｅｉＬｕＤｅｗｅｉＸｕ，“ｐｅｉＨｕａｎｇ，ｓａｔｏｓｈｉ乜Ⅲｍ，ＭａｓａｈｉｒｏＫｉｒｎａｔａ，ａｎｄＲｙｏｈｅｉＵｃｈ池ＰｏｗｅｒＬｏｓｓａｎｄＪｕｎｃｔｉｏｎＴｅｍｐｅｒａｔｕｒｅＡ∞ｌｙＳｉｓｏｆ王ｂｗｅｒ洲ｃｏｎｄｕｃｔｏｒ踟ｉｃｅｓ［Ｊ］．ＩＥＥＥＴｒａｎｓａｃｔｉｏｎｓＩｎｄｕｓｔｒｉａｌＡｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ２００２，３８（５）：１４２６—１４３１．［１４］ＭａｓａｈｉｍＫｉｍａｔａｓａｔｏｓｈｉＡｚ呦，ＸｉｎｊｉａｎＪｉａｆｌｇ，ＨａｉｗｅｉＬｕ，ＤｅｗｅｉＸｕ，Ｍａｋｏｔｏｓｅｔｏ，ａｎｄＬｉｐｅｉＨｕａ婚ＲｅｓｅａｒｃｈｏｎｔｈｅＰｏｗｅｒＬｏｓｓａｎｄＪｕｎｃｔｉｏｎＴ哪ｐｅｒａｔｕｒｅｏｆＰｏｗｅｒＳｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒＤｅｖｉｃｅｓｆｏｒＩｎｖｅｒｔｅｒ［Ｃ］．Ｐｍｃ．ＩＥＥＥＩｖＥＣ＿９９ｃｏｎｆｅｒｅｎｃｅ，１９９９，１８３—１８７．［１５］ＦｒｅｄｅＢｌａａｂｊｅｒｇＳｔｉｇＭｕｎｋ－Ｎｉｅｌｓｅｎ，ＪｏｈｎＫＰｅｄｅｒｓｅ幾Ａｎａｄｖａｎｃｅｄｍｅａｓｕｒ唧ｅｎｔｓｙｓｔｅｍｆｏｒｖｅｒｉｆｉｃａｔｉｏｎｏｆ刪一ｅｌｓａｎｄｄａｔａｓｈｅｅｔｓ［Ｃ］．Ｐｒｏｃ．ＩＥＥＥ４ｔｈ、＾ｂｒｋｓｈｏｐｏｎＣｏｍｐｕｔｅｒＳｉｎＰｏｗｅｒＥ１ｅｃｔｒｏｎｉｃｓ，１９９４，２０９—２１４．［１６］ＹｏｎｇＬｉ．ＵｎｉｆｉｅｄＺｅｒ０＿Ｃｕｒｒｅｎｔ—ＴｒａｎｓｉｔｉｏｎＴｅｃｈｎｉｑｕｅｓｆｏｒＨｉｇｈ－Ｐｏ、ⅣｅｒＴｈｒｅｅ－ＰｈａｓｅＰｗＭＩｎｖｅｒｔｅｒｓ［Ｄ］．Ｄｏｃｔｏｒｔｈｅｓ＆ＶｉｒｇｉｎｉａＰｏｌｙｔｅｃｈｎｉｃ１ｎｓｔｉｔｕｔｅａｎｄｓｔａｔｅＵｎｉｖｅｒｓｉ—ｔｙ．２００２．［１７］ｓｔｐｈａｎｅＡｚｚｏｐａｒｄｉ．ＡＳｙｓｔｅｍａｔｉｃＨａｒｄ－ａｎｄｓｏｆｔ－Ｓｗｉｔｃ—ｈｉｎｇＰｅｒｆｏｍａｎｃｅｓＥｖａｌｕａｔｉｏｎｏｆ１２００ＶＰｕｎｃｈｔｈｒｏｕｇｈＩＧＢＴＳｔｒｕｃｔｕｒｅｓ［Ｊ］．ＩＥＥＥＴｒａｎｓａｃｔｉｏｎＳｏｆＰｏｗｅｒＥｌｅｃ—ｔｒｏｎｉｃｓ．２００４，１９（１）：２３１—２４１．［１８］ＬｏｄｅＰｅｔｔｅｒｔｅｉｇＡ，ＵｎｄｅｌａｎｄＪ，ＴＭ．ＩＧＢＴＴｕｒｒ卜ｏｆｆＬｏｓｓｅｓｆｏｒＨａｒｄＳ麗ｔｃｈｉｎｇａｎｄｗｉｔｈＣａｐａｃｉｔｉｖｅｓｎｕｂｂｅｒｓ［Ｃ］．ＩｎｄｕｓｔｒｙＡｐｐｌｉｃａｔｉｏｎｓｓｏｃｉｅｔｙＡＩｌＩｌｕａｌＭｅｅｔｉｎｇ，１９９１，２：１５０卜１５０７．［１９］Ｃａ啪ｌｌＥＢｅｍｅｔＳ，ｓｔｒｅｉｔＰ，ＡｐｅＩｄｏｏｍｏ，ｓｔｅｉｍｅｒＰ，Ｔｓｃｈｉｒｌｅｙｓ．Ｄｅｓｉｇｎ，ｔｅｓｔａｎｄｃ｝ｌａｒａｃｔｅｒｉｓｔｉｃｓｏｆ１【Ｊｌ（ＶＩ（Ｘ?。螅颍茫荩灸耍睿妫澹颍澹睿悖澹遥澹悖铮颍洌铮妫簦瑁澹常福簦瑁桑粒樱粒睿睿酰幔欤停澹澹簦椋睿?，２００３，２：１０１２－１０１９．［２０］ＺｈａｏＺ｝ｌｅ哼試ｎｇＹｕａｎＬｉｑｉａｌｌｇ，ＢａｉＨｕａ，ＬｉＣｈｏ嚼ｉ訕ＬｉＹａｏｈｕ亂ＴｈｅＩＧＣＴｔｅｓｔｐｌａｔｆｏｒｍｆｏｒｖｏｌｔａｇｅｓｏｕｒｃｅｉｎ—ｖｅｒｔｅｒｓ［Ｃ］．ＩＥＥＥＰｒｏｃ．ｏｆＰＥＤｓ，２００３，１：１２９１—１２９４．［２１］ＢｌａｑｕｉｅｒｅＪＭ，ＬａｄｏｕｘＰ，Ａｌｖａｒｅｚｓ，ｃａｒｒｏｌｌＥ，ｓｔｒｅｉｔＰ．ＴｅｓｔｂｅｎｃｈｆｏｒｔｈｅｃｈａｒａｃｔｅｒｉｓａｔｉｏｎｏｆｅｘｐｅｒｉｎｌｅｎｔａｌｌｏｗｖｏｌｔａｇｅＫｘ■’Ｓ［ｃ］．Ｐｒｏｃ．０ｆＰＥＳＣ０４，２００４，４：２９３７－２９４２．［２２］Ｊｉｈ—ｓｈｅｎｇＬａｉ．Ｃ１１ａｒａｃｔｅｒｉｚａｔｉｏｎｏｆＨｖ－ＩＧＢＴｆｏｒＨｉｇｌ卜Ｐｏ、ｖｅｒＩｎｖｅｎｅｒＡｐｐｌｉｃａｔｉｏｎｓ［ｃ］．ＩｒｌｄｕｓｔｒｙＡｐｐｌｉｃａｔｉｏｎｓＣｏｎｆｅｒｅｎｃｅ。２００５，１：３７７－３８２．［２３］ｚｈａｏｚｌｌｅｎｇｒｎｊｎｇＹｕａｎＬｉｑｉａｌｌｇ，ＢａｉＨｕａ，Ｉ。ｉｃｈｏｎ西ｉａｎ，ＬｉＹａｏｈ帆ＥＸｐｅｒｉｎｌｅｎｔａｎｄ√‰ｌｙｓｉｓｆｏｒＳｉｎｇｌｅＩＧ（汀Ｅ—ｑｕｉｐｐｅｄｉｎＭＶＴｈｒｅ｝ｌｅｖｅｌＩｎｖｅｒｔｅｒ［Ｃ］．ＩＡＣ，２００５，２；１６１—１６５．［２４］ｋｅＦＣ，ＧｕｉｃｈａｏＨｕａ，１３０ｒｏｊｅｖｉｃＫｏｎｍＩｌｇｗａｎｇ，Ｌｅｅ，Ｄ－ＡＣｃ）ｍｐａｒａｔｉｖｅＳｔｕｄｙｏｆＳｗｉｔｃｈｈ堰ＬｏｓｓｅｓｏｆＩ（；ＢＴｓｕｎｄｅｒＨ８ｒｄｓｗｉｔｃｈｉｎｇ，Ｚｅｒ（卜ｖｏｌｔａｇｅ—ｓｗｉｔｃｈｉｎｇａｎｄＺｅｒｏ—Ｃｕｒｒｅｎ卜Ｓｗｉｔｃｈｉｎｇ［Ｃ］．ＰＥｓｃ，１９９４，１１９６—１２０４．［２５］ＥｒｔｌＫｏｌａｒＪｗ，ＥｒｈａｒｔｔＨ，ＺａｃｈＬＬＡｍｌｙｓｉｓｏｆｔｕｒｒｌ－ｏ任ｂｅｈａｖｉｏｒａｎｄｓｗｉｔｃｈｉｎｇｌｏｓｓｅｓｏｆａ１２００Ｖ／５０Ａｚｅｒｏ—ｖｏｌｔ－ａｇｅｏｒｚｅｒｏ－ｃｕｒｒｅｎｔｓｗｉｔｃｈｅｄＩＧＢＴ［Ｃ］．ＩｎｄｕｓｔｒｙＡｐｐｌｉｃａ＿（下轉(zhuǎn)第１３頁）?５‘萬方數(shù)據(jù)通繾電潦技術(shù)２（）（Ｊ９年１１月２５日第２６卷第６期ＴｅｌｅｃｏｍＰｏｗｅｒＴｅｃｈｎｏｌｏｇｙ術(shù)守喜等：小型風(fēng)力發(fā)電系統(tǒng)蓄電池控制策略優(yōu)化分析ＮｏＶ．２５，２００９，ｖｏＬ２６Ｎｏ．６版社，２００５．５結(jié)束語小型風(fēng)力發(fā)電系統(tǒng)是解決我國邊遠(yuǎn)缺電地區(qū)以及［２］Ｍａｎｗｅｌｌｎ１０ｄｅｌＪＦ，ＭｃＧｏｗａｎＪＧ．Ｌｅａｄａｃｉｄｂａｔｔｅｒｙｓｔｏｒａｇｅｆｏｒｈｙｂ州ｅｎｅｒｇｙｓｙｓｔｅｒｌｌｓ［Ｊ］．ｓｏｌａｒＥｎｅｒｇｙ，海島用電的最主要方式，對于其控制器的設(shè)計也是現(xiàn)階段的一個研究熱點。依據(jù)本文分析所制造的風(fēng)力發(fā)電控制器能夠?qū)π铍姵剡M(jìn)行很好地保護(hù)，極大地延長１９９３，（５０）：３９９一鉞）５．［３］趙爭鳴，劉建政，孫曉瑛，袁立強(qiáng)．太陽能光伏發(fā)電及其應(yīng)用［Ｍ］．北京：科學(xué)出版社，２００５．［４］周立功．ＡＲＭ嵌入式系統(tǒng)基礎(chǔ)教程［Ｍ］．北京：北京航空航天大學(xué)出版社，２０（）５．蓄電池和系統(tǒng)的壽命，使風(fēng)力發(fā)電的成本大幅降低。如果此種控制器可以投人生產(chǎn)并商用，必定會使風(fēng)力發(fā)電技術(shù)得到更大的推廣和發(fā)展。參考文獻(xiàn)：［１］徐曼珍．新型蓄電池原理與應(yīng)用［Ｍ］．北京：人民郵電出［５］歐陽名三．獨立光伏系統(tǒng)中蓄電池管理的研究［Ｄ］．合肥：合肥工業(yè)大學(xué)博士學(xué)位論文，２００４。［６］術(shù)守喜，亓學(xué)廣，陶鑫，劉惠萍．閥控式密封鉛酸蓄電池的壽命及失效分析［Ｊ］．通信電源技術(shù)，２００６，２３（６）：６３—６５．’’’，＇＇＇＇，＇，＇，＇＇＇’＇●’，’，＇，，’＇，●，＇’’－’－’’’，，，，，＇＇●，’’，ｌ’，，’’●’，’●＇－＇Ｉ●ｌ，’，Ｉ，＇’’’●＇’，’，＇＇，＇’＇，＇’’’’（上接第５頁）ｔｉｏｎｓＳ０ｃｉｅｔｙＡｎｎｕａｌＭｅｅｔｉｎｇ，１９９１，２：１５０８—１５１４．ＩＧ睨、Ｄｅｖｉｃｅｓｌ４３４－４４１．ｃ｜．ＰｏｗｅｒＥｌｅｃｔｒｏｎｉｃｓＳｐｅｃｉａｌｉｓｔｓＣ０ｎｆｅｒ—［２６］ＤｅａｎＤｏｎｃｋｅｒＳｃｈｗａｒｚｅｒＩｎｖｅｒｔｅｒＵ，ＲＷｆｏｒＰｏｗｅｒＩ乃ｓｓｅｓｏｆＩＧＢＴｓｉｎＩｎｄｕｃｔ沁ｅｅｎｃｅ，ＰＥＳＣ７９４Ｒｅｃｏｒｄ，２５ｔｈＡｒｕｌｕａｌＩＥＥＥ，１９９４，１：ＰｒｏｔｏｔｙｐｅＨｉｇｈＦｒｅｑｕ朗ｃｙＨｅａｔｉｎｇＡｐｐｌｉｃａｔｉｏｎｓ［Ｃ］．ＩｎｄｕｓｔｒｉａｌＥｌｅｃｔｒｏｎｉｃｓＳｏｃｉｅｔｙ，［３２］ＬｏｄｅＰｅｔｔｅｒｔｅｉｇＪ，ＵｎｄｅｌａｎｄＴＭＩＧＢＴＴｕ卅ｏｆｆｋｓｓｅｓ１９９１．，１２７１—２００１．ＩＥ（如Ｎ［２７］ＫｏｙａｍａＴ．３７０１．Ｔｈｅ２７ｔｈＡＴｍｕａｌＣｏｎｆｅｒｅｎｃｅｏｆｔｈｅｆｏｒＨａｒｄＳ誦ｔｃｈｉｎｇａｎｄ而ｔｈｃａｐａｃｉｔｉｖｅＳｎｕｂｂｅｒｓ［ｃ］．Ｉｎ—ｄｕｓｔｒｙＡｐｐ“ｃａｔｉｏｎｓＳｏｃｉｅｔｙＣｏｎｆｅｒｅｎｃｅＲｅｃｏｒｄｏｆ１２７４．ｔｈｅＡｎｎｕａｌ１ＥＥＥ，２（）（）１，２：７９３—７９８．Ｍｅｅｔｉｎｇ，１９９１，２：ＴａｍａｉＳＭ，Ｆｕｊｉｉ＇Ｔ，Ｍｉｚｏｇｕｃｈｉｓ，Ｋａ、ⅣａｂａｔａＧＴ０Ｃｏｌｗｅｒｔｅｒ－ｉｎｖｅｒｔｅｒＰａｉｒ１９９１ＩＥＥＥ，ＬｅｖｅｌＳｙｓｔ鋤｛ｏｒＰｏｗｅｒＥｌｅｃ—ＬａｒｇｅＣａｐａｃｉｔｙＩｎｄｕｃｔｉｏｎＭｏｔｏｒＤｒｉｖｅ［ｃ］．［３３］Ｉ戈ｓｌｉｅＩ盤ｉＬ，ＦｅｒｒｅｌｌＪ，ＮｅｒｇａａｒｄＴ．ＣｈａｒａｃｔｅｒｉｚａｔｉｏｎｏｆｔｍｎｊｃｓａｎｄＡｐｐｌｉｃａｔｉｏｎｓ，１９９３，５：４５—５０．Ｈ、ＬＩＧＢＴｆｏｒＨｉｇｈ－ＰｏｗｅｒＩｎｖｅｎｅｒＡｐｐｌｉｃａｔｉｏｎｓ［ｃ］．Ｉｎ—ｄｕｓｔｒｙＡｐｐｌｉｃａｔｉｏｎｓＣｏｎｆｅｒｅｎｃｅ，２００５．ＦｂｕｒｔｉｅｔｈＩＡＳ［２８］ＰｅｄｅｒｓｅｎＢｌａａｂｊｅｒｇｉｎｖｅｒｔｅｒｓ［ｃ］．ＪＫ，ｓｉｇｕｒｊｏｎＳｓｏｎｓ，ＥｌｋｊａｅｒＡＡｎｌｏｓｓｅｓｉｎｈａｒｄ—ｓｗｉｔｃｈｅｄＩＧＢｌ乙ｅＸｔｅｎｄｅｄｍｏｄｅｌｏｆｐｏｗｅｒＩｎｄｕｓｔｒｙＡｎｎｕａｌＭｅｅｔｉｎｇ．ＣｏｎｆｅｒｅｎｃｅＲｅｃｏｒｄｏｆｔｈｅ２（】（）５，２００５，１：３７７—３８２．Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎｓ（二ｏｎｆｅｒｅｌｌｃｅ，１９９６．Ｔｈｉｒｔｙ＿ＦｉｒｓｔＩＡｓＡｎｎｕａｌＭｅｅｔｉｎｇ，ｎＳ７９６．，ｃｏｎｆｅｒｅｎｃｅ［３４］ＫｉｍＫｉｍＳＣ，Ｈｗ，ＳｅｏＫＳ，ｚ１１ａｎｇＣＬ，ＫｉｍＥＤ．Ｒｅｃｏｒｄｏｆｔｈｅ