spc統(tǒng)計過程控制

spc統(tǒng)計過程控制SPC

StatisticalProcessControl

統(tǒng)計過程控制基本概念什么是SPC？StatisticalProcessControl統(tǒng)計過程控制

SPC主要是指應(yīng)用統(tǒng)計分析技術(shù)對生產(chǎn)過程進(jìn)行實(shí)時監(jiān)控，科學(xué)的區(qū)分出生產(chǎn)過程中產(chǎn)品質(zhì)量的隨機(jī)波動與異常波動，從而對生產(chǎn)過程的異常趨勢提出預(yù)警，以便生產(chǎn)管理人員及時采取措施，消除異常，恢復(fù)過程的穩(wěn)定，從而達(dá)到提高和控制質(zhì)量的目的。過程過程的定義：一組將輸入轉(zhuǎn)化為輸出的相互關(guān)聯(lián)或相互作用的活動。通俗地說，就是將一個過程的要素組合在一起履行一項服務(wù)、生產(chǎn)產(chǎn)品或完成其他任務(wù)。產(chǎn)出方法物料機(jī)器人環(huán)境測量過程的要素調(diào)節(jié)設(shè)備參數(shù)處理水最后糖漿注入機(jī)品控員注入間密度儀\\制程能力分析1.利用統(tǒng)計方法調(diào)查制程輸出的波動幅度，并確定制程是否能始終穩(wěn)定地生產(chǎn)出符合質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的產(chǎn)品2.所有樣品的平均值接近目標(biāo)值3.品控人員知道應(yīng)如何采取預(yù)防行動及何時對制程進(jìn)行調(diào)整SPC的應(yīng)用場合

1.了解制程輸出是否穩(wěn)定且滿足品質(zhì)控制要求，為相應(yīng)須采取的控制和更正行動提供依據(jù)2.當(dāng)新設(shè)備、新工藝投入使用后，用于判斷制程輸出是否有改進(jìn)或變差。3.判斷品控儀器的準(zhǔn)確度和精確度可否達(dá)到品控測試的要求4.了解供應(yīng)商的生產(chǎn)及控制能力可否保證能得到品質(zhì)穩(wěn)定且符合要求的產(chǎn)品界面介紹點(diǎn)擊“啟用宏”按紐Uppercontrol=target+3σfromCapabilitytestLowercontrol=target-3σfromCapabilitytest（上控線＝目標(biāo)值＋3×能力測試所得標(biāo)準(zhǔn)偏差）（下控線＝目標(biāo)值－3×能力測試所得標(biāo)準(zhǔn)偏差）上控線與下控線樣本標(biāo)準(zhǔn)偏差σ的計算首先計算出它們的平均值假設(shè)有以下一些數(shù)據(jù)：12.50，12.45，12.49，12.48，12.51…X1x2x3x4x5…xnxX1+x2+x3+x4+x5+…+xnn=樣本標(biāo)準(zhǔn)偏差σ＝（X1－）2x（X2－）2x（Xn－）2x+…++(n-1)標(biāo)準(zhǔn)偏差σ是衡量樣本數(shù)據(jù)點(diǎn)與平均值間偏差平均值的典型參數(shù)，廣泛使用于數(shù)據(jù)統(tǒng)計中。

Cp-潛在過程能力指數(shù)Cp不反映過程的集中性(即與目標(biāo)的偏離)，因此如果過程的平均值并不是我們的期望的目標(biāo)值，那么用Cp來衡量過程就會產(chǎn)生誤差。

（

-樣本的標(biāo)準(zhǔn)偏差）spe_max-spe_min

6

cp=Cp—過程固有的再現(xiàn)性，Cp是表征一個穩(wěn)定的、呈正態(tài)分布的過程能力的指數(shù)。計算Cp時的標(biāo)準(zhǔn)差是由于不可避免的CommonCause(常規(guī)因素）產(chǎn)生的變化。Cpk-實(shí)際過程能力指數(shù)Cpk既反映過程的精密度又反映其準(zhǔn)確度，是我們衡量過程能力是否充足的重要指數(shù)。

Spe_max-mean3

mean-spe_min3

與Cpk取兩者結(jié)果的最小值。?精確度與準(zhǔn)確度準(zhǔn)確度(accuracy)指同標(biāo)準(zhǔn)值或目標(biāo)值一致性的程度。精確度(precision)指履行結(jié)果的重復(fù)性。精確但不準(zhǔn)確即精確又準(zhǔn)確準(zhǔn)確但不精確目標(biāo)準(zhǔn)確度=平均值-目標(biāo)值精確度=標(biāo)準(zhǔn)偏差如果從數(shù)學(xué)上定義精確度與準(zhǔn)確度：精確度與準(zhǔn)確度

通過聯(lián)系準(zhǔn)確度與精確度的數(shù)學(xué)定義，對比Cp與Cpk的計算公式，我們就會發(fā)現(xiàn)為什么Cpk既反映過程的精確度也反映其準(zhǔn)確度.spe_max-spe_min

6

Cp=spe_max-mean3

mean-spe_min3

或Cpk=基本操作先選中數(shù)據(jù)欄整個空白欄點(diǎn)擊“DisplayChart”查看該日的SPC控制圖點(diǎn)擊此按紐將生成空白欄，以輸入新的數(shù)據(jù)IndividualObservationChart一.樣本點(diǎn)的觀察控制圖上、下規(guī)格線樣本平均值目標(biāo)值樣本數(shù)據(jù)點(diǎn)上、下控制線數(shù)據(jù)點(diǎn)超出上下控制線連續(xù)7個或以上數(shù)據(jù)在中心線上方或下方數(shù)據(jù)呈固定形式變化較多數(shù)據(jù)點(diǎn)接近上下控制線樣品點(diǎn)的水平突變樣品點(diǎn)分布的水平位置漸變樣品點(diǎn)的離散度較大制程失控制程失去控制時的特征：1.數(shù)據(jù)點(diǎn)超出上下控制線2.連續(xù)7個或以上數(shù)據(jù)在中心線上方或下方3.數(shù)據(jù)呈固定形式變化4.較多數(shù)據(jù)點(diǎn)接近上下控制線5.樣品點(diǎn)的水平突變6.樣品點(diǎn)分布的水平位置漸變7.樣品點(diǎn)的離散度較大MovingRangeChart二.移動偏差圖Line1QooPET1500SPCBrixMonitoringCp=1.65Cpk=1.1Slewthinspec100.0%Mean=12.55SD=0.0335100.0%

TRUEData12.5212.6112.612.5712.5612.5712.5112.5312.5112.5112.5112.5112.52圖2.移動偏差圖上控線（UCL）該圖反映兩連續(xù)相鄰數(shù)據(jù)的偏差，數(shù)據(jù)點(diǎn)在控制線范圍內(nèi)表明過程沒有改變；反之則表明過程發(fā)生了變化。例如：我們選取圖1.樣本點(diǎn)觀察控制圖中的幾個連續(xù)的數(shù)據(jù)點(diǎn)：這些偏差數(shù)據(jù)即為圖2.移動偏差圖的數(shù)據(jù)來源12.52,12.61,12.60,12.57,12.56……偏差Rm：0.09，0.01，0.03，0.01……n0.09+0.01+0.03+0.01+……（n為數(shù)據(jù)點(diǎn)的總數(shù)）Rm平均偏差=UCL=D4（）RmLCL=D3（）Rm（D3=0；D4=3.27）移動偏差圖根據(jù)移動偏差圖調(diào)整過程的原則1.有一個數(shù)據(jù)點(diǎn)超出上控制線時，須立即補(bǔ)充測試，以排除過程中的偶然因素。2.補(bǔ)充測試的結(jié)果仍超出上控線時，應(yīng)立即通知相關(guān)人員對設(shè)備進(jìn)行調(diào)整。

NormalDistribution三.正態(tài)分布圖圖3：正態(tài)分布圖理想狀態(tài)的正態(tài)分布曲線，可作為樣本的參照。累積線，若樣本呈正態(tài)分布，其值趨近1。樣本的實(shí)際正態(tài)分布曲線樣本平均值下控線上控線Histogram直方圖頻率間隔=0.01直方圖和正態(tài)分布圖間隔頻率當(dāng)所取數(shù)據(jù)越來越多，以及區(qū)域間隔范圍越來越小時，直方圖就會呈現(xiàn)鐘形，最后形成正態(tài)分布圖。直方圖正態(tài)分布圖0.1%2.2%13.7%34%34%13.7%2.2%0.1%-3

+3

-2

-1

+2

+1

mean偏差較大“理想的”數(shù)據(jù)分布區(qū)域68%95.4%99.8%偏差較大1.正態(tài)分布曲線的頂點(diǎn)對應(yīng)的數(shù)值為平均值(mean)；正態(tài)分布的3個特征：2.曲線分布寬度由標(biāo)準(zhǔn)偏差σ決定；3.在頂點(diǎn)兩側(cè)曲線對稱。正態(tài)分布圖的特點(diǎn)含氣量:平均值=3.75標(biāo)準(zhǔn)偏差

1=0.08

含氣量:平均值=3.75標(biāo)準(zhǔn)偏差

2=0.125

(A)(B)1233213.53.754.03211233.375