JGJT287-2014 建筑反射隔熱涂料節(jié)能檢測標準

中華人民共和國行業(yè)標準建筑反射隔熱涂料節(jié)能檢測標準StandardforenergyefficiencytestofsolarheatreflectinginsulationcoatingsofbuildingsJGJ/T287-2014批準部門：中華人民共和國住房和城鄉(xiāng)建設(shè)部施行日期：2 0 15 年6 月 1 日中國建筑工業(yè)出版社2014北京中華人民共和國住房和城鄉(xiāng)建設(shè)部公 告619號住房城鄉(xiāng)建設(shè)部關(guān)于發(fā)布行業(yè)標準現(xiàn)批準《建筑反射隔熱涂料節(jié)能檢測標準》為行業(yè)標準，編號為JGJT287-2014201561日起實施。本標準由我部標準定額研究所組織中國建筑工業(yè)出版社出版發(fā)行。中華人民共和國住房和城鄉(xiāng)建設(shè)部2014115日3根據(jù)住房和城鄉(xiāng)建設(shè)部《關(guān)于印發(fā)2008年工程建設(shè)標準規(guī)范制定、修汀計劃）的通知》2008102的要求，標準編制組經(jīng)廣泛調(diào)查研究，認真總結(jié)實踐經(jīng)驗，參考有關(guān)國際標準和國外先進標準，并在廣泛征求意見的基礎(chǔ)上，編制本標準。本標準的主要技術(shù)內(nèi)容是：1總則；2術(shù)語；3.基本規(guī)定；4實驗室檢測；5現(xiàn)場檢測。本標準由住房和城鄉(xiāng)建設(shè)部負責(zé)管理，由華南理工大學(xué)負責(zé)具體技術(shù)內(nèi)容的解釋。執(zhí)行過程中如有意見或建議，請寄送華南理工大學(xué)建筑節(jié)能研究中心地址：廣州市天河區(qū)五山路381號，郵編：510640)。中國建材檢驗認證集團股份有限公司西安建筑科技大學(xué)中國建筑西南設(shè)計研究院有限公司廣東省建筑科學(xué)研究院廣州市建筑科學(xué)研究院有限公司江蘇省建筑科學(xué)研究院有限公司上海市建筑科學(xué)研究院集團)有限公司中國建筑材料科學(xué)研究總院中國空間技術(shù)研究院廣州市魯班建筑工程技術(shù)有限公司上海廣毅涂料有限公司北京愛萬提斯科技有限公司4廣州標旗電子科技有限公司本標準主要起草人員:孟慶林趙立華張宇峰張晶李寧羅濤楊文頤劉艷峰楊柳馮雅任俊楊仕超許錦峰胡曉珍冀志江沈自才鄧天寧徐耀標嚴志偉蔣二龍宋光均本標準主要審查人員:路賓劉月莉陸津龍冀兆良龍恩深周孝清江剛?cè)纹樟料馁椂×π袆⒖≤S次總則 1術(shù)語 2基本規(guī)定 4實驗室檢測 5.1一般規(guī)定 54.2太陽反射比測試 54.3半球發(fā)射率測試 74.4檢測報告 9現(xiàn)場檢測 105.1 —般規(guī)定 105.2檢測設(shè)備 105.3采樣要求 105.4檢測要求 125.5檢測報告 12附錄A 絕對光譜法測定太陽反射比 14附錄B 輻射積分法測定太陽反射比 15附錄C 太陽光譜輻照度 17附錄D 293K下熱輻射相對光譜分布 18本標準用同說明 19引用標準名錄 20附：條文說明 216ContentsGeneralProvisions 1Terms 2BasicRequirements 4LabTesting 5.1enaralequreents 5.2TestngorlarReflectance 5.3TestngoresphercalEittance 74Testngeport 9In-situTesting 01enaralequreents 0.2TestngEqupments 0.3apleequreents 10.4Testingequreents 2.5Testingeport 2AppendixA TestingforSolarReflectance-AbsoluteSpectrumMethod 4AppendixB TestingforSolarReflectance-RadiationIntegralMethod 5AppendixC ReferenceSpectralSolarIrradianceDistribution .............................................. * 7AppendixD ThermalRadiationRelativeSpectralDistributionat293K 8ExplanationofWordinginThisStandard 9ListofQuotedStandards 0AdditionExplanationofProvisions 171.0.1為在建筑反射隔熱涂料工程應(yīng)用中貫徹執(zhí)行國家技術(shù)經(jīng)濟政策，規(guī)范建筑用反射隔熱涂料節(jié)能性能參數(shù)檢測，做到技術(shù)先進、安全使用、經(jīng)濟合理、確保質(zhì)量，制定本標準。1.0.2本標準適用于新建、擴建及既有建筑墻面、屋面的建筑反射隔熱涂料節(jié)能性能參數(shù)的檢測。0.3 建筑反射隔熱涂料節(jié)能性能參數(shù)檢測除應(yīng)符合本標準外，尚應(yīng)符合國家現(xiàn)行有關(guān)標準的規(guī)定。0.1 建筑反射隔熱涂料 solarheatreflectinginsulationcoat-ingsforbuildings具有較高太陽熱反射比和半球發(fā)射率，可以達到明顯隔熱效果的涂料。2.0.2 太陽反射比 solarreflectance反射的與入射的太陽輻射能通量之比值。2.0.3 半球發(fā)射率 hemisphericalemissivity熱輻射體在半球方向上的輻射出射度與處于相同溫度的全輻黑體）的輻射出射度之比值。2.0.4 太陽光譜輻照度 spectralsolarirradiance在某一給定波長范圍內(nèi)，單位波長間隔的太陽輻照度。2.0.5 絕對光譜法 absolutespectralmethod將試樣放置于積分球中心位置，通過測試試樣在規(guī)定波長上的絕對光譜反射比，計算試樣太陽反射比的方法。.0.6 相對光譜法 relativespectralmethod通過測試試樣在規(guī)定波長上相對于標準白板的光譜反射比，計算試樣太陽反射比的方法。2.0.7 光纖光譜儀 fiberspectralmethod采用光纖作為信號耦合器件，將試樣反射光耦合到光譜儀中進行光譜分析測定試樣反射比的儀器。2.0.8 輻射積分法 radiationintegralmethod漫射光照射被測表面，利用多個探測器探測一定角度上不同波段的反射輻射能，加權(quán)計算得到被測表面太陽反射比的方法。2.0.9定位片locatingpece在測量頭觸接面與被測面之間設(shè)置的用于采樣孔定位和閉光的墊片。0.10 熱沉 heatsink溫度不隨傳熱量變化的物體。3 0.1建筑反射隔熱涂料節(jié)能檢測可分為實驗室檢測和現(xiàn)場檢測。02建筑反射隔熱涂料的節(jié)能設(shè)計驗證、進場復(fù)驗和抽樣送檢應(yīng)采用實驗室檢測；建筑反射隔熱涂料施工完成后的工程節(jié)能性能檢測應(yīng)采用現(xiàn)場檢測。303建筑反射隔熱涂料節(jié)能性能的現(xiàn)場檢測應(yīng)按下列流程303)。04檢測設(shè)備應(yīng)在合格檢定或校準有效期內(nèi)。自行研制的設(shè)備應(yīng)經(jīng)過技術(shù)鑒定和校準合格。圖3.0.3 建筑反射隔熱涂料節(jié)能性能的現(xiàn)場檢測流程44 1 一般規(guī)定11實驗室檢測的產(chǎn)品取樣應(yīng)符合現(xiàn)行國家標準《色漆、清漆和色漆與清漆用原材料取樣》GBT3186的有關(guān)規(guī)定，并應(yīng)滿足檢測需要。412試樣制備應(yīng)符合下列規(guī)定：涂料應(yīng)在容器中充分攪拌混合均勻，并用涂布器或刮板分兩道均勻涂覆在1mm?2mm厚的鋁合金板表面，涂層干膜厚度應(yīng)為200pm?300pm，且涂層應(yīng)平整，無氣泡、裂紋等缺陷；水性涂料涂膜，兩道涂布的時間間隔應(yīng)為6h;溶劑型涂料涂膜，兩道涂布的時間間隔應(yīng)為24h;涂膜養(yǎng)護時間應(yīng)為7d;試樣制備環(huán)境的溫度應(yīng)為23°C±2°C，試樣制備環(huán)境的相對濕度應(yīng)為505;檢測試樣尺寸應(yīng)根據(jù)儀器確定，檢測試樣數(shù)量應(yīng)為3個。4.1.3實驗室檢測環(huán)境的溫度應(yīng)為23°C±5°C，實驗室檢測環(huán)境的相對濕度不得高于60%。42太陽反射比測試.2.1太陽反射比的實驗室檢測應(yīng)采用絕對光譜法、相對光譜法或輻射積分法。422采用絕對光譜法檢測時應(yīng)符合本標準附錄A的有關(guān)規(guī)定，采用輻射積分法檢測時應(yīng)符合本標準第.1節(jié)的有關(guān)規(guī)定。423采用相對光譜法檢測時，分光光度計設(shè)備性能應(yīng)符合表4.2.31的規(guī)定，光纖光譜儀設(shè)備性能應(yīng)符合表4.2.32的規(guī)定。表4231設(shè)備組件 性能要求 檢測范圍與精度波長范圍不應(yīng)小于350nm?2500nm;波分光光度計積分球標準白板

長精度不應(yīng)低于1.6nm內(nèi)徑不應(yīng)小于30mm,內(nèi)壁應(yīng)為高反射材料壓制的硫酸鋇或聚四氟乙烯板；標準白板應(yīng)經(jīng)計量部門檢定合格并在檢定有效期內(nèi)4.2.3-2光纖光譜儀設(shè)備性能

太陽反射比的檢測范闈應(yīng)為.02?097為.1設(shè)備組件 性能要求 檢測范圍與精度光纖光譜儀

波長范圍應(yīng)為350nm?2500nm;在350nm?1lOOnm波長范圍精度不應(yīng)低于5nm.在1lOOnm?2500nm波長范圍精度不應(yīng)低于.2nm光源 鹵鎢燈多模光纖芯徑不應(yīng)小于60Vm;數(shù)值孔光纖

徑應(yīng)為0.220.02;光纖長度不宜超過3m內(nèi)徑應(yīng)為30mm120mm;在400nm?1500nm波長范圍的最低反射率不得低于96%,在250nm?2500nm的最低反射率不得低于93%，采樣孔直徑不應(yīng)小于9mm

太陽反射比檢測范_應(yīng)為0.02?0.97;檢測精度應(yīng)為0.01標準白板

壓制的硫酸鋇或聚四氟乙烯板；標準白板應(yīng)經(jīng)計量部門檢定合格并在檢定冇效期內(nèi)2.4 相對光譜法檢測程序應(yīng)符合下列規(guī)定:儀器應(yīng)正確連接并處于正常工作狀態(tài);儀器工作參數(shù)設(shè)定應(yīng)正確；6將標準白板安裝在積分球試樣孔處，應(yīng)在儀器規(guī)定的波長范圍內(nèi)測量絕對光譜反射比的基線；將試樣安裝在積分球試樣孔處，應(yīng)在同一波長范圍內(nèi)測定試樣相對于標準白板的光譜反射比。2.5 相對光譜法數(shù)據(jù)處理應(yīng)符合下列規(guī)定：太陽反射比應(yīng)按下列公式計算：p,= ----------- (4.2.5-1)i=l,=i—ri)/2 (4..5-2)式中p,— 太陽反射比；i---波長350nm?2500nm范圍內(nèi)的計算點；A,---計算點i對應(yīng)的波長nm)，應(yīng)按本標準附錄C的規(guī)定選取；n計算點的數(shù)目，應(yīng)取96個；~ 波長為A的標準白板的絕對光譜反射比測定值，應(yīng)采用計量部門的檢定值；一一波長為A,的試樣相對于標準白板的光譜反射比測定值；EM~在波長A處太陽光譜輻照度Wm2?nm按本標準附錄C的規(guī)定選取；AA,---計算點波長間隔nm)。應(yīng)測試3個試樣的太陽反射比，并取算術(shù)平均值作為最終結(jié)果。4.3半球發(fā)射率測試4.3.1 半球發(fā)射率可采用輻射計或紅外分光光度計檢測。4.3.2輻射計設(shè)備性能應(yīng)符合表4.321的規(guī)定，紅外分光光度計設(shè)備性能應(yīng)符合表4322的規(guī)定。7表4321設(shè)備組件 性能要求 檢測范圍與精度輻射計探測器 重復(fù)性±1% 半球發(fā)射率檢測范圍應(yīng)為毫伏計 靈敏度.OlmV熱沉 導(dǎo)熱良好；表面高輻射

003?095;檢測精度應(yīng)為.014.3.2-2紅外分光光度計設(shè)備性能設(shè)備組件 性能要求 檢測范圍與精度紅外分光光度計 波長范圍不小于.5pm?.O^m積分球 內(nèi)徑不小于60mm.內(nèi)壁為高反射材料聚四氟乙烯板或金鏡；應(yīng)經(jīng)計量部門標準板檢定合格并在檢定有效期內(nèi)

半球發(fā)射率檢測范圍應(yīng)為.05?.9;檢測精度應(yīng)為0.01433檢測程序應(yīng)符合下列規(guī)定：采用輻射計檢測時，檢測程序應(yīng)符合下列規(guī)定：)將發(fā)射率參比試樣置于熱沉上，再將輻射探測器放到參比試樣上，通過微調(diào)應(yīng)使儀表讀數(shù)等于參比試樣值；)將被測試樣置于熱沉上，再將輻射探測器放到被檢測試樣表面上，待讀數(shù)穩(wěn)定后即為被檢測試樣的發(fā)射率。此過程應(yīng)至少進行3次。采用紅外分光光度計檢測時，檢測程序應(yīng)符合下列規(guī)定：)儀器應(yīng)正確連接并處于正常工作狀態(tài)；)儀器工作參數(shù)設(shè)定應(yīng)正確；)將標準板安裝在積分球試樣孔處，應(yīng)在儀器規(guī)定的波長范圍內(nèi)進行基線掃描；)將試樣安裝在積分球試樣孔處，應(yīng)在同一波長范圍內(nèi)進行相對于標準板的試樣光譜反射比掃描。34數(shù)據(jù)處理應(yīng)符合下列規(guī)定：采用輻射計檢測時，應(yīng)取3次讀數(shù)的算術(shù)平均值作為該試樣的半球發(fā)射率，應(yīng)測試3個試樣的半球發(fā)射率，并取算術(shù)平均值作為最終結(jié)果。采用紅外分光光度計檢測時，應(yīng)符合下列規(guī)定:1)半球發(fā)射率應(yīng)按下式計算：(4..4)式中/5(X)

— 半球發(fā)射率；試樣的熱輻射光譜反射比；-293K下熱輻射相對光譜分布，應(yīng)按本標準附錄I)的規(guī)定選取。2)應(yīng)測試3個試樣的半球發(fā)射率，并取算術(shù)平均值作為最終結(jié)果。4.4 檢測報告4.1 檢測報告應(yīng)包括下列信息：報告的名稱、編號及頁碼、檢測單位名稱及地址、委托單位名稱和地址；樣品的名稱、描述、尺寸、送樣或抽樣的地點與日期；檢測的依據(jù)、設(shè)備和條件；環(huán)境描述；檢測的結(jié)果；附閽、附表；報告主檢人、審核人和批準人的簽名。4.2檢測報告宜包括測點及其周圍環(huán)境照片。5 1 一般規(guī)定511 太陽反射比的現(xiàn)場檢測應(yīng)采用相對光譜法或輻射積分法。檢測點的選擇應(yīng)符合下列規(guī)定：檢測點的涂層外觀應(yīng)平整、清潔，涂層表面拉毛的凸起局度不宜大于.Omm；檢測點的涂層表面應(yīng)干燥；檢測時檢測點應(yīng)避免受太陽直接照射。現(xiàn)場檢測環(huán)境應(yīng)符合下列規(guī)定：現(xiàn)場檢測環(huán)境的溫度宜為5°C?35C；現(xiàn)場檢測環(huán)境的相對濕度不宜高于80；現(xiàn)場檢測應(yīng)避免在雨、霧天氣進行；環(huán)境風(fēng)速宜小于5ms。2檢測設(shè)備521采用相對光譜法檢測時，檢測設(shè)備性能應(yīng)符合本標準表.3-2的有關(guān)規(guī)定；當采用輻射積分法檢測時，檢測設(shè)備性能應(yīng)符合本標準表..1的有關(guān)規(guī)定。522檢測設(shè)備應(yīng)具有抗振動、抗干擾和防塵等性能，并應(yīng)滿足能在本標準第..3條規(guī)定的環(huán)境條件下使用。53采樣要求531現(xiàn)場檢測采樣時，測量頭觸接面與檢測點之間應(yīng)配置定位片。5.3.2定位片圖..2)應(yīng)符合下列規(guī)定：1 定位片應(yīng)帶有采樣孔、采樣孔邊牙和測量頭定位槽；10定位片應(yīng)采用不銹鋼板制作，測量頭觸接面范圍的板厚(5)不應(yīng)大于0.3mm,直徑D)不應(yīng)小于測量頭采樣孔直徑的101.0mm;定位片的定位槽底內(nèi)徑(D')應(yīng)比測量頭觸接面輪廓直05mm；定位片背面的采樣孔邊緣上應(yīng)帶有邊牙，邊牙的鋒刃程度以左右旋轉(zhuǎn)定位片時易于切人被測面為宜，厚度a。不宜大于0.2mm度/;2)應(yīng)等于被測涂層表面拉毛的凸起高度；定位片的采樣孔內(nèi)壁應(yīng)涂白，其余面應(yīng)涂黑。圖..2 定位片1-定位片；2--采樣孔；3—采樣孔邊牙；4一測量頭定位槽；5—測量頭觸接面;D定位片直徑；S—觸探面板厚度；c/一采樣孔直徑；D-定位槽底內(nèi)徑；n邊牙厚度；—邊牙高度1154檢測要求4.1每個檢測區(qū)域應(yīng)確定3個檢測點，3個檢測點宜按等邊三角形布置，檢測點間距不宜小于500mm。542采用相對光譜法檢測時，檢測程序應(yīng)符合下列規(guī)定：儀器應(yīng)正確連接并處于正常工作狀態(tài)；儀器T作參數(shù)設(shè)定應(yīng)正確；將標準白板與定位片背面靠緊，將積分球采樣孔對準定位片的采樣孔，在儀器規(guī)定的波長范圍內(nèi)應(yīng)進行光譜反射比的光譜基線測量；將定位片背面的采樣孔對準檢測點，并應(yīng)使定位片與被測涂料面靠緊；將測量頭置于定位片的定位槽內(nèi)，在同一波長范圍內(nèi)應(yīng)進行光譜反射比測量，測得相對于標準白板的光譜反射比曲線。..3 采用輻射積分法檢測時，應(yīng)符合本標準附錄B第..4條的規(guī)定。544 采用相對光譜法數(shù)據(jù)處理應(yīng)符合下列規(guī)定：1 太陽反射比應(yīng)按本標準公式4.2.5-1)和4.2.5-2)計算；2 應(yīng)取3個檢測點的算術(shù)平均值作為最終結(jié)果。55 檢測報告51 檢測報告應(yīng)包括下列信息：報告的名稱、編號及頁碼、委托單位名稱和地址；工程項目名稱和地址；被檢對象描述；檢測環(huán)境描述；檢測方法；檢測依據(jù)的標準文件；檢測設(shè)備、儀器的型號、編號、計量有效期等信息；12檢測結(jié)果；附圖、附表；10檢測單位名稱及地址；11報告主檢人、審核人和批準人的簽名。5.5.2 檢測報告宜包括測點及其周圍環(huán)境照片。13附錄A 絕對光譜法測定太陽反射比A.0.1采用絕對光譜法檢測時，分光光度計設(shè)備性能應(yīng)符合表A..1的規(guī)定。A.0.1分光光度計設(shè)備性能設(shè)備組件 性能要求 檢測范圍與精度波長范圍不應(yīng)小于350nm?2500nm;分光光度計

波長精度不應(yīng)低于1.6nm 太陽反射比檢測范圍應(yīng)為0.02?.7內(nèi)徑不應(yīng)小于60mm，內(nèi)壁應(yīng)為高反積分球射材料

檢測精度應(yīng)為.1A.0.2 檢測程序應(yīng)符合下列規(guī)定：儀器應(yīng)正確連接并處于正常工作狀態(tài)；儀器工作參數(shù)設(shè)定應(yīng)正確；應(yīng)將試樣安裝在試樣架上放人積分球內(nèi)中間部位；應(yīng)在儀器規(guī)定的波長范圍內(nèi)測定試樣的絕對光譜反射比。0.3數(shù)據(jù)處理應(yīng)符合下列規(guī)定：太陽反射比應(yīng)按下式計算：p ^- (A..)^]Esa)AA,式中a— 波長為A,時試樣的光譜反射比。應(yīng)測試3個i式樣的太陽反射比，并取算術(shù)平均值作為最終結(jié)果。14附錄B 測定太陽反射比1 實驗室檢測11采用輻射計分法檢測時，輻射積分儀設(shè)備性能應(yīng)符合表..1的規(guī)定。B.1.1設(shè)備組件 性能要求 檢測范圍與精度測量頭枳分球）

波長范圍不應(yīng)小于350nm?2500nm，測量波段不應(yīng)少于4個；應(yīng)由鹵鎢燈、過濾器和探測器組成；測量頭內(nèi)壁為高反射材料；探測器應(yīng)能探測到紫外、藍光、紅光和近紅外區(qū)的電子感應(yīng)；測量頭采樣孔孔徑應(yīng)為25mm?26mm.003;偏差應(yīng)為±0.002 太陽反射比檢測范圍應(yīng)為.02?.97；讀數(shù)模塊

應(yīng)具有數(shù)據(jù)采集、處理和顯示功能，數(shù)分辨率應(yīng)為0001數(shù)字顯示器不穩(wěn)定度應(yīng)小于±[(讀數(shù)的1%+.003)/h]

檢測精度應(yīng)為0.01校準裝置

包括黑腔體和高反射比的標準陶瓷白板，標準白板應(yīng)經(jīng)計量部門檢定合格并在檢定有效期內(nèi)B..2 檢測程序應(yīng)符合下列規(guī)定：儀器應(yīng)正確連接并處于正常工作狀態(tài)；儀器工作參數(shù)設(shè)定應(yīng)正確；開機預(yù)熱期間應(yīng)蓋罩采樣孔，預(yù)熱30min后進行儀器校準；15應(yīng)采用反射比為零的黑腔體調(diào)零，采用高反射比標準板校準；應(yīng)將試樣放在測量頭的采樣孔上靠緊，并應(yīng)在顯示值穩(wěn)定后讀數(shù)。..3 數(shù)據(jù)處理應(yīng)符合下列規(guī)定：應(yīng)取3次讀數(shù)的算術(shù)平均值作為該試樣的太陽反射比；應(yīng)測試3個試樣的太陽反射比，并取算術(shù)平均值作為最終結(jié)果。B2現(xiàn)場檢測.2.1現(xiàn)場檢測設(shè)備應(yīng)由讀數(shù)模塊、校準裝置、測量頭和定位片等組成。B.2.2 檢測點的確定應(yīng)符合本標準第.4.1條的規(guī)定。.2.3 檢測采樣應(yīng)符合本標準第.3節(jié)的規(guī)定。.2.4 檢測程序應(yīng)符合下列規(guī)定：儀器應(yīng)正確連接并處于正常工作狀態(tài)；儀器工作參數(shù)設(shè)定應(yīng)正確；開機預(yù)熱期間應(yīng)蓋罩采樣孔，預(yù)熱30min后進行儀器校準；應(yīng)采用反射比為零的黑腔體調(diào)零，采用高反射比標準板校準；應(yīng)將定位片背面的采樣孔對準檢測點，并應(yīng)使定位片與被測涂料面靠緊；應(yīng)將測量頭置于定位片的定位槽內(nèi)靠緊，并應(yīng)在敁示值穩(wěn)定后讀數(shù)。.2.5 數(shù)據(jù)處理應(yīng)符合下列規(guī)定：3次讀數(shù)的算術(shù)平均值作為該檢測點的太陽反射比；應(yīng)測試3個檢測點的太陽反射比.并取算術(shù)平均值作為該檢測區(qū)域的最終結(jié)果。16附錄C 譜輻照度表c 太陽光譜輻照度仏U,)表,),Es),ES),)[W/(m2?[W/(m2?[W/(m2?[W/(m2?(nm)nm)](nm)nm)]nm)nm)](nm).0.0092.0.0.6230.0.0290.0.0408.0.5.7197.0.0019.0.1039.01.4315.0.6655.0.0012.0.1744.01.3821.0.6144.0.0204.0.2379.0.0.3976.0.0878.0.3810.03418.0.10582.0.0258.0.3760.0.0.18223.0.0959.0.4195.0.0.12742.0.0582.0.4230718.0.9737.0.32672100.0.0859.0.4662.41.0054.0.44331.0.0792.0.5014.0.0.40821.0.0689.0.6121.51.1506.0.46312.0.0677.0.6867.51.1329.0.39812360.0.0598.0.6946.5.6198.0.24112450.0.0204.0.9764.5.9938.0.03132494.0.0178.01.1162.0.0.00152537.0.0031.0.0.5.05372941.0.0042.0.0.8184.5.10137.0.0073.0.7.75651477.0.10170.0.0063.0.5.88321497.0.175530.0.0031.0.0.9251.0.25313132.0.0052.0.0.9434.0.26435.0.0187.0880.0.8994.0.26503204.0.0013.0.00.7214.0.23574.0.0031.0.0.6433.0.238433.0.0126.0.0.6653.0.22044.0.0031.0.0.3890.0.23563450.0.0128.0.0.2489.0.22633573.0.0115.0.0.3022.0.21257.0.0094.0965.0.5077.0.16534.0.007217附錄D 293K下熱輻射相對光譜分布I)293K下熱輻射相對光譜分布Gx表波長ym)(h波長(pm)Gx.5.0053.0.0281.0.0094.5.0266.5.0143.0.0252.0.0194.5.0238.5.024417.0.0225.0.0290.5.0212.5.0328.0.0200.0.0358.5.0189.5.0379.0.0179.0.0393.5.0168.5.0401.0.0159.0.0402.5.0150.5.0399.0.0142.0392.5.0134.038222.0.0126.0.0370.50.0119.5.0356.0.0113.0.0342.5.0107.5.0327.0.0101.0.0311.5.0096.5.0296.0.009118為便于在執(zhí)行本標準條文時區(qū)別對待，對要求嚴格程度不同的用詞說明如下：)表示很嚴格，非這樣做不可的：正面詞采用必須，反面詞采用嚴禁”；)表示嚴格，在正常情況下均應(yīng)這樣做的：正面詞采用應(yīng)，反面詞采用不應(yīng)”或不得”；)表示允許稍有選擇，在條件許可時首先應(yīng)這樣做的：正面詞采用宜，反面詞采用不宜”；)表示允許有選擇，在一定條件下可以這樣做的，采用條文中指明應(yīng)按其他有關(guān)標準執(zhí)行的寫法為：應(yīng)符合.......的規(guī)定”或應(yīng)按 執(zhí)行。19《色漆、清漆和色漆與清漆用原材料取樣》GBT3186建筑反射隔熱涂料節(jié)能檢測標準CJ1287-2014《建筑反射隔熱涂料節(jié)能檢測標準》JGJT2872014，經(jīng)住房和城鄉(xiāng)建設(shè)部2014年115日以第619號公告批準發(fā)布。本標準編制過程中，編制組進行了廣泛的調(diào)查研究，總結(jié)了我閏建筑反射隔熱涂料工程應(yīng)用的經(jīng)驗，同時參考了StandardTestMethodforDeterminationofSolarReflectanceNearAmbi-entTemperatureUsingaPortableSolarReflectometer》ASTM1549-2009等國外先進技術(shù)標準，通過對光纖光譜儀、分光光度計及輻射積分儀等關(guān)鍵儀器設(shè)備進行比對試驗，確定了太陽輻射比等關(guān)鍵參數(shù)的檢測方法。為便于廣大設(shè)計、施工、管理和科研院校等單位的有關(guān)人員在使用本標準時能正確理解和執(zhí)行條文規(guī)定.《建筑反射隔熱涂料節(jié)能檢測標準》編制組按章、節(jié)、條順序編制了本標準的條文說明，對條文規(guī)定的目的、依據(jù)以及執(zhí)行中需要注意的有關(guān)事項進行了說明。但是，本條文說明不具備與標準正文同等的法律效力，僅供使用者作為理解和把握標準規(guī)定的參考。22次1 總則 24次2 術(shù)語 25基本規(guī)定 26實驗室檢測 274.1 一般規(guī)定 74.2太陽反射比測試 274.3半球發(fā)射率測試 294.4檢測報告 29現(xiàn)場檢測 305.1 —般規(guī)定 305.2檢測設(shè)備 305.3采樣要求 315.4檢測要求 335.5檢測報告 33附錄A 絕對光譜法測定太陽反射比 34附錄P)輻射積分法測定太陽反射比 35附錄C 太陽光譜輻照度 36附錄I) 293K下熱輻射相對光譜分布 3723則1.o.1建筑反射隔熱涂料是建筑圍護結(jié)構(gòu)節(jié)能的一項有效措施之一，近年來國內(nèi)外各類具有熱反射性能的建筑外裝涂料不斷出現(xiàn)，特別是在我國南方地區(qū)的應(yīng)用量在逐年增大，建筑節(jié)能行業(yè)面臨著如何控制此類工程的施工質(zhì)量和節(jié)能驗收的問題。目前我國現(xiàn)行標準中，_繞實驗室檢測都給出了建筑反射隔熱涂料節(jié)能參數(shù)的測試方法.一定程度上適應(yīng)了建筑節(jié)能工程施工階段材料進場復(fù)驗的需要。根據(jù)目前的實際情況，建筑反射隔熱涂料的新建丁程的施工驗收、既有建筑節(jié)能改造等現(xiàn)場檢測工作還需要提出相關(guān)的檢測方法和技術(shù)要求，本標準編制是從工程檢測的需求出發(fā)，提出建筑用反射隔熱涂料節(jié)能性能參數(shù)檢測的方法和技術(shù)要求，根本目的是為促進建筑反射隔熱涂料這一建筑節(jié)能措施發(fā)揮更大應(yīng)用。此外，本標準規(guī)定的檢測內(nèi)容和方法，也為現(xiàn)行國家標準《建筑節(jié)能工程施工質(zhì)量驗收規(guī)范》GB50411中的相關(guān)內(nèi)容提供依據(jù)。1.0.2本標準適用于新建、擴建及既有建筑墻面、屋面的建筑反射隔熱涂料在施工階段的進場復(fù)驗和節(jié)能專項竣工驗收的檢測，也適用于反射隔熱涂料建筑節(jié)能效果的評價性和研究性測試。目前專業(yè)領(lǐng)域內(nèi)作為建筑反射隔熱涂料的節(jié)能性能參數(shù)有2個.即太陽反射比/)值和半球發(fā)射率e)值，總則中在界定范圍和內(nèi)容時，對此做了界定。0.3建筑反射涂料節(jié)能性能檢測還應(yīng)符合我國現(xiàn)行的建筑節(jié)能施工、驗收、檢測的相關(guān)標準。242 術(shù) 語?.1 建筑反射隔熱涂料是通過較高的太陽反射比和對外較高的熱輻射本領(lǐng)實現(xiàn)隔熱的基本原理。20.7基于光纖耦合傳輸原理進行光譜分析的方法測試太陽反射比。08 是按照美國建筑材料協(xié)會標準ASTMC1549設(shè)計的一種便攜式太陽反射比測試方法。209為了防止積分球測頭采樣孔不易對正檢測點并防止觸探面漏光而設(shè)計的一種專用墊片。253 0.1為建筑反射隔熱涂料節(jié)能設(shè)計提供依據(jù)的驗證檢測應(yīng)采用實驗室檢測，并應(yīng)在設(shè)計前進行。實驗室檢測測得的數(shù)據(jù)較現(xiàn)場檢測得到的數(shù)據(jù)要更加精確。03給出了建筑反射隔熱涂料節(jié)能現(xiàn)場檢測流程，其中的現(xiàn)場調(diào)查應(yīng)包括下列內(nèi)容：涂料技術(shù)資料、涂料施工工藝，建筑節(jié)能設(shè)計文件及施工資料，涂料進場復(fù)驗報告，委托方的具體要求，現(xiàn)場檢測條件。檢測方案宜包含以下內(nèi)容：工程概況，檢測方法及其依據(jù)的標準，檢測數(shù)量，抽樣方案，所需的儀器設(shè)備和人員，試驗時間要求，必要時還應(yīng)包括測試點搭建腳手架、爬梯等要求。264.1 一般規(guī)定4.1.1規(guī)定了實驗室檢測時涂料取樣所依據(jù)的標準。4.1.2、4.1.3規(guī)定了試樣制作的要求、試樣制作的環(huán)境條件和實驗室檢測環(huán)境，提高檢測結(jié)果的可靠性。42 太陽反射比測試4.2.1?4.23太陽反射比檢測可采用光譜法或輻射積分法，光譜法又分為相對光譜法和絕對光譜法。當采用相對光譜法檢測時，主要的儀器為分光光度計和光纖光譜儀，兩者的共同特點是都可以進行光譜分析，不同的是分光光度計的光路固定，測試精準度高，但該儀器測頭是裝配在專用的樣品倉內(nèi)，檢測時必須制作符合規(guī)定的樣品，故適合用在實驗室檢測，而光纖光譜儀是通過光纖連接測頭和光譜儀，測頭采樣靈活，適合用在實驗室和現(xiàn)場檢測。經(jīng)華南理工大學(xué)建筑節(jié)能研究中心的對比研究表明，分光光度計和光纖光譜儀兩者測試結(jié)果最大相差絕對值不超過30%，如表1所示，能夠滿足建筑工程檢測的要求。11見光反射比) 太陽反射比)相差相差相差相差譜儀度計譜儀LB-2-1粉.28.73.62.44.76.921黃.92.52—.48.92.87.06l藍.92.65-0.42.23.76.72JNJ-1-1淺灰.42.37.35.92.7327

分光光

光纖光續(xù)表1可見光反射比) 太陽反射比)相差相差相差相差度計譜儀度計譜儀JNJ-2-1粉紅.92.09.20.49.36JNJ-3-1黃.06.43.1.97JNJ-4-1淺綠.62.04—.69.4.53.6JNJ-5-1淺藍.5.26.8.7—.63

光纖光

光纖光國家現(xiàn)行相關(guān)標準《建筑用反射隔熱涂料》GBT25261、《建筑反射隔熱涂料》GT235和《建筑外表面用熱反射隔熱涂料》jCT1040都推薦采用了絕對光譜法，考慮到絕對光譜法的檢測過程和數(shù)據(jù)處理方法與相對光譜法不同，與我國建筑工程檢測行業(yè)現(xiàn)有的玻璃光學(xué)性能檢測儀器不能通用，所以將絕對光譜法列于附錄A，供已有相關(guān)設(shè)備的檢測單位選擇采用。輻射積分法是美國材料協(xié)會公布的一種便攜式儀器檢測太陽反射比方法，其測試與光譜法不同，該儀器是使用漫射鎢鹵素?zé)粽丈錁悠?，通過4個探測器測量輻射反射，每個探測器配備濾光裝置，使得它能與太陽光光譜的特定波段產(chǎn)生電子感應(yīng)，這些電子感應(yīng)經(jīng)過讀數(shù)模塊處理后得出太陽反射比。該方法測試時需要采用黑色腔體來校零，使用已知反射比的標準板進行校準。經(jīng)中國建筑材料檢驗認證中心的對比結(jié)果表明，輻射積分法與采用分光光度計的光譜法測試結(jié)果相差不足10%，能夠滿足建筑反射涂料節(jié)能性能檢測要求，檢測時應(yīng)符合本標準附錄B要求。4.2.4采用相對光譜法檢測時，應(yīng)先測定標準白板的絕對光譜反射比，記憶在儀器中最為基準光譜線，再測定試樣相對于標準白板的光譜反射比。4.2.5采用相對光譜法檢測時，應(yīng)按本條文公式4.2.5)計算太陽反射比，公式中”是波長350nm?2500nm范圍內(nèi)的計算點數(shù)目，計算點的波長A應(yīng)以本標準附錄表C350nm?2494nm28范圍內(nèi)的逐點作為反射比分析用的計算點，共96個。之所以規(guī)定具體的計算點波長，目的是避免因計算點選擇的不統(tǒng)一而產(chǎn)生計算結(jié)果的差異，計算過程更為嚴謹規(guī)范，結(jié)果也便于比較。?為標準白板的絕對反射比，是由計量部門檢定的數(shù)值，對應(yīng)各計算點波長的絕對反射比值，可根據(jù)檢定值按照相鄰波長對應(yīng)的絕對光譜反射比，采用內(nèi)插法逐個確定。(ohx在各計算點的數(shù)值，可根據(jù)測定值按相鄰波長對應(yīng)的光譜反射比，采用內(nèi)插法逐個確定。43半球發(fā)射率測試431半球發(fā)射率測定給出了兩種檢測方法，是國內(nèi)目前建設(shè)行業(yè)檢測中的主要方法。輻射計法的檢測原理如下：輻射計探測器的輸出信號應(yīng)與被檢測樣的發(fā)射率成線性關(guān)系，通過比較輻射計配備的高、低發(fā)射率參比試樣和被檢測樣輸出信號的大小，直接得到被檢測樣的發(fā)射率。紅外分光光度計法檢測，主要是參考了太陽能總透射比、紫外線透射比及有關(guān)窗玻璃參數(shù)的測定》GBT2680中有關(guān)半球發(fā)射率部分的測試方法。44 檢測報告441樣品描述中應(yīng)包括表面狀態(tài)、顏色等；環(huán)境描述應(yīng)包括試樣制備環(huán)境和檢測環(huán)境的溫度、濕度等；附圖、附表應(yīng)包括樣品或試樣的照片或測試圖、表等。295 5.1—般規(guī)定 ?511采用相對光譜法和輻射積分法檢測時，是通過觸探方式進行采樣，檢測過程簡單易于操作，由于采用絕對光譜法的檢測時樣品必須要放在儀器的積分球內(nèi)，不適合工程現(xiàn)場檢測。采用輻射積分法檢測的原理與光譜法的不同，但兩者經(jīng)實驗室環(huán)境下對比相差僅有1%，可以作為現(xiàn)場檢測的方法之一，采用時應(yīng)符合附錄B的規(guī)定。512檢測點應(yīng)符合檢測要求，特別是對于涂料外墻面有較大的凸凹時，當在檢測區(qū)域不能找到大于積分球的采樣孔面積并且表面拉毛凸起高度小于2mm的平面時，不符合檢測條件。檢測點應(yīng)保持干燥并應(yīng)避免日曬，必要時可采用遮陽傘進行防護。5.13檢測環(huán)境條件的確定是為了確保檢測人員安全和防護儀器，確保檢測精度。儀器應(yīng)避免太陽直接照射測量儀器，測量儀器受太陽直接照射后，儀器外殼會吸收熱量，從而影響測量結(jié)果，因此必要時可采用遮陽傘進行防護。52檢測設(shè)備521采用相對光譜法現(xiàn)場檢測設(shè)備的組成，還應(yīng)包括蓄電池電源、便攜式計算機等。也可以采用集成化程度較高的便攜式儀器，如將光譜儀和計算機整合為一體、積分球和光源整合為一體的便攜式儀器。相對光譜法現(xiàn)場檢測設(shè)備的安裝示意，如圖1所示。522用于現(xiàn)場檢測的光纖光譜儀、輻射積分儀等設(shè)備屬于精密儀器，除應(yīng)符合本標準要求的測試性能外，還應(yīng)針對現(xiàn)場檢測301相對光譜法太陽反射比現(xiàn)場檢測設(shè)備示意圖1光譜儀；2—光源；3-光纖；4一積分球測量頭；5定位片；6檢測區(qū)域環(huán)境具備抗振動性能，儀器及組件的連接等應(yīng)牢固可靠，確保測試信號的傳輸不受現(xiàn)場環(huán)境振動、檢測中的移動等影響，對現(xiàn)場環(huán)境中某些電氣設(shè)備產(chǎn)生的快速脈沖群干擾或其他電磁干擾，檢測設(shè)備應(yīng)具備抗干擾能力，現(xiàn)場環(huán)境下儀器設(shè)備應(yīng)具備防塵、防潮和防紫外性能。檢測儀器應(yīng)能滿足本標準要求的現(xiàn)場測試環(huán)境條件。53531采樣孔與檢測點之間配置定位片有兩個重要作用：一是給測量頭采樣準確定位，二是封閉測量頭采樣孔邊緣因被測面凸凹不平產(chǎn)生的縫隙，避免測量頭觸接面漏光產(chǎn)生測試誤差。532規(guī)定了定位片的尺寸和做法。實際常見的光纖光譜法采用的積分球測量頭和輻射積分法采用的輻射測量頭，其測量的觸接面和采樣孔均為圓形平面，只是尺寸、口徑不同而已，均適合配置定位片。定位片實質(zhì)上應(yīng)是儀器測量頭本身配備的專門用于現(xiàn)場檢測時的部件。定位片上采樣孔邊緣上的邊牙，對防止采樣孔和測量頭觸接面漏光起主要作