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文檔簡介

統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)2023/12/28統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)課程大綱質(zhì)量管理中的統(tǒng)計技術(shù)2統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)產(chǎn)品質(zhì)量的變異與過程控制過程能力分析控制圖概論與原理控制圖的種類控制圖的觀察分析實務(wù)演練3統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)第一章質(zhì)量管理中的統(tǒng)計技術(shù)質(zhì)量管理發(fā)展的階段質(zhì)量管理體系對統(tǒng)計技術(shù)的要求質(zhì)量管理常用的統(tǒng)計技術(shù)SPC(統(tǒng)計過程控制)的發(fā)展SPC與SQC的差別05101520253035401261310161917121620171356214統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)質(zhì)量管理發(fā)展的階段質(zhì)量檢驗統(tǒng)計質(zhì)量管理全面質(zhì)量管理(現(xiàn)代質(zhì)量管理)ISO90006

從第二個階段(統(tǒng)計質(zhì)量控制SQC)起,由于統(tǒng)計方法在質(zhì)量管理中的應(yīng)用,逐步形成了一些質(zhì)量管理的基本方法,如SPC、抽樣檢驗、“新、老七種工具”等。

5統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)質(zhì)量管理體系對統(tǒng)計技術(shù)的要求在現(xiàn)代質(zhì)量管理活動中,需要應(yīng)用各種數(shù)理統(tǒng)計技術(shù)和方法。為此,統(tǒng)計技術(shù)已成為各種質(zhì)量體系的一個重要的因素:

ISO9001QS9000VDA6.1ISOTS16949TL90006統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)質(zhì)量管理體系對統(tǒng)計技術(shù)的要求ISO9001:1994/QS9000:19984.20統(tǒng)計技術(shù)4.20.1確定要求對確定、控制和驗證過程能力以及產(chǎn)品特性所需的統(tǒng)計技術(shù),供方應(yīng)明確其需求。4.20.2程序供方應(yīng)建立并保持形成文件的程序,以實施4.20.1中確定的統(tǒng)計技術(shù),并控制其應(yīng)用。以上,為ISO9001:1994的要求。7統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)質(zhì)量管理體系對統(tǒng)計技術(shù)的要求ISO9001:1994/QS9000:1998(第三版)4.20.3統(tǒng)計工具的選擇

在質(zhì)量先期策劃中要確定每一過程適用的統(tǒng)計工具,并必須包括在控制計劃中。4.20.4基礎(chǔ)統(tǒng)計概念知識

必要時,整個供方組織要了解統(tǒng)計技術(shù)的基本概念,如變差、控制(穩(wěn)定性)、能力和過度調(diào)整。

參閱統(tǒng)計過程控制(SPC)參考手冊。以上為QS9000增加內(nèi)容。8統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)質(zhì)量管理體系對統(tǒng)計技術(shù)的要求VDA6.1:1999(第四版)22統(tǒng)計技術(shù)

22.1是否了解使用統(tǒng)計技術(shù)的可能性并對其應(yīng)用進行策劃?

22.2在開發(fā)階段,是否將統(tǒng)計技術(shù)應(yīng)用于試驗的策劃和分析評定,以及應(yīng)用于產(chǎn)品風(fēng)險估計?

22.3對外購件的質(zhì)量檢驗進行分析評定時是否應(yīng)用統(tǒng)計技術(shù)?

22.4統(tǒng)計技術(shù)是否使用于現(xiàn)場的過程控制和過程優(yōu)化?

22.5對最終的質(zhì)量檢驗進行分析評定時,是否應(yīng)用統(tǒng)計技術(shù)?

22.6統(tǒng)計技術(shù)是否使用于產(chǎn)品使用過程中的失效分析評定?

9統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)質(zhì)量管理體系對統(tǒng)計技術(shù)的要求VDA6.1:1999(第四版)22.1是否了解使用統(tǒng)計技術(shù)的可能性并對其應(yīng)用進行策劃?在過程鏈內(nèi),為了查明、監(jiān)控和檢驗過程能力與產(chǎn)品特性值,必須確定對統(tǒng)計技術(shù)的需求.哪些過程和特性值采用哪些方法進行檢驗和評價,將依據(jù)風(fēng)險分析的結(jié)果(例如:FMEA)來確定.必須為應(yīng)用情況確定合適的方法,并加以應(yīng)用.10統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)質(zhì)量管理體系對統(tǒng)計技術(shù)的要求VDA6.1:1999(第四版)22.1是否了解使用統(tǒng)計技術(shù)的可能性并對其應(yīng)用進行策劃?(續(xù))通用的方法有:統(tǒng)計抽樣技術(shù)分析評定技術(shù)實驗設(shè)計技術(shù)風(fēng)險分析技術(shù)11統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)質(zhì)量管理體系對統(tǒng)計技術(shù)的要求VDA6.1:1999(第四版)22.1是否了解使用統(tǒng)計技術(shù)的可能性并對其應(yīng)用進行策劃?(續(xù))在過程鏈內(nèi),統(tǒng)計技術(shù)能夠使應(yīng)用者用經(jīng)濟觀點評價過程.統(tǒng)計技術(shù)的策劃在項目策劃的范圍內(nèi)以質(zhì)量預(yù)先策劃的形式進行.在質(zhì)量改進計劃中,必須考慮統(tǒng)計技術(shù)分析的結(jié)果.在對產(chǎn)品的質(zhì)量結(jié)果進行評價之前,優(yōu)先對過程參數(shù)進行統(tǒng)計評價,在有可能和有經(jīng)濟意義的地方必須這樣實施.

12統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)質(zhì)量管理體系對統(tǒng)計技術(shù)的要求VDA6.1:1999(第四版)22.2在開發(fā)階段,是否將統(tǒng)計技術(shù)應(yīng)用于試驗的策劃和分析評定,以及應(yīng)用于產(chǎn)品風(fēng)險估計?典型的方法,例如:實驗設(shè)計/析因分析分差分析/回歸分析顯著性試驗失效概率FMEA故障樹分析

系統(tǒng)優(yōu)化13統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)質(zhì)量管理體系對統(tǒng)計技術(shù)的要求VDA6.1:1999(第四版)22.2在開發(fā)階段,是否將統(tǒng)計技術(shù)應(yīng)用于試驗的策劃和分析評定,以及應(yīng)用于產(chǎn)品風(fēng)險估計?(續(xù))典型的方法,例如:實驗設(shè)計/析因分析分差分析/回歸分析顯著性試驗失效概率FMEA故障樹分析

系統(tǒng)優(yōu)化統(tǒng)計技術(shù)不僅可以用于產(chǎn)品開發(fā),而且可以用于過程開發(fā)、試驗、設(shè)計和樣品制造.14統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)質(zhì)量管理體系對統(tǒng)計技術(shù)的要求VDA6.1:1999(第四版)22.3對外購件的質(zhì)量檢驗進行分析評定時是否應(yīng)用統(tǒng)計技術(shù)?典型的方法,例如:統(tǒng)計抽樣技術(shù)

缺陷收集卡排列圖分析進一步還包括質(zhì)量證明的分析評定依據(jù)供貨質(zhì)量,實施對供商的評價.15統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)質(zhì)量管理體系對統(tǒng)計技術(shù)的要求VDA6.1:1999(第四版)22.4統(tǒng)計技術(shù)是否使用于現(xiàn)場的過程控制和過程優(yōu)化?對于過程控制和過程優(yōu)化的典型方法有:質(zhì)量控制卡/SPC

統(tǒng)計抽樣技術(shù)缺陷收集卡排列圖能力調(diào)查(Cmk,Ppk,Cpk)實驗設(shè)計

原因分析方差分析/回歸分析顯著性試驗缺陷收集卡排列圖分析16統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)質(zhì)量管理體系對統(tǒng)計技術(shù)的要求VDA6.1:1999(第四版)22.5對最終的質(zhì)量檢驗進行分析評定時,是否應(yīng)用統(tǒng)計技術(shù)?典型的方法,例如:抽樣計劃

缺陷收集卡排列圖

抽樣計劃應(yīng)根據(jù)統(tǒng)計觀點進行選擇,在此必須考慮零缺陷戰(zhàn)略17統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)質(zhì)量管理體系對統(tǒng)計技術(shù)的要求VDA6.1:1999(第四版)22.6統(tǒng)計技術(shù)是否使用于產(chǎn)品使用過程中的失效分析評定?典型的方法,例如:

缺陷收集卡排列圖概率紙與生產(chǎn)相結(jié)合的統(tǒng)計技術(shù)的采用,在許多情況下具有更大的意義.例如:在售后服務(wù)和開展保修工作時運用.18統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)質(zhì)量管理體系對統(tǒng)計技術(shù)的要求ISO9001:2000/ISOTS16949:20028測量、分析和改造8.1總則組織必須計劃并實施以下方面所需的監(jiān)控、測量、分析和改進的過程:a)

證實產(chǎn)品的符合性;b)

確保品質(zhì)管理系統(tǒng)的符合性;c)

持續(xù)改進品質(zhì)管理系統(tǒng)的有效性。這必須包括對統(tǒng)計技術(shù)在內(nèi)的適用方法及其必須使用范圍的確定。

以上為ISO9001:2000的要求;19統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)質(zhì)量管理體系對統(tǒng)計技術(shù)的要求ISO9001:2000/ISOTS16949:20028測量、分析和改造8.1總則

8.1.1

統(tǒng)計工具的確定

在先期品質(zhì)規(guī)劃中必須確定每一過程適用的統(tǒng)計工具,并包含于控制計劃中。

8.1.2

基本統(tǒng)計概念的知識

整個組織必須了解和使用基本的統(tǒng)計概念,如變差、受控(穩(wěn)定性)、過程能力和過度調(diào)整。

以上為ISO/TS16949:2002增加的要求;20統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)質(zhì)量管理常用的統(tǒng)計技術(shù)基本統(tǒng)計圖、統(tǒng)計表,如;百分比圖、趨勢圖等;品管七大手法,如:直方圖、因果圖、柏拉圖、層別法、檢查表、散布圖、控制圖;新品管七大手法,如:關(guān)聯(lián)圖法、KJ法、系統(tǒng)法、矩陣圖法、矩陣資料解析法、過程決定計劃圖法、箭形圖解法;SPC,包含:控制圖和過程能力分析;抽樣檢驗;實驗設(shè)計(DOE)與田口三次設(shè)計;質(zhì)量功能展開(QFD);方差分析與回歸分析可靠性21統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)SPC(統(tǒng)計過程控制)的發(fā)展-1在SPC中常用的基本統(tǒng)計方法包括:與統(tǒng)計過程控制和過程能力分析有關(guān)的方法。二十世紀(jì)二十年代,美國貝爾實驗室(BellTelephoneLaboratory)就成立兩個小組:以休哈特(W.A.Shewhart)博士為學(xué)術(shù)領(lǐng)導(dǎo)人的過程控制(ProcessControl)研究組以道奇(H.F.Dodge)為學(xué)術(shù)領(lǐng)導(dǎo)人的產(chǎn)品控制(ProductionControl)研究組。22統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)SPC(統(tǒng)計過程控制)的發(fā)展-2休哈特研究組的成果:經(jīng)過研究,休哈特提出了過程控制理論以及監(jiān)控過程的工具—控制圖(ControlChart)。1924年5月16日,休哈特提出世界上第一張控制圖—p圖。其中有關(guān)過程控制理論及控制圖標(biāo)志著著名的SPC理論的誕生。1931年休哈特對其理論進行了總結(jié),寫出了一本劃時代的名著《產(chǎn)品制造質(zhì)量的經(jīng)濟控制》(EconomicControlofQualityofManufacturedProductions)。這本著作可以稱得上一代名著,因為在他出版半個世紀(jì)以后的八十年代仍能在美國再版,由此可見其學(xué)術(shù)價值。休哈特的貢獻就在于:應(yīng)用他所提出的過程控制理論能夠在生產(chǎn)線上科學(xué)地保證預(yù)防原則的實現(xiàn)。23統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)SPC(統(tǒng)計過程控制)的發(fā)展-3道奇研究組的成果:道奇與羅米格(H.F.DodgeandH.G.Romig)則提出了抽樣檢驗理論和抽樣檢驗表。24統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)SPC(統(tǒng)計過程控制)的發(fā)展-41941-1942年,有關(guān)SPC的內(nèi)容制定成美國標(biāo)準(zhǔn):Z1-1-1941GuideforQualityControlZ1-2-1941ControlChartMethodforanalyzingDataZ1-3-1942ControlChartMethodforControlQualityDuringProduction25統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)SPC(統(tǒng)計過程控制)的發(fā)展-5控制圖在英國及日本的歷史英國在1932年,邀請W.A.Shewhart博士到倫敦,主講統(tǒng)計品質(zhì)管制,而提高了英國人將統(tǒng)計方法應(yīng)用到工業(yè)方面之氣氛。就控制圖在工廠中實施來說,英國比美國為早1950年由W.E.Deming博士引到日本。同年日本規(guī)格協(xié)會成立了品質(zhì)管制委員會,制定了相關(guān)的JIS標(biāo)準(zhǔn)。26統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)SPC(統(tǒng)計過程控制)的發(fā)展-6在休哈特提出他的控制圖(我們稱之為“休哈特控制圖”)之后,又有人陸續(xù)提出數(shù)十種控制圖,其中比較重要的有如下幾種:

累積和控制圖(CUSUM,CumulativeSumControlChart):1954年佩基(E.S.Page)最早提出,它可以將一系列點子的微弱信息累積起來,所以對過程的小變動靈敏。隨后又有許多學(xué)者對此作了研究。

指數(shù)加權(quán)移動平均控制圖(EWMA,ExponentiallyWeightedMovingAverageControlChart):它最早由羅伯茨(S.W.Roberts)在1959年提出。它是另一個檢出過程小波動的控制圖,其性能幾乎與累積和圖相同,而且在某些情況之下較之CUSUM圖更容易建立與操作。一元CUSUM圖和一元EWMA圖在工序控制中得到了日益廣泛的應(yīng)用。

27統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)SPC(統(tǒng)計過程控制)的發(fā)展-7田口控制圖:運用田口質(zhì)量控制思想建立的控制圖,它注重工序控制的經(jīng)濟性。小批量生產(chǎn)控制圖(ControlChartforLowVolumeManufacturing):小批量控制圖主要有:無先驗信息小批量生產(chǎn)的控制圖:1969年希利爾(F.S.Hillier)與新加坡楊中浩提出了小樣本控制圖,1991-1995年久森伯瑞(C.P.Qusenberry)提出了Q控制圖。有歷史信息小批量生產(chǎn)的控制圖:1997年我國著名質(zhì)量管理專家張公緒教授的學(xué)生卜祥民博士應(yīng)用貝葉斯(Bayes)分析方法,充分利用已知信息,彌補了小批量生產(chǎn)樣本少的缺點。

28統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)SPC(統(tǒng)計過程控制)的發(fā)展-8將相似工序同類分布的產(chǎn)品質(zhì)量特征值數(shù)據(jù),通過數(shù)學(xué)方法變換程同一分布,從而可以累積起來稱為大樣本進行處理。主要有:通用圖法、相對公差法及美軍固定樣本容量法。選控控制圖(Cause-SelectingControlChart):前述控制圖都是全控圖,及對所有異因都加以控制。而選控圖是選擇部分異因加以控制,它由我國張公緒教授1980年提出。它對統(tǒng)計診斷理論起到重要的作用。多元控制圖:1947年侯鐵林(H.Hotelling)提出多元T2圖控制圖,從此開辟了多元質(zhì)量控制的時代。彩虹圖29統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)SPC與SQC的差別PROCESS原料測量結(jié)果針對產(chǎn)品所做的仍只是在做SQC針對重要過程的重要控制參數(shù)所做的才是SPC實時響應(yīng)30統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)第二章產(chǎn)品質(zhì)量的變異與過程控制

產(chǎn)品質(zhì)量的統(tǒng)計觀點影響產(chǎn)品質(zhì)量的原因現(xiàn)場主管/作業(yè)經(jīng)理的兩種任務(wù)局部措施和對系統(tǒng)采取措施過程控制過程控制的概念預(yù)防還是容忍?帶反饋系統(tǒng)的過程控制模型31統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)產(chǎn)品質(zhì)量的統(tǒng)計觀點產(chǎn)品的質(zhì)量特性值是波動的:產(chǎn)品質(zhì)量特性值的波動具有統(tǒng)計規(guī)律性:產(chǎn)品的質(zhì)量特性值是波動的,但這種波動符合統(tǒng)計規(guī)律性,即從數(shù)學(xué)的角度它服從某種分布。常用的分布有以下幾種:正態(tài)分布(計量值)、超幾何分布(計件值)、二項分布(計件值)、泊松分布(計點值)、指數(shù)分布;32統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)影響產(chǎn)品質(zhì)量波動的原因人機器材料方法測量環(huán)境產(chǎn)品質(zhì)量的波動5M1E33統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)影響產(chǎn)品質(zhì)量波動的原因變異(變差,波動,Variation)的概念產(chǎn)品/過程的實際指標(biāo)在規(guī)定值附近的變化情況引起變異的原因,通常有兩種:

普通原因特殊原因

34統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)影響產(chǎn)品質(zhì)量波動的原因引起變異的原因—普通原因和特殊原因普通原因(CommonCause):又稱機遇原因(ChanceCause),偶然原因,不可避免原因,非人為原因等。此種原因所引起的變異(波動)稱為正常波動(NaturalVariations);35統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)影響產(chǎn)品質(zhì)量波動的原因引起變異的原因—普通原因和特殊原因特殊原因(SpecialCause):又稱非機遇原因(AssignableCause),系統(tǒng)原因,可避免原因,人為原因等。此種原因所引起的變異(波動)稱為異常波動(AssignableVariations)36統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)局部措施和對系統(tǒng)采取措施局部措施

通常用來消除變差的特殊原因通常由于過程直接相關(guān)的人員實施大約可糾正15%的過程問題

對系統(tǒng)采取措施通常用來消除變差的普通原因

幾乎總是要求管理措施,以便糾正大約可糾正85%的過程問題采取的措施類型如不正確將給組織帶來大的損失,不但勞而無功,而且會延誤問題的解決甚至使問題惡化。無論如何,為了更好的減少過程變差的普通原因需要管理人員和與操作直接相關(guān)的人員的密切的配合。也就是說,過程的控制,是管理和技術(shù)的結(jié)合。37統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)現(xiàn)場主管/作業(yè)經(jīng)理的兩種任務(wù)

正常與異常波動為生產(chǎn)/作業(yè)經(jīng)理區(qū)分了兩種任務(wù):首先是確保生產(chǎn)過程中只有正常波動,從而操作處于控制之下。其次當(dāng)然是查出并消除異常波動以使工序處于控制之下。38統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)過程控制和過程能力統(tǒng)計受控的概念統(tǒng)計受控(統(tǒng)計穩(wěn)定、過程是穩(wěn)定的、過程是受控的):統(tǒng)計非受控(統(tǒng)計不穩(wěn)定、過程是不穩(wěn)定的、過程是不受控的):

見下頁39統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)過程控制和過程能力40統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)過程控制和過程能力—持續(xù)改進41統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)過程控制和過程能力技術(shù)受控的概念技術(shù)受控(產(chǎn)品都是合格的):技術(shù)非受控(產(chǎn)品不都是合格的):42統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)過程控制和過程能力統(tǒng)計受控和過程受控的關(guān)系通過檢查并消除變差的特殊原因使過程處于受統(tǒng)計控制的狀態(tài),使其性能可預(yù)測;通過比較過程變差與產(chǎn)品公差的關(guān)系,可了解過程能力;控制滿足要求受控不受控可接受1類3類不可接受2類4類43統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)過程控制基本概念過程控制系統(tǒng)的目的是對影響過程的原因采取經(jīng)濟合理的措施,也就是說:對“不需控制時而采取了措施(過渡調(diào)整和擅自改變)”和“需要控制時而未采取措施(控制不足)”兩種狀況進行平衡(綜合考慮)。必須在變差的兩種原因的關(guān)系下處理好這些風(fēng)險。過程在統(tǒng)計控制下運行(通常稱為:受控狀態(tài)和穩(wěn)定狀態(tài))指的是:僅存在造成變差的普通原因。這樣,過程控制系統(tǒng)的一個作用是當(dāng)出現(xiàn)變差的特殊原因時提供統(tǒng)計信號,并且當(dāng)不出現(xiàn)特殊原因時避免提供錯誤信息,從而對這些特殊原因采取適當(dāng)?shù)拇胧ɑ蚴窍鼈?,或是永久地保留它們)?/p>

44統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)預(yù)防還是容忍?不要等產(chǎn)品做出來后再去看它好不好,而是在制造的時候就要把它制造好;檢測——容忍浪費預(yù)防——避免浪費PROCESS原料人機法環(huán)測量測量結(jié)果好不好45統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)THEWAYWEWORK/BLENDINGOFREWORUCESPEOPLEEQUIPMENTMATERIALMETHODSENVIRONMENTPRODUCTORSERVICECUSTOMERIDENTIFYINGCHANGINGNEEDSANDEXPECTATIONSVOICEOFCUSTOMERSTATISTICALMETHODSVOICEOFTHEPROCESSINPUTPROCESS/SYSTEMOUTPUTPROCESSCONTROLSYSTEMMODELWITHFEEDBACK

帶反饋系統(tǒng)的過程控制模型46統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)第三章過程能力分析統(tǒng)計學(xué)基本概念總體、樣本、個體平均值和標(biāo)準(zhǔn)差常見的統(tǒng)計學(xué)分布過程能力分析過程分析47統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)統(tǒng)計學(xué)基本概念總體、樣本、個體N(xi

)

nS48統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)統(tǒng)計學(xué)基本概念總體N平均值=μ標(biāo)準(zhǔn)差=σ計算公式平均值和標(biāo)準(zhǔn)差49統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)統(tǒng)計學(xué)基本概念樣本n平均值=標(biāo)準(zhǔn)差=S計算公式平均值和標(biāo)準(zhǔn)差50統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)統(tǒng)計學(xué)基本概念正態(tài)分布偏態(tài)分布二項分布泊松分布超幾何分布……常見的統(tǒng)計學(xué)規(guī)律——分布無論何種分布,若連續(xù)取幾個樣本,其平均值均近似符合正態(tài)分布——51統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)正態(tài)分布(NormalDistribution)統(tǒng)計學(xué)基本概念52統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)統(tǒng)計學(xué)基本概念μ±Kσ在內(nèi)之概率在外之概率μ±0.67σ50.00%50.00%μ±1σ68.26%31.74%μ±1.96σ95.00%5.00%μ±2σ95.45%4.55%μ±2.58σ99.00%1.00%μ±3σ99.73%0.27%正態(tài)分布(NormalDistribution)53統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)Sigma=σ=Deviation(Squarerootofvariance)-7-6-5-4-3-2-101234567Between+/-1σBetween+/-2σBetween+/-3σBetween+/-4σBetween+/-5σBetween+/-6σ68.27%95.45%99.73%99.9937%99.9994%99.9997%Result:317300ppmoutside(deviation)

45500ppm2700ppm63ppm5.7ppm3.4ppmσAxisgrachinSigma正態(tài)分布(NormalDistribution)—高斯曲線54統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)過程(工序)能力分析過程分析過程分析分為兩部分(如下圖所示)

批量生產(chǎn)前的過程分析

批量生產(chǎn)后的過程分析所有類型的能力分析基本上遵循相同程序,質(zhì)量能力指數(shù)也依據(jù)同一方法計算。不同點仍在于分析產(chǎn)品的數(shù)量,分析的期間和在分析時間點,與最終生產(chǎn)條件符合的程序。

55統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)過程能力:批量生產(chǎn)前批量生產(chǎn)后批量生產(chǎn)前的過程分析批量開始批量開始后的過程分析短期能力分析初始能力分析長期能力分析人機料法環(huán)過程持續(xù)質(zhì)量改進時間短期能力分析最少50件初始能力分析最少100件,要求控制圖的場合,應(yīng)至少采樣20組.長期能力分析正常生產(chǎn)條件下,較長時期生產(chǎn),確保所有影響因素均產(chǎn)生。標(biāo)準(zhǔn)值:至少20個生產(chǎn)天。56統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)標(biāo)準(zhǔn)差公差標(biāo)準(zhǔn)差公差過程潛能過程能力質(zhì)量能力指數(shù)短期過程能力初始過程能力長期過程能力Cm機器能力Cmk機器能力指數(shù)Cmk,Ppk,Cpk機器能力指數(shù)、初始能力指數(shù)、過程能力指數(shù)Cpk過程能力指數(shù)Cp過程能力Cm,Pp,Cp機器能力、初始能力、過程能力57統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)過程(工序)能力分析所有類型的能力分析基本上遵循相同程序,質(zhì)量能力指數(shù)也依據(jù)同一方法計算:不同點仍在于分析產(chǎn)品的數(shù)量,分析的期間和在分析時間點,與最終生產(chǎn)條件符合的程序。

取樣方法及的計算公式不同,則對應(yīng)不同的質(zhì)量能力指數(shù)。58統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)過程(工序)能力分析過程(工序)能力指數(shù):Cp(過程/工序能力、過程準(zhǔn)確度,Accuracy)59統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)過程(工序)能力分析過程(工序)能力指數(shù):Cp(過程/工序能力、過程準(zhǔn)確度,Accuracy)60統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)過程(工序)能力分析過程(工序)能力指數(shù):Cpk(過程/工序能力指數(shù))61統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)過程(工序)能力分析過程(工序)能力指數(shù):Cpk(過程/工序能力指數(shù))Cpk

=(1-│Ca│)Cp;

62統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)過程(工序)能力分析過程(工序)能力指數(shù):Ca(過程準(zhǔn)確度,Accuracy)63統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)制程能力指數(shù)處置建議等級Cpk制程能力指數(shù)ProcessCapabilityIndex處置建議A1.33≦Cpk制程能力足夠B1.0≦Cpk<1.33制程能力尚可,應(yīng)再努力。CCpk<1.0制程應(yīng)加以改善。64統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)制程能力指數(shù)處置建議等級Ca制程準(zhǔn)確度Capabilityofaccuracy處置建議A│Ca│≦12.5%(1/8)作業(yè)員遵守作業(yè)標(biāo)準(zhǔn)操作,并達到規(guī)格之要求須繼續(xù)維持。B12.5%<│Ca│≦25%(1/4)有必要盡可能將其改進為A級。C25%<│Ca│≦50%(1/2)作業(yè)員可能看錯規(guī)格,不按作業(yè)標(biāo)準(zhǔn)操作或檢討規(guī)格及作業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。D50%<│Ca│應(yīng)采取緊急措施,全面檢討所有可能影響之因素,必要時停止生產(chǎn)。65統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)制程能力指數(shù)處置建議等級Cp制程精密度Capabilityofprecision處置建議A1.33≦Cp

(T=8σ)此一制程甚為穩(wěn)定,可以將規(guī)格許容差縮小或勝任更精密之工作。B1.00≦Cp<1.33

(T=6σ)有發(fā)生不良品之危險,必須加以注意,并設(shè)法維持不要使其變壞及迅速追查原因。C0.83≦Cp<1.00

(T=5σ)檢討規(guī)格及作業(yè)標(biāo)準(zhǔn),可能本制程不能勝任如此精密之工作。D

Cp<0.83應(yīng)采取緊急措施,全面檢討所有可能影響之因素,必要時應(yīng)停止生產(chǎn)。66統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)制程能力等級判斷及處置建議-P%

等級P%(綜合評價)處置建議AP≦0.44%穩(wěn)定B0.44%<P≦1.22%同Ca及CpC1.22%<P≦6.68%同Ca及CpD6.68%<P同Ca及Cp67統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)制程能力分析制程能力指數(shù)Cp與制程不良率P(ppm)對照表(平均值不偏移)。68統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)制程能力指數(shù)Cp與制程不良率P(ppm)對照表

規(guī)格界限寬度 規(guī)格界限寬度69統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)標(biāo)準(zhǔn)差σ與ppm制品質(zhì)水準(zhǔn)對照表(規(guī)格中心往左、右移動1.5σ)70統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)標(biāo)準(zhǔn)差σ與ppm制品質(zhì)水準(zhǔn)對照表(續(xù))71統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)制程能力指數(shù)—范例例:某產(chǎn)品的尺寸規(guī)格是560±10m/m,經(jīng)檢驗一批后求出±3σ為561±9m/m。求:(1)Ca(2)Cp(3)Cpk(4)P%

72統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)SPC的導(dǎo)入流程建立可解決問題之系統(tǒng)確認(rèn)關(guān)鍵制程及特性導(dǎo)入SPC進行關(guān)鍵制程及特性之管制檢討制程能力符合規(guī)格程序持續(xù)進行制程改善計劃提報及執(zhí)行制程改善計劃不足足夠73統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)第四章控制圖概論與原理74統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)控制圖的原理正態(tài)分布與控制圖75統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)控制圖的原理正態(tài)分布與控制圖76統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)控制圖的原理正態(tài)分布與控制圖控制圖就是以正態(tài)分布為基礎(chǔ),換句話說,只要群體符合正態(tài)分布,從群體中抽樣時,每1000次中約有3次機會超出范圍。我們認(rèn)為,此三次是因為偶然原因跑出界限,在實際中屬小概率事件,發(fā)生的可能性極小[與文獻3有差別]。77統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)控制圖的原理控制限的確定(經(jīng)濟原則)78統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)控制圖的原理控制圖的兩類錯誤對于僅僅存在偶然因素的情況下,由于點子越出控制界限外而判斷過程發(fā)生變化的錯誤,即將正常判斷為異常的錯誤是可能發(fā)生的.這種錯誤稱為第一種錯誤.“拒絕真實”的錯誤當(dāng)過程具有某種非偶然因素影響,致使過程發(fā)生程度不同的變化.但由于此變化相應(yīng)的一些點子落在控制界限內(nèi),從而有可能發(fā)生判斷過程未發(fā)生變化的錯誤,這種錯誤稱為第二種錯誤.

79統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)控制圖的作用

合理使用控制圖能:供正在進行過程控制的操作者使用;有助于過程在質(zhì)量上和成本上持續(xù)地、可預(yù)測地保持下去;使過程達到:更高的質(zhì)量更低的單件成本更高的有效的能力80統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)控制圖的作用

合理使用控制圖能:為討論過程的性能提供共同的語言;區(qū)分變差的特殊原因和普通原因,作為采取局部措施或?qū)ο到y(tǒng)采取措施的指南;81統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)使用控制圖的基本步驟決定管制工序和項目決定管制標(biāo)準(zhǔn)決定抽樣方法選用管制圖的格式記入管制界限繪點、實施重新檢討管制圖管制圖判讀處置措施OKOKNG收集數(shù)據(jù)82統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)管制圖的應(yīng)用決定管制工序和項目決定管制標(biāo)準(zhǔn)決定抽樣方法選用管制圖的格式記入管制界限繪點、實施重新檢討管制圖管制圖判讀處置措施OKOKNG83統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)第五章控制圖的種類84統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)控制圖的種類和選擇“n”=10~25控制圖的選定資料性質(zhì)不良數(shù)或缺陷數(shù)單位大小是否一定“n”是否一定樣本大小n≧2Cl的性質(zhì)“n”是否較大“c”圖“u”圖“np”圖“p”圖X-Rm圖X-R圖X-R圖X-s圖計數(shù)值計量值“n”=1n≧1中位數(shù)平均值“n”=2~5缺陷數(shù)不良數(shù)不一定一定不一定一定85統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)計量值/計數(shù)值管制圖公式匯總86統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)時間質(zhì)量特性製程的變化數(shù)據(jù)分組時的重要考慮讓組內(nèi)變化只有偶然因素讓組間變化只有非偶然因素組內(nèi)變異小組間變異大87統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)–R管制圖(平均值與全距)1.公式:(1)

管制圖CL=UCL=+A2LCL=-A22.實例:某工廠制造一批紫銅管,應(yīng)用-R管制圖來控制其內(nèi)徑,尺寸單位為m/m,利用下頁數(shù)據(jù)表之資料,求得其管制界限并繪圖。(n=5)

(2)

R管制圖CL=UCL=D4LCL=D388統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)-R管制圖用數(shù)據(jù)表樣組測定值RX1X2X3X4X51505049525150.432475353455049.683464549484947.444504849495249.645464850545049.686504952515451.257474950485249.258485046495148.85制品名稱:紫銅管

機械號碼:XXX品質(zhì)特性:內(nèi)徑

操作者:XXX測定單位:m/m

測定者:XXX制造場所:XXX

抽樣期限:自年月日至年月日

89統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)-R管制圖用數(shù)據(jù)表(續(xù))樣組測定值RX1X2X3X4X59505049515349.0410495151464849.2511515049465049.2512505049525150.4313494949505550.4614534847525150.2615534849515250.6516465053515350.6717505249494949.8318504950495149.8219524952535051.2420504750535250.4621524951535051.0422555451515052.2523505452504951.0524475151525250.6525535151505151.23

1,25012090統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)-R繪圖步驟(一)1.將每樣組之與R算出記入數(shù)據(jù)表內(nèi)。2.求與R===50.16===4.83.查系數(shù)A2,D4,D3A2=0.58,D4=2.11,D3=負(fù)值(以0代表)p3591統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)-R繪圖步驟(二)4.求管制界限。(1)管制圖CL==50.16UCL=+A2

=50.16+(0.58)(4.8)=52.93LCL=-A2

=50.16-(0.58)(4.8)=47.3992統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)-R繪圖步驟(三)4.求管制界限。(2)管制圖CL==4.8UCL=D4

=(0.11)(4.8)=10.13LCL=D3

=(0)(4.8)=05.將管制界限繪入管制圖6.點圖7.檢討管制界限93統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)-R管制圖94統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)–R范例某產(chǎn)品制成后,經(jīng)常發(fā)現(xiàn)不良品,今利用–R管制圖控制其品質(zhì)特性,每天取樣2次,每次樣本大小n=5,下表是10天內(nèi)所收集之?dāng)?shù)據(jù)(由同一作業(yè)員操作同一部機器所得之?dāng)?shù)據(jù)),試計算–R管制圖之管制界限,并繪成管制圖。95統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)–R范例(管制圖)96統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)P管制圖(不良率)1.公式(1)公組樣本大小n相等時:CL=UCL=+3LCL=-3(2)n不等,且相差小于20%時:CL=UCL=+3LCL=-397統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)P管制圖(不良率)

1.公式(3)n不等,且相差大于20%時:CL=UCL=+3LCL=-398統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)P管制圖(不良率)2.實例某工廠制造外銷產(chǎn)品,每2小時抽取100件來檢查,將檢查所得之不良品數(shù)據(jù),列于下表,利用此項數(shù)據(jù),繪制不良率(p)管制圖,控制其品質(zhì)。99統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)P管制圖繪圖步驟1.求管制界限CL===0.05=5%UCL=+3=11.54%LCL=-3(為負(fù)值,視為0)100統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)P管制圖繪圖步驟

2.點繪管制圖101統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)

P范例某工廠之生產(chǎn)線,每分鐘制造產(chǎn)品200個,今為控制其焊錫不良,采用不良率管制圖加以管制,每2小時抽查200個,試根據(jù)下列資料計算不良率管制圖之中心線及管制界限,并繪制其管制圖。102統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)計量值管制圖常用之系數(shù)表103統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)常態(tài)分配統(tǒng)計量抽樣分配常數(shù)表104統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)第五章控制圖的觀察分析105統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)控制讀判讀方法●點子正常分布動態(tài)的管制圖,如圖11多數(shù)的點子,集中在中心線附近,且兩邊對稱。2

少數(shù)的點子,落在管制界限附近。3點子之分布呈隨機狀態(tài),無任何規(guī)則可尋。4沒有點子超出管制界限外(就是有也很少)。

106統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)控制圖判讀方法●點子不正常分布動態(tài)的管制圖1.

在中心線附近無點子。此種型態(tài)我們稱之為”混合型”,因樣本中可能包括兩種群體,其中一種偏大,另一種偏小,如圖二。2.

在管制界限附近無點子。此種型態(tài)我們稱之為”層別型”,因為原群體可能已經(jīng)加以檢剔過,如圖三。3.

有點子逸出管制界限之現(xiàn)象。此種形態(tài)我們稱之為”不穩(wěn)定型”如圖四。107統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)控制圖判讀方法108統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)控制圖判讀方法不正常點的判斷方法:控制圖之不正常型態(tài)之鑒別是根據(jù)或然率之理論而加以判定的,出現(xiàn)下述之一項者,即為不正常之型態(tài),應(yīng)調(diào)查可能原因。109統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)控制圖判讀方法檢定規(guī)則1:3點中有2點在A區(qū)或A區(qū)以外者(口訣:3分之2A)檢定規(guī)則2:5點中有4點在B區(qū)或B區(qū)以外

者。(口訣:5分之4B)110統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)控制圖判讀方法檢定規(guī)則3:有8點在中心線之兩側(cè),但C區(qū)并無點子者。(口訣:8缺C)111統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)控制圖判讀方法檢定規(guī)則4:a連續(xù)五點繼續(xù)上升(或下降)-注意以后動態(tài)。b連續(xù)六點繼續(xù)上升(或下降)-開始調(diào)查原因。c連續(xù)七點繼續(xù)上升(或下降)-必有原因,應(yīng)立即采取措施。112統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)控制圖的判讀方法定規(guī)則5:連續(xù)7點在同一側(cè)檢定規(guī)則6:點子出現(xiàn)在中心線的單側(cè)較多時,有下列狀況者a.

連續(xù)11點中至少有10點b.

連續(xù)14點中至少有12點c.

連續(xù)17點中至少有14點d.

連續(xù)20點中至少有16點檢定規(guī)則7:點出現(xiàn)在管制圖界限的近旁時,一般以超出2σ管制界限的點為調(diào)整基準(zhǔn),出現(xiàn)下列情形時,可判定制程發(fā)生異常a.

連續(xù)3點中有2點以上時b.

連續(xù)7點中有3點以上時c.

連續(xù)10點中有4點以上時113統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)管制圖的判定方法正常點子之動態(tài)之管制圖,如圖一。

1.多數(shù)的點子,集中在中心線附近,且兩邊對稱。2.少數(shù)的點子,落在管制界限附近。3.點子之分布呈隨機狀態(tài),無任何規(guī)則可尋。4.

沒有點子超出管制界限外(就是有也很少)。114統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)管制圖的判定方法l

不正常點子之動態(tài)之管制圖1、在中心線附近無點子。此種型態(tài)吾人稱之為”混合型”,因樣本中可能包括兩種群體,其中一種偏大,另一種偏小,如圖二。2、在管制界限附近無點子。此種型態(tài)吾人稱之為”層別型”,因為原群體可能已經(jīng)加以檢剔過,如圖三。3、有點子逸出管制界限之現(xiàn)象。此種稱之為”不穩(wěn)定型”如圖四。

115統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)管制圖的判定方法116統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)A、管制圖的判讀法管制圖之不正常型態(tài)之鑒別是根據(jù)或然率之理論而加以判定的,出現(xiàn)下述之一項者,即為不正常之型態(tài),應(yīng)調(diào)查可能原因。117統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)A、管制圖的判讀法檢定規(guī)則1:3點中有2點在A區(qū)或A區(qū)以外者(口訣:3分之2A)檢定規(guī)則2:5點中有4點在B區(qū)或B區(qū)以外者(口訣:5分之4B)118統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)A、管制圖的判讀法

檢定規(guī)則3:有8點在中心線之兩側(cè),但C區(qū)并無點子者。(口訣:8缺C)119統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)A、管制圖的判讀法檢定規(guī)則4:(1)連續(xù)五點繼續(xù)上升(或下降)-注意以后動態(tài)。(如圖a)(2)連續(xù)六點繼續(xù)上升(或下降)-開始調(diào)查原因。(如圖b)(3)連續(xù)七點繼續(xù)上升(或下降)-必有原因,應(yīng)立即采取措施。(如圖c)120統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)A、管制圖的判讀法檢定規(guī)則5:連續(xù)7點在同一側(cè)檢定規(guī)則6:點子出現(xiàn)在中心線的單側(cè)較多時,有下列狀況者a.

連續(xù)11點中至少有10點b.

連續(xù)14點中至少有12點c.

連續(xù)17點中至少有14點d.

連續(xù)20點中至少有16點121統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)A、管制圖的判讀法檢定規(guī)則7:點出現(xiàn)在管制圖界限的近旁時一般以超出2σ管制圖界限的點為調(diào)整基準(zhǔn),出現(xiàn)下列情形時,可判定制程發(fā)生異常a.

連續(xù)3點中有2點以上時b.

連續(xù)7點中有3點以上時c.

連續(xù)10點中有4點以上時122統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)B、數(shù)據(jù)分配之連串理判定法管制圖上諸點,以中心線(CL)為主,劃分兩部份,(一在上方,一在下方),若一點或連續(xù)數(shù)點在管制圖中心線之一方,該點或連續(xù)數(shù)點為一串(run),加總中心線上方的串?dāng)?shù)及中心線下方的串?dāng)?shù),便可判定此管制圖是否呈隨機性。例如有一管制圖如下:

UCLCLLCC123統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)B、數(shù)據(jù)分配之連串理論判定法

首先計算此管制圖之總串?dāng)?shù)如下:在管制中心線上方者:單獨1點為一串者……………4串3點構(gòu)成一串者………………1串計11點4點構(gòu)成一串者………………1串6串在管制中心線下方者:單獨1點為一串者……………2串2點構(gòu)成一串者………………2串3點構(gòu)成一串者………………1串計13點4點構(gòu)成一串者………………1串6串124統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)B、數(shù)據(jù)分配之連串理判定法在此管制圖之總串?dāng)?shù)為6+6=12串由S.Swed和C.Eisenhart所作成的表,r=11,s=13(管制圖中心線上方共11點,下方共13點,取大者為s,小者為r,令s≧r),得界限值在0.005時為6(表p=0.005),在0.05時為8(表p=0.05),因為此管制圖總串?dāng)?shù)12分別大于6或8,故判定此管制圖數(shù)據(jù)之分配具隨機性。125統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)B、數(shù)據(jù)分配之連串理判定法表p=0.05當(dāng)機率p=0.05時,成串之最低總數(shù)表

126統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)B、數(shù)據(jù)分配之連串理判定法表p=0.005當(dāng)機率p=0.005時,成串之最低總數(shù)表

127統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)C、控制系數(shù)

(Cf)

判定法

一般在制程管制(IPQC)時,要判斷制程是否在管制狀態(tài),可用管制圖來顯示。而管制狀態(tài)的程度,如用數(shù)字,則可以管制系數(shù)Cf來表示。Cf=其中σn:樣本大小k:組數(shù)K:管制圖之組數(shù)

128統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)C、控制系數(shù)

(Cf)

判定法Cf值判斷0.7≦Cf≦1.3在管制狀態(tài)(UnderControl)Cf>1.3不在管制狀態(tài)(Outofcontrol)Cf<0.7有不同的異質(zhì)群體混在一起(建議再用層別分析)129統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)

WORKSHOP請使用管制圖的判讀法及管制系數(shù)(Cf)判定法,來決定前面及P控制圖中提到的范例是屬于正?;虍惓??130統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)

SPC應(yīng)用之困難1.

少量多樣之生產(chǎn)型態(tài),不勝管制。2.

管制計畫不實際,無法落實。3.

使用SPC前未作充分準(zhǔn)備。例如:制程及管制特性之確定,決定量測方法,數(shù)據(jù)如何收集等。4.

欠缺統(tǒng)計技術(shù)。5.

統(tǒng)計計算太過繁瑣費時。6.

量測數(shù)據(jù)之有效數(shù)字位數(shù)未標(biāo)準(zhǔn)化。7.

管理階層不支持。131統(tǒng)計過程控制SPC(TS16949)SPC能解決之問題經(jīng)濟性:有效的抽樣管制,不用全數(shù)檢驗,不良率,得以

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