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文檔簡介

手機、電腦、智能家電等智能化設(shè)備都離不開芯片,隨著人們對智能化設(shè)備的功能要求越來越多樣化,芯片不斷朝著小尺寸、多功能、高密度、高功耗的方向發(fā)展,隨之而來的是越來越嚴(yán)重的發(fā)熱問題。芯片過熱會導(dǎo)致其性能下降,壽命縮短,造成不可逆損壞,這已經(jīng)成為制約半導(dǎo)體發(fā)展的主要因素。芯片在出廠前首先要對其進行封裝,封裝是為了實現(xiàn)半導(dǎo)體芯片與外界交換信號并保護其免受各種外部因素影響。為了確保芯片能夠穩(wěn)定工作并延長使用壽命,工程師需要在芯片封裝前進行熱仿真分析。芯片熱仿真分析能夠在樣品和產(chǎn)品開始生產(chǎn)之前發(fā)現(xiàn)熱問題,指導(dǎo)設(shè)計優(yōu)化,以保證芯片工作時的溫度不超過其最大結(jié)點溫度,從而減少打樣試錯次數(shù),節(jié)約時間和成本,縮短研發(fā)周期,提高產(chǎn)品質(zhì)量。現(xiàn)階段,各類電子設(shè)備普遍采用強制空氣對流的方式來冷卻發(fā)熱器件,即通過在芯片上加裝散熱器將芯片散發(fā)的熱量傳遞到散熱片上,并加裝風(fēng)機等設(shè)備增強空氣循環(huán),將散熱器上的熱量帶走。對于典型芯片封裝而言,主要的封裝熱阻包括Die結(jié)到環(huán)境(Junction-to-Ambient)的熱阻Rja,結(jié)到殼(Junction-to-Case)的熱阻Rjc和結(jié)到板(Junction-to-Board)的熱阻Rjb。其中Rja與器件所處的環(huán)境有關(guān),且器件規(guī)格書中的規(guī)定值一般為生產(chǎn)商基于標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境測試,而往往實際應(yīng)用環(huán)境和標(biāo)準(zhǔn)測試環(huán)境差別較大,Rja很難應(yīng)用于芯片結(jié)溫預(yù)計,更多的應(yīng)用于定性對比不同封裝芯片的散熱能力。因此,在實際應(yīng)用時,更多的采用結(jié)殼熱阻Rjc和結(jié)板熱阻Rjb評價器件的散熱能力,由此便產(chǎn)生了雙熱阻模型。在建立雙熱阻模型時一般做如下假設(shè):①結(jié)點熱量僅存在兩條散熱途徑:通過上表面?zhèn)鬟f到空氣中或散熱器上,通過下表面?zhèn)鬟f到PCB板上;

②上下表面為等溫面,不發(fā)生熱量傳遞;

③結(jié)點熱量不通過側(cè)面?zhèn)鬟f。下面就來介紹一下如何使用云道智造“電子散熱模塊”進行“基于雙熱阻模型的芯片封裝中簡單強制對流換熱”仿真分析。“芯片雙熱阻封裝的簡單強制對流換熱問題”仿真分析1、模擬條件本算例中建立了包括1個機箱、1個PCB板、1個雙熱阻封裝、1個軸流風(fēng)扇、1個散熱器的簡單強迫對流換熱模型,目的在于雙熱阻封裝模塊的應(yīng)用,便于熟悉雙熱阻封裝模塊的設(shè)置。穩(wěn)態(tài)計算,不考慮輻射。軸流風(fēng)扇固定流量為2CFM,垂直出風(fēng)。考慮流熱耦合問題;雙熱阻封裝模塊中,中心節(jié)點功耗為3W;環(huán)境溫度為30°C。2、幾何模型利用軟件自帶的智能模塊,快速建立所需幾何模型。雙熱阻封裝算例幾何模型雙熱阻封裝算例模型樹3、仿真分析3.1網(wǎng)格剖分本次采用默認(rèn)Region-based網(wǎng)格劃分方式;調(diào)整全局網(wǎng)格和局部網(wǎng)格設(shè)置;全局網(wǎng)格設(shè)置該案例中主要對重要器件進行局部網(wǎng)格設(shè)置,平面方向主要控制最大尺寸,厚度方向則是設(shè)置最小網(wǎng)格數(shù),如芯片、板卡等。局部網(wǎng)格設(shè)置選擇【網(wǎng)格剖分】菜單下的【笛卡爾網(wǎng)格】,點擊進行網(wǎng)格剖分;網(wǎng)格剖分完成后,選擇【載入網(wǎng)格】,可在【檢查網(wǎng)格】窗口中查看網(wǎng)格質(zhì)量。本次模型利用非結(jié)構(gòu)化六面體網(wǎng)格剖分,長寬比33.3,非正交網(wǎng)格大于70的面?zhèn)€數(shù)為零,畸形度大于4的面?zhèn)€數(shù)為零,網(wǎng)格質(zhì)量良好,滿足流熱耦合計算要求,如下圖所示。3.2模型與求解設(shè)置電路板與雙熱阻封裝的屬性設(shè)置求解設(shè)置3.3計算結(jié)果本分析類型為穩(wěn)態(tài)、流熱耦合計算。后處理結(jié)果可以通過云圖、流線圖、切片以及表格統(tǒng)計的形式進行直觀展示,同時使用方可以根據(jù)這些結(jié)果對產(chǎn)品的熱設(shè)計進行相關(guān)評估,后處理結(jié)果如下圖所示:溫度云圖、流線圖Z方向切片溫度云圖、流線圖Y方向切片溫度云圖、流線圖雙熱阻封裝計算結(jié)果統(tǒng)計雙熱阻封裝計算結(jié)果統(tǒng)計電路板計算結(jié)果統(tǒng)計本案例采用導(dǎo)熱+對流的形式進行散熱,芯片的熱量分別通過散熱片和電路板進行導(dǎo)熱,而后風(fēng)扇把散熱齒片和電路板上的熱量通過對流方式帶走。通過以上溫度云圖、流線圖以及統(tǒng)計表格可以得知,在30℃環(huán)境溫度下,主芯片殼溫溫升11.37℃,最終溫度達到41.37℃;結(jié)溫溫升為21.6℃,最終溫度達到51.6

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