超聲波探傷儀350 操作手冊-1

序言感謝您使用友聯(lián)公司的產(chǎn)品，您能成為我們的用戶，是我們莫大的榮幸。該款超聲波探傷儀采用國際先進的數(shù)字集成技術(shù)和新型EL顯示器件，其各項性能指標均到達或超過國際先進水平。儀器采用人工智能技術(shù)，功能強勁，使用方便。為了您能盡快熟練掌握該款超聲波探傷儀，請務(wù)必仔細閱讀本操作手冊以及隨機配送的其他相關(guān)資料，以便您更好地使用探傷儀。請您仔細核對您所購儀器及其配件與裝箱單是否一致，如不一致請您拒收并立即與友聯(lián)公司聯(lián)系；購置儀器后，請您認真仔細地閱讀儀器的相關(guān)資料，以便了解您應(yīng)有的權(quán)利和義務(wù)。友聯(lián)公司生產(chǎn)的數(shù)字超聲波探傷儀是設(shè)計先進、制造精良的高科技產(chǎn)品，在研發(fā)和制造過程中經(jīng)過了嚴格的技術(shù)評測，具有很高的可靠性。即使如此，您仍可能會在使用中遇到一些問題，甚至?xí)υ摦a(chǎn)品質(zhì)量產(chǎn)生疑心。為此，我們在手冊中進行了詳細說明，以消除您的疑慮。如果您在儀器使用過程中遇到問題，請查閱本操作手冊相關(guān)局部〔特別是第九章〕，您也可以在友聯(lián)網(wǎng)站BBS上發(fā)貼提問，或直接與友聯(lián)公司聯(lián)系。感謝您的合作。聲明因版權(quán)所有，未經(jīng)友聯(lián)公司的書面許可不得翻印或以其它任何形式或方法使用此印刷資料或軟件中的某個局部。友聯(lián)公司對此印刷資料或軟件中所含資訊之使用或因此而造成的損害一概不予負責(zé)。友聯(lián)公司有權(quán)更改此印刷資料或軟件之特征及內(nèi)容，恕不征求意見或事先通告?？赏ㄟ^以下任一種方式與友聯(lián)公司取得聯(lián)系：效勞熱線85296971電子郵件：sale@ut-world公司://ut-world/、、友聯(lián)、UNION均為南通市友聯(lián)數(shù)碼開發(fā)注冊商標。Epson為精工公司擁有商標，Hp為惠普公司商標，Microsoft和Windows為微軟公司擁有商標，其他品牌及商品名稱屬于所有者的資產(chǎn)。1-1平安使用指定的電源類型，如有不詳情況請與友聯(lián)公司或經(jīng)銷商聯(lián)系。不要在插頭連接松弛的地方使用充電器。如使用其他電源線，其負載應(yīng)不小于隨機配備電源線的安培數(shù)。儀器應(yīng)存放在枯燥清潔的地方，防止強烈振動。儀器長時間不工作時，應(yīng)定期充放電，一般每月一次。外部設(shè)備與儀器連接時，須在關(guān)機狀態(tài)下進行。進行打印操作時，必須使用友聯(lián)公司提供的打印機專用電纜。如果本儀器運行有所失常，請與友聯(lián)公司或經(jīng)銷商聯(lián)系。請勿擅自拆裝本儀器，修理事宜請與友聯(lián)公司或經(jīng)銷商聯(lián)系。1-2特性日歷時鐘，儀器自動記錄工作日期和時間。10個獨立探傷通道〔可擴展至數(shù)百個〕，多種探傷工藝和標準自動生成，可自由設(shè)置各行業(yè)探傷工藝標準，現(xiàn)場探傷無需攜帶試塊。缺陷回波參數(shù)〔距離、垂直、水平、波幅、dB或當(dāng)量孔徑值〕實時顯示；屢次波探測缺陷的實際深度可直接顯示。DAC、AVG曲線自動生成并能分段制作，取樣點不受限制，并可進行補償與修正。DAC曲線隨增益自動浮動、隨聲程自動擴展、隨延時自動移動；可實現(xiàn)指定回波的距離波幅補償。能顯示任意孔徑的AVG線。進波門和失波門讀數(shù)及報警，門位、門寬、門高任意可調(diào)；雙門可同時進波讀數(shù)。獨具DAC/AVG門功能。0.1、1.0、2.0、6.0四種步進，獨特的無操作式增益自動調(diào)節(jié)及補償增益功能，使探傷既快捷又準確。具有峰值記憶、回波包絡(luò)、波形凍結(jié)等功能。完備的焊縫和工件剖面顯示，使探測結(jié)果更直觀?？衫枚它c衍射波實現(xiàn)缺陷裂紋的自動測高。數(shù)據(jù)處理能力強，可按日期、存儲編號和序號進行檢索和處理，高可靠數(shù)據(jù)保護，高速數(shù)據(jù)接口，快速實現(xiàn)報告打印。具有智能拼音輸入法，可方便快捷地輸入漢字，國內(nèi)首創(chuàng)。高亮度EL顯示，國內(nèi)屏幕最大，在強陽光下無需遮光罩，就能獲得滿意的觀察效果；屏幕亮度可調(diào)。配置高容量鋰電池，充電快、待機時間長。儀器重量僅1.41-3指標頻帶范圍：0.4—15MHz增益范圍：100dB，0.1，1.0，2.0，6.0步進動態(tài)范圍：≥30dB垂直線性：≤4%水平線性：≤1%探測范圍：0—5000分辨力：≥30dB靈敏度余量：≥55dB〔200mm—Ф2平底孔，2.5P20〕探頭類型：單探頭，雙晶探頭，穿透探頭聲程位移：0—5000mm閘門：進波門〔直方門、DAC門〕、失波門報警：蜂鳴顯示：EL高亮度平板顯示器〔陽光下可讀〕電源：16VDC；220V±10%，50HzAC儀器重量：1.4Kg〔帶電池〕1-4注:以上指標是在探頭頻率為2.5M的情況下所測得的。約定注：指用戶在儀器使用過程中應(yīng)予以注意的過程或方式<>：尖括號內(nèi)表示鍵名1-5第二章儀器組件和外圍設(shè)備儀器組件儀器前部及右側(cè)屏幕區(qū)屏幕區(qū)鍵盤區(qū)指示燈R電源開關(guān)R/T充電時，充電指示燈為黃色，充電完成后指示燈自動跳到外接指示燈〔綠色〕，此時外接指示燈亮，充電指示燈關(guān)閉。2-1儀器上部1、打印機連接端口2、USB通訊連接端口3、適配器連接端口2-2外圍設(shè)備

儀器不僅可以獨立地進行探傷，而且可與打印設(shè)備相連將探傷結(jié)果打印，可與計算機通訊。監(jiān)視器攝/錄像機探傷儀電源適配器充電器計算機及網(wǎng)絡(luò)打印機繪圖儀２２０ＶＡＣ

2-3儀器的進入與時間更改：探傷界面的進入：開啟電源鍵后，出現(xiàn)時間顯示界面，按任意鍵〔習(xí)慣上按<>鍵〕儀器出現(xiàn)自檢完成及相應(yīng)功能的選擇界面〔停留顯示約3秒〕，此時如不選擇，儀器將自動進入探傷界面。如果在自檢完成界面上，要選擇按鍵執(zhí)行相應(yīng)功能，此時必須快速按鍵，具體如下：快速按下“9〞可將儀器初始化；快速按下“8〞可進入儀器檢定的界面；快速按下“0〞可查看電池信息。但開機一次只能選擇其中某一項操作。時間更改：開啟電源鍵后，出現(xiàn)時間顯示界面，此時長按<>鍵10秒左右放開，屏幕上出現(xiàn)閃爍光標，按鍵將光標移至需修改處〔可循環(huán)移動〕，選擇相應(yīng)數(shù)字鍵輸入，要輸入“星期日〞，可通過輸入數(shù)字“0”來實現(xiàn)。最后一處修改完成后，須將鍵右移至下一位上，再按<>2-4第三章參量說明增益、范圍〔聲程〕、波門、零點、延時等各常用參量為連續(xù)可調(diào)，調(diào)節(jié)時屏幕左上角將出現(xiàn)提示，調(diào)節(jié)時請加以注意；其它各項參數(shù)在參數(shù)菜單中選取或輸入或?qū)崪y得到。儀器屏幕顯示如下：回波參數(shù)回波參數(shù)增益增益是數(shù)字式儀器的回波幅度調(diào)節(jié)量〔靈敏度〕，在模擬儀器中通常稱為“衰減〞，這兩種概念剛好相反，即增益加大，回波幅度增高；而衰減加大，回波幅度那么下降。增益調(diào)節(jié)見4-5。3-1聲程〔距離聲程、垂直聲程、水平聲程〕聲程表示聲波在被檢測物體中的傳輸距離，根據(jù)聲程標度的不同分為距離聲程、垂直聲程和水平聲程三種。聲程調(diào)節(jié)見4-6。3-2波門波門有A門和B門，A門即進波門，主要用途是顯示門內(nèi)回波狀態(tài)數(shù)據(jù)及門內(nèi)波峰報警，B門可選設(shè)為進波門讀數(shù)〔可顯示門內(nèi)回波狀態(tài)及數(shù)據(jù)〕及報警或用為失波報警。波門調(diào)節(jié)見4-23-3零點零點是指探頭和儀器的固定聲波延時，如探頭楔塊或保護膜聲程。零點調(diào)節(jié)見4-43-4延時延時可使回波位置大幅度左右移動，而不改變回波之間的距離；可將不需要觀察的回波調(diào)到屏幕外，以充分利用屏幕的有效觀察范圍。延時調(diào)節(jié)見4-103-5聲程標度聲程標度是指回波在不同坐標軸上的聲程投影值，聲程標度分為距離〔S〕、水平〔X〕、垂直〔Y〕三種〔見右圖〕。參見4-聲程標度是指回波在不同坐標軸上的聲程投影值，聲程標度分為距離〔S〕、水平〔X〕、垂直〔Y〕三種〔見右圖〕。參見4-6 X3-6探頭類型探頭類型即探頭中聲波發(fā)射方式，分為直探頭、斜探頭、雙晶和穿透四種。參見4-33-7探頭K值及折射角探頭K值和折射角相互關(guān)聯(lián)，K值等于折射角的正切值。折射角調(diào)節(jié)見4-83-8晶片尺寸晶片尺寸是指探頭晶片的面積，斜探頭用長×寬表示，直探頭用直徑表示。參見4-33-9探頭前沿探頭前沿是指斜探頭的入射點至探頭最前端的距離。參見4-33-10探頭頻率探頭頻率是指探頭中晶片固有〔諧振〕頻率。參見4-33-11工件聲速工件聲速是指聲波在工件中傳播的速度。參見4-33-12外表補償外表補償是指由于工件外表粗糙度等原因而對靈敏度進行的補償，補償后回波出現(xiàn)變化，但DAC/AVG曲線不會變化，即回波當(dāng)量值出現(xiàn)改變。參見4-113-13判廢偏移判廢偏移是指DAC曲線中判廢線〔RL線〕與母線可選擇的偏移量。參見4-113-14定量偏移定量偏移是指DAC曲線中定量線〔SL線〕與母線可選擇的偏移量。參見4-113-15評定偏移〔測長偏移〕評定偏移是指DAC曲線中評定線〔測長線〕〔EL線〕與母線可選擇的偏移量。參見4-113-16按鍵聲音按鍵時是否伴有聲音。參見4-113-17第四章 鍵盤及其功能在非測試狀態(tài)，用戶按<設(shè)置>、<測試>、<選項>、<標準>、<功能>、和<查詢>六鍵會出現(xiàn)相應(yīng)菜單，其它鍵代表相應(yīng)的含義，具體功能在本章詳細說明；在數(shù)據(jù)輸入狀態(tài)，各鍵為數(shù)字鍵及小數(shù)點，用于輸入數(shù)值；在出現(xiàn)菜單或?qū)υ捒蚝?，各鍵代表相關(guān)標號選擇。本章內(nèi)容與其它章節(jié)內(nèi)容有較大關(guān)聯(lián)，在閱讀時可前后對照，以便加深理解，更有利于日后的探傷工作。該型儀器鍵盤見下列圖。記錄記錄1_/()波門2abc3def4ghi5jkl功能9wxyz+6mno0--7pqrs選項←返回＃K值8tuv查詢記錄數(shù)字式探傷儀的一大特點是能對探傷數(shù)據(jù)進行處理，可以打印、存儲探傷中發(fā)現(xiàn)的缺陷涉及相關(guān)數(shù)據(jù)，這有助于提高探傷報告的可靠性和權(quán)威性。如果“回波包絡(luò)〞或“峰值記憶〞功能被啟用，按<記錄>鍵會提示是否存儲包絡(luò)或峰值，按<y>鍵那么存儲包絡(luò)或峰值〔參見7-1〕，按<n>鍵那么存儲原波形；如果這兩項功能都未啟用，那么直接出現(xiàn)存貯數(shù)據(jù)提示。〔光標閃爍，提醒輸入文件名〕，反復(fù)按<返回>鍵可以切換輸入法。假設(shè)探傷時設(shè)置了“焊縫圖示〞功能，按<記錄>鍵后，照儀器提示進行那么可。記錄功能使用詳見第七章。按<返回>鍵可退出記錄菜單。4-1波門〔A門/B門〕<波門>鍵為復(fù)合功能鍵，可分別用于調(diào)節(jié)門A〔進波門〕和門B〔進波門/失波門〕的位置、寬度和高度。按<波門>鍵儀器處于門參數(shù)更改狀態(tài)，屏幕左上角出現(xiàn)提示，在提示后有當(dāng)前參量的數(shù)值，按<確認>可在門A和門B之間切換，反復(fù)按<波門>鍵可在門位、門寬和門高之間切換。按<╋>、<━>鍵可對當(dāng)前參量進行調(diào)節(jié)。A門有直方門和DAC門兩種，可在功能菜單中切換。參見4-9、6-5。 失波門高如果調(diào)為0%，失波門將不會在屏幕上顯示，同時其失波報警功能也會失去；如果將進波門寬調(diào)為最小值，參數(shù)區(qū)會顯示該波門所處位置回波的實時參數(shù)，因此利用最小波門寬度可讀出屏幕上任一點的位置值〔如讀回波前沿〕。當(dāng)門A為進波門、門B為失波門時，屏幕只實時顯示門A范圍內(nèi)最高回波的位置、當(dāng)量等參數(shù)；假設(shè)門A和門B同時設(shè)為進波門，那么屏幕能分別顯示兩個門內(nèi)最高回波的信息?！沧x數(shù)時，波需處于門寬的范圍內(nèi)，并且波峰應(yīng)處于屏幕視覺范圍內(nèi)；而門的高度對讀數(shù)無影響，門高僅對報警有影響?！抽T功能的特殊應(yīng)用：當(dāng)B門設(shè)為進波門時，可讀出B門內(nèi)最高波與A門內(nèi)最高波的間距差，波形區(qū)右上方有間距差讀值顯示。此法可用于測厚，且用屢次波測量，數(shù)據(jù)更精確。4-2通道/設(shè)置由于在現(xiàn)場探傷時往往要探測多個工件、更換多個探頭，這就需要在儀器調(diào)校時能根據(jù)不同情況測試并存儲多組探傷設(shè)置，且現(xiàn)場探傷時可直接調(diào)用。在此儀器中，一個通道可存儲一組探傷工藝數(shù)據(jù)，多個通道那么可預(yù)先測試并存儲多組不同的探傷設(shè)置，現(xiàn)場直接調(diào)用而無需再調(diào)試儀器，使工作更輕松方便。按<通道>鍵使儀器處于通道更改狀態(tài)，儀器右側(cè)通道“X〞將高亮顯示，此時按<╋>、<━>鍵更改通道，通道顯示數(shù)有0—9共十個通道，屏幕顯示內(nèi)容將隨通道參數(shù)的不同而發(fā)生改變。該儀器通道可擴充至數(shù)百個。方法為：在某通道調(diào)試后，按<記錄>鍵，那么將該通道參數(shù)及探傷工藝存儲起來，之后，查詢出該數(shù)據(jù)，將其調(diào)用至“9通道〞中操作，即存儲的通道工藝假設(shè)調(diào)出使用均在“9通道〞中進行。參見7-6。探傷過程中，增益、聲程、延時、波門、零點等參量需經(jīng)常更改，并且在更改時能立刻起到作用，在調(diào)節(jié)以上參量時，只需通過快捷的操作即可完成更改；而其它參量在探傷過程中一般無須更改或很少更改，這些參量可以預(yù)先在設(shè)置菜單中設(shè)置。按<通道/設(shè)置>鍵兩次后，出現(xiàn)設(shè)置菜單如下：探頭類型：直探頭/斜探頭/雙晶/穿透探頭類型：直探頭/斜探頭/雙晶/穿透探頭頻率：2.5MHz晶片尺寸：13×13折射角度：0.0/0.0工件聲速：3230m/s探頭前沿：0.0mm確定鍵生效返回鍵取消 如果需要查看或更改某項參數(shù)，按參數(shù)所在頁選擇參數(shù)前的序號即可對該項參數(shù)進行設(shè)置。在輸入負數(shù)時，<━>鍵為負號鍵，即在輸入負數(shù)時先按<━>，再輸入一個數(shù)字那么代表輸入一個負數(shù)〔參見9-8〕。下面對各項參數(shù)分別說明：“探頭類型〞為四選一，按<1>鍵選取后出現(xiàn)子菜單，有“直探頭〞、“斜探頭〞、“雙晶〞和“穿透〞四個選項供選擇，按數(shù)字鍵14選中；該項參數(shù)變更后，儀器須重新調(diào)校。“探頭頻率〞和“晶片尺寸〞兩項參數(shù)按探頭標稱值輸入。“晶片尺寸〞一項在輸入時可用小數(shù)點代×號，比方輸入9.13意為9×13，如果是直探頭，直接輸入直徑即可；這兩項參數(shù)決定探頭的近場區(qū)長度，由于制作AVG曲線時，理論上只計算三倍近場區(qū)之后的曲線，在此之前為一條直線，在制作AVG前應(yīng)選擇適宜的探頭，并將正確的參數(shù)輸入。“折射角度〞：斜探頭一般先輸入標稱值，之后在測試時將得到實測折射角度值，如果實際折射角度值那么直接輸入。參見5-2，4-8?！肮ぜ曀侉曇话阍凇皽y零點〞時測量，但也可在設(shè)置菜單中輸入，聲速應(yīng)在10009999m/s之間，超出范圍儀器將不接受輸入；當(dāng)此項發(fā)生更改時，儀器須重新調(diào)校。“探頭前沿〞在“測零點聲速〞時測量，也可在設(shè)置菜單中輸入，如果前沿值已輸入，那么參數(shù)顯示區(qū)顯示的實時水平值將是已減去前沿的數(shù)值，對此應(yīng)予以注意，不能重復(fù)相減；此外此值輸入不準確，會影響缺陷的水平定位。當(dāng)菜單中某項或多項參數(shù)有誤或取值超出范圍，那么儀器會提示“數(shù)據(jù)取值不當(dāng)〞，應(yīng)檢查需輸入數(shù)值的各參數(shù)項，重新輸入正確值；按<返回>鍵，那么放棄輸入并退出參數(shù)設(shè)置菜單。注意：更改的數(shù)據(jù)在按<>鍵確認退出設(shè)置菜單后才生效。4-3零點/測試按<零點/測試>鍵，屏幕左上角的提示為“探頭零點〞字樣，按<╋>、<━>鍵可對零點進行設(shè)置〔手工調(diào)節(jié)零點的詳細方法參照8-2〕。零點值變化后，回波會相應(yīng)的水平移動，其參數(shù)也會變動，但DAC/AVG曲線沒有同步變化，即回波定位及當(dāng)量值將會改變，因此儀器在測試完DAC/AVG曲線之后不能改變零點，以免出現(xiàn)錯誤。自動或手動測試零點后，也可按<零點/測試>鍵，使屏幕出現(xiàn)“零點〞兩字，查看所測的零點值。在初始狀態(tài)，儀器的各參量是預(yù)置的固定數(shù)值，跟實際情況可能不符〔如探頭K值、工件聲速、零點等〕，如果直接探傷，在缺陷的定位、定量時會不準確，甚至不能查找出缺陷，因此儀器在探傷前需進行一些前期校驗工作，對一些重要參量進行調(diào)試，從而使得探傷時操作輕松、結(jié)果正確。這些前期工作我們將其組合在測試菜單中，以方便使用。按<零點/測試>鍵兩次〔或先按<零點/測試>鍵，再按<確認>鍵〕后屏幕波形區(qū)右上方出現(xiàn)調(diào)校菜單：測零點聲速測零點聲速測折射角度制作DAC制作AVG測儀器性能測缺陷高度按標號1-6即選中相關(guān)測試，出現(xiàn)相應(yīng)菜單，根據(jù)提示輸入數(shù)據(jù)或進行相應(yīng)選擇后即可開始測試，測試過程及具體操作詳見第五章。按<返回>或<確認>鍵退出調(diào)校菜單。4-4增益〔根本/補償〕<增益>鍵為復(fù)合功能鍵，可分別用于調(diào)節(jié)系統(tǒng)增益和補償增益。增益的調(diào)節(jié)由<增益>鍵與<╋>、<━>鍵完成。其步驟如下：按<增益>鍵，在“增益〞狀態(tài)下，再按<╋>、<━>鍵，便完成了回波幅度的調(diào)節(jié)。該儀器的根本增益設(shè)置了四檔調(diào)節(jié)步長：增益0.1━━━━調(diào)節(jié)步長按0.1dB增減；增益1.0━━━━調(diào)節(jié)步長按1dB增減；增益2.0━━━━調(diào)節(jié)步長按2dB增減；增益6.0━━━━調(diào)節(jié)步長按6dB增減。增益步長的選擇操作步驟為：反復(fù)按<增益>鍵，便可交替選擇增益步長。補償增益設(shè)置四檔調(diào)節(jié)步長：增益0.0━━━━自動調(diào)節(jié)增益；增益0.1━━━━調(diào)節(jié)步長按0.1dB增減；增益2.0━━━━調(diào)節(jié)步長按2dB增減；增益6.0━━━━調(diào)節(jié)步長按6dB增減。當(dāng)補償增益為0.0時，按加號鍵可調(diào)節(jié)補償增益的大小使門內(nèi)回波升高或降低到預(yù)定的標準波高〔一般為80％〕，但在自動調(diào)節(jié)過程中總增益量不會超過80dB。按<->鍵可使補償增益迅速歸為0，波形復(fù)原至原先狀態(tài)?！矘藴什ǜ咭娺x項菜單第2頁第6項〕在增益狀態(tài)下，該儀器設(shè)置了三種增益狀態(tài)，即根本增益〔或稱起始靈敏度〕、補償增益和外表補償。顯示在屏幕的右上角：“增益xx.xdB+xx.xdB+xx.xdB〞ABCA項為根本增益，B項為補償增益，C項為外表補償。儀器的總增益為A+B+C，根本增益和補償增益的轉(zhuǎn)換設(shè)置為在“增益〞狀態(tài)下，反復(fù)按<確認>鍵，光標那么會在兩者之間轉(zhuǎn)換，補償增益B相當(dāng)于探傷時掃查靈敏度的調(diào)節(jié)，為方便尋找缺陷用。外表補償那么根據(jù)工件外表粗糙度狀況，在選項菜單中設(shè)置。在無DAC/AVG曲線時，根本增益與外表補償增益的調(diào)節(jié)效果一樣，不會影響探傷結(jié)果.在有DAC/AVG曲線時，三者就有顯著區(qū)別：〔1〕調(diào)節(jié)根本增益A，DAC/AVG曲線和回波幅度同步變化。在探傷時，為了找到某一回波，需要調(diào)節(jié)增益，但又不能改變回波與DAC/AVG曲線的相對當(dāng)量值〔不改變已設(shè)置的探傷標準〕，此時應(yīng)在根本增益狀態(tài)下，調(diào)節(jié)增益?！?〕調(diào)節(jié)補償增益B，可使門內(nèi)回波升高或降低，但其當(dāng)量值不變，DAC/AVG曲線也不變?！?〕在探傷時，由于現(xiàn)場工件狀況與試塊測試時的區(qū)別，需要進行外表補償時，應(yīng)修改外表補償增益C〔靈敏度補償〕。設(shè)置外表補償增益后，DAC/AVG曲線不變，但回波幅度改變，其相對當(dāng)量值也相應(yīng)變化。〔見選項菜單第1頁第2項外表補償〕4-5聲程/標度按<聲程>鍵〔聲程有時也稱范圍〕，當(dāng)屏幕左上角的提示為“聲程〞時，儀器處于聲程更改狀態(tài)，用加減鍵可對當(dāng)前參量進行調(diào)節(jié)。反復(fù)按<聲程>鍵可在步長1和步長2之間切換；步長1為細調(diào)，即連續(xù)調(diào)節(jié)，每次改變值為1；步長2為粗調(diào)，聲程值在一組固定值中變化，該組數(shù)值為“10.0,20.0,30.0,50.0,100.0,125.0,200.0,250.0,300.0”，聲程大于300.0mm時每次增加按<聲程>鍵，再按<確認>鍵，可以在水平、距離、垂直聲程之間切換。注：用此法切換聲程標度僅當(dāng)探頭角度大于零時生效。否那么在選項菜單中設(shè)置來切換聲程標度。探頭角度等于零不可切換至水平標度，其水平標度無意義。4-6聲速/標準按<聲速>鍵，當(dāng)屏幕左上角的提示為“試件聲速〞時，儀器處于聲速更改狀態(tài)，用<+>、<->鍵可對當(dāng)前參量進行調(diào)節(jié)。反復(fù)按<聲速>鍵可在步長1和步長2之間切換；步長1為細調(diào)，即連續(xù)調(diào)節(jié)，每次改變值為1；步長2為粗調(diào)，每次改變值為100。按<聲速>鍵，再按<確認>鍵，可以在聲速和標準之間切換。在標準選項中儀器已預(yù)置了GB/T11345-89、JB4730，JG/T3034，SY4065-93，CB/T3559-93，JIS和ASME-3等標準，及一個其它選項“others〞。選擇不同的標準，其相應(yīng)參數(shù)“曲線根數(shù)、試塊類型〞也會有相應(yīng)變化。比方當(dāng)標準為GB/T11345-89時其相對應(yīng)的RB試塊就有A/C和B/C等級兩項可選。工件厚度不同，三線偏移量不同。探傷時可根據(jù)實際情況選擇。注：該處所列標準目前只對斜探頭DAC曲線生效。4-7K值按<K值>鍵使儀器處于折射角更改狀態(tài)，此時儀器左上角參數(shù)區(qū)將顯示折射角與K值，按<╋>、<━>鍵可對折射角進行調(diào)節(jié)。折射角變化后，聲程單位及回波位置參數(shù)會有變動，而回波在屏幕上的位置那么不會變化，使用者可以利用此功能測斜探頭K值。當(dāng)在此儀器上調(diào)好一個斜探頭的零點，并預(yù)先輸入探頭的標稱K值，然后用探頭在試塊〔比方用CSK-IIIA〕上找一個深度〔比方20mm〕的孔的最高回波，調(diào)節(jié)聲程、增益、波門使此回波處于進波門內(nèi)且波高約為80％，按<K值>鍵，儀器處于折射角更改狀態(tài)，此時按<╋>、<━>鍵調(diào)節(jié)探頭折射角，當(dāng)參數(shù)區(qū)顯示此回波的深度值為孔深〔比方20mm〕時，探頭K值已校準。4-8功能數(shù)字式探傷儀與模擬式探傷儀相比有更強的數(shù)據(jù)處理能力，利用這種能力可實現(xiàn)更多的探傷輔助功能，這將有助于減輕探傷工作強度，有利于對缺陷的定位、定量及其性質(zhì)進行正確的判斷。這些功能將其組合在功能菜單中。按<功能>鍵出現(xiàn)功能菜單0初始化0初始化1回波包絡(luò)2峰值記憶3門內(nèi)報警4DAC門深度補償確定鍵生效按相關(guān)標號即可選中某項功能，再次按其標號那么該功能失效。1和2項不能同時生效，4和5項不能同時生效，且第4項DAC門及第5項深度補償只有在制作完DAC/AVG曲線后才能生效，功能菜單使用詳見第六章。4-9延時/抑制按<延時/抑制>鍵，當(dāng)屏幕左上角的提示為“延時〞時，反復(fù)按<延時>鍵可在步長1和步長2之間切換；步長1每次改變值為0.1，步長2時延時步長為當(dāng)前屏幕顯示的一半，比方當(dāng)前聲程為100.0mm，那么延時步長為50延時可使回波位置大幅度左右移動，而不改變回波之間的距離；可將不需要觀察的回波調(diào)到屏幕外，以充分利用屏幕的有效觀察范圍。按<延時/抑制>鍵，再按<確認>鍵那么切換到回波抑制調(diào)節(jié)狀態(tài)，用<+>或<->鍵調(diào)節(jié)抑制值。抑制的作用是抑制屏幕上幅度較低或認為不必要的雜波，使之不予顯示，從而使屏幕上顯示的波清晰。本儀器的抑制范圍為0～80%，不影響垂直線性。4-10選項在探傷過程中有些參量一般無須更改或很少更改，這些參量可在選項菜單中預(yù)先設(shè)置，如果需要查看或更改某項參數(shù)，可選擇參數(shù)前的序號對該項參數(shù)進行設(shè)置。按<選項>鍵后，出現(xiàn)選項菜單：第1頁共2頁第1頁共2頁聲程標度：垂直/水平/距離外表補償：0.0dB位置顯示：峰值/前沿選打印機：EpsonLQ300K/HP6L/EpsonC61/TPUP-NH32P當(dāng)量標準：母線/判廢線/定量線/評定線當(dāng)量顯示：dB值/孔徑判廢線RL：+0.0dB定量線SL：+0.0dB評定線EL：+0.0dB確定鍵生效返回鍵取消第2頁共2頁1、工件厚度：0.0mm工件外徑：0.0mmB門用途：失波/進波按鍵聲音：開/關(guān)屏幕亮度：低亮/一般/中亮/高亮標準波高：80%焊縫圖示：無/單面/雙面/T型確定鍵生效返回鍵取消 “聲程標度〞為三選一，按<1>鍵選取后出現(xiàn)子菜單，有“距離〞、“水平〞和“垂直〞三個選項供選擇，按數(shù)字鍵13選中?！巴獗硌a償〞值根據(jù)工件外表耦合情況輸入，取值范圍為0.150dB。“位置顯示〞為二選一，按<3>鍵選取后出現(xiàn)子菜單，有“峰值〞和“前沿〞兩個選項供選擇，用戶按數(shù)字鍵12選中；此項參數(shù)是指回波位置是以回波的峰值為基準還是以前沿為基準，當(dāng)此項發(fā)生更改時，儀器須重新調(diào)試。讀前沿時，可調(diào)節(jié)門高線與波前沿的某一位置相交后讀取?！斑x打印機〞為四選一：有EpsonLQ300K、HP6L、EpsonC61、TPUP-NH32P,四種打印機供選擇。傳統(tǒng)的針式打印機選第一項“EpsonLQ300K〞，HP及Canon激光打印機選第二項“HP6L〞，Epson最新的噴墨打印機那么選取第三項“EpsonC61”，TP熱敏打印機那么選取第四項“注：屏幕拷貝或打印報告前，需正確選擇打印機，否那么打印機可能不能正常打印。目前該型儀器支持數(shù)十種打印機?！爱?dāng)量標準〞為四選一，按<5>鍵選取后出現(xiàn)子菜單，有“母線〞、“判廢〞、“定量〞和“評定〞四個選項供選擇，按數(shù)字鍵14選中；該項參數(shù)是指進波門內(nèi)的缺陷回波的當(dāng)量值是以何線為計算基準，常用“母線〞或“定量線〞，儀器默認值是“母線〞；該項參數(shù)僅在制作成功DAC曲線前方才有效，對AVG無效?！爱?dāng)量顯示〞為二選一，按<6>鍵選取后出現(xiàn)子菜單，有“dB值〞和“孔徑〞兩個選項供選擇，按數(shù)字鍵12選中；該項參數(shù)是指進波門內(nèi)的缺陷回波的當(dāng)量值可顯示為dB值或平底孔徑，儀器默認值是“dB值〞；首次制作AVG曲線時，儀器將自動轉(zhuǎn)換為2曲線，制作完成后，需提高增益值使2曲線抬高；該項參數(shù)僅在制作成功AVG曲線前方才有效，對DAC無效?！芭袕U線RL〞、“定量線SL〞和“評定線EL〞這三線偏移量的取值在-30+40dB，且這三個偏移量依次減小，即判廢線在定量線之上，定量線又在評定線之上，如果輸入值使三線上下次序顛倒，儀器將不會接受；這三個參數(shù)對AVG無效，僅當(dāng)制作DAC曲線成功后，輸入值方可生效。〔在制作完直探頭的AVG曲線時，這三項將變成“AVG線上〞、“AVG線中〞、“AVG線下〞，可設(shè)置任意孔徑的AVG線?！场肮ぜ穸权曉O(shè)置后，可以讀取缺陷的實際深度〔屢次波探傷時〕?！癇門用途〞為二選一，按<3>鍵選取后出現(xiàn)子菜單，有“失波〞、“進波〞二個選項供選擇，按數(shù)字鍵1~2選中。詳見4-2?！鞍存I聲音〞為二選一，按<4>鍵選取后出現(xiàn)子菜單，有“開〞、“關(guān)〞二個選項供選擇，按數(shù)字鍵1~2選中。11.“屏幕亮度〞為四選一，按<5>鍵選取后出現(xiàn)子菜單，有“低亮〞、“一般〞、“中亮〞、“高亮〞四個選項供選擇，用戶可根據(jù)不同環(huán)境情況按數(shù)字鍵1～4選中。建議在室內(nèi)或陰天選擇“低亮〞或“一般〞，晴天日光直接照射下選擇“中亮〞或“高亮〞。注：屏幕亮度的不同影響電池的待機和使用時間。12.“標準波高〞用于設(shè)置在測零點、聲速、K值和制作DAC曲線時波幅自動到達的高度標準。13.“焊縫圖示〞有“無〞、“單面〞、“雙面〞和“T型〞四種焊接類型，十余種坡口型式，探測焊縫時可使用該項；按<7>鍵選取此項后會出現(xiàn)一個新的菜單〔參見附錄1：焊縫參量設(shè)置〕，用戶在新菜單中輸入焊縫的各項參數(shù)。注：更改的數(shù)據(jù)在按<確認>鍵退出菜單后才生效。4-11查詢按<查詢>鍵后，屏幕出現(xiàn)查詢菜單：1．屏幕拷貝1．屏幕拷貝2．?dāng)?shù)據(jù)處理查詢功能使用詳見第七章。按<返回>鍵可退出查詢菜單。4-12增量╋<╋>鍵的作用是使選中的參量值增加，制作DAC/AVG曲線時移動光標，或在數(shù)據(jù)輸入時代表小數(shù)點或乘號。4-13減量━<━>鍵的作用是使選中的參量值減少，制作DAC/AVG曲線時移動光標，或在數(shù)據(jù)輸入時代表負號。4-14返回<返回>鍵的作用為從各菜單返回，或從當(dāng)前測試回到上一步，在記錄探傷數(shù)據(jù)輸入數(shù)據(jù)編號時，切換輸入法?；蛉∠?dāng)前參量的調(diào)節(jié)。4-15確認<確認>鍵〔即回車鍵〕的作用為確認數(shù)據(jù)及選擇復(fù)合鍵的第二功能。其他功能參見6-10。4-16鍵盤鎖設(shè)立鍵盤鎖的目的是為防止誤按而改變參數(shù)或工藝設(shè)置。關(guān)鎖狀態(tài)標識符為：，開鎖狀態(tài)標識符為：。在屏幕的右邊對應(yīng)顯示。開、關(guān)鍵盤鎖的方法如下：在非參量調(diào)節(jié)狀態(tài)〔即屏幕提示“探傷中請操作〞時〕，長按<返回>鍵，在儀器屏幕上方出現(xiàn)相應(yīng)提示后，立即按鍵，那么可實現(xiàn)開鎖或關(guān)鎖的功能。當(dāng)關(guān)鎖后，儀器操作按鍵除<返回>鍵外均被鎖住。4-17第五章 儀器調(diào)試在測試狀態(tài)，功能菜單中的各項功能因被屏蔽而失去作用，但在測試完成或用戶中斷后恢復(fù)其作用；在測試狀態(tài)，任何時間都可以通過按<返回>鍵退出測試狀態(tài)，該通道各參量將恢復(fù)到測試之前的狀態(tài)。測零點聲速開機后，按<確認>鍵進入探傷界面，在探傷界面按<測試>鍵出現(xiàn)測試菜單〔參見4-4〕，然后按<1>選中“測零點聲速〞后，測試主菜單消失，屏幕顯示新的對話框：預(yù)置工件聲速：預(yù)置工件聲速：5900m一次回波聲程：100.0二次回波聲程：200.0mm按鍵開始測試根據(jù)所用探頭類型設(shè)置工件聲速，直探頭等一般為縱波，斜探頭一般為橫波，在測試前需正確輸入工件聲速。根據(jù)所用試塊輸入試塊聲程值，如果輸入的試塊聲程值過小，那么不能測零點聲速，需重新輸入另一恰當(dāng)?shù)臄?shù)值。中選<2>鍵輸入“一次聲程〞后，“二次聲程〞所顯示的數(shù)值將會是“一次聲程〞的兩倍，例如在“一次聲程〞處輸入30.0mm，那么“二次聲程〞的數(shù)值將變?yōu)?0.0mm，此時如果認為“二次聲程〞不是60.0mm而是50.0mm，那么可以按<3>鍵在“二次聲程〞處輸入50.0mm〔例如在使用小徑管試塊測試小徑管探頭時〕。請注意：“二次聲程〞必須大于“一次聲程〞儀器將根據(jù)輸入值自動設(shè)置進波門〔一般門位在第四格，門寬兩格〕、聲程、增益、聲速等參量，一般不需再調(diào)節(jié)，但有一些探頭如雙晶探頭由于零點較長，可能需要移動進波門位〔屏幕左上角提示：A門位〕或其它參量〔如聲程〕，使所需回波處于進波門內(nèi)。調(diào)節(jié)參量后，按<返回>鍵回到原測試狀態(tài)。如果測試斜探頭，在確認一次聲程值時，需用直尺量出探頭至一次反射體的水平距離，并在確認測試值后輸入。例1：用厚度為100mm的大平底測直探頭零點及聲速，按<1>輸入“預(yù)置工件聲速〞為“5900〞、按<2>輸入試塊“一次回波聲程〞為“100mm〞(或其倍數(shù)，如果所用試塊厚度過小，應(yīng)考慮用屢次波，這里我們輸入100mm)，儀器自動設(shè)置“二次回波聲程〞為“200移動探頭使移動探頭使10反射體最高回波在門內(nèi)，確認如右圖5-1-1如右圖5-1-1所示，只需在試塊上移動探頭使反射體最高回波出現(xiàn)在進波門內(nèi)且波幅穩(wěn)定〔波高約為80%〕時按<確認>鍵，儀器會自動改變聲程、增益、門位使該次回波的雙倍次波出現(xiàn)在進波門內(nèi)，在波形區(qū)提示中的聲程值會自動改為200mm，此時應(yīng)穩(wěn)住探頭，使倍次波穩(wěn)定后按<確認>鍵，如圖5-1-2所示，儀器將會算出零點及聲速，按“圖圖5-1測試過程中測試完成界面測試過程中測試完成界面測試直探頭零點聲速圖測試直探頭零點聲速圖5-1例2：例2：用CSK-IA試塊測斜探頭零點聲速，輸入“預(yù)置工件聲速〞為：“3230〞，輸入試塊“一次聲程〞為50mm，確認后開始測試，儀器在波形區(qū)右上方出現(xiàn)提示〔參見例1〕；如右圖5-1-3，將探頭放在CSK-IA試塊并移動，使R50和R100圓弧圖圖5-1R50的回波處于進波門內(nèi)時〔波高約為80%〕用直尺量出探頭至R50圓弧的水平距離并按<確認>鍵，穩(wěn)住探頭不動等R100回波也處于進波門內(nèi)且穩(wěn)定時按<確認>鍵，儀器會算出聲速及零點，并自動存儲，在屏幕上顯示出的“探頭至一次反射體水平距離〞處輸入先前測量的探頭至R50圓弧的水平距離并確定，按“y〞存儲，測試過程如圖5-1-4所示。按按鍵按鍵按y按y鍵輸入后，按鍵測試完成界面測試完成界面圖5-1圖5-1測試斜探頭零點聲速如果用IIW試塊〔又稱荷蘭試塊，無R50圓弧〕測斜探頭聲速，那么試塊“一次聲程〞輸入100mm，其它操作與CSK-詳細舉例參見8-1。注：測零點聲速時不可調(diào)延時，不可更換通道，也不可嵌套其它測試；確認回波時應(yīng)注意在屏幕左上角有“測零點聲速〞提示時才可按<確認>鍵；確認進波門內(nèi)回波時，需波高為80%左右，否那么有可能造成測試誤差，當(dāng)所需回波處于進波門內(nèi)但波高不是80%時，稍等片刻，儀器會自動調(diào)節(jié)增益，使回波高度約為80%；如果回波不在進波門，可移動“A門位〞使回波處于進波門內(nèi)。在例如中所輸入數(shù)值僅為舉例，應(yīng)根據(jù)使用試塊的實際情況進行輸入。5-1測折射角度 按<測試>鍵出現(xiàn)測試菜單后，按<2>選擇測折射角度，屏幕出現(xiàn)提示“先測零點聲速？y/n〞，如測過零點聲速那么選擇“n〞，此時出現(xiàn)如下對話框：目標反射體直徑：目標反射體直徑：mm反射體中心深度：mm標稱Ｋ值折射角：/按鍵開始測試 根據(jù)所用探頭和試塊輸入數(shù)據(jù)，儀器自動預(yù)置增益、聲程、波門等參量，如果輸入值與實際值誤差較大，將會導(dǎo)致錯誤結(jié)果，需重新輸入正確數(shù)據(jù)并測試。開始測試后可參照提示在試塊上移動探頭或調(diào)節(jié)參量使反射體最高回波出現(xiàn)在進波門內(nèi)時按<確認>鍵即可。例1：用CSK-IA或IIW試塊的50孔測標稱K值為1.5的探頭的實際K值，目標反射體直徑、反射體中心深度和標稱K值折射角三項分別輸入50mm、70mm和1.50，三項全部正確輸入后按<確認>鍵開始測試。儀器在波形區(qū)左上角提示：使中心深度使中心深度7反射體最高回波在門內(nèi)，確認將探頭和試塊如右圖5-2-1放置，移動探頭使反射體〔50孔〕的最高回波出現(xiàn)在進波門內(nèi)，確認后儀器算出K值和折射角，確認圖5-2-1圖5-2 測試完成界面測試過程中測試完成界面測試過程中測試斜探頭K值/折射角度測試斜探頭K值/折射角度圖5-2例2：用CSK-IIIA試塊深40mm1的孔測標稱K值為1.5探頭的實際K值，反射體中心深度、目標反射體直徑和標稱K值折射角三項那么分別輸入40.0mm、1.0mm和1.50，三項全部正確輸入后按<確認>鍵開始測試。儀器在波形區(qū)左上角出現(xiàn)提示框〔參見例1〕。將探頭和試塊如右圖目標反射體〔深40mm的門內(nèi)，按<確認>鍵后儀器算出K值和折射角，確認測試圖5-2圖5-2值得注意的是，為了適應(yīng)各種可能的情形〔由于可能使用各種不同深度或不同直徑的孔或棱角，其反射體直徑有的可忽略，如用CSK-IIIA試塊上的小孔測K值，但有些是絕不能忽略的，如例1中所舉的50孔，如忽略會導(dǎo)致錯誤結(jié)果〕，因此在測試中儀器會自動將聲程標度設(shè)為〔S〕，即距離。如例1所示，如果輸入K值與實際K值相等或很相近，那么在試塊中超聲波的行程約為101mm，由于在一般測試過程中，進波門設(shè)在第七格至第八格，反射體最高回波將處于第七格至第八格中，因此，雖然在提示中是“深度70mm〞，但是在屏幕下方，最高回波處的標尺數(shù)值取整后可能是“100mm〞，應(yīng)注意是聲程值〔即距離〕，而不是深度值。參見8-1注：如果聲速零點未校準，那么所測K值會有錯誤，應(yīng)先測準聲速和零點;反射體深度是指探測面到反射體中心的距離，而不是反射面;僅在屏幕左上角有“測折射角度〞提示且波高約為80%時才可確認回波;測K值時不可調(diào)延時，不可更換通道，也不可嵌套其它測試;如果由于實際K值與標稱K值誤差較大，導(dǎo)致最高回波不在進波門內(nèi)，可調(diào)節(jié)進波門參數(shù)或聲程，使所需最高波處于進波門內(nèi)。5-2制作DAC按<測試>鍵出現(xiàn)測試菜單后，按<3>選擇制作DAC，屏幕左上角出現(xiàn)提示：“先測零點K值？y/n〞，如按<y>鍵那么先測聲速零點、K值〔參見5-1、5-2，〕，再制作DAC；如按<n>那么直接制作DAC，屏幕上出現(xiàn)對話框：1． 最大深度：1． 最大深度：mm2．反射體直徑：mm3．反射體長度：mm按鍵開始測試輸入數(shù)據(jù)并確認后即開始制作DAC曲線。屏幕左上端參數(shù)區(qū)有DAC三字，且波形區(qū)右上端出現(xiàn)提示框：++–鍵選擇目標回波結(jié)束測試在制作DAC過程中可調(diào)節(jié)波門、增益、聲程等各項參量，其它參量只能是測試之前在參數(shù)菜單中輸入。在試塊上移動探頭，當(dāng)反射體最高波出現(xiàn)時穩(wěn)住探頭，按<+>或<->鍵，那么屏幕凍結(jié)，且在一個波峰上出現(xiàn)一個光標，再按<+>或<->鍵可移動此光標至下一個波峰，同時參數(shù)區(qū)會同步顯示該波峰的位置、波高等參數(shù)，按<>鍵確認光標所在的回波。在儀器畫好DAC曲線上的一點后，回波將被解凍，此時可在試塊上移動探頭，尋找來自另一深度的缺陷波。如果發(fā)現(xiàn)因未找到最高回波而使某一點偏低，使得DAC線不夠準確，可重新尋找該點的最高回波，按<+>或<->鍵重新將光標移到該點的最高回波上再按<>鍵確認該點，該點將被補高。所有點測試完畢后，假設(shè)認可已制作完成的DAC母線，按<>鍵結(jié)束測試，按“y〞鍵存儲。此時儀器顯示一條曲線，儀器根據(jù)測試數(shù)據(jù)自動生成DAC曲線〔輸入三線偏移量后〕，如圖5-3。詳細舉例參見第八章。圖5-3DAC曲線圖5-3DAC曲線注：必須測準零點〔聲速〕、K值，否那么所制作DAC曲線不準確；儀器可自動調(diào)節(jié)增益，使進波門內(nèi)回波幅度約為80%；僅在參數(shù)區(qū)有“制作DAC〞提示且進波門內(nèi)有回波高于10%時按<╋>或<━>鍵，屏幕才會凍結(jié)，才能進行移點選波，對此要特別注意。AVG制作方法與DAC類似，詳見8-3。5-3測儀器性能測試前務(wù)必在設(shè)置菜單中將“探頭類型〞設(shè)為直探頭，探頭頻率為2.5M。在測試菜單中選中測儀器性能，屏幕上出現(xiàn)提示：“查看前次測試結(jié)果！Y是N否〞，如選擇“Y〞那么查看前次測試的儀器性能指標，如選擇“N〞那么出現(xiàn)以下提示框：將直探頭放在將直探頭放在25mm厚試塊上，回波穩(wěn)定后 用戶按<確認>鍵開始進行儀器探頭組合性能測試。水平線性測試1〕如圖5-4-1所示，將直探頭放置CSK-IA試塊上，測聲速零點〔參見5-1，默認聲波類型為縱波，試塊聲程為502〕聲速零點測準后，聲程范圍改為125mm，使25CSKCSK—IA25圖圖5-4分辨力測試波形區(qū)左上方提示：請將探頭置于試塊上當(dāng)深85和請將探頭置于試塊上當(dāng)深85和91兩回波等高且穩(wěn)定時確認并穩(wěn)住探頭如圖5-4-2所示，用戶在CSK-IA試塊上移動直探頭，當(dāng)85mm和91mm兩處的回波等高且為50%時按85mm91mmCSK—IA圖8591mmCSK—IA圖5-4-2圖5-4-3儀器屏幕波形顯示垂直線性及動態(tài)范圍測試波形區(qū)左上方提示：在CS-1-5試塊上移動探頭當(dāng)在CS-1-5試塊上移動探頭當(dāng)200mm處2平底孔回波最高時確認并穩(wěn)住探頭如圖5-4-4所示，用戶在CS-1-5試塊上移動直探頭，當(dāng)200mm深2平底孔處的回波最高且為50%時按<確認>鍵，儀器自動調(diào)節(jié)增益使波高上升為100%，然后以2dB的步長使增益下降，這時儀器自動記下每次的波高，算出垂直線性和動態(tài)范圍。CSCS—1—5平底孔試塊20025mm圖5-4-44．靈敏度余量測試在CS-1-5試塊上移動探頭當(dāng)200mm在CS-1-5試塊上移動探頭當(dāng)200mm處2平底孔回波最高時確認并穩(wěn)住探頭如圖5-4-4所示，用戶穩(wěn)住探頭，當(dāng)200mm深2平底孔處的回波最高且為50%時按<確認>鍵，屏幕上出現(xiàn)提示：請除去探頭后請除去探頭后確認這時用戶需除去探頭，按<確認>鍵，儀器增加增益，使噪聲電平達10%，記下增益差即為靈敏度余量。5．顯示測試結(jié)果上述四項測試完成后，儀器會自動算出結(jié)果，并將其顯示在屏幕上，用戶可將其打印輸出。1打印#重測1打印#重測退出儀器性能指標水平線性%垂直線性%分辨力dB動態(tài)范圍dB靈敏度余量dB注：如果要打印測試結(jié)果，用戶需在測試前在關(guān)機狀態(tài)下將打印機與儀器接好；按標準測試儀器性能所用探頭應(yīng)為2.5MHz20直探頭；由于測儀器是測試儀器和探頭的組合性能，因此強烈建議您使用質(zhì)量較好的探頭。 5-4測缺陷高度在測該項前務(wù)必先測零點和K值，然后在測試菜單中選中“測缺陷高度〞，儀器會出現(xiàn)提示菜單：移探頭調(diào)參量使缺陷下端最高波出現(xiàn)在門內(nèi)移探頭調(diào)參量使缺陷下端最高波出現(xiàn)在門內(nèi)確認找到缺陷下端最高波后按<確認>鍵，此時儀器會提醒找缺陷上端最高波，再次確認后儀器那么測得缺陷高度，儀器此時顯示測試數(shù)據(jù)并提示是否存儲波形，按<y>鍵保存，<n>那么直接退出?！皽y缺陷高度〞操作示意圖如下列圖5-5所示。缺陷高度缺陷高度圖5-5圖5-55-5功能使用初始化 “初始化〞功能的作用是將儀器恢復(fù)至初始狀態(tài)。在功能菜單中選中初始化后，屏幕出現(xiàn)對話框：當(dāng)前通道當(dāng)前通道所有通道缺陷數(shù)據(jù)儀器按<1>且確認后那么將當(dāng)前通道存儲的參數(shù)初始化，其它通道參數(shù)和存儲的缺陷數(shù)據(jù)不變；按<2>且確認后那么將所有通道存儲的參數(shù)初始化；按<3>且確認后，存儲的缺陷記錄全部被去除，而通道參數(shù)不變；按<4>且確認后，所有通道存儲的參數(shù)初始化，存儲的缺陷記錄全部被去除；按<確認>鍵退出此功能。其中“y〞確認去除，“n〞放棄去除。注：一旦使用此功能，數(shù)據(jù)將會喪失，應(yīng)慎用。6-1回波包絡(luò)“回波包絡(luò)〞功能的作用是當(dāng)探頭在試塊或工件上移動時，對進波門內(nèi)的連續(xù)多個回波的峰值點進行了記憶，將其連成一條包絡(luò)線，并在屏幕上予以顯示。根據(jù)包絡(luò)形狀，可方便地找到缺陷的最高波，并可為判斷缺陷的性質(zhì)提供依據(jù)，如圖6-2?！矃⒁?-4〕圖6-2圖6-2注：該功能與“峰值記憶〞功能不能同時生效；該功能啟用后，按<記錄>鍵可存儲門內(nèi)回波包絡(luò)〔詳見7-1〕。6-2峰值記憶“峰值記憶〞功能的作用是指在同一增益下，對進波門內(nèi)曾經(jīng)出現(xiàn)的最高波進行記憶，且在屏幕上予以顯示，如圖6-3?！矃⒁?-4〕圖6-3圖6-3注：該功能與“回波包絡(luò)〞功能不能同時生效；該功能啟用后，按<記錄>鍵可存儲門內(nèi)回波峰值〔詳見7-1〕。6-3門內(nèi)報警“門內(nèi)報警〞的作用是一旦進波門內(nèi)回波高于門高線或失波門內(nèi)回波低于門高線，儀器將發(fā)出聲音報警，如圖6-4所示，波高和門高將直接影響報警狀態(tài)。參見8-4。圖6-4圖6-46-4DAC門“DAC門〞功能的作用是將A門的門高線與所作DAC曲線形狀一致，以便根據(jù)缺陷的當(dāng)量值進行報警而不是簡單對波高進行報警。如圖6-5所示。圖6-5圖6-5注：此功能只有在制作完DAC/AVG曲線后才能生效；該功能與“深度補償〞功能不能同時生效。6-5深度補償“深度補償〞又稱“DAC補償〞或“距離波幅校正〞，其作用是使位于不同深度的相同尺寸缺陷的回波高度差異減小?！吧疃妊a償〞生效后，DAC/AVG曲線變?yōu)橐粭l直線，較深的缺陷回波得到補償，其回波高度發(fā)生變化，但參數(shù)區(qū)顯示的各項參數(shù)〔位置、當(dāng)量值〕不會變化。如圖6-6所示。〔參見8-5〕深度補償后深度補償前深度補償后深度補償前圖6-6圖6-6注：該功能與“DAC門〞功能不能同時生效；只有制作了DAC/AVG曲線后，“DAC補償〞才會生效。6-6其它功能1、屏幕凍結(jié)及光標讀數(shù)功能在非參量調(diào)節(jié)狀態(tài)下〔即參數(shù)區(qū)提示“探傷中請操作〞〕，長按<確認>鍵可使屏幕凍結(jié)且其中的一個回波波峰上出現(xiàn)光標，按<+>或<->鍵可移動光標至相鄰波峰，參數(shù)區(qū)將會顯示光標所在波峰的位置及當(dāng)量。按<返回>鍵可退出此功能。2、面板上直接調(diào)節(jié)亮度在非參量調(diào)節(jié)狀態(tài)下〔即參數(shù)區(qū)提示“探傷中請操作〞〕，長按<+>鍵可使屏幕提示“按＋－調(diào)節(jié)亮度〞，此時可直接按<+>、<->鍵直接調(diào)節(jié)屏幕亮度。6-7數(shù)據(jù)處理 探傷過程假設(shè)發(fā)現(xiàn)有用信息〔如缺陷波等〕，需對數(shù)據(jù)進行處理。由記錄和查詢功能來完成。數(shù)據(jù)存儲當(dāng)發(fā)現(xiàn)有用數(shù)據(jù)需存儲時，按<記錄>鍵，出現(xiàn)文字輸入狀態(tài)，儀器在左上角出現(xiàn)光標閃爍，此處可輸入數(shù)字、大小寫英文字母〔英文字母輸入?yún)⒁?-5〕或中文字的文件編號，反復(fù)按<返回>鍵可切換輸入法。輸入確認后，儀器將記錄當(dāng)前的屏幕波形〔包括探傷設(shè)置和探傷數(shù)據(jù)〕。完成上述操作后，儀器會自動回到探傷狀態(tài)。該儀器可記錄近千幅的探傷數(shù)據(jù)，數(shù)據(jù)存滿后，儀器會提示“內(nèi)存容量已滿〞。此時需刪除無用的數(shù)據(jù)，讓出空間以保存新的數(shù)據(jù)〔參見7-4〕。 如果已經(jīng)啟用“回波包絡(luò)〞或“峰值記憶〞功能記錄時會詢問是否存儲包絡(luò)或峰值，且波形區(qū)顯示包絡(luò)或峰值，參數(shù)區(qū)會顯示包絡(luò)中最高波或峰值的參數(shù)如果按<y>鍵，那么存儲包絡(luò)或峰值，可輸入編號；如果按<n>鍵，那么存儲原波形。如果用戶已設(shè)置了“焊縫圖示〞，按<記錄>鍵會出現(xiàn)焊縫中缺陷位置的示意圖，根據(jù)提示輸入“探頭前端到焊縫邊的距離：〞，輸入后確定，再輸入編號后確定，此時缺陷位置將與波形一起被存儲在儀器內(nèi)部的存儲器中。7-1屏幕拷貝屏幕拷貝是為打印屏幕顯示內(nèi)容而設(shè)置的，必須先在關(guān)機狀態(tài)下將儀器與打印機連接好。具體操作步驟：1．使用友聯(lián)公司提供的專用打印線連接打印機與探傷儀；2．先開啟打印機電源，后開啟探傷儀電源；3．按<查詢>鍵出現(xiàn)查詢菜單；4．按<1>鍵屏幕拷貝后，打印機將打印探傷儀當(dāng)前屏幕顯示的內(nèi)容。注： 如果打印機選項不對，那么可能打印不正確。如果打印線未連接好，或打印紙未裝好，儀器會提示：“打印機未備好〞，提示閃爍三次后消失。需檢查打印機與儀器的連接，以及打印紙是否裝好！7-2數(shù)據(jù)檢索按<查詢>鍵出現(xiàn)查詢菜單：1．屏幕拷貝1．屏幕拷貝2．?dāng)?shù)據(jù)處理按<2>鍵，儀器那么進入數(shù)據(jù)處理狀態(tài)，屏幕右方顯示如下：查找查找1日期2編號3屏拷4去除5報告6調(diào)用此時，有三種方式可以對數(shù)據(jù)文件進行檢索：按<+>/<->鍵，儀器將按存儲序號向前或向后檢索存儲文件。按<1>鍵，儀器將按存儲日期檢索數(shù)據(jù)文件，在光標處輸入存儲日期。按<2>鍵，儀器將按存儲編號檢索數(shù)據(jù)文件，在光標處輸入存儲編號。7-3數(shù)據(jù)刪除檢索至所要刪除的數(shù)據(jù)，按<4>那么儀器提示“去除當(dāng)前數(shù)據(jù)？y/n〞，按<y>號即可將當(dāng)前所存的數(shù)據(jù)刪除。如果所有數(shù)據(jù)均被去除，那么出現(xiàn)提示：“存儲數(shù)據(jù)已清〞，并退出數(shù)據(jù)處理狀態(tài)。也可按<功能>鍵，選擇“初始化〞里的“3探傷數(shù)據(jù)〞并確認，那么數(shù)據(jù)處理菜單中的所有探傷記錄全部被去除。7-4報告檢索出需要打印的數(shù)據(jù)文件，如果只需要將屏幕內(nèi)容打印出來，按<3>鍵即可實現(xiàn)；如果需要具體的打印報告，按<5>鍵即可將該數(shù)據(jù)文件的報告打印出來。打印結(jié)束可以自動回到原文件處理狀態(tài)。注：如果打印機選項不對，那么可能打印不正確。 7-5調(diào)用該功能用于通道的擴充。當(dāng)查找到某幅需要調(diào)用的數(shù)據(jù)后，按<6>鍵，屏幕左上方出現(xiàn)“通道9的數(shù)據(jù)將被覆蓋，Y是，N否〞的提示語，如需將該幅數(shù)據(jù)調(diào)入“通道9〞，那么選擇“Y〞，如不需調(diào)用，那么選擇“N〞。 7-6數(shù)據(jù)通訊操作步驟為：在關(guān)機狀態(tài)下，用本公司提供的通訊線將儀器和計算機的USB口〔或COM口〕連接好。翻開通訊光盤，即出現(xiàn)一個通訊軟件的文件夾，復(fù)制通訊文件夾至計算機硬盤，翻開文件夾。雙擊“connect〞，出現(xiàn)“計算機通訊及數(shù)據(jù)后處理〞界面。聯(lián)機聯(lián)機設(shè)置設(shè)置點擊設(shè)置，使用串行口通訊的“端口〞默認為“COM1〞，假設(shè)使用USB口通訊的端口號需另行設(shè)置〔參照USB驅(qū)動安裝內(nèi)容〕，“波特率〞均設(shè)為“19200〞。點擊聯(lián)機。開啟探傷儀，按<確定>鍵，儀器開始將數(shù)據(jù)傳輸至電腦中，屏幕右上角有相應(yīng)的提示，通訊完成，出現(xiàn)“常規(guī)探傷報告〞：按“前一個〞,“下一個〞查看你所需要的波形，單擊“保存為Excel文件〞保存你需要的文件，格式為Excel，進行打印，如果需要保存，請另存為。

“刪除〞為刪除當(dāng)前文件?！皟x器性能〞為將“測儀器性能〞〔參見5-4〕之所測五大根本性能〔水平線性、垂直線性、分辨力、動態(tài)范圍、靈敏度余量〕數(shù)據(jù)生成Excel報告形式。

“保存〞為保存文件的原始格式，雖那么在某幅上執(zhí)行保存操作，但所有數(shù)據(jù)均會同時保存。如果不刪除，會一直在軟件中。已存文件在右上角“已存文件〞中的下拉框中，點擊后會顯示。在計算機通訊及數(shù)據(jù)后處理界面，在菜單“查看〞下“翻開數(shù)據(jù)文件〔M〕〞菜單，翻開“常規(guī)探傷報告〞。注意：在進行第二次通訊的時候確保其第一次通訊的文件已保存，否那么會喪失！7-7

安裝USB通訊驅(qū)動程序升級版的儀器使用USB線通訊，如果計算機之前未安裝此USB通訊驅(qū)動,那么數(shù)據(jù)不能傳輸至電腦中〔直接使用COM口通訊的儀器不在此列〕，下面簡略介紹安裝步驟：1、在關(guān)機狀態(tài)下，用本公司提供的通訊線將儀器和計算機的USB口連接好，首先計算機右下角出現(xiàn)狀態(tài)欄提示“發(fā)現(xiàn)新硬件〞如下列圖〔此例計算機操作系統(tǒng)為MicrosoftWindowsXPHomeEdition〕：2、如下列圖所示，在“找到新的硬件向?qū)Ж暯缑嫦逻x擇“否，暫時不〔T〕〞工程，點擊下一步進入到下一安裝步驟。3、如下列圖所示，在此步驟的“找到新的硬件向?qū)Ж暯缑嫦逻x擇“從列表或者指定位置安裝〔高級〕〔S〕〞，點擊下一步進入到下一安裝步驟。4、如下列圖所示，在此步驟的“找到新的硬件向?qū)Ж暯缑嫦乱来芜x擇“在這些位置上搜索最正確驅(qū)動程序〔S〕〞及“在搜索中包括這個位置〞，然后通過“瀏覽〞方式找到驅(qū)動程序所在的文件夾〔此USB設(shè)備的驅(qū)動程序在隨機配套光盤中的“通訊軟件\CP210XDriver\WIN〞中〕，點擊下一步進入到下一安裝步驟。5、如下列圖所示，計算機將自動完成此步驟驅(qū)動安裝。6、重復(fù)上述1-5的步驟以完成驗證性安裝。注：通訊軟件的端口設(shè)置請按照下述步驟：=1\*GB3①在“我的電腦〞圖標上右鍵單擊，在彈出的菜單中選擇“屬性〞選項，如下列圖所示。=2\*GB3②在彈出的“系統(tǒng)屬性〞對話框中選擇“硬件〞選項，如下列圖所示。=3\*GB3③點擊“設(shè)備管理器〔D〕〞選項，便彈出“設(shè)備管理器〞對話框，如下列圖所示。=4\*GB3④點擊“端口〔COM和LPT〕〞選項，查看“CP2101USBtoUARTBridgeController(COM4)〞選項中的端口號，請將通訊軟件中的端口設(shè)置為相同的端口。例如，下列圖中端口號為“COM4”，對應(yīng)的通訊軟件中的端口也應(yīng)該設(shè)置為“COM47-8特別警示：嚴禁探傷儀和外部設(shè)備〔打印機等〕在開機狀態(tài)下連接或斷開電纜，否那么很可能會使儀器損壞。第八章 探傷舉例以上詳細介紹了儀器一些根本功能和使用方法，現(xiàn)結(jié)合探傷實例來介紹儀器的操作，以進一步加強儀器功能操作的理解。斜探頭DAC法：假設(shè)探傷條件和要求如下：1．工件：30mm厚的鋼板焊縫2．探頭：K2，2.5P13×13，斜探頭3．試塊：CSK-IA，CSK-ⅢA4．DAC法DAC點數(shù)：3〔10、20、40〕判廢線偏移量：+5dB定量線偏移量：-3dB評定線偏移量：-9dB現(xiàn)簡要介紹以上功能的實現(xiàn)步驟：方法一：〔自動測試〕開機開啟儀器電源開關(guān)，按<>鍵進入探傷界面，將探頭與儀器連接，儀器處于正常工作狀態(tài)。二．選擇通道號 按<通道/設(shè)置>鍵，在“通道〞調(diào)節(jié)狀態(tài)下再按<+>或<->鍵，選擇某一通道。三．參數(shù)清零 按<功能>鍵，選擇“0初始化〞，去除當(dāng)前通道。四．設(shè)置參數(shù)在通道設(shè)置菜單中，設(shè)置探頭方式為“斜探頭〞，探頭頻率為2.5MHz，晶片尺寸為13×13，其它參數(shù)可在測試過程中或測試結(jié)束后設(shè)置。按<確認>鍵退出參數(shù)菜單。五．調(diào)試〔一〕按<測試>鍵，按<3>選擇制作DAC，按<y>鍵先測零點〔聲速〕、折射角度〔K值〕?！惨部蛇M入<測試>中的1項與2項分別測試零點、折射角度后再做DAC〕?！捕硿y零點聲速 工件聲速為“3230m/s〞，試塊一次聲程輸入50mm，二次聲程為100mm，確認后將探頭在CSK-IA試塊上移動〔如圖8-1-1所示〕，使R50的最高回波出現(xiàn)在進波門內(nèi)〔如不在可移門〕時確認，穩(wěn)住探頭不動，等R100回波上升〔或下降〕至80%時再次確認，同時量出探頭前端至R50的水平距離并記入儀器，按前沿=50-LL前沿=50-LLR50R100 CSK-IA試塊測聲速零點和前沿示意圖圖CSK-IA試塊測聲速零點和前沿示意圖圖8-1-1按按鍵按鍵按y鍵，測試完成。按y鍵，測試完成。輸入后，按鍵測試零點聲速波形圖圖8-1-2測試零點聲速波形圖圖8-1-2〔三〕測折射角度反射體直徑輸入50mm，反射體深度輸入30mm，探頭K值輸入標稱值2.0，確認后將探頭在CSK-IA試塊上移動，如圖8-1-3所示，使Ф50孔的最高回波出現(xiàn)在進波門內(nèi)〔如不在可移門〕時確認，按<確認>CSK-IA試塊測K值示意圖圖8-1-3CSK-IA試塊測K值示意圖圖8-1-3測試K值波形圖圖測試K值波形圖圖8-1-〔四〕制作DAC最大探測深度輸入40mm，反射體直徑輸入1.0mm，反射體長度輸入6mm，確認后將探頭在CSK-IIIA試塊上移動，如圖8-1-5,儀器自動調(diào)節(jié)增益使深為10mm孔的最高回波到約80%，在參數(shù)區(qū)有“制作DAC〞三字提示時〔如為其它提示內(nèi)容，可按<返回>鍵〕，按<╋>或<━>鍵，讓光標移至10mm孔的回波上，在參數(shù)區(qū)將同步顯示該回波的各項參數(shù)，按<>鍵確認此回波，屏幕上將顯示一條與該波峰同高的直線,如圖8-1-6a、8-1-6b；再移動探頭，尋找深20mm孔的最高回波，按<╋>鍵，將光標移至20mm孔的回波上，按<確認>鍵確認，屏幕上顯示由10mm和20mm兩孔所得的DAC母線,如圖8-1-6c、8-1-6d；同樣確定40孔的波高，各點采集完成且經(jīng)確認存儲后，DAC母線即制作完成,如圖8-1-6e、8-1-