電容失效模式和機(jī)理

電容器的常見(jiàn)失效模式有：――擊穿短路；致命失效――開(kāi)路；致命失效〔漏電流上升等；局部功能失效――漏液；局部功能失效――引線腐蝕或斷裂；致命失效――絕緣子裂開(kāi)；致命失效――絕緣子外表飛?。痪植抗δ苁降闹饕a(chǎn)生氣理歸納如下。失效模式的失效機(jī)理引起電容器擊穿的主要失效機(jī)理②電介質(zhì)的電老化與熱老化；③電介質(zhì)內(nèi)部的電化學(xué)反響；④銀離子遷移；⑤電介質(zhì)在電容器制造過(guò)程中受到機(jī)械損傷；⑥電介質(zhì)分子構(gòu)造轉(zhuǎn)變；⑦在高濕度或低氣壓環(huán)境中極間飛?。虎嘣跈C(jī)械應(yīng)力作用下電介質(zhì)瞬時(shí)短路引起電容器開(kāi)路的主要失效機(jī)理③引出線與電極接觸不良；④電解電容器陽(yáng)極引出箔腐蝕斷裂;⑤液體電解質(zhì)枯槁或凍結(jié);⑥機(jī)械應(yīng)力作用下電介質(zhì)瞬時(shí)開(kāi)路。引起電容器電參數(shù)惡化的主要失效機(jī)理③自愈效應(yīng);④電介質(zhì)電老化與熱老化;⑤工作電解液揮發(fā)和變稠;⑥電極腐蝕;⑦濕式電解電容器中電介質(zhì)腐蝕;⑧雜質(zhì)與有害離子的作用;⑨引出線和電極的接觸電阻增大。引起電容器漏液的主要緣由③絕緣子與外殼或引線焊接不佳;④半密封電容器機(jī)械密封不良；⑤半密封電容器引線外表不夠光滑；⑥工作電解液腐蝕焊點(diǎn)。引起電容器引線腐蝕或斷裂的主要緣由①高溫度環(huán)境中電場(chǎng)作用下產(chǎn)生電化學(xué)腐蝕；③引線在電容器制造過(guò)程中受到機(jī)械損傷；④引線的機(jī)械強(qiáng)度不夠。引起電容器絕緣子裂開(kāi)的主要緣由①機(jī)械損傷；引起絕緣子外表飛弧的主要緣由③絕緣子選用不當(dāng)④環(huán)境氣壓過(guò)低一對(duì)應(yīng)的。電容器失效機(jī)理分析潮濕對(duì)電參數(shù)惡化的影響(H+)和氫氧根離子(0H-),引線根部產(chǎn)生電化學(xué)腐蝕。即使烘干去濕，也不行能引線復(fù)原。銀離子遷移的后果銀和水。由于電極反響，陽(yáng)極的銀離子不斷向陰極復(fù)原成不連續(xù)金屬銀粒，靠水膜連接成樹(shù)狀向陽(yáng)極延長(zhǎng)。銀離子遷移不僅發(fā)生在無(wú)機(jī)介質(zhì)外表，銀層，引線焊點(diǎn)與電極外表銀層之間，間隔著具有半導(dǎo)體性質(zhì)的氧化銀，-擊穿為主，直到試驗(yàn)500h以后，主要失效模式才過(guò)渡為邊緣外表極間飛弧擊穿。高頻周密電容器的低電平失效機(jī)理云母是一種較抱負(fù)的電容器介質(zhì)材料，具有很高的絕緣性能，耐高溫，介質(zhì)損耗小，厚度可薄達(dá)25微米。云母電容器的主要優(yōu)點(diǎn)是損耗小，頻電容器的低電平失效是20世紀(jì)60年月以來(lái)消滅的問(wèn)題。低電平失現(xiàn)象。60電容量幅度下降。熱處理或溫循過(guò)程中，可能損傷接觸部位，惡化接觸狀況；低電平失效的具體因素歸納如下：電阻增大；中銀和銅簡(jiǎn)潔硫化，使極板與引線間的接觸電阻上升。器紙外表的金屬膜A、電參數(shù)惡化失效阻降低和損耗增大。大。數(shù)的20B、引線斷裂失效裂失效。A口板之間的封口構(gòu)造時(shí)很簡(jiǎn)潔在殼邊滲漏電解液。承受橡膠塞密封的電容器也簡(jiǎn)潔漏液?？傊┮号c密封構(gòu)造、密封材料與密封工藝有親熱的關(guān)系。B鋁電解電容器在工作電壓中溝通成分過(guò)大，或氧化膜介質(zhì)有較多缺陷，或存在氯根、硫酸根之類有害的陰離子，以致漏電流較大時(shí)電解作用產(chǎn)生險(xiǎn)。C、開(kāi)路DMF〔二甲基酰胺〕為溶劑的工作電解液時(shí)，DMF溶液是氧化劑，在高溫下氧化力量更強(qiáng)。工效現(xiàn)象。D擊穿下微孔，甚至可能成為穿透孔，使鋁電解電容器擊穿。自愈作用，氧化膜一經(jīng)損壞就會(huì)導(dǎo)致電容器擊穿。工藝缺陷也是鋁電解電容器擊穿