IQC來料檢驗(yàn)規(guī)范

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文件編號(hào):XXX-XXXX-XXXX版本:VI.0制定部門：品質(zhì)部

IQC來料檢驗(yàn)規(guī)范

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文件修訂說明:

序號(hào)版本日期修訂人修訂摘要

第1頁共32頁

1.目的

對(duì)本公司的進(jìn)貨原材料按規(guī)定進(jìn)行檢驗(yàn)和試驗(yàn)，確保產(chǎn)品的最終質(zhì)量。

2.適用范圍

2.1適用于IQC對(duì)通用產(chǎn)品的來料檢驗(yàn)。

2.2適用對(duì)元件檢驗(yàn)方法和范圍的指導(dǎo)。

2.3適用于此、(：、QA對(duì)產(chǎn)品在制程和終檢時(shí)，對(duì)元件進(jìn)行復(fù)核查證。

3.責(zé)任

3.1IQC在檢驗(yàn)過程中按照檢驗(yàn)指導(dǎo)書所示檢驗(yàn)項(xiàng)目，參照供應(yīng)商器件確認(rèn)書對(duì)來料進(jìn)行檢驗(yàn)。IQC在檢驗(yàn)

過程中按照檢驗(yàn)指導(dǎo)書所示檢驗(yàn)項(xiàng)目，參照供應(yīng)商器件確認(rèn)書對(duì)來料進(jìn)行檢驗(yàn)。

3.2檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)參照我司制定的1QC《進(jìn)料檢驗(yàn)流程》執(zhí)行。

3.3本檢驗(yàn)指導(dǎo)書由品管部QE負(fù)責(zé)編制和維護(hù)，品管部主管負(fù)責(zé)審核批準(zhǔn)執(zhí)行。

4、定義

4.1AQL：(AcceptanceQualityLimit)接收質(zhì)量限；GB/T2828.『2012將AQL定義為：“當(dāng)一個(gè)連續(xù)系列

批被提交驗(yàn)收抽樣時(shí)，可容忍的最差過程平均質(zhì)量水平”。

4.2CR：(Critical)致命缺陷；單位產(chǎn)品的關(guān)鍵質(zhì)量特性不符合規(guī)定，或單位產(chǎn)品的質(zhì)量特性極嚴(yán)重不符合規(guī)

定。GB/T2828.1-2012將其定義為A類不合格品。

4.3Ma：(Major)嚴(yán)重缺陷，也稱主要缺陷；單位產(chǎn)品的重要質(zhì)量特性不符合規(guī)定，或單位產(chǎn)品的質(zhì)量特

性嚴(yán)重不符合規(guī)定。GB/T2828.1-2012將其定義為B類不合格品。

4.4Mi：(Minor)輕微缺陷，也稱次要缺陷；單位產(chǎn)品的一般質(zhì)量特性不符合規(guī)定，或單位產(chǎn)品的質(zhì)量特

性輕微不符合規(guī)定。GB/T2828.1-2012將其定義為C類不合格品。

5、檢驗(yàn)

4.1檢驗(yàn)方式：抽樣檢驗(yàn),可參閱《抽樣檢驗(yàn)作業(yè)指導(dǎo)書》進(jìn)行抽樣檢驗(yàn)。

4.2抽樣方案：

未特殊規(guī)定的按照GB/T2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平II進(jìn)行；

特殊規(guī)定的則按特殊規(guī)定的抽樣方案進(jìn)行抽樣檢驗(yàn)。

盤帶包裝物料：每盤按照GB/T2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，特殊檢查水平S-2進(jìn)行。

接收質(zhì)量限：AQL=0.01(CR),AQL=1.0(Ma),AQL=2.5(Mi).

4.3檢驗(yàn)儀器、儀表、量具的要求所有的檢驗(yàn)儀器、儀表、量具必須在校正計(jì)量器內(nèi)。

4.4檢驗(yàn)結(jié)果記錄在相應(yīng)的“IQC來料檢驗(yàn)報(bào)告”中。

序號(hào)部品名稱適用范圍備注頁數(shù)

第2頁共4頁

1常規(guī)元件類各類封裝電阻、電感、貼片電容4

2電解電容所有電解電容5

3陶瓷電容、獨(dú)石電容所有陶瓷電容、獨(dú)石電容6

4電位器各封裝電位器7

5二極管各類封裝三極管8

6二極管各類封裝二極管9

7三端穩(wěn)壓管各類封裝三端穩(wěn)壓管10

8壓敏電阻各類封裝壓敏電阻11

9整流橋堆所有的橋堆11

10繼電器所有繼電器13

11可控硅所有可控硅14

12光電耦合器所有光電耦合器15

13發(fā)光數(shù)碼管所有數(shù)碼管16

14發(fā)射管所有規(guī)格發(fā)射管17

15接收管所有規(guī)格接收管18

16IC(集成電路)所有此類物料19

17開關(guān)所有此類物料20

18晶振所有晶振21

19PCB板所有PCB板22

20五金件光幕外殼、銅殼、螺絲、螺釘、螺帽、磁芯等23

21塑膠件產(chǎn)品外殼、鏡架、后塞、前塞等塑膠24

22透鏡所有透鏡25

23光幕過濾板光幕過濾板26

24電線電線/屏蔽/銅線/絲包/紗包線等27

25印刷品說明書、保修卡、合格證等28

26易脫模易脫模29

27錫膏錫膏30

28焊錫絲焊錫絲31

29化學(xué)品樹脂、酒精?、洗板水、助焊劑、助焊膏等32

部品名稱常規(guī)元件類適用范圍各類封裝電阻、電感、貼片電容

GB/T2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平H進(jìn)行(除特殊指定外)；

抽樣方案

AQL=0.01(CR),AQL=1.0(Ma),AQL=2.5(Mi)

檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)內(nèi)容及要求檢驗(yàn)要求不合格品缺陷分類備注/

及工具CRMaMi抽樣水平

1、檢查包裝及料盤外觀，應(yīng)無破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測(cè)★

2、物料必需使用卷帶包裝，編帶應(yīng)符合規(guī)格書要求，無變形、

目測(cè)★

包裝/標(biāo)破損、脫膠等現(xiàn)象；

識(shí)3、包裝箱上應(yīng)有物料碼、廠家名稱、型號(hào)、生產(chǎn)日期等標(biāo)識(shí)；目測(cè)★

4、包裝內(nèi)實(shí)物應(yīng)與標(biāo)識(shí)內(nèi)容一致；目測(cè)★

5、有無環(huán)保標(biāo)識(shí)（GREENPRODUCT.RoSH,無鉛等）。目測(cè)★

1、檢查元件外觀是否有變形、裂紋、缺損、氣泡、針孔、不良

目測(cè)★特殊S-2

現(xiàn)象：

2、檢查元件端電極（引腳）鍍層是否完整，電極（引腳）表面目測(cè)/

外觀★特殊S-2

應(yīng)平滑、無凹凸、露銅、氧化、臟污等不良現(xiàn)象：顯微鏡

3、元件上標(biāo)識(shí)的規(guī)格應(yīng)與規(guī)格書要求一致目測(cè)★特殊S-2

4、元件外觀不能有臟污；目測(cè)★特殊S-2

元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標(biāo)卡尺或試目測(cè)/

尺寸★特殊「S-2

裝檢驗(yàn)其尺寸卡尺

萬用表或

參數(shù)檢測(cè)檢驗(yàn)電阻阻值、電容容值、電感值是否在規(guī)格范圍內(nèi)★特殊S-2

LCR

檢驗(yàn)步驟及內(nèi)容

1.對(duì)單：根據(jù)貨倉開出的IQC進(jìn)料檢驗(yàn)單，核實(shí)相應(yīng)型號(hào)和數(shù)量，再杳找相應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)書。

2、抽樣：根據(jù)檢驗(yàn)項(xiàng)目，取待檢物料，準(zhǔn)備檢驗(yàn)工具/儀器，參照規(guī)格書進(jìn)行隨機(jī)抽樣檢驗(yàn)。

3、判定/標(biāo)識(shí)：將不良品標(biāo)識(shí)清楚并及時(shí)隔離，以物料檢驗(yàn)報(bào)告單的形式交由上級(jí)處理。

將PASS好的物料做好標(biāo)識(shí)放入指定區(qū)域，并做好相關(guān)記錄。

注意事項(xiàng)

1、物料送檢時(shí)要及時(shí)檢驗(yàn)，檢驗(yàn)時(shí)須戴防靜電腕帶。

2、引腳表面有氧化發(fā)黑時(shí)需做耐溫/可焊性試驗(yàn)進(jìn)行進(jìn)一步確認(rèn)。

3、檢測(cè)時(shí)，測(cè)量數(shù)據(jù)必須在規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍內(nèi)。

圖示

四環(huán)電阻:第一、二環(huán)均表示數(shù)字，第三環(huán)表示倍率，第四環(huán)表示誤差.V

I)五環(huán)電阻:第一、二、三環(huán)均表示數(shù)字，第四環(huán)表示倍率，第五環(huán)表示誤差.?

數(shù)值0123469

色環(huán)電阻貼片電阻16K18

倍率，110102103104105也|1061。910'110-2

誤差，1±1*pO.5*6*1。

貼片蒯電容蹦尺寸規(guī)格對(duì)應(yīng)關(guān)系

貼片電阻由絲印來識(shí)別阻值大小，

電阻絲印最后一位為前面幾位數(shù)值

■?貼片電容

鋰電容后面緊跟0的個(gè)數(shù)。

如“102”表示1000。，即1KQ

如“4702”表示47000Q.BP47KQ

貼片電感插件電感

部品名稱電解電容適用范圍所有的電解電容

GB/T2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平H進(jìn)行（除特殊指定外）；

抽樣方案

AQL=O.01（CR）,?\QL=1.0（Ma）,AQL=2.5（Mi）

檢驗(yàn)要求不合格品缺陷分類備注/

檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)內(nèi)容及要求

及工具CRMaMi抽樣水平

包裝/標(biāo)1、檢查包裝外觀，應(yīng)無破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測(cè)★

識(shí)2、包裝應(yīng)合理，有無按常規(guī)或指定材料包裝（以不傷物料本體目測(cè)★

為原則）：

3、包裝箱上應(yīng)有物料碼、廠家名稱、型號(hào)、生產(chǎn)日期等標(biāo)識(shí)；目測(cè)★

4、包裝內(nèi)實(shí)物應(yīng)與標(biāo)識(shí)內(nèi)容一致；目測(cè)★

5、有無環(huán)保標(biāo)識(shí)（GREENPRODUCT.RoSH、無鉛等目測(cè)★

1、引腳無氧化、無銹跡、無破損、無污物、無變形、無折斷，目測(cè)/

★特殊S-2

與電容器本體結(jié)合牢固；顯微鏡

外觀2、金屬外殼，帶絕緣套，有防爆槽（①8以卜3；目測(cè)★特殊S-2

3、本體標(biāo)志內(nèi)容正確、完整、清晰，外觀應(yīng)無可見損傷且無電

目測(cè)★特殊S-2

解液流出，元件上標(biāo)識(shí)的規(guī)格應(yīng)與規(guī)格書要求一致。

元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標(biāo)卡尺或試目測(cè)/

尺寸★特殊S-2

裝檢驗(yàn)其尺寸卡尺

LCR/漏電

參數(shù)檢測(cè)檢驗(yàn)電容容值、漏電流是否在規(guī)格范圍內(nèi)?！锾厥釹-2

流測(cè)試儀

檢驗(yàn)步驟及內(nèi)容

1、對(duì)單：根據(jù)貨倉開出的IQC進(jìn)料檢驗(yàn)單，核實(shí)相應(yīng)型號(hào)和數(shù)量，再杳找相應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)書。

2、抽樣：根據(jù)檢驗(yàn)項(xiàng)目，取待檢物料，準(zhǔn)備檢驗(yàn)工具/儀器，參照規(guī)格書進(jìn)行隨機(jī)抽樣檢驗(yàn)。

3、判定/標(biāo)識(shí)：將不良品標(biāo)識(shí)清楚并及時(shí)隔離，以物料檢驗(yàn)報(bào)告單的形式交由上級(jí)處理。

將PASS好的物料做好標(biāo)識(shí)放入指定區(qū)域，并做好相關(guān)記錄。

注意事項(xiàng)

1、物料送檢時(shí)要及時(shí)檢驗(yàn)，檢驗(yàn)時(shí)須戴防靜電腕帶。

2、引腳表面有氧化發(fā)黑時(shí)需做耐溫/可焊性試驗(yàn)進(jìn)行進(jìn)步確認(rèn)。

3、檢測(cè)時(shí);測(cè)量數(shù)據(jù)必須在規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍內(nèi)。

4、電容直徑》8mm，就必須有防爆槽裝置。

圖示

部品名稱陶瓷電容、獨(dú)石電容適用范圍所有的陶瓷電容、獨(dú)石電容

GB/T2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平H進(jìn)行（除特殊指定外）；

抽樣方案

AQL=0.01（CR）,AQL=1.0（Ma）,AQL=2.5（Mi）

檢驗(yàn)要求不合格品缺陷分類備注/

檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)內(nèi)容及要求

及工具CRMaMi抽樣水平

1、檢杳包裝外觀，應(yīng)無破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測(cè)★

2、包裝應(yīng)合理，有無按常規(guī)或指定材料包裝（以不傷物料本體

目測(cè)★

包裝/標(biāo)為原則）；

識(shí)3、包裝箱上應(yīng)有物料碼、廠家名稱、型號(hào)、生產(chǎn)日期等標(biāo)識(shí)；目測(cè)★

4、包裝內(nèi)實(shí)物應(yīng)與標(biāo)識(shí)內(nèi)容一致；目測(cè)★

5、有無環(huán)保標(biāo)識(shí)（GREENPRODUCT,RoSH、無鉛等）。目測(cè)★

1、引腳無氧化、無銹跡、無破損、無污物、無變形、無折斷，

目測(cè)★特殊S-2

與電容器本體結(jié)合牢固；

外觀

2、本體標(biāo)志內(nèi)容正確、完整、清晰，外觀應(yīng)無可見損傷，元件

目測(cè)★特殊S-2

上標(biāo)識(shí)的規(guī)格應(yīng)與規(guī)格書要求一致。

元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標(biāo)卡尺或試目測(cè)/

尺寸★特殊S-2

裝檢驗(yàn)其尺寸卡尺

LCR/漏電

參數(shù)檢測(cè)檢驗(yàn)電容容值是否在規(guī)格范圍內(nèi)。★特殊S-2

流測(cè)試儀

檢驗(yàn)步驟及內(nèi)容

1、對(duì)單：根據(jù)貨倉開出的IQC進(jìn)料檢驗(yàn)單，核實(shí)相應(yīng)型號(hào)和數(shù)量，再查找相應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)書。

2、抽樣：根據(jù)檢驗(yàn)項(xiàng)目，取待檢物料，準(zhǔn)備檢驗(yàn)工具/儀器，參照規(guī)格書進(jìn)行隨機(jī)抽樣檢驗(yàn)。

3、判定/標(biāo)識(shí)：將不良品標(biāo)識(shí)清楚并及時(shí)隔離，以物料檢驗(yàn)報(bào)告單的形式交由上級(jí)處理。

將PASS好的物料做好標(biāo)識(shí)放入指定區(qū)域，并做好相關(guān)記錄。

注意事項(xiàng)

1、物料送檢時(shí)要及時(shí)檢驗(yàn)，檢驗(yàn)時(shí)須戴防靜電腕帶。

2、引腳表面有氧化發(fā)黑時(shí)需做耐溫/可焊性試驗(yàn)進(jìn)行進(jìn)一步確認(rèn).

3、檢測(cè)時(shí)，測(cè)量數(shù)據(jù)必須在規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍內(nèi)。

4、也容自:隹空磯就必須仃防爆槽裝燈

圖示

陶瓷電容獨(dú)石電容

部品名稱電位器適用范圍各類封裝電位器

GB/T2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平H進(jìn)行（除特殊指定外）；

抽樣方案

AQL=0.01（CR）,AQL=1.0（Ma）,AQL=2.5（Mi）

檢驗(yàn)要求不合格品缺陷分類備注/

檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)內(nèi)容及要求

及工具CRMaMi抽樣水平

1、檢查包裝及料盤外觀，應(yīng)無破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測(cè)★

2、盤裝物料，編帶應(yīng)符合規(guī)格書要求，無變形、破損、脫膠等

目測(cè)★

包裝/標(biāo)現(xiàn)象；其余包裝以不傷物料本體為原則。

識(shí)3、包裝箱上應(yīng)有物料碼、廠家名稱、型號(hào)、生產(chǎn)日期等標(biāo)識(shí)；目測(cè)★

4、包裝內(nèi)實(shí)物應(yīng)與標(biāo)識(shí)內(nèi)容?致；目測(cè)★

5、有無環(huán)保標(biāo)識(shí)（GREENPRODUCTSRoSlk無鉛等）。目測(cè)★

1、檢查元件外觀是否有變形、裂紋、缺損、不良現(xiàn)象；目測(cè)★特殊S~2

外觀2、檢查元件端電極（引腳）鍍層是否完整，電極（引腳）表面目測(cè)/

★特殊S-2

應(yīng)平滑、氧化、臟污等不良現(xiàn)象；顯微鏡

3、元件上標(biāo)識(shí)的規(guī)格應(yīng)與規(guī)格書要求一致目測(cè)★特殊S-2

4、元件外觀不能有臟污；目測(cè)★特殊S-2

元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標(biāo)卡尺或試目測(cè)/

尺寸★特殊S-2

裝檢驗(yàn)其尺寸?？ǔ?/p>

參數(shù)檢測(cè)1,檢驗(yàn)標(biāo)稱限值是否在規(guī)格范圍內(nèi)萬用表★特殊S-2

2、旋轉(zhuǎn)旋鈕測(cè)試阻值是否成線性變換（不能有跳躍）萬用表★特殊S-2

檢驗(yàn)步驟及內(nèi)容

1、對(duì)單：根據(jù)貨倉開出的IQC進(jìn)料檢驗(yàn)單，核實(shí)相應(yīng)型號(hào)和數(shù)量，再查找相應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)書。

2、抽樣：根據(jù)檢驗(yàn)項(xiàng)目，取待檢物料，準(zhǔn)備檢驗(yàn)工具/儀器，參照規(guī)格書進(jìn)行隨機(jī)抽樣檢驗(yàn)。

3、判定/標(biāo)識(shí)：將不良品標(biāo)識(shí)清楚并及時(shí)隔離，以物料檢驗(yàn)報(bào)告單的形式交由上級(jí)處理。

將PASS好的物料做好標(biāo)識(shí)放入指定區(qū)域，并做好相關(guān)記錄。

注意事項(xiàng)

1、物料送檢時(shí)要及時(shí)檢驗(yàn)，檢物時(shí)須戴防靜電腕帶。

2、引腳表面有氧化發(fā)黑時(shí)需做耐溫/可焊性試驗(yàn)進(jìn)行進(jìn)一步確認(rèn).

3、檢測(cè)時(shí)，測(cè)量數(shù)據(jù)必須在規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍內(nèi)，

圖示

滑動(dòng)片接卻*

部品名稱三極管適用范圍各類封裝三極管

GB/T2828.1-2012正常檢杳一次抽樣方案，一般檢查水平11進(jìn)行（除特殊指定外）；

抽樣方案

AQL=0.01（CR）,AQL=1.0（Ma）,AQL=2.5（Mi）

檢驗(yàn)要求不合格品缺陷分類備注/

檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)內(nèi)容及要求

及工具CRMaMi抽樣水平

1、檢查包裝及料盤外觀，應(yīng)無破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測(cè)★

2、盤裝物料，編帶應(yīng)符合規(guī)格書要求，無變形、破損、脫膠等

目測(cè)★

包裝/標(biāo)現(xiàn)象；其余包裝以不傷物料本體為原則。

識(shí)3、包裝箱上應(yīng)有物料碼、廠家名稱、型號(hào)、生產(chǎn)日期等標(biāo)識(shí)；目測(cè)★

4、包裝內(nèi)實(shí)物應(yīng)與標(biāo)識(shí)內(nèi)容一-致：目測(cè)★

5、有無環(huán)保標(biāo)識(shí)（GREENPRODUCT,RoSH、無鉛等）。目測(cè)★

1、檢查元件外觀是否有變形、裂紋、缺損、不良現(xiàn)象；目測(cè)★特殊S-2

2、檢杳元件端電極（引腳）鍍層是否完整，電極（引腳）表面目測(cè)/

★特殊S-2

外觀應(yīng)平滑、氧化、臟污等不良現(xiàn)象；顯微鏡

3、元件上標(biāo)識(shí)的規(guī)格應(yīng)與規(guī)格書要求一致目測(cè)★特殊S-2

4、元件外觀不能有臟污：目測(cè)★特殊S-2

尺寸元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標(biāo)卡尺或試目測(cè)/★特殊S-2

___________裝檢驗(yàn)其尺寸。_________________________________________________________________________________________

參數(shù)檢測(cè)檢驗(yàn)引腳電極是否正確、放大倍數(shù)是否在規(guī)格范圍內(nèi)。萬用表★特殊S-2

檢驗(yàn)步驟及內(nèi)容

1、對(duì)單：根據(jù)貨倉開出的IQC進(jìn)料檢驗(yàn)單，核實(shí)相應(yīng)型號(hào)和數(shù)量，再查找相應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)書。

2、抽樣：根據(jù)檢驗(yàn)項(xiàng)目，取待檢物料，準(zhǔn)備檢驗(yàn)工具/儀器，參照規(guī)格書進(jìn)行隨機(jī)抽樣檢驗(yàn)。

3、判定/標(biāo)識(shí)：將不良品標(biāo)識(shí)清楚并及時(shí)隔離，以物料檢驗(yàn)報(bào)告單的形式交由上級(jí)處理。

將PASS好的物料做好標(biāo)識(shí)放入指定區(qū)域，并做好相關(guān)記錄。

注意事項(xiàng)

1、物料送檢時(shí)要及時(shí)檢驗(yàn)，檢驗(yàn)時(shí)須戴防靜電腕帶。

2、引腳表面有氧化發(fā)黑時(shí)需做耐溫/可焊性試驗(yàn)進(jìn)行進(jìn)一步確認(rèn)。

3、檢測(cè)時(shí)，測(cè)量數(shù)據(jù)必須在規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍內(nèi)。

圖示

部品名稱二極管適用范圍各類封裝二極管

GB/T2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平H進(jìn)行（除特殊指定外）;

抽樣方案

AQL=0.01（CR）,AQL=1.0（Ma）,AQL=2.5（Mi）

檢驗(yàn)要求不合格品缺陷分類備注/

檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)內(nèi)容及要求

及工具CRMaMi抽樣水平

1、檢查包裝及料盤外觀，應(yīng)無破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測(cè)★

2、盤裝物料，編帶應(yīng)符合規(guī)格書要求，無變形、破損、脫膠等

目測(cè)★

包裝/標(biāo)現(xiàn)象；其余包裝以不傷物料本體為原則。

識(shí)3、包裝箱上應(yīng)有物料碼、廠家名稱、型號(hào)、生產(chǎn)日期等標(biāo)識(shí)；目測(cè)★

4、包裝內(nèi)實(shí)物應(yīng)與標(biāo)識(shí)內(nèi)容一致；目測(cè)★

5、有無環(huán)保標(biāo)識(shí)（GREENPRODUCT、RoSH、無鉛等）。目測(cè)★

1、檢查元件外觀是否有變形、裂紋、缺損等不良現(xiàn)象；目測(cè)★特殊S-2

2、檢查元件端電極（引腳）鍍層是否完整，電極（引腳）表面目測(cè)/

★特殊S-2

外觀應(yīng)平滑、氧化、臟污等不良現(xiàn)象；顯微鏡

3、元件上標(biāo)識(shí)的規(guī)格應(yīng)與規(guī)格書要求一致目測(cè)★特殊S-2

4、元件外觀不能有臟污；目測(cè)★特殊S-2

元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標(biāo)K尺或試目測(cè)/

尺寸★特殊S-2

裝檢驗(yàn)其尺寸?？ǔ?/p>

參數(shù)、性檢驗(yàn)引腳電極是否正確、正向壓降是否在規(guī)格范圍內(nèi)（穩(wěn)壓管還晶體管測(cè)

★特殊S-2

能檢測(cè)需測(cè)試穩(wěn)壓值是否在規(guī)格范圍內(nèi)；發(fā)光二極管需檢驗(yàn)發(fā)光顏色是試儀

杳正確以及同一批亮度是否一致）。

檢驗(yàn)步驟及內(nèi)容

1、對(duì)單：根據(jù)貨倉開出的IQC進(jìn)料檢驗(yàn)單，核實(shí)相應(yīng)型號(hào)和數(shù)量，再查找相應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)書。

2、抽樣：根據(jù)檢驗(yàn)項(xiàng)目，取待檢物料，準(zhǔn)備檢驗(yàn)工具/儀器，參照規(guī)格書進(jìn)行隨機(jī)抽樣檢驗(yàn)。

3、判定/標(biāo)識(shí)：將不良品標(biāo)識(shí)清楚并及時(shí)隔離，以物料檢驗(yàn)報(bào)告單的形式交由上級(jí)處理。

將PASS好的物料做好標(biāo)識(shí)放入指定區(qū)域，并做好相關(guān)記錄。

注意事項(xiàng)

1、物料送檢時(shí)要及時(shí)檢驗(yàn)，檢驗(yàn)時(shí)須戴防靜電腕帶.

2、引腳表而有氧化發(fā)黑時(shí)需做耐溫/可焊性試驗(yàn)進(jìn)行進(jìn)一步確認(rèn)。

3、檢測(cè)時(shí);測(cè)量數(shù)據(jù)必須在規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍內(nèi)。

圖示

部品名稱三端穩(wěn)壓管適用范圍各類封裝三端穩(wěn)壓管

GB/T2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平H進(jìn)行（除特殊指定外）；

抽樣方案

AQL=0.01（CR）,AQL=1.0（Ma）,AQL=2.5（Mi）

檢驗(yàn)要求不合格品缺陷分類備注/

檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)內(nèi)容及要求

及工具CRMaMi抽樣水平

1、檢查包裝及料盤外觀，應(yīng)無破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測(cè)★

2、盤裝物料，編帶應(yīng)符合規(guī)格書要求，無變形、破損、脫膠等

目測(cè)★

包裝/標(biāo)現(xiàn)象；其余包裝以不傷物料本體為原則。

識(shí)3、包裝箱上應(yīng)有物料碼、廠家名稱、型號(hào)、生產(chǎn)日期等標(biāo)識(shí)；目測(cè)★

4、包裝內(nèi)實(shí)物應(yīng)與標(biāo)識(shí)內(nèi)容一致；目測(cè)★

5、有無環(huán)保標(biāo)識(shí)（GREENPRODUCT,RoSH、無鉛等）。目測(cè)★

1、檢查元件外觀是否有變形、裂紋、缺損等不良現(xiàn)象；目測(cè)★特殊S-2

2、檢查元件端電極（引腳）鍍層是否完整，電極（引腳）衣面目測(cè)/

★特殊S-2

外觀應(yīng)平滑、氧化、臟污等不良現(xiàn)象；顯微鏡

3、元件上標(biāo)識(shí)的規(guī)格應(yīng)與規(guī)格書要求致目測(cè)★特殊S-2

4、元件外觀不能有臟污；目測(cè)★特殊S-2

元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標(biāo)卡尺或試目測(cè)/

尺寸★特殊S-2

裝檢驗(yàn)其尺寸?？ǔ?/p>

參數(shù)、性在常溫下，穩(wěn)壓器輸入端加規(guī)定的直流電壓，然后用萬用表測(cè)出晶體管測(cè)

★特殊S-2

能檢測(cè)其輸出電壓，輸出電壓是否在規(guī)格范圍內(nèi)。試儀

檢驗(yàn)步驟及內(nèi)容

1、對(duì)單：根據(jù)貨倉開出的IQC進(jìn)料檢驗(yàn)單，核實(shí)相應(yīng)型號(hào)和數(shù)量，再查找相應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)書。

2、抽樣：根據(jù)檢驗(yàn)項(xiàng)目，取待檢物料一，準(zhǔn)備檢驗(yàn)工具/儀器，參照規(guī)格書進(jìn)行隨機(jī)抽樣檢驗(yàn)。

3、判定/標(biāo)識(shí)：將不良品標(biāo)識(shí)清楚并及時(shí)隔離，以物料檢驗(yàn)報(bào)告單的形式交由上級(jí)處理。

將PASS好的物料做好標(biāo)識(shí)放入指定區(qū)域，并做好相關(guān)記錄。

注意事項(xiàng)

1、物料送檢時(shí)要及時(shí)檢驗(yàn)，檢驗(yàn)時(shí)須戴防靜電腕帶.~

2、引腳表面有氧化發(fā)黑時(shí)需做耐溫/可焊性試驗(yàn)進(jìn)行進(jìn)一步確認(rèn)。

3、檢測(cè)時(shí)，測(cè)最數(shù)據(jù)必須在規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍內(nèi)。

圖示

部晶名稱壓敏電阻適用范圍各類封裝壓敏電阻

GB/T2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢杳水平H進(jìn)行（除特殊指定外）；

抽樣方案

AQL=0.01（CR）,AQL=1.0（Ma）,AQL=2.5（Mi）

檢驗(yàn)要求不合格品缺陷分類備注/

檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)內(nèi)容及要求

及工具CRMaMi抽樣水平

1、檢查包裝及料盤外觀，應(yīng)無破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測(cè)★

2、盤裝物料，編帶應(yīng)符合規(guī)格書要求，無變形、破損、脫膠等

目測(cè)★

包裝/標(biāo)現(xiàn)象；其余包裝以不傷物料本體為原則。

識(shí)3、包裝箱上應(yīng)有物料碼、廠家名稱、型號(hào)、生產(chǎn)日期等標(biāo)識(shí)；目測(cè)★

4、包裝內(nèi)實(shí)物應(yīng)與標(biāo)識(shí)內(nèi)容?致；目測(cè)★

5、有無環(huán)保標(biāo)識(shí)（GREENPRODUCT,RoSH、無鉛等）。目測(cè)★

1、檢查元件外觀是否有變形、裂紋、缺損等不良現(xiàn)象；目測(cè)★特殊S-2

2、檢查元件端電極（引腳）鍍層是否完整，電極（引腳）表面目測(cè)/

★特殊S-2

外觀應(yīng)平滑、氧化、臟污等不良現(xiàn)象；顯微鏡

3、元件上標(biāo)識(shí)的規(guī)格應(yīng)與規(guī)格書要求一致目測(cè)★特殊S-2

4、元件外觀不能有臟污；目測(cè)★特殊S-2

元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標(biāo)卡尺或試目測(cè)/

尺寸★特殊S-2

裝檢驗(yàn)其尺寸。卡尺

參數(shù)、性

萬用表測(cè)阻值，顯示阻值為無窮大，則壓敏電阻判定為良品。萬用表★特殊S-2

能檢測(cè)

檢驗(yàn)步驟及內(nèi)容

1、對(duì)單.：根據(jù)貨倉開出的IQC進(jìn)料檢驗(yàn)單，核實(shí)相應(yīng)型號(hào)和數(shù)量，再查找相應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)書。

2、抽樣：根據(jù)檢驗(yàn)項(xiàng)目，取待檢物料，準(zhǔn)備檢驗(yàn)工具/儀器，參照規(guī)格書進(jìn)行隨機(jī)抽樣檢驗(yàn)。

3、判定/標(biāo)識(shí)：將不良品標(biāo)識(shí)清楚并及時(shí)隔離，以物料檢驗(yàn)報(bào)告單的形式交由上級(jí)處理。

將PASS好的物料做好標(biāo)識(shí)放入指定區(qū)域，并做好相關(guān)記錄。

注意事項(xiàng)

1、物料送檢時(shí)要及時(shí)檢驗(yàn)，檢驗(yàn)時(shí)須戴防靜電腕帶.

2、引腳表面有氧化發(fā)黑時(shí)需做耐溫/可焊性試驗(yàn)進(jìn)行進(jìn)一步確認(rèn)。

3、檢測(cè)時(shí)，測(cè)量數(shù)據(jù)必須在規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍內(nèi)。

圖示

貼片壓敏電陰

娼希包裝。“

展差精度代號(hào)，N代表±54》K代表