電路板編修培訓(xùn)

主題:電路板維修電路板故障分析維修方式介紹ASA維修技術(shù)ICT維修技術(shù)傳統(tǒng)維修方式的障礙沒有線路圖,無從修起電路板太複雜,維修困難維修經(jīng)驗(yàn)及技術(shù)不足無法維修的死板,廢棄可惜送電中作動(dòng)態(tài)維修,危險(xiǎn)性極高傳統(tǒng)維修方式的障礙備份板太多,積壓資金送國(guó)外維修費(fèi)用高,維修時(shí)間長(zhǎng)對(duì)老化零件無從查起無法預(yù)先更換維修速度及效率無法提升,造成公司負(fù)擔(dān),客戶埋怨投資大量維修設(shè)備,操作複雜,績(jī)效不彰元件故障分佈統(tǒng)計(jì)圖態(tài)類比性故障：開路、短路、操作不當(dāng)導(dǎo)致故障,明顯破壞元件的VI特性接點(diǎn)不良：焊點(diǎn)裂化,介面接觸不良,介面接點(diǎn)氧化動(dòng)態(tài)故障：熱效應(yīng),時(shí)序問題,系統(tǒng)不穩(wěn)定元件功能異常:元件老化,元件劣化,偏離工作點(diǎn)其它：雜訊抑制能力差,高頻電路阻抗未匹配,電路設(shè)計(jì)不良接點(diǎn)不良動(dòng)態(tài)故障元件功能異常其它類比性故障維修市場(chǎng)的需求突破示波器,邏輯分析儀等操作困難之問題沒有經(jīng)驗(yàn)的新手亦能輕鬆做好維修工作需具備功能強(qiáng)大但操作簡(jiǎn)單之特點(diǎn)不需拆零件、不需電路圖、不需送電也能進(jìn)行維修電路板維修測(cè)試技術(shù)示波器/電表邏輯分析儀CPU/ROM模擬器BOARDFUNCTIONALTESTERSIN-CIRCUITMEASUREMENT(VI)IN-CIRCUITFUNCTIONALTESTERSASA靜態(tài)測(cè)試類比信號(hào)分析法,可以適用在所有種類的電路板,目前市場(chǎng)的維修主流ICT動(dòng)態(tài)測(cè)試電路板內(nèi)IC功能測(cè)試,可以解決ASA無法探索的IC內(nèi)部問題類比信號(hào)分析法(ASA)產(chǎn)生SINEWAVE

電壓信號(hào)取回測(cè)試端電流信號(hào)測(cè)試端顯示VI

阻抗特性曲線類比信號(hào)分析法(ASA)不同元件具有不同的VI特性阻抗好的元件與故障元件VI特性阻抗不同利用比較方式找出故障元件沒有線路圖也能維修維修速度快可靠性佳不需供給電源,靜態(tài)下測(cè)試非常安全,不會(huì)造成電路板二次破壞由於操作簡(jiǎn)單所以可以彌補(bǔ)維修若在經(jīng)驗(yàn)及技術(shù)上之不足亦可搭配治具在製程中做品管測(cè)試類比信號(hào)分析法

(ASA)可測(cè)試任何型式之電子元件操作簡(jiǎn)單,非專業(yè)人員也會(huì)操作,也可成為維修專家不須加電源至故障電路板,相當(dāng)安全投資費(fèi)用低,回收成本高任何特別元件均可檢查不須延伸板維修率達(dá)85%特點(diǎn)電阻(RESISTORS)電容和電感

(CAPALITORSANDINDUCTORS)電晶體

(TRANSISTORS)基極---射極之圖形與齊納二極體相似NPNTRANSISTORBASE-EMITTER基極---射極之圖形與傳統(tǒng)的二極體圖形相似NPNTRANSISTORBASE-COLLECTOR電晶體

(TRANSISTORS)基極---射極之圖形類似二極體再串聯(lián)一齊納二極體NPNTRANSISTOREMITTER-COLLECTOR電晶體

(TRANSISTORS)二極體SIGNALDIODE齊納二極體8.2V齊納二極體8.2VZENERDIODE齊納二極體鐵蕊變壓器一次測(cè)FERRITETRANSFORMERPRIMARYWINDING鐵蕊變壓器一次測(cè)鐵蕊變壓器一次測(cè)操作者可選擇範(fàn)圍檔中的LOW,MED等頻率檔作為適當(dāng)?shù)臏y(cè)試頻率。在電容器中,測(cè)過的電流愈高,流過的電流愈多,使得產(chǎn)生的圖形垂直部分較大;在電感器中,頻率愈低,流過電流愈多,使得產(chǎn)生的圖形水平部分較大。電阻二極體串聯(lián)電路中

二極體短路之故障IV洩漏電容IV

BUSSHORT

(JUNCTIONRANGE)IVIC匯流排短路A0～A7製程中LED接反IV開集極電容故障IVMDAFaults

提升電阻故障IVR當(dāng)連接在電路時(shí),此外部電路(電阻)提升此接腳至VCC0Vcc電路例題:電源供給電路此圖是電源供應(yīng)器電路的圖形,當(dāng)其測(cè)試變壓器二次側(cè)線圈所得圖形如下圖,其使用LOW和LOW頻率檔,圖形有迴圈的部份最主要乃由電容(C1)所造成。而橢圓形傾斜的斜率乃由電路二橿體的電阻所引起,而橢圓兩端的〝膝部形狀〞(KNEES)乃由橋式整流中二極體所造成。COMCHANNELAT1D4D3D1D2C1電源供給電路二次側(cè)好的圖形IV二次側(cè)D3短路時(shí)之圖形IV串聯(lián)電路電阻電容二極體電容並聯(lián)電路REF227nFDUT2K2ASA測(cè)試器ASA測(cè)試器並聯(lián)電路DUTREFDUTREFDUTREFJunctionrangedev38%圖2cLogicrangedev20%圖2bLowrangedev4%圖2a如果沒有好的電路板該怎麼辦?配合測(cè)試治具及電腦存檔能力發(fā)揮最大功效不需準(zhǔn)備好的電路板儲(chǔ)存好的電路板之所設(shè)定參數(shù)及資料檔案可附加輔助說明儲(chǔ)存ASA及ICT之測(cè)試結(jié)果之信號(hào)可建立測(cè)試結(jié)果及報(bào)告利用PC控制的優(yōu)點(diǎn)Board-Learning的優(yōu)點(diǎn)建立備品板資料庫解決原廠電路板更新版本所造成的困擾以備品板資料庫與待測(cè)電路板做比較,因此能大幅提高維修率大幅降低準(zhǔn)備備品板所需成本電路板內(nèi)元件功能測(cè)試法

(In-Circuit-Functional-Tester)In-Circuit-Functional-Tester輸入端輸入預(yù)設(shè)的信號(hào)或波形判斷輸出端的輸出信號(hào)是否正確不需電路圖也可維修不需好的電路板也可維修動(dòng)態(tài)測(cè)試,可測(cè)出IC內(nèi)部是否正常BACKDRIVING當(dāng)送一TESTPATTERN，給待測(cè)IC的輸入端，強(qiáng)迫至所要的邏輯狀態(tài)，且蓋過此IC原有的靜態(tài)邏輯狀態(tài),此種技術(shù)稱為BACKDRIVING強(qiáng)迫LOWTOHIGHIsink電流在LowtoHigh時(shí),有一大電流流經(jīng)地線Isink驅(qū)動(dòng)LOWTOHIGHQ3Q2VccQ1強(qiáng)迫HIGHTOLOWIsource電流流經(jīng)Q2集極負(fù)載,限制了電流流過驅(qū)動(dòng)HIGHTOLOWQ3Q2VccQ1熱Isource數(shù)位IC測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)INTDEFSTAN00-53/1SectionOneGeneralSectionTwoguidetoIn-CircuitTestingSectionThreeBackdrivingLimits目的：1.避免nodeforcingtechniques錯(cuò)誤使用造成數(shù)位元件損壞2.提醒一些潛在問題，提供解決方法GUARD技術(shù)測(cè)試U1時(shí)，可對(duì)U2，U3，U4做Guarding動(dòng)作，使U2，U3

，U4不動(dòng)作，而不會(huì)影響U1之測(cè)試U462256SRA