晶體光學(xué)及光性礦物學(xué)：課程總結(jié)

晶體光學(xué)課程總結(jié)第一章晶體光學(xué)基礎(chǔ)

光——橫波,振動(dòng)特點(diǎn)可見光、自然光、偏振光2.光在晶體中傳播的特點(diǎn)

均質(zhì)體：各向同性

非均質(zhì)體：各向異性-雙折射（率）、光軸、一軸晶、二軸晶

3.光率體——一個(gè)假想的立體模型基本概念光率體、光學(xué)主軸(主折射率、最大雙折射率)、光軸、主軸面、光軸面

、圓切面2)主要類型：均質(zhì)體；一軸晶；二軸晶

:(1)形態(tài)

(2)主要切面類型、特點(diǎn)、應(yīng)用一軸晶:3種:平行C,垂直C,斜交C;

二軸晶:5種:垂直Bxa,垂直O(jiān)A,

平行AP,

垂直Bxo,斜交(3)光性符號:正光性、負(fù)光性4.光性方位——（結(jié)晶軸—主軸關(guān)系）

中級晶族低級晶族斜方晶系單斜晶系三斜晶系

第二章偏光顯微鏡

1.物鏡中心的校正

2.上下偏光是否正交的檢查

3.單偏光系統(tǒng)、正交偏光系統(tǒng)、和錐光系統(tǒng)的構(gòu)成

第三章單偏光鏡下晶體光學(xué)性質(zhì)

1.形態(tài)、解理切面的組合;解理的等級、組數(shù)、夾角

2.顏色、多色性、吸收性選擇吸收:方向性-色調(diào)濃度

3.突起等級-六個(gè)等級判別標(biāo)志:邊緣、貝克線、糙面

4.閃突起-方向性變化

5.主要光學(xué)性質(zhì)的測定與觀察（方法）

（1）.解理夾角的測定(附后)

要點(diǎn):切面的選擇

（2）.突起等級的觀察要點(diǎn):邊緣、貝克線、糙面

附解理夾角的測定方法切片方向的選擇選擇同時(shí)垂直兩組解理面的切片.

特征是兩組解理縫最細(xì)最清楚,當(dāng)解理縫平行目鏡十字絲時(shí),微微升降鏡筒,兩組解理縫不左右移動(dòng).ACBDEHFGK=60＞60＜60不同方向解理夾角變化示意圖2.解理夾角的測定步驟（1）選擇顆粒,置于視域心.（2）轉(zhuǎn)動(dòng)物臺(tái)使一組解理縫平行目鏡十字絲縱絲

(圖A),讀取此時(shí)載物臺(tái)刻度盤上的度數(shù)a.（3）再轉(zhuǎn)動(dòng)物臺(tái)，使另一組解理縫平行目鏡十字絲縱絲，讀取此時(shí)載物臺(tái)刻度盤上的度數(shù)b(圖B),a與b之差即為所測解理夾角.(四).解理夾角的測定圖A圖B

第四章正交偏光鏡下晶體光學(xué)性質(zhì)

消光(現(xiàn)象:黑暗)

永久消光(圓切面)、四次消光(其余切面)、消光位、消光類型、消光角2.干涉(現(xiàn)象:明亮)

干涉色、干涉色級序、干涉色色序

補(bǔ)色法則:45o位兩礦片重疊、消色3.主要光學(xué)性質(zhì)的測定與觀察

1.光率體橢圓半徑名稱(軸名)的測定(附后)

要點(diǎn):消光位--45o位—R(增減)2.干涉色級序的測定要點(diǎn):消色位

3.最大雙折射率的測定要點(diǎn):最高干涉色

4.消光類型的觀察要點(diǎn):光性方位5.消光角及延性符號的測定（重點(diǎn)）要點(diǎn):C

Ng；Np′

（010）

消光位加入試板干涉色升高同名平行P轉(zhuǎn)物臺(tái)45°加入試板干涉色降低異名平行PPPPPAPPA光率體橢圓半徑名稱測定45°90°(1)(2)(3)用石英楔測定干涉色級序示意圖

Ng∥縱絲（α1）解理縫∥縱絲（α2）消光位a45°b1c1dc2定軸名45°b2單斜輝石或角閃石消光角的測定步驟示意圖A消光位B正延性C負(fù)延性

干涉色升高

干涉色降低晶體延性符號測定步驟示意圖

第五章錐光鏡下晶體光學(xué)性質(zhì)

基本概念

干涉圖、閃圖、光軸角(2V)、光性符號2.一軸晶干涉圖

1)垂直C軸:黑十字+色環(huán)(轉(zhuǎn)物臺(tái)不變化)

應(yīng)用:定切面(No),測光性

2)平行C軸:模糊黑十字(轉(zhuǎn)物臺(tái)對稱干涉色)

應(yīng)用:No,Ne;測光性

3)小斜交C軸:黑十字+色環(huán)(不完整)

應(yīng)用:定切面(No,Ne’),測光性

2二軸晶干涉圖

1)垂直Bxa:黑十字+∞形色環(huán)(隨物臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)而轉(zhuǎn)動(dòng))

應(yīng)用:定切面,測光性,測2V2)垂直O(jiān)A:是垂直Bxa圖象的一半應(yīng)用:定切面(Nm),測光性,測2V

3)小斜交OA:是垂直O(jiān)A圖象的一部分應(yīng)用:定切面,測光性

4)平行AP:粗大模糊黑十字(轉(zhuǎn)物臺(tái)對稱干涉色)

應(yīng)用:定Bxa、Bxo,測光性

5)垂直Bxo:模糊黑十字(轉(zhuǎn)物臺(tái)對稱干涉色)

應(yīng)用:少鑒別軸性、切片類型、測定光性符號、測定No的折射率或No的顏色。一軸晶垂直光軸切面干涉圖的應(yīng)用一軸晶垂直光軸切面光性符號測定示意圖C（-）A.Ne’和No的方位NoNe′升Ne′No升NoNe′降Ne′No降B（+）NoNe′升Ne′No升NoNe′降Ne′No降NoNe′Ne′NoNoNe′Ne′No利用垂直Bxa切片干涉圖測定光性符號示意圖Bxa=Ng（+）Bxa=Np（-）Nm銳角區(qū)鈍角區(qū)鈍角區(qū)NmNpNmNg光性符號測定方法0°AP光軸AP光軸90°45°AP銳角區(qū)光軸135°AP銳角區(qū)光軸垂直一個(gè)光軸切面干涉圖ABCD(1).確定軸性及切片類型