晶體光學(xué)及光性礦物學(xué)：課程總結(jié)

晶體光學(xué)課程總結(jié)第一章晶體光學(xué)基礎(chǔ)

光——橫波,振動特點可見光、自然光、偏振光2.光在晶體中傳播的特點

均質(zhì)體：各向同性

非均質(zhì)體：各向異性-雙折射（率）、光軸、一軸晶、二軸晶

3.光率體——一個假想的立體模型基本概念光率體、光學(xué)主軸(主折射率、最大雙折射率)、光軸、主軸面、光軸面

、圓切面2)主要類型：均質(zhì)體；一軸晶；二軸晶

:(1)形態(tài)

(2)主要切面類型、特點、應(yīng)用一軸晶:3種:平行C,垂直C,斜交C;

二軸晶:5種:垂直Bxa,垂直O(jiān)A,

平行AP,

垂直Bxo,斜交(3)光性符號:正光性、負光性4.光性方位——（結(jié)晶軸—主軸關(guān)系）

中級晶族低級晶族斜方晶系單斜晶系三斜晶系

第二章偏光顯微鏡

1.物鏡中心的校正

2.上下偏光是否正交的檢查

3.單偏光系統(tǒng)、正交偏光系統(tǒng)、和錐光系統(tǒng)的構(gòu)成

第三章單偏光鏡下晶體光學(xué)性質(zhì)

1.形態(tài)、解理切面的組合;解理的等級、組數(shù)、夾角

2.顏色、多色性、吸收性選擇吸收:方向性-色調(diào)濃度

3.突起等級-六個等級判別標(biāo)志:邊緣、貝克線、糙面

4.閃突起-方向性變化

5.主要光學(xué)性質(zhì)的測定與觀察（方法）

（1）.解理夾角的測定(附后)

要點:切面的選擇

（2）.突起等級的觀察要點:邊緣、貝克線、糙面

附解理夾角的測定方法切片方向的選擇選擇同時垂直兩組解理面的切片.

特征是兩組解理縫最細最清楚,當(dāng)解理縫平行目鏡十字絲時,微微升降鏡筒,兩組解理縫不左右移動.ACBDEHFGK=60＞60＜60不同方向解理夾角變化示意圖2.解理夾角的測定步驟（1）選擇顆粒,置于視域心.（2）轉(zhuǎn)動物臺使一組解理縫平行目鏡十字絲縱絲

(圖A),讀取此時載物臺刻度盤上的度數(shù)a.（3）再轉(zhuǎn)動物臺，使另一組解理縫平行目鏡十字絲縱絲，讀取此時載物臺刻度盤上的度數(shù)b(圖B),a與b之差即為所測解理夾角.(四).解理夾角的測定圖A圖B

第四章正交偏光鏡下晶體光學(xué)性質(zhì)

消光(現(xiàn)象:黑暗)

永久消光(圓切面)、四次消光(其余切面)、消光位、消光類型、消光角2.干涉(現(xiàn)象:明亮)

干涉色、干涉色級序、干涉色色序

補色法則:45o位兩礦片重疊、消色3.主要光學(xué)性質(zhì)的測定與觀察

1.光率體橢圓半徑名稱(軸名)的測定(附后)

要點:消光位--45o位—R(增減)2.干涉色級序的測定要點:消色位

3.最大雙折射率的測定要點:最高干涉色

4.消光類型的觀察要點:光性方位5.消光角及延性符號的測定（重點）要點:C

Ng；Np′

（010）

消光位加入試板干涉色升高同名平行P轉(zhuǎn)物臺45°加入試板干涉色降低異名平行PPPPPAPPA光率體橢圓半徑名稱測定45°90°(1)(2)(3)用石英楔測定干涉色級序示意圖

Ng∥縱絲（α1）解理縫∥縱絲（α2）消光位a45°b1c1dc2定軸名45°b2單斜輝石或角閃石消光角的測定步驟示意圖A消光位B正延性C負延性

干涉色升高

干涉色降低晶體延性符號測定步驟示意圖

第五章錐光鏡下晶體光學(xué)性質(zhì)

基本概念

干涉圖、閃圖、光軸角(2V)、光性符號2.一軸晶干涉圖

1)垂直C軸:黑十字+色環(huán)(轉(zhuǎn)物臺不變化)

應(yīng)用:定切面(No),測光性

2)平行C軸:模糊黑十字(轉(zhuǎn)物臺對稱干涉色)

應(yīng)用:No,Ne;測光性

3)小斜交C軸:黑十字+色環(huán)(不完整)

應(yīng)用:定切面(No,Ne’),測光性

2二軸晶干涉圖

1)垂直Bxa:黑十字+∞形色環(huán)(隨物臺轉(zhuǎn)動而轉(zhuǎn)動)

應(yīng)用:定切面,測光性,測2V2)垂直O(jiān)A:是垂直Bxa圖象的一半應(yīng)用:定切面(Nm),測光性,測2V

3)小斜交OA:是垂直O(jiān)A圖象的一部分應(yīng)用:定切面,測光性

4)平行AP:粗大模糊黑十字(轉(zhuǎn)物臺對稱干涉色)

應(yīng)用:定Bxa、Bxo,測光性

5)垂直Bxo:模糊黑十字(轉(zhuǎn)物臺對稱干涉色)

應(yīng)用:少鑒別軸性、切片類型、測定光性符號、測定No的折射率或No的顏色。一軸晶垂直光軸切面干涉圖的應(yīng)用一軸晶垂直光軸切面光性符號測定示意圖C（-）A.Ne’和No的方位NoNe′升Ne′No升NoNe′降Ne′No降B（+）NoNe′升Ne′No升NoNe′降Ne′No降NoNe′Ne′NoNoNe′Ne′No利用垂直Bxa切片干涉圖測定光性符號示意圖Bxa=Ng（+）Bxa=Np（-）Nm銳角區(qū)鈍角區(qū)鈍角區(qū)NmNpNmNg光性符號測定方法0°AP光軸AP光軸90°45°AP銳角區(qū)光軸135°AP銳角區(qū)光軸垂直一個光軸切面干涉圖ABCD(1).確定軸性及切片類型