HS600產(chǎn)品操作手冊

1、超聲波檢測儀HS600操作手冊儀器校準(zhǔn)由于儀器必須與探頭結(jié)合起來使用才能成為完整的探傷系統(tǒng)，而不同的探傷對象和環(huán)境又需要使用不同的 探頭，因此對探傷系統(tǒng)的校準(zhǔn)是保證探傷結(jié)果真實有效的必要工作。探傷系統(tǒng)的校準(zhǔn)主要包括以下幾個重要參數(shù)：零偏（探頭延遲）：由于壓電晶片非常脆弱，不能直接與工件接觸摩擦，因此在晶片前面都有保護晶片的保護膜或者楔塊，而零偏就是指超聲束在保護膜或楔塊中的傳播時間。聲速：數(shù)字式探傷儀都通過儀器測量出超聲波從發(fā)射開始到反射回來的時間，然后再乘以工件內(nèi)部的聲速,來對回波定位，因此，精確的測量工件內(nèi)部超聲波傳播速度，是對缺陷定位的重要參數(shù)。入射點（前沿）：對于斜探頭而言，由于聲束是

2、傾斜入射，因此還需測量出主聲軸入射到工作表面的交點 到探頭前端的距離，也稱為前沿，測出前沿距離后，在斜探頭探傷過程中測量缺陷水平距離時，就可以直 接從探頭前端開始定位。折射角（K值）：對于斜探頭而言，由于聲束是傾斜入射，又由于楔塊與工件的聲束差異較大，因此入射 角與傾斜角差距較大，而斜探頭對缺陷定位主要是通過聲程、水平、深度三個座標(biāo)的三角關(guān)系還計算得出， 因此測定聲束折射角對斜探頭探傷定位是最重要的因素之一。在國內(nèi)由于早期都是以模擬儀器為主，因此 習(xí)慣用折射角的正切值來表示，俗稱K值也就是水平與深度的比值。AVG曲線（DGS、D AC） : A V G曲線是描述反射的距離、波幅及當(dāng)量之間關(guān)系的

3、曲線，主要用于 根據(jù)缺陷反射回波的時間和波幅來確定缺陷的當(dāng)量大小，是探傷時對缺陷定量的有效手段。選才? HS600型探傷儀的接收系統(tǒng)狀態(tài)探傷儀的接收系統(tǒng)所處的狀態(tài)的不同組合適用于不同的檢測任務(wù)。對于特定的要求，選取某種狀態(tài)組合， 將起優(yōu)化回波波形，改善信噪比，獲得較好的近場分辨力或最佳的靈敏度余量的作用。在儀器校準(zhǔn)前，可 選擇最佳組合的接收系統(tǒng)，以提高儀器的校準(zhǔn)精度。工作方式選擇：本機設(shè)有自發(fā)自收和一發(fā)一收兩種工作方式，分別適用于單晶和雙晶探頭的使用，用戶可根據(jù)所使用的探頭來進(jìn)行設(shè)置相應(yīng)的工作方式。圖標(biāo)耳工對應(yīng)單發(fā)單收， 口P 對應(yīng)一發(fā)一收。操作：按叵I,進(jìn)入?yún)?shù)列表。按3鍵，將光標(biāo)移動到工作

4、方式欄,如圖*工作方式切換選擇所需的工作方式。叵鍵返回探傷界面2調(diào)校功能直探頭調(diào)校直探頭縱波入射零點自動校準(zhǔn)快捷調(diào)校模式（主要針對于 CSK-I A試塊）對于縱波直探頭接觸法測量在常規(guī)探傷儀中一般來講沒有強調(diào)零偏控制，只要將始脈沖對準(zhǔn)顯示格柵的左邊線，任何零偏均忽略不計，這在大多數(shù)情況下是可以接受的。但對于具有保護膜或保護靴的接觸式探頭， 由于保護元件中的時間延遲，可能有很大的零偏值，而影響距離的精確測定。為了方便用戶，同時也充分發(fā)揮數(shù)字式探傷儀的程序控制和數(shù)據(jù)處理能力，由儀器自動實現(xiàn)自動校準(zhǔn)操作由于CSK-I A試塊的使用相對較為普遍，我公司在HS600型的數(shù)字式超聲波探傷儀中專門添加了針對

5、于使用CSK-I A試塊進(jìn)行調(diào)校的快捷調(diào)校模式，該調(diào)校模式使儀器調(diào)校過程更加簡單、快捷，下面先對此調(diào)校 模式作詳細(xì)的介紹：下面以C S K I A試塊為例，介紹直探頭縱波入射零點的自動校準(zhǔn)。口 ；一25CSK - A20準(zhǔn)備：首先將需使用的直探頭與儀器連接，平放C S K- I A試塊并將探頭放置在試塊C S K- I A上,探頭放置方式如圖。操作：按通道鍵，再按丘3叵£鍵，選擇任意直探頭通道，按 叵9鍵進(jìn)入?yún)?shù)列表，光標(biāo)處于“試塊選擇.淇它試塊” 一欄，由于使用的測試試塊為CSK- I A試塊，所以按 叵）鍵將試塊選擇欄改為“試塊選擇CSK- I A”。按照所選探頭的相關(guān)參數(shù)依次輸

6、入?yún)?shù)。例：按三鍵將光標(biāo)移至懈頭頻率欄隼M9鍵進(jìn)入數(shù) 字輸入狀態(tài)，使用V2但£）鍵將數(shù)字輸入，再按叵1依照上述步驟，將其它數(shù)據(jù)依次輸入。參數(shù) 輸入完畢后按叵）退出參數(shù)列表按1闿熱鍵，進(jìn)入自動校準(zhǔn)功能，此時，回波顯示區(qū)的右上角顯示“自動校準(zhǔn)”的字樣。兩閘門自動鎖定在C S K- I A試塊二次波（50mm）和四次波（100mm）位置，如圖所示。 將探頭放置在C S K- I A試塊上深度為25mm位置，觀測屏幕上回波顯示位置，如有波形超出滿刻度，則按理建,此時波形會下降到滿刻度80% （該幅度可自行設(shè)定），當(dāng)屏幕上兩底面反射回波均出現(xiàn)在屏幕以內(nèi)后，按 叵）鍵，儀器開始自動校準(zhǔn)，此時按住

7、探頭不動，直至自動校準(zhǔn)完畢校準(zhǔn)完之后，滾動出一個提示信息?！白詣有?zhǔn)完畢！ ” ，如圖所示。然后屏幕下方顯示 “是否重校"（按叵）鍵重校，其它鍵退出?。┳詣有?zhǔn)完畢當(dāng)由于其他原因而導(dǎo)致校準(zhǔn)不出來的話，就會有相關(guān)的信息提示，如： “閘門未鎖定波，無法校準(zhǔn)！ ！”直探頭入射點自動調(diào)?；静僮鞑襟E（使用非CSK-I A試塊調(diào)校時操作步驟）操作：按通道鍵，再按顯示區(qū)的右上角顯示“自動校準(zhǔn)”鍵，選擇任意直探頭通道，按 Hl鍵，進(jìn)入自動校準(zhǔn)功能，此時，回波的字樣。并且依次滾動出下面的相關(guān)校準(zhǔn)參數(shù)：請輸入材料聲速:5940 m/s請輸入起始距離：50請輸入終止距離：200 mm、/ 鍵改為 100

8、mm ,提示信息消失，進(jìn)入波形采樣階段將探頭放置在CSK-I A試塊上厚度100mm的位置，如圖所示:此時儀器將自動調(diào)節(jié)零此時屏幕上出現(xiàn)試塊的一次和二次回波，輕輕移動探頭找出最高回波，按鍵,重復(fù)上述操作偏直到一次波對齊 100mm位置，且二次波對齊 200mm位置后，儀器調(diào)準(zhǔn)結(jié)束，并自動彈出自動校準(zhǔn)完畢 的提示。如下圖!1 ;：自動校直探頭i-1ihl1BFF1a a a n j lai J«抑制期噌益口 25. 3dB+0.01-1 LI1 100. 平20000自自動校唯完畢！早范國2 0. Onnm/ D零 0.5(偏3 US聲速 5340n/sK值 口.00圖 A2-2*注：

9、校準(zhǔn)過后，探頭的入射零點和聲速將自動存入儀器中，若重新調(diào)?？稍侔匆淮?即可。已校準(zhǔn)過儀器重新調(diào)校的時候儀器會給出“已校準(zhǔn)過，是否重新調(diào)?！卑簇螴新開始調(diào)校過程，按其它鍵退出不重新調(diào)校!雙晶直探頭的調(diào)校開機后按建遜韭入探傷參數(shù)列表，轉(zhuǎn)動旋鈕到工作方式欄，按確認(rèn)鍵將工作方式改為雙晶工作模式 呼。 按參數(shù)鍵退出。返回到波形顯示界面下，按調(diào)校鍵，再按聲速對應(yīng)的(2)鍵，此時儀器上彈出提示:轉(zhuǎn)動旋鈕，將該數(shù)值改為用來調(diào)校的試塊厚度，例如, 值改為18,然后按確認(rèn)。將探頭放在試塊上，然后按調(diào)校鍵，再按零偏對應(yīng)的請輸入校準(zhǔn)距離50mm用階梯試塊的18mm大平底還調(diào)校的話，就將該數(shù)鍵,再按左方向鍵調(diào)整零偏，直

10、到試塊上大平底的一次回波對齊屏幕上的第五格線，完成后，按閘門鍵進(jìn)入探傷狀態(tài)。（注由于雙晶探楔塊較普通直探 頭要厚，傳播時間長，因此有可能一次回波不在屏幕內(nèi)，但是通過調(diào)零偏都可移到屏幕內(nèi)顯示）直探頭AVG曲線制作本儀器中給用戶提供 AVG曲線鑄鍛件探傷功能，用戶可根據(jù)探傷范圍制作出相應(yīng)長度的AVG曲線，作了曲線后，儀器能根據(jù)缺陷波和曲線之間的關(guān)系自動算出缺陷的當(dāng)量直徑即缺陷值。制作AVG曲線有多種方法，本機內(nèi)根據(jù)波形采樣對象的不同分為大平底采樣和平底孔采樣，根據(jù)探測距離不同分為單點法和多點法大平底采樣：此方法可用于缺少標(biāo)準(zhǔn)試塊或只有現(xiàn)場實物采樣時使用，只需找出試塊或?qū)嵨锏拇笃降追瓷浠夭ㄗ鳛椴蓸狱c

11、即可制作 AVG曲線。平底孔采樣：此方法適用于試塊齊全， 有標(biāo)準(zhǔn)平底孔的用戶制作 ，以相同大小不同深度的平底孔來采樣制作。單點法：此方法可采樣一個標(biāo)準(zhǔn)平底孔回波，根據(jù)平底孔計算公式儀器繪制出整條曲線，但僅適用于探測范圍大于三倍近場的探傷工作。多點法：此方法是利用多個平底孔或大平底試塊反射回波采樣制作曲線，由于是實物采樣因此可適用于探測范圍在三倍近場區(qū)以內(nèi)的探傷工作。下面以大平底多點法和平底孔單點法為例，講述直探頭AVG曲線的制作流程。1） .大平底多點法準(zhǔn)備若干厚度不同的大平底試塊或?qū)嵨镌噳K。按出現(xiàn)提示：HED鍵，進(jìn)入曲線功能，按制作對國的請選擇制作對象：大平底請選擇曲線制作方法：多點法儀器提

12、示：請使用閘門鎖定測試點！提示信息消失后進(jìn)入波形采樣階段。如圖調(diào)整刪除大平底試塊閘門移位35.距離補償OFF屏幕右上角顯示“測試點：01”并閃動，將探頭放在其中一個大平底試塊上,鍵移動閘門套住一次回波，按將波形調(diào)整到滿屏的80%高度，按I足 .鎖定回波峰值,按結(jié)束該點的采樣。此時屏幕右上角的提示變?yōu)椤皽y試點:02”并閃動，如圖：測試點英通道01抑制OOXeo20 0. 0太平底試塊增益QJ27. 3dB ±0. 0閘門移位 SQ.Oimn11除距離補償OFFJ將波形調(diào)整到滿屏的80%高度，按叵la入探傷列表，按鍵將方塊光標(biāo)移動到曲線值欄，按叵D進(jìn)入曲線設(shè)置，此處根據(jù)需要可設(shè)置三條值曲

13、線。例如，探傷時以4 mm為探傷標(biāo)準(zhǔn)，則按 叵4進(jìn)入曲線值輸入，按鍵將初始彳t改為 4 mm，再按如圖。探飭參數(shù)*曲或S值0mil曲坡必值0mm曲線中宿0nun表面補償0而里值值償線線線面白白曲毛4ntrn0tntii0inti)0dB按回探傷界面，可看到屏幕上出現(xiàn)一條相應(yīng)的4曲線，按鍵，再按鍵將曲按照上述方法，將探頭依次放在每個試塊上找出大平底的最強反射并用閘門套住一次回波, 鎖定回波峰值，按 叵結(jié)束該點的采樣。最后一點采樣完成后，再按儀器出現(xiàn)提示：確定完成曲線嗎按次叵9結(jié)束曲線制作，按其它任意鍵返回繼續(xù)制作曲線。確定結(jié) 束后，將繪制出整條曲線。在制作曲線過程中若對上一個采樣點重新制作可按屏

14、幕下方調(diào)整欄對畫 刪除上一個記錄的采樣點重新采樣。曲線完成后將得到一個大平底曲線，在探傷過程中根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)可以在儀器中設(shè)置一條值曲線，操作如下:線調(diào)整到合適的高度，即可進(jìn)行探傷，探傷過程中發(fā)了缺陷波，儀器不僅能顯示出缺陷的深度還能根據(jù)波 形與曲線的相對關(guān)系算出該缺陷的當(dāng)量值。JIjM ：oi1 憫 DOS 增益51 27. 3dB ±0.0i ion. o中6 42范 120.00imia/D閘門移位:£53 mtn動態(tài)范圍2）.平底孔單點法下面以CS-1-5試塊為例，講述平底孔單點法曲線制作，將探頭放置在CS-1-5標(biāo)準(zhǔn)試塊上找出2平底孔回波，按便©鍵，進(jìn)入功能選擇

15、狀態(tài)，進(jìn)入曲線功能，按制作鄧更|儀器下方出現(xiàn)提示：請選擇制作對象：大平底 請輸入所測平底孔直徑：2請選擇曲線制作方法：多點法 請輸入探頭晶片直徑：20請輸入曲線長度：400 mm（*注由于是單點制作，所以曲線長度由用戶根據(jù)探傷需要自行輸入，但必須大于探頭的四倍近場區(qū)距離。 若用戶輸入的長度小于四倍近場區(qū)距離，儀器會提示： 曲線長度必須大于四倍近場區(qū)mm閘門移位13S. 2 mm調(diào)整B1除距離補償 OFF后面的數(shù)字表示該探頭的四倍近場區(qū)的實際距離。） 儀器提示：請使用閘門鎖定測試點！提示信息消失后進(jìn)入波形采樣階段。如圖一百移動探頭來回尋找 2孔的最高回波，按將波形調(diào)整到滿屏的 80%高度，按I上

16、工.鎖定回波峰值，確定最高回波后按 叵1儀器就自動繪制成一條長度為400 mm的2當(dāng)量曲線，儀器自動計算近場區(qū)，三倍近場區(qū)以前區(qū)域拉為直線。如下圖所示：動態(tài)回放循 1jUJOOiEiiiuIi閘 門阿門移位353 mm值的曲線，操作方法與上面相同探傷時也可根據(jù)需要在參數(shù)列表的曲線設(shè)置中將這條線設(shè)為其它斜探頭橫波自動校準(zhǔn)對于橫波斜探頭接觸法檢測而言，在執(zhí)行任何檢測任務(wù)前做距離校準(zhǔn)是必不可少的程序。商用斜探頭的類型眾多，結(jié)構(gòu)尺寸各異，對不同的檢測對象要求的K值不同，因而在楔塊中的聲程的大小也不一樣，即對每個橫波斜探頭都要測量它的入射點，確定零偏值。斜探頭在使用過程中隨著楔塊的磨損，經(jīng)過一段使用后也

17、要重新校準(zhǔn)。斜探頭橫波快捷調(diào)校模式（主要針對于CSK-I A試塊）200下面以CSK-I A標(biāo)準(zhǔn)試塊為例如圖所示，介紹斜探頭的快捷調(diào)校步驟。 將探頭與儀器連接好，如上圖所示將探頭放置在CSK- I A試塊上按通道鍵，再按鍵，選擇任意斜探頭通道。進(jìn)行自動校準(zhǔn)按回J熱鍵進(jìn)入自動校準(zhǔn)功能，屏幕右上角顯示“自動校準(zhǔn)”字樣且兩閘門自動套在CSQ I A試塊50mm和100mm圓弧的反射波。 將斜探頭放置在 CSK-I A試塊的R50和R100的圓心處，來回移動探頭，直到R50和R100的反射回波同時出現(xiàn)在波形顯示區(qū)內(nèi)。此時首先尋找 R100弧面最高反射回波，（如果波形不在屏幕內(nèi)時可按零咂”的3鍵，按VS

18、E?）鍵將波形移動到屏幕內(nèi)，當(dāng)回波高度超出滿刻度時可按 解鍵,反復(fù)上述直 至確定最高反射波，此時看 R50弧面的回波是否在屏幕上高于10%。若低于此高度，可將探頭平行地向R50的弧面橫向移動，直至 R50的弧面回波高度在滿刻度的 10%以上。 再按叵J鍵開始自動校準(zhǔn)。校準(zhǔn)完之后，滾動出一個提示信息?！白詣有?zhǔn)完畢！”當(dāng)由于其他原因而導(dǎo)致校準(zhǔn)不出來的話，就會有相關(guān)的信息提示，如：“閘門未鎖定波，無法校準(zhǔn)！ ！”完畢后屏幕上顯示 “請用鋼尺測前沿：”，此時手應(yīng)固定探頭不動，用鋼尺測量探頭前端到CSK- 1A試塊R100端邊的距離X,然后用100-X所得到的數(shù)值就是探頭的前沿值。如圖所示“請用鋼尺測

19、前沿:用錮尺量 出探頭市 然到 瑞迫之間 的匹寓Xn鍵重校，按其它鍵自動跳到下一步驟,鍵前沿修改完畢，儀器下方提示“是否重?！卑碖值測試狀態(tài)。K值測試快捷操作模式（主要針對于CSK-I A試塊）K值測試狀態(tài)，屏 在試塊選擇欄選擇為 CSK-I A試塊時，在自動調(diào)校完畢后，儀器會自動進(jìn)入幕下方顯示“進(jìn)入 K值測試”，且默認(rèn) CSK-I A試塊上深度30mm的？50孔為K值測試孔，閘門自動鎖定 ?50孔波位置如圖所示： - - - - -斜/表E8 - - 3 - -抑制DOX- - - - ' - - - - - - - - -增益m.n1>22.0 dlB±0 .0i-

20、46. 8 23. 4 0. DM 印,0.0£!- e . 45.6 .34ST. 31 n 1因嘿然范 圍閘口移傳UK1IIIIBBMII IMHajllMBBI MBUI *!角 度i k 值K值為：” 退出！將探頭對準(zhǔn)？ 50孔方向，前后移動探頭找出孔波最高回波，按按叵）鍵K值測試完畢，儀器底部顯示“是否重?！保簇希╂I，屏幕下方顯示“所測MD鍵可重新校準(zhǔn)k值，按其它鍵斜探頭橫波自動調(diào)?；静僮鞑襟E（使用非CSK-I A試塊調(diào)校時操作步驟）F面以CSK-1A標(biāo)準(zhǔn)試塊為例如圖所示，說明斜探頭的校準(zhǔn)程序。2C0斜探頭橫波入射零點手調(diào)校準(zhǔn)跟直探頭一樣，用戶必須準(zhǔn)確的找到斜探頭的入射

21、點（入射點是指其主聲束軸線與探測面的交點）。下面就利用CSK-1A試塊的R50和R100的兩個回波進(jìn)行校準(zhǔn)。操作:1).按鍵選擇任意斜探頭通道。2 ）.按自動調(diào)校鍵，此時屏幕下方出現(xiàn)如下提示:請輸入材料聲速:3240m/s請輸入起始距離:50mm叵）若不是50mm ,按改為50mm ,再按0）請輸入終止距離：100mm提示信息消失，進(jìn)入波形采樣階段3 .） 將探頭放置在 CSK-I A試塊上，發(fā)射方向?qū)?zhǔn)R50和R100的弧面上，如圖:若偏離到屏幕以外側(cè),前后移動探頭找出 R100弧面最高反射回波。 觀察屏幕上R100弧面反射回波的位置,則按左下方向鍵，調(diào)整零偏，將R100的回波移進(jìn)屏幕內(nèi)閘門

22、中，如圖：自動校睢斜/表01抑制00%埴益Q12" 3 dB±0.0¥ 49 . £25%0 98. T80%20,040 060.080,0100.0 m范圍雪偏聲11K值10. Oiwn/ 011. 64 us3240jh/s2. 00按波峰記憶鍵記錄最高回波，當(dāng)找到R100最大反射波時，平移的將探頭向 R50弧面移動探頭，讓R50弧面在屏幕上達(dá)到20%以上的高度，然后按 叵1此時儀器將自動調(diào)節(jié)零偏，直到R50和R100的反射駕波分別對齊50mm和100mm的位置后，儀器校準(zhǔn)結(jié)束，并自動彈出提示： 自動校準(zhǔn)完畢！ 請拿鋼尺測量前沿mm斜探頭橫波K值自

23、動校準(zhǔn)基本方法測K值功能適用于斜探頭、表面波探頭和小角度。例如：標(biāo)識為X13K2-D的探頭，從標(biāo)識上就可以看出它是一只斜探頭，K值為2,所用晶片尺寸為13X13mm的方片，頻率為。對于探頭的標(biāo)稱值，特別是K值都與實際值有一定的誤差。為了在檢測時精確定位缺陷的距離，所以在入射點校準(zhǔn)后必須測K值。本機型的K值測量，充分使用了數(shù)字儀器的數(shù)據(jù)處理能力，采用孔徑直接輸入方式，儀器根據(jù)孔徑輸入值自動計算補償量，完全消除了由孔徑帶來的深度和聲程誤差，使測量的K值準(zhǔn)確可靠。本儀器測量K值簡單方便，利用對已知孔彳和孔徑中心距離H （離探頭放置的一面）的孔進(jìn)行測量。調(diào)節(jié) K值，使得數(shù)據(jù)顯示區(qū)的垂直距離的值等于孔中

24、心距離時，此時的K值就是此斜探頭的 K值。下面就利用 CSK-1A標(biāo)準(zhǔn)試塊的小50的孔（孔徑為小50,孔心深度為30mm）對K值進(jìn)行測量。如圖所示，將探頭放置在試塊上。A）鍵,儀器彈出提示:按K值對應(yīng)的請選擇K值測試方式：手調(diào)按鍵改為自動,請輸入測試孔孔徑：50mm請輸入測試孔深度：30mm提示信息消失，進(jìn)入波形采樣階段。將探頭放置在 CSK-I A試塊上發(fā)射方向?qū)?zhǔn)試塊上孔徑50mm,中心深度為 30mm的圓孔，前后移動探頭找出該孔最強反射，按,儀器將自動算出K值并存入口白 鍵移動閘門鎖定回波，若回波低于20%高度或超出屏幕,波形調(diào)整到80%高度，再按鎖定回波峰，確認(rèn)找到最強反射后按參數(shù)。K

25、值測試完畢！如圖所示蝌/表。1抑制嘲益0 1 42. 2dB to. 0* 3LE+60,J 53.0早0施明10. 0m/ D閘門檢位46. 8mm角度65. 0t值2. 14距離一波幅曲線的應(yīng)用距離一波幅曲線是一種描述反射點至波源的距離、回波高度及當(dāng)量大小間相互關(guān)系的曲線。大小相同的缺陷由于距離不同，回波高度也不相同。因此，距離一波幅曲線對缺陷的定量非常有用。本儀器可自動制作距離一波幅曲線（DAC曲線）。1）曲線的制作:叵鍵,再按所應(yīng)的,儀器出現(xiàn)提示：未找到索引項。請使用閘門鎖定測試點！提示消失后進(jìn)入波形采樣階段。屏幕右上角出現(xiàn)測試點01,并閃爍，如圖:閘門移位5, 9 mm將探頭放置在 CSK-n A試塊上，尋找試塊上不同深度小1X6的橫孔回波的反射，