材料研究方法（一）智慧樹知到期末考試答案章節(jié)答案2024年武漢科技大學

材料研究方法（一）智慧樹知到期末考試答案+章節(jié)答案2024年武漢科技大學等厚條紋是衍射強度隨試樣厚度的變化而發(fā)生周期性變化引起的，圖像特征為明暗相間的條紋。（）

答案:對X射線衍射線形包括實測線形和幾何線形。（）

答案:錯理論上X射線物相定性分析可以告訴我們被測材料中有哪些物相，而定量分析可以告訴我們這些物相的含量有多少。（）

答案:對哈氏索引和芬克索引均屬于數(shù)值索引。（）

答案:對原子的熱振動會產(chǎn)生各個方向散射的相干散射。（）

答案:錯體心立方晶系的低指數(shù)衍射晶面為(110)、(200)和(220)。（）

答案:錯衍射儀法和德拜法一樣，對試樣粉末的要求是粒度均勻、大小適中，沒有應力。（）

答案:對要精確測量點陣常數(shù)。必須首先盡量減少系統(tǒng)誤差，其次選高角度θ角，最后還要用直線外推法或柯亨法進行數(shù)據(jù)處理。（）

答案:對在一個晶面族中，等同晶面越多，參加衍射的概率就越大。（）

答案:對根據(jù)不消光晶面的N值比值可以確定晶體結構。（）

答案:對三類應力衍射效應，衍射峰位移、衍射峰寬化和衍射峰強度升高。（）

答案:錯布拉格公式λ=2dsinθ中，λ表示入射線波長，d表示衍射(干涉)面的間距，θ表示掠射角。（）

答案:對衍射方向在X射線波長一定的情況下取決與晶面間距。（）

答案:對利用衍射卡片鑒定物相的主要依據(jù)是d值，參考厚度。（）

答案:錯粉末照相法所用的粉末試樣顆粒越細越好。（）

答案:錯X射線衍射儀的主要組成部分包括（）

答案:循環(huán)水;測角儀;計數(shù)器;光源關于電子衍射，與X射線衍射相比，說法正確的是（）

答案:電子波的波長短;微區(qū)結構和形貌觀察可同步進行;衍射半角小X射線分析的主要用途（）

答案:微觀應力測定;對物質進行定性分析，確定物質中的結晶物質;研究晶體結構;研究晶體生長的形變、相變簡單立方結構材料發(fā)生衍射時，可以產(chǎn)生衍射的晶面為（）

答案:(100);(200);(111);(110)材料按性能特征可以分為（）

答案:功能材料;結構材料面心立方中會被消光的晶面有（）

答案:300;221;110當單晶體中存在少量位錯時，下列哪一項最有可能發(fā)生（）

答案:衍射強度降低X射線最早是使用在（）領域。

答案:醫(yī)學當電子把所有能量都轉換為X射線時，該X射線波長稱（）

答案:短波限λ0電子槍中給電子減速的稱為（）。

答案:陽極據(jù)Ewald圖解可知，滿足衍射條件的晶面倒易點陣，落在半徑為（）

答案:2/λ哪種靶旳臨界激發(fā)電壓最低（）

答案:Cr利用X射線激發(fā)某種物質會產(chǎn)生可見的熒光，而且熒光的多少與X射線強度成正比的特性而制造的計數(shù)器為（??）

答案:閃爍計數(shù)器粉末照相法底片的安裝方法不包括（）

答案:折疊法吸收電子的產(chǎn)額與樣品的原子序數(shù)關系是原子序數(shù)越小，吸收電子（）。

答案:不變定性物相分析旳主要依據(jù)是（）

答案:衍射峰位衍射儀的測角儀在工作時，如試樣表面轉到與入射線成30度角時，計數(shù)管與入射線成多少度角?（）

答案:60度晶面指數(shù)（111）與晶向指數(shù)（111）的關系是（?

）

答案:不一定不利于提高德拜相機的分辨率的是（??）

答案:選用面間距較大的衍射面電子槍中控制電子流量和流向的是（）。

答案:柵極Cu靶X射線管旳最佳管電壓約為（）

答案:40kV在德拜照相法中，不受底片收縮影響的底片安裝方法是（）。

答案:不對稱洛倫茲因子中，第二幾何因子反映的是（??）

答案:參加衍射晶粒數(shù)目對衍射強度的影響X射線通過物質時，部分X射線將改變它們前進的方向，即發(fā)生散射現(xiàn)象，X射線的散射分為（）兩種

答案:相干散射和非相干散射用來進行晶體結構分析的X射線學分支是（）

答案:X射線衍射學最常用的X射線衍射方法是（??）

答案:粉末法三維X射線顯微鏡可以應用到生物領域和材料領域。（）

答案:對CT成像是從不同角度獲得樣品吸收襯度投影像，并通過反投影來構建樣品的三維形貌。（）

答案:對3DX射線顯微鏡能在不破壞樣品的情況下對樣品的內(nèi)部微觀結構進行可視化觀測。（）

答案:對表征織構與擇優(yōu)取向分布的主要辦法有（）

答案:平板針孔法;三維取向函數(shù);極圖法;反極圖法板織構是一種晶粒取向為軸對稱分布的織構。（）

答案:錯反極圖是表示宏觀坐標軸相對于晶體坐標系的取向分布密度。（）

答案:對實際的多晶體材料的晶粒存在擇優(yōu)取向,稱這種組織狀態(tài)為織構。（）

答案:對不能用衍射儀法測定絲織構。（）

答案:錯衍射儀法測量根據(jù)衍射幾何分為（）。

答案:同傾法;測傾法宏觀應力必然造成衍射峰位移動。

答案:對X射線應力常數(shù)中包括材料的彈性模量、泊松比和布拉格角。（）

答案:對X射線應力測定方法對非晶材料也有效。

答案:錯微觀應力有時也可造成衍射峰位移動。

答案:對1942年，美國材料試驗協(xié)會出版了最早的晶體物質衍射數(shù)據(jù)標準ASTM卡。（）

答案:對1979年，粉末衍射標準聯(lián)合委員會編制成PDF卡片并出版。（）

答案:錯X射線定量物相分析中選擇標樣，其物相的理化性能可以不穩(wěn)定。（）

答案:錯芬克數(shù)字索引以八根最強線的強度為分析依據(jù)，將d值作為次要依據(jù)進行排列。（）

答案:錯戴維無機字母索引是按物相英文名稱的字母順序排列。（）

答案:對PDF卡片索引，只能在已知物相或可能存在的情況下進行索引。（）

答案:錯在定性物相分析前，應盡可能詳細了解其來源、化學成分、工藝狀況等性質，為檢索工作提供線索。（）

答案:對1938年，J.D.Hanawalt等就開始收集并攝取各種已知物質的衍射花樣。（）

答案:對德拜相機底片的安裝方式根據(jù)所在位置不同可分為（）。

答案:偏裝法;反裝法;正裝法照相法中根據(jù)試樣和底片相對位置不同可分為（）。

答案:聚焦照相法;針孔法;德拜謝樂法常用粉末衍射儀核心部件是（）。

答案:測角儀晶體單色器的作用是消除衍射花樣的背底和Kβ散射。（）

答案:對電壓一定時，正比計數(shù)器所產(chǎn)生的脈沖大小與吸收的x射線光子的能量成呈反比。（）

答案:錯衍射儀的衍射花樣都是來自于與試樣表面相平行的某些反射面上發(fā)生反射的X射線。（）

答案:對粉末衍射儀的工作方式分為（）。

答案:步進掃描;連續(xù)掃描正比計數(shù)器是一種高速計數(shù)器，它能分辨輸入率高達（）的分離脈沖。

答案:106/S定標器的工作方式有（）

答案:定時計數(shù)方式;定數(shù)計時方式X射線衍射儀是采用衍射光子探測器和測角儀來記錄衍射線位置及強度的分析儀器。（）

答案:對一般情況下，原子核比電子對X射線的散射強。（）

答案:錯相干散射是內(nèi)層電子對X射線的散射，散射后能量不損失，散射波波長與入射波相同。（）

答案:對晶胞對X射線的散射波是晶胞中所有原子對X射線的散射波的合成。（）

答案:對布拉格定律只是晶體周期性的結果，也給出了基元中原子的具體排列情況。（）

答案:錯電子對X射線的散射強度與觀測點距離的平方成反比。（）

答案:對非相干散射是外層電子對X射線的散射，散射后能量不損失。（）

答案:錯從微觀來看，組成晶體的原子在空間呈周期重復排列。即以晶體中的原子或其集合為基點，在空間中三個共面的方向上，各按一定的點陣周期，不斷重復出現(xiàn)。（）

答案:錯具有代表性的基本單元（最小平行六面體）作為點陣的組成單元，稱為晶胞。（）

答案:對晶體的宏觀性質也隨方向的不同而有所差異，此即晶體的異向性。（）

答案:對正空間的任一晶面對應于倒易空間的一個面。（）

答案:錯同一晶體的各個部分的宏觀性質是相同的，稱為此即晶體的均一性。（）

答案:對勞厄法的測量方式有（）。

答案:投射法;反射法線吸收系數(shù)與物質的密度成反比。（）

答案:錯X射線是一種（），具有波粒二象性。。

答案:電磁波根據(jù)X射線的物理，化學和生物性質，可以判斷X射線穿透力強。（）

答案:對X射線的波長范圍是（）。

答案:104~106?激發(fā)X射線特征譜必然伴隨著連續(xù)譜，而激發(fā)連續(xù)譜一定有特征譜。（）

答案:錯根據(jù)X射線的物理，化學和