復(fù)雜形狀鑄鋼件的數(shù)字射線成像檢測工藝

采用超聲波檢測鑄鋼件時，對于輪廓復(fù)雜和指向性不好的斷開性缺陷，其反射波形復(fù)雜，晶界反射、組織結(jié)構(gòu)、多孔性及分散析出物等同樣妨礙超聲波的識別，需要檢測人員具有豐富的檢測經(jīng)驗；對于形狀復(fù)雜的鑄鋼件，拐角以及超聲波探頭無法檢測的位置也存在漏檢現(xiàn)象。在沒有特定要求的情況下，鑄造廠家一般采用射線檢測法檢測鑄造質(zhì)量，其中常規(guī)射線膠片照相法是最常用的檢測方法，但仍存在檢測效率低、檢測成本較高、勞動強度大、底片難以長期保存等缺點。常規(guī)X射線膠片照相法的厚度寬容度小，對于工件上的不同透照厚度需要選擇不同的曝光參數(shù)，即使采用雙膠片法，對于不同厚度的過渡區(qū)也容易發(fā)生漏檢。數(shù)字射線成像法的動態(tài)檢測范圍大、寬容度好，可較好地解決上述問題。基于平板探測器的數(shù)字射線檢測技術(shù)是數(shù)字射線成像的發(fā)展趨勢之一。隨著平板探測器檢測能力的提高，數(shù)字射線圖像靈敏度、分辨力等指標逐步接近膠片照相法，該方法不僅可以降低工作強度、提高檢測效率，而且數(shù)字圖像可以長期保存且調(diào)用方便，但目前缺乏鑄鋼件數(shù)字射線成像檢測的標準。通過數(shù)字射線成像檢測和常規(guī)射線膠片檢測的對比試驗，驗證數(shù)字射線成像檢測系統(tǒng)對復(fù)雜形狀鑄鋼件的檢測能力和可靠性，從而確定數(shù)字射線成像檢測工藝。01試驗方法1試驗儀器數(shù)字射線成像檢測系統(tǒng)包括X射線源、平板陣列探測器、數(shù)字圖像采集與處理系統(tǒng)等。其基本工作流程為：平板探測器將接收到的X射線光子信號轉(zhuǎn)換為電信號，傳輸該電信號至數(shù)字圖像采集與處理系統(tǒng)形成數(shù)字圖像，通過圖像處理技術(shù)改進圖像質(zhì)量。試驗采用YXLON/200D型射線機，其最大管電壓為200kV，管電流為0.5~6.0mA，且連續(xù)可調(diào)，焦點直徑為1.0mm；探測器為VAREX/XRpad24336型非晶硅平板探測器，有效成像面積為320mm×410mm，像素大小(長×寬)為100μm×100μm，極限分辨率為5lp/mm。常規(guī)射線膠片法檢測采用丹東XXG3505X型射線機，其最大管電壓為350kV，管電流為5mA，焦點尺寸為2mm×2mm，采用AGFAC7型膠片。2試樣分析選取的試樣外觀如圖1所示。試樣最大高度為380mm，最大長度為340mm，最大寬度為250mm，壁厚為11~28mm。圖1試樣外觀3檢測工藝確定由于試樣壁厚變化較大，常規(guī)射線膠片檢測厚度的寬容度較小，所以需要在不同壁厚部位分別進行透照，按照GB/T5677-2018《鑄件射線照相檢測》標準A級技術(shù)等級制定檢測工藝，透照布置示意如圖2所示，工藝參數(shù)如表1所示。圖2X射線膠片檢測透照布置示意表1常規(guī)射線膠片檢測工藝參數(shù)為了確定檢測工藝的可行性，數(shù)字射線成像檢測的靈敏度要求同樣按照GB/T5677-2018標準A級技術(shù)等級制定，圖像分辨率及歸一化信噪比等指標的要求按照GB/T35388-2017《無損檢測X射線數(shù)字成像檢測檢測方法》標準A級技術(shù)等級確定。X射線數(shù)字成像法透照時采取射線源在上方，平板探測器在下方的方式，探測器與射線源之間為樣品平臺，平臺距探測器20mm。為防止散射線對圖像對比度的影響，在射線機窗口前安裝2mm厚的T2紫銅濾板，透照時用鉛質(zhì)材料將試樣非檢測部位及平板探測器檢測不到的區(qū)域進行屏蔽。將試樣分為4個檢測區(qū)域，透照布置方法如圖3所示，每個區(qū)域的檢測部位如圖3虛線所示，其中為了防止圓筒位置有缺陷漏檢，需要相互垂直透照兩次(圖3中位置1和位置4)，透照位置2及位置3時，試樣需傾斜一定角度，防止遮擋。數(shù)字射線成像檢測工藝參數(shù)如表2所示。圖3X射線數(shù)字成像檢測透照布置方式表2數(shù)字射線成像檢測工藝參數(shù)02試驗結(jié)果與分析檢測靈敏度對比分析將射線膠片法與數(shù)字射線成像法的檢測靈敏度進行對比，結(jié)果如表3所示。表3膠片法與數(shù)字射線成像法檢測靈敏度對比從表3可以看出，數(shù)字射線成像檢測靈敏度基本與射線膠片法檢測靈敏度相同，均能滿足GB/T5677-2018標準A級技術(shù)規(guī)定的靈敏度要求。數(shù)字射線成像檢測的圖像參數(shù)如表4所示，圖像分辨率及信噪比等指標均能滿足GB/T35388-2017標準A級技術(shù)等級要求。表4數(shù)字射線成像檢測圖像參數(shù)檢測效率對比分析采用常規(guī)射線膠片法檢測時，曝光時間需要30.5min，并且射線機休息冷卻時間需要與曝光時間相同，再加上裁片、裝片、布片、洗片等時間，檢測一件該試樣至少需要90min。采用數(shù)字射線成像法檢測時，檢測一件該試樣大約只需要15min，檢測效率明顯高于膠片法。數(shù)字射線成像法檢測效率高于膠片法的主要原因有以下幾點：①常規(guī)膠片法的厚度寬容度小于數(shù)字射線成像法，以該試驗采用的儀器為例，當管電壓為180kV時，膠片法的厚度寬容度只有6mm左右（黑度為2.0，4.0），所以針對不同壁厚部位需要分別透照，共分為13個透照區(qū)域，共需進行9次曝光，而數(shù)字射線成像法的厚度寬容度可達20mm以上（曝光時間為1秒，信噪比大于70），所以只需將試樣分為4個透照區(qū)域，進行4次曝光即可；②采用膠片法時，雖然某些部位滿足厚度寬容度的要求，但是受試樣幾何結(jié)構(gòu)及膠片尺寸等的限制，從保證底片質(zhì)量及節(jié)約成本角度考慮，也需要分別進行透照；③數(shù)字射線成像法單次曝光時間短，試驗中數(shù)字射線成像單次曝光時間為32秒，而采用膠片法的單次曝光時間至少需要3min（管電流為5mA），否則無法滿足標準對曝光量的要求（A級技術(shù)，焦距為700mm，推薦曝光量不小于15mA·min）。同時，數(shù)字射線成像法無需膠片和化學(xué)藥液、無化學(xué)廢物等，檢測成本大大降低。檢測結(jié)果對比分析試驗時，平板探測器有效成像面積大于檢測部位面積，且試樣幾何結(jié)構(gòu)復(fù)雜、厚度差較大，均可導(dǎo)致“邊蝕效應(yīng)”，影響圖像質(zhì)量，甚至造成缺陷漏檢。圖4為透照圖3中位置2時，試樣非檢測部位及平板探測器檢測不到的區(qū)域采取和未采取屏蔽措施的圖像對比。圖4數(shù)字射線成像時采取和未采取屏蔽措施的圖像對比圖4(a)為未采取屏蔽措施時得到的圖像，可見邊蝕現(xiàn)象非常嚴重，圖像對比度低，缺陷隱約可見，且與圖4(b)相比漏檢了一處缺陷。圖4(b)為采取有效屏蔽措施時得到的圖像，圖像對比度高，缺陷清晰可見。將膠片法的底片與射線數(shù)字圖像進行對比，如圖5所示，圖5(a)和圖5(b)分別為膠片法和數(shù)字射線成像法透照圖3中位置2的檢測結(jié)果，圖5(c)和圖5(d)分別為膠片法和數(shù)字射線成像法透照圖3中位置4的檢測結(jié)果。圖5數(shù)字射線成像和膠片檢測結(jié)果對比試驗結(jié)果表明，膠片法和數(shù)字射線法均能有效發(fā)現(xiàn)縮孔、氣孔等缺陷，檢測結(jié)果基本一致，且數(shù)字射線成像法檢測到的氣孔數(shù)量（圖5d）明顯多于膠片法檢測到的氣孔數(shù)量（圖5c）。綜上可知，數(shù)字射線成像法檢測該復(fù)雜形狀鑄鋼件能基本滿足檢測要求。03結(jié)語(1)上文中復(fù)雜形狀鑄鋼件的數(shù)字射線成像檢測靈敏度滿足GB/T5677-2018標準A級技術(shù)等級要求，圖像分辨率及