集成電路封裝用低放射性球形氧化硅微粉 編制說明

1聯(lián)瑞新材作為集成電路封裝用低放射性球形氧化硅微粉技術(shù)國產(chǎn)化的領(lǐng)軍企業(yè)深耕硅微粉領(lǐng)域30余年，建立了一套成熟的集成電路封裝用低放射性球形氧化硅微粉的性能促進國內(nèi)集成電路封裝用低放射性球形氧化硅微粉產(chǎn)業(yè)的良發(fā)【2023】58號）的要求，由江蘇聯(lián)瑞新材料股份有限公司負責國家標準《集成電路封電路封裝用低放射性球形氧化硅微粉的測試實踐，按照國家標準的格式要求起草了本標2024年7月成立項目小組，召開會議，根據(jù)會議意見，經(jīng)過多次內(nèi)部討論，形成征2指標、調(diào)整磁性異物個數(shù)指標（GB/T32661中的產(chǎn)品主要為水合法制備，與本標準制備4）修改了理化指標的檢測方法，如修改切斷點以上顆粒含含水量/真密度檢測引用標準、補充萃取液制備方法、增加磁性異物個數(shù)檢測方法、增加公司通過近40年的科技創(chuàng)新與技術(shù)攻堅，突破多項核心關(guān)鍵技術(shù)，自主是國家高新技術(shù)企業(yè)。公司先后建設(shè)了國家特種超細粉體工程技術(shù)中心硅微粉產(chǎn)業(yè)化基技術(shù)國產(chǎn)化的領(lǐng)軍企業(yè)深耕硅微粉領(lǐng)域20余年，建立了一套成熟的集成電路封裝用低放其中江蘇聯(lián)瑞新材料股份有限公司負責組織標準起草，聯(lián)瑞新材(連云港)有限公司負責標試驗復(fù)驗，張艷、陸瓊、印亞峰等參與了標準復(fù)驗34≤5ppb。而對于放射性α粒子輻照度的檢測，目前使用的儀器通常是AlphaParticle日本P社評價聯(lián)瑞NA5180W產(chǎn)品α粒子輻照度＜0.001count/cm2.h料號批號A24010010.520≤10ppm6.5B24010014.5≤500ppm4.0C24010017.020≤500ppm3.5D240100145≤500ppm3.05料號批號E240100155≤500ppm2.0F24010012075≤500ppm3.0料號平均球形度A0.99B0.98C0.95D0.94E0.93F0.93料號含水量灼燒失量A0.080.060B0.050.050C0.050.056D0.05E0.040.04F0.05料號密度A2.20B2.195C2.20D2.195E2.20E2.195F2.206料號批號pHA24080016.00.19n.a.B24010015.350.292.092.830.78B24050015.250.462.052.340.56B24060015.280.490.980.98C24080715.320.272.830.62C24070665.250.172.132.340.47C24060535.270.35039D24090035.300.470.46D240801115.230.350.76D24070095.210.652.860.37E240800415.230.360.45E24080020.65.250.520.74E24080010.75.320.320.56F24020025.350.262.350.79F24030010.65.190.352.490.930.65F24050010.55.450.652.350.46料號批號A24080010B24010010B24050010B240600190C24080710C24070660C240605390D240900380D24080110D24070090E240800407料號批號E24080020E240800190F24020021F24030010F24050010料號批號A24080010.150B240100199.92200.290.200.21B240500199.91210300.330.420.19B240600199.92200200.350.44NDC240807199.92300.540.420.46C240706699.93300.340.550.18C240605399.92300.450.460.25D240900399.91400.290.660.31D240801199.92200300.320.780.56D240700999.92200.340.570.19E240800499.92300.240.660.65E240800299.92250200.300.510.58E240800199.92300.290.590.67F240200299.92400