sanmina kunshankyaoi report昆山科伊報(bào)告

ZenithEvaluationReport2015.2.12GallantshanghaiSANMINAkunshan3D8chor

4ch(WhiteLED)2D9ch(3LayerRGB)TopMiddle,BottomZenithProbeZenithloverall

Panelsizecapacity(max):Lmode510*510mm

HeightResolution:1um

CameraResolution:20um

Camera:4MPixCamera

Light:RGBLEDDomeIllumination

FOVSize:40*40mm

Inspectionspeeds:About0.53sec/FOV

PBAweight<5000gramFinaltestingreport?

Machinecheck?

Safetyandbasicfunction?

XYAxis&Probe?

Conveyor?

PZTMovement?

JIG10Time?

5mmHeightTargetPassedPassedPassedPassedPassedPassedPassedPurpose1.

缺陷點(diǎn)的檢測(cè)能力介紹-普通缺陷：短路、開路、缺件、翻件、立件、偏位、偏轉(zhuǎn)、側(cè)件等-現(xiàn)有AOI難檢缺陷：虛焊、文字識(shí)別、極性識(shí)別、錯(cuò)件、腳翹、

元件下異物（重點(diǎn)BGA下異物檢查）、0.4pitch元件開路少錫2.CycleTime-在調(diào)試程序好后，客戶提供的產(chǎn)品測(cè)試時(shí)間:0131-1000-03-11-1-1:8/s-8.5/s985488c:15/s-16/sInspectionItemChipOthersBODYMissing(3D)OOOODimension(3D)OOOOPadOverhang(3D)OOOOCo-planarity(3D)OOOOUpside-down(2D)O---Polarity(3D&2D)-OOOOCV(2D)-OOOLEADMissing(3D&2D)----PadOverhang(3D)-O-OCo-planarity(3D)-O-OSolderFillet(3D&2D)OOOOBridge(3D&2D)-O--1.InspectionItem2.Equipmenttestevaluation2.1評(píng)估離線對(duì)各種不良的檢測(cè)目的客戶在應(yīng)際使用AOI（自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀)中,選取重點(diǎn)機(jī)種檢測(cè),制造認(rèn)為不良檢測(cè)是否有漏檢，搜集測(cè)試不良圖片。步驟:

1由客戶選取生產(chǎn)產(chǎn)品---0131-1000-03-11-1-1:985488c(如下圖)

2離線客戶提供100片進(jìn)行檢查

3實(shí)際檢測(cè)不良分析圖片搜集

2.EquipmenttestevaluationBarcode：041Badlocation：C431Badpicture3DBadpicture2DBadreasons：steeparea：0.0%[>25.0%]MODEL：0131-1000-03-11-1-1偏移2.EquipmenttestevaluationBarcode：042Badlocation：R2971Badpicture3DBadpicture2DBadreasons：steeparea：0.0%[>25.0%]缺件MODEL：0131-1000-03-11-1-12.EquipmenttestevaluationBarcode：044Badlocation：C4062Badpicture3DBadpicture2DBadreasons：偏移MODEL：0131-1000-03-11-1-12.EquipmenttestevaluationBarcode：066Badlocation：C3911Badpicture3DBadpicture2DBadreasons：偏移MODEL：0131-1000-03-11-1-12.EquipmenttestevaluationBarcode：067Badlocation：C4064Badpicture3DBadpicture2DBadreasons：偏移MODEL：0131-1000-03-11-1-12.EquipmenttestevaluationBarcode：085Badlocation：R3660Badpicture3DBadpicture2DBadreasons：偏移MODEL：0131-1000-03-11-1-1Evaluatetheresults此PCB全是0201大小元器（電容與電阻）：1.檢出率：

客戶將不良產(chǎn)品通過Zenith設(shè)備來檢測(cè)，Zenith將不良點(diǎn)一一檢出無漏檢、誤報(bào)。共6片不良PCB不良點(diǎn)10個(gè)，不良顯現(xiàn)：偏移、少件。（如下圖所示）Detectionrate：100%2.對(duì)比：開始檢測(cè)時(shí)TRCameraResolution:50UM時(shí)，幾乎無法檢測(cè)，連元器件件的形狀都無法識(shí)別，所以TR:檢出率幾乎為0。

后面換成了TRCameraResolution:20UM時(shí)，檢出率得到了提升，但誤報(bào)還是很高，所以在編輯程序上下了很大的功夫浪費(fèi)時(shí)間也浪費(fèi)人力。如果是客戶自己調(diào)試，需要學(xué)習(xí)很長的時(shí)間才能調(diào)試好這個(gè)程序，所以實(shí)用度低。MODEL：0131-1000-03-11-1-12.EquipmenttestevaluationBarcode：8205Badlocation：L917Badpicture3DBadpicture2DBadreasons：元器件不良MODEL:985488c2.EquipmenttestevaluationBarcode：6430Badlocation：C365Badpicture3DBadpicture2DBadreasons：偏移MODEL:985488c2.EquipmenttestevaluationBarcode：6431Badlocation：C464Badpicture3DBadpicture2DBadreasons：偏移MODEL:985488c2.EquipmenttestevaluationBarcode：6469Badlocation：C464Badpicture3DBadpicture2DBadreasons：損件MODEL:985488c2.EquipmenttestevaluationBarcode：6492Badlocation：V308Badpicture3DBadpicture2DBadreasons：偏移、翻件MODEL:985488cEvaluatetheresults此PCB0402元器居多但也有0201元器件（電容與電阻）：1.檢出率：

客戶將不良產(chǎn)品通過Zenith設(shè)備來檢測(cè)，Zenith將不良點(diǎn)一一檢出無漏檢、誤報(bào)。共13片不良PCB不良點(diǎn)15個(gè)，不良顯現(xiàn)：偏移、元器件不良、翻件、損件。（如下圖所示）Detectionrate：100%2.對(duì)比：開始檢測(cè)時(shí)TRCameraResolution:20UM，檢出率還是可以，但速度和我們?cè)O(shè)備差了一3倍左右。所以為了速度他們又換成了CameraResolution:50UM，因?yàn)榇税?402元器件較多所以他們檢出率沒有多大變化，但還是有0201元器件所以在編輯程序上下了很大的功夫浪費(fèi)時(shí)間也浪費(fèi)人力。如果是客戶自己調(diào)試，需要學(xué)習(xí)很長的時(shí)間才能調(diào)試好這個(gè)程序，所以實(shí)用度低。MODEL:985488c3.CycleTimetest1.利用客戶的產(chǎn)品進(jìn)行Cycletime測(cè)試客戶測(cè)試的PCB板的時(shí)間，產(chǎn)品的MODEL：0131-1000-03-11-1-1,Component總數(shù)是：1258，測(cè)試的時(shí)間為8.1-8.6Sec.測(cè)試的FOV步驟是15步。如圖所示：3.CycleTimetest1.利用客戶的產(chǎn)品進(jìn)行Cycletime測(cè)試客戶測(cè)試的PCB板的時(shí)間，產(chǎn)品的MODEL985488c,Component總數(shù)是：709，測(cè)試的時(shí)間為16-16.3Sec.測(cè)試的FOV步驟是27步。如圖所示：3.CycletimetestresultsMODEL：0131-1000-03-11-1-1Cycletime對(duì)比設(shè)備-相機(jī)CycletimeKY-20UM8.3秒TR-50UM15秒TR-20UM25秒Cycletime對(duì)比結(jié)論：1.CameraResolution同為20UM的時(shí)候檢測(cè)時(shí)間KY比TR的速度高出3倍還多。2.CameraResolution分別為20UM與50UM時(shí)檢測(cè)時(shí)間KY比TR的速度高出2倍.PS：此測(cè)試結(jié)果都是在調(diào)試號(hào)誤報(bào)，程式可以正常檢測(cè)時(shí)進(jìn)行的3.CycletimetestresultsCycletime對(duì)比設(shè)備-相機(jī)CycletimeKY-20UM16秒TR-50UM20秒TR-20UM45秒Cycletime對(duì)比結(jié)論：CameraResolution同為20UM的時(shí)候檢測(cè)時(shí)間KY比TR的速度高出3倍還多。2.CameraResolution分別為20UM與50UM時(shí)檢測(cè)時(shí)間KY比TR的速度高出許多。MODEL:985488c4.GageR&RtestresultsMODEL:985488c板子數(shù)量10片每片板子測(cè)試次數(shù)9次點(diǎn)數(shù)15個(gè)點(diǎn)位C287.C397.C400.C405.C408.C431.R1005.R1013.R1091.R1096.R110.R111.R27.R2830.R7008.1GRR測(cè)試結(jié)論：共10片PCB每片取15個(gè)點(diǎn)分別是左上角、左下角、右上角、右下角和中間由客戶親自選取，每片測(cè)試9次結(jié)果8.1%.PS:當(dāng)GRR值小于10%時(shí)，為A級(jí)，量測(cè)值十分可靠。4.Appraisalconclusion

檢出率：MODEL：0131-1000-03-11-1-1、985488cKY:客戶所提供的不良PCB經(jīng)過KYAOI所檢測(cè)，所有的不良均檢出，正常測(cè)試時(shí)沒有誤報(bào)。TR50UM：0201元器件幾乎無法檢測(cè)，連元器件件的形狀都無法識(shí)別，所以TR:檢出率幾乎為0。TR20um：編輯程序上下了很大的功夫浪費(fèi)時(shí)間也浪費(fèi)人力。如果是客戶自己調(diào)試，需要學(xué)習(xí)很長的時(shí)間才能調(diào)試好這個(gè)程序，所以實(shí)用度低。0131-1000-03-11-1-1985488c設(shè)備-相機(jī)CycletimeKY-20UM8.3秒TR-50UM15秒TR-20UM