計(jì)量檢測(cè)在光學(xué)領(lǐng)域的應(yīng)用考核試卷

計(jì)量檢測(cè)在光學(xué)領(lǐng)域的應(yīng)用考核試卷考生姓名：答題日期：得分：判卷人：

一、單項(xiàng)選擇題（本題共20小題，每小題1分，共20分，在每小題給出的四個(gè)選項(xiàng)中，只有一項(xiàng)是符合題目要求的）

1.光學(xué)計(jì)量檢測(cè)中，用于測(cè)量小角度變化的儀器是：（）

A.旋轉(zhuǎn)測(cè)微計(jì)

B.自準(zhǔn)直儀

C.激光干涉儀

D.顯微鏡

2.下列哪種技術(shù)在光學(xué)鏡頭檢測(cè)中用于評(píng)價(jià)成像質(zhì)量？（）

A.焦點(diǎn)掃描法

B.星點(diǎn)測(cè)試法

C.分辨率測(cè)試法

D.光譜分析

3.在光學(xué)測(cè)量中，干涉條紋的可見(jiàn)度主要受下列哪項(xiàng)因素影響？（）

A.波前畸變

B.光的相干性

C.光的強(qiáng)度

D.被測(cè)樣品的厚度

4.以下哪種方法通常用于光學(xué)元件表面形狀的測(cè)量？（）

A.接觸式測(cè)量

B.非接觸式測(cè)量

C.壓力測(cè)量

D.電容測(cè)量

5.在光學(xué)平板的平面度檢測(cè)中，以下哪種設(shè)備通常被使用？（）

A.干涉儀

B.自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)設(shè)備

C.三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)

D.硬度計(jì)

6.下列哪種現(xiàn)象會(huì)導(dǎo)致干涉儀產(chǎn)生的干涉條紋不清晰？（）

A.環(huán)境振動(dòng)

B.高溫

C.高濕度

D.光源的不穩(wěn)定性

7.光學(xué)檢測(cè)中，以下哪個(gè)參數(shù)與光學(xué)元件的分辨率直接相關(guān)？（）

A.焦距

B.數(shù)值孔徑

C.波長(zhǎng)

D.相對(duì)孔徑

8.關(guān)于光學(xué)測(cè)量中的激光干涉儀，以下哪個(gè)說(shuō)法是正確的？（）

A.僅用于直線度測(cè)量

B.僅用于角度測(cè)量

C.可以用于各種幾何量的測(cè)量

D.只能在實(shí)驗(yàn)室使用

9.以下哪種方法通常用于測(cè)量光學(xué)鏡頭的焦距？（）

A.自準(zhǔn)直法

B.干涉法

C.物像距法

D.轉(zhuǎn)鏡法

10.光學(xué)平板的平行度檢測(cè)通常使用哪種設(shè)備？（）

A.自準(zhǔn)直儀

B.激光平面度干涉儀

C.三角測(cè)微儀

D.電子水平儀

11.下列哪種檢測(cè)方法不適用于光學(xué)材料的折射率測(cè)量？（）

A.阿貝折射儀

B.菲涅爾折射儀

C.顯微干涉儀

D.磁力測(cè)量?jī)x

12.在光學(xué)測(cè)量中，哪種方法可以用來(lái)測(cè)量透明材料內(nèi)部的應(yīng)力？（)

A.光彈法

B.聲發(fā)射法

C.熱膨脹法

D.電阻法

13.關(guān)于光學(xué)檢測(cè)中的非接觸式測(cè)量，以下哪個(gè)說(shuō)法是錯(cuò)誤的？（）

A.可以減少對(duì)被測(cè)樣品的損傷

B.測(cè)量速度快

C.對(duì)環(huán)境條件要求高

D.適用于熱敏感材料的測(cè)量

14.以下哪個(gè)因素不會(huì)影響干涉條紋的間距？（）

A.光源波長(zhǎng)

B.干涉儀的基線長(zhǎng)度

C.被測(cè)樣品的傾斜角度

D.環(huán)境溫度

15.在光學(xué)檢測(cè)中，哪種技術(shù)常用于光學(xué)元件表面缺陷的檢測(cè)？（）

A.光學(xué)顯微鏡

B.白光干涉儀

C.傅里葉變換紅外光譜儀

D.電子探針顯微鏡

16.下列哪種設(shè)備不是基于干涉原理進(jìn)行光學(xué)測(cè)量的？（）

A.激光干涉儀

B.干涉顯微鏡

C.菲涅爾測(cè)距儀

D.激光跟蹤儀

17.光學(xué)元件表面粗糙度的測(cè)量，以下哪種方法不正確？（）

A.阿貝折射儀

B.掃描電子顯微鏡

C.白光干涉儀

D.接觸式表面粗糙度計(jì)

18.以下哪個(gè)參數(shù)與光學(xué)檢測(cè)中激光束的聚焦性能無(wú)關(guān)？（)

A.數(shù)值孔徑

B.焦深

C.波長(zhǎng)

D.光束直徑

19.關(guān)于光學(xué)測(cè)量中的全息干涉測(cè)量，以下哪個(gè)說(shuō)法是正確的？（）

A.只能測(cè)量靜態(tài)物體

B.不能用于三維形狀的測(cè)量

C.對(duì)環(huán)境振動(dòng)非常敏感

D.可以記錄光波的幅度和相位信息

20.以下哪種方法通常用于光學(xué)元件的厚度測(cè)量？（）

A.紫外可見(jiàn)光譜法

B.超聲波測(cè)厚法

C.電渦流測(cè)厚法

D.顯微鏡直接觀察法

二、多選題（本題共20小題，每小題1.5分，共30分，在每小題給出的四個(gè)選項(xiàng)中，至少有一項(xiàng)是符合題目要求的）

1.光學(xué)計(jì)量檢測(cè)中，以下哪些方法可以用于光學(xué)鏡頭的檢測(cè)？（）

A.干涉法

B.自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)

C.接觸式測(cè)量

D.光譜分析

2.下列哪些因素會(huì)影響光學(xué)干涉條紋的清晰度？（）

A.環(huán)境溫度

B.光源穩(wěn)定性

C.被測(cè)樣品的表面粗糙度

D.干涉儀的調(diào)校精度

3.在光學(xué)測(cè)量中，以下哪些技術(shù)可以用于非接觸式表面形狀測(cè)量？（）

A.激光干涉儀

B.白光干涉儀

C.掃描電子顯微鏡

D.接觸式測(cè)微儀

4.以下哪些方法可以用來(lái)測(cè)量光學(xué)元件的折射率？（）

A.阿貝折射儀

B.菲涅爾折射儀

C.顯微干涉儀

D.紫外可見(jiàn)光譜儀

5.光學(xué)平板的平行度檢測(cè)中，以下哪些設(shè)備可以被使用？（）

A.自準(zhǔn)直儀

B.激光平面度干涉儀

C.三角測(cè)微儀

D.電子水平儀

6.以下哪些技術(shù)可以用于光學(xué)鏡頭的像差評(píng)價(jià)？（）

A.星點(diǎn)測(cè)試法

B.焦點(diǎn)掃描法

C.分辨率測(cè)試法

D.光譜分析法

7.下列哪些情況下，光學(xué)測(cè)量誤差可能增大？（）

A.環(huán)境溫度變化

B.空氣濕度增加

C.光源功率不穩(wěn)定

D.被測(cè)樣品有污漬

8.在光學(xué)材料內(nèi)部應(yīng)力的測(cè)量中，以下哪些方法可以被應(yīng)用？（）

A.光彈法

B.聲發(fā)射法

C.熱膨脹法

D.磁力測(cè)量法

9.以下哪些設(shè)備通常用于光學(xué)元件的表面缺陷檢測(cè)？（）

A.光學(xué)顯微鏡

B.白光干涉儀

C.傅里葉變換紅外光譜儀

D.電子探針顯微鏡

10.關(guān)于激光干涉儀的應(yīng)用，以下哪些說(shuō)法是正確的？（）

A.可以用于直線度測(cè)量

B.可以用于角度測(cè)量

C.只能在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境使用

D.可以用于表面形狀測(cè)量

11.以下哪些因素會(huì)影響光學(xué)檢測(cè)中激光束的聚焦性能？（）

A.數(shù)值孔徑

B.焦深

C.波長(zhǎng)

D.光束直徑

12.光學(xué)元件表面粗糙度的測(cè)量，以下哪些方法是可行的？（）

A.阿貝折射儀

B.掃描電子顯微鏡

C.白光干涉儀

D.接觸式表面粗糙度計(jì)

13.以下哪些技術(shù)常用于光學(xué)元件厚度的非接觸式測(cè)量？（）

A.紫外可見(jiàn)光譜法

B.超聲波測(cè)厚法

C.電渦流測(cè)厚法

D.激光干涉法

14.關(guān)于全息干涉測(cè)量，以下哪些說(shuō)法是正確的？（）

A.可以記錄光波的幅度和相位信息

B.只能測(cè)量靜態(tài)物體

C.可以用于三維形狀的測(cè)量

D.對(duì)環(huán)境振動(dòng)非常敏感

15.以下哪些方法可以用于測(cè)量光學(xué)鏡頭的焦距？（）

A.自準(zhǔn)直法

B.干涉法

C.物像距法

D.轉(zhuǎn)鏡法

16.下列哪些設(shè)備在光學(xué)檢測(cè)中屬于非接觸式測(cè)量設(shè)備？（）

A.激光干涉儀

B.干涉顯微鏡

C.菲涅爾測(cè)距儀

D.接觸式測(cè)微儀

17.在光學(xué)檢測(cè)中，以下哪些因素可能導(dǎo)致測(cè)量誤差？（）

A.光源的不穩(wěn)定性

B.被測(cè)樣品的傾斜

C.測(cè)量設(shè)備的不準(zhǔn)確

D.環(huán)境條件的波動(dòng)

18.以下哪些技術(shù)可以用于光學(xué)元件的內(nèi)部結(jié)構(gòu)檢測(cè)？（）

A.X射線衍射

B.聲波檢測(cè)

C.紅外光譜分析

D.電子顯微鏡

19.關(guān)于光學(xué)平板的平面度檢測(cè)，以下哪些設(shè)備可以被使用？（）

A.干涉儀

B.自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)設(shè)備

C.三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)

D.硬度計(jì)

20.在光學(xué)測(cè)量中，以下哪些情況下可能會(huì)出現(xiàn)干涉條紋？（）

A.波前畸變

B.光的相干性

C.被測(cè)樣品的厚度變化

D.光的強(qiáng)度變化

三、填空題（本題共10小題，每小題2分，共20分，請(qǐng)將正確答案填到題目空白處）

1.光學(xué)計(jì)量的基本物理原理是光的______、干涉和衍射等。（）

2.在光學(xué)測(cè)量中，干涉儀的干涉條紋間距與光的______成正比。（）

3.光學(xué)鏡頭的像差主要包括______、場(chǎng)曲和畸變等。（）

4.用來(lái)測(cè)量透明材料折射率的儀器是______。（）

5.光學(xué)平板的平行度檢測(cè)，通常使用的設(shè)備是______。（）

6.在光學(xué)測(cè)量中，激光干涉儀常用于測(cè)量光學(xué)元件的______和表面形狀。（）

7.光學(xué)元件表面粗糙度的測(cè)量，常用的非接觸式方法是______。（）

8.用來(lái)測(cè)量光學(xué)元件內(nèi)部應(yīng)力的常用方法是______。（）

9.全息干涉測(cè)量可以記錄光波的______和相位信息。（）

10.光學(xué)元件的厚度測(cè)量，通常使用______進(jìn)行非接觸式測(cè)量。（）

四、判斷題（本題共10小題，每題1分，共10分，正確的請(qǐng)?jiān)诖痤}括號(hào)中畫(huà)√，錯(cuò)誤的畫(huà)×）

1.光學(xué)計(jì)量檢測(cè)中，所有測(cè)量都可以使用接觸式方法進(jìn)行。（）

2.光的干涉現(xiàn)象在光學(xué)測(cè)量中主要用于檢測(cè)光學(xué)元件的表面形狀。（）

3.在光學(xué)檢測(cè)中，光源的不穩(wěn)定性不會(huì)對(duì)測(cè)量結(jié)果產(chǎn)生影響。（）

4.光學(xué)鏡頭的焦距可以通過(guò)物像距法進(jìn)行測(cè)量。（）

5.顯微鏡直接觀察法適用于光學(xué)元件厚度的精確測(cè)量。（）

6.全息干涉測(cè)量只能應(yīng)用于靜態(tài)物體的測(cè)量。（）

7.光學(xué)元件的表面缺陷可以通過(guò)自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)設(shè)備進(jìn)行快速檢測(cè)。（）

8.光學(xué)平板的平面度檢測(cè)，三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)是常用的設(shè)備之一。（）

9.光學(xué)材料的內(nèi)部應(yīng)力測(cè)量與材料的磁性質(zhì)無(wú)關(guān)。（）

10.在所有光學(xué)測(cè)量中，環(huán)境因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響可以忽略不計(jì)。（）

五、主觀題（本題共4小題，每題10分，共40分）

1.請(qǐng)簡(jiǎn)述光學(xué)干涉儀在測(cè)量光學(xué)元件表面形狀時(shí)的基本原理，并說(shuō)明其優(yōu)點(diǎn)和局限性。

2.描述如何使用激光干涉法測(cè)量光學(xué)鏡頭的焦距，并討論可能影響測(cè)量精度的因素。

3.討論在光學(xué)材料內(nèi)部應(yīng)力測(cè)量中，光彈法和聲發(fā)射法的原理及其應(yīng)用上的異同。

4.請(qǐng)解釋全息干涉測(cè)量技術(shù)如何用于三維形狀的測(cè)量，并分析該技術(shù)在光學(xué)檢測(cè)中的應(yīng)用前景和挑戰(zhàn)。

標(biāo)準(zhǔn)答案

一、單項(xiàng)選擇題

1.C

2.B

3.B

4.B

5.A

6.A

7.B

8.C

9.C

10.A

11.D

12.A

13.C

14.D

15.B

16.D

17.A

18.D

19.D

20.A

二、多選題

1.ABD

2.ABCD

3.AB

4.ABC

5.AB

6.ABC

7.ABCD

8.ABC

9.AB

10.ABD

11.ABCD

12.BC

13.AD

14.AC

15.ABC

16.ABC

17.ABCD

18.AC

19.A

20.ABC

三、填空題

1.干涉

2.波長(zhǎng)

3.球差

4.阿貝折射儀

5.自準(zhǔn)直儀

6.直線度

7.白光干涉儀

8.光彈法

9.幅度

10.激光干涉法

四、判斷題

1.×

2.√

3.×

4.√

5.×

6.×

7.√

8.√

9.√

10.×

五、主觀題（參考）

1.光學(xué)干涉儀通過(guò)比較參考波前和被測(cè)樣品波前的干涉圖樣來(lái)測(cè)量表面形狀。優(yōu)點(diǎn)：非接觸、高精度、全場(chǎng)測(cè)量。局限性：對(duì)環(huán)境振動(dòng)敏感，調(diào)校