DB11∕T 1699-2019 在用氨制冷壓力管道X射線數(shù)字成像檢測技術(shù)要求

備案號：69326-2020DB11北京市市場監(jiān)督管理局發(fā)布 李浩、李宏雷、陳克、劉陽、趙軍、楊雷、崔本標(biāo)準(zhǔn)，主要技術(shù)特點(diǎn)如下：——X射線數(shù)字成像檢測技術(shù)等級按圖像質(zhì)量分為兩個(gè)級別：A級圖像質(zhì)量—基本技術(shù)；B級圖像質(zhì)——規(guī)定了管道本體剩余厚度測量內(nèi)容。在用氨制冷壓力管道X射線數(shù)字成像檢測技術(shù)要求本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了在用氨制冷壓力管道本體及其焊本標(biāo)準(zhǔn)適用于公稱直徑不大于400mm的在用氨制冷壓力管道本體剩余厚度測量凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單GB/T23901.5—2019無損檢測將X射線轉(zhuǎn)換為離散陣列模擬電信號、經(jīng)模數(shù)轉(zhuǎn)換后通過計(jì)算機(jī)顯示輸出X射線數(shù)字圖像的電子設(shè)X射線穿透工件經(jīng)探測器采集轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號輸入計(jì)算機(jī)處理顯示圖像的一種成像方法。X射線數(shù)字探測器的的基本組成單元，即與敏感元器件對應(yīng)的點(diǎn)。與探測器曝光量嚴(yán)格成正比例的像素灰度值，當(dāng)探測器未曝光，對應(yīng)在無被檢工件、像質(zhì)計(jì)放置于數(shù)字探測器之上和透照幾何放大倍數(shù)接近于1時(shí)，檢測系統(tǒng)所能分辨的最小幾何尺寸細(xì)節(jié)的能力，在數(shù)值上等于X射線數(shù)字成像檢測技術(shù)等級按圖像質(zhì)量分為5.1.1從事X射線數(shù)字成像檢測的人5.1.3檢測人員應(yīng)了解與X射線數(shù)字成像技5.2.1.2應(yīng)根據(jù)被檢工件的厚度、規(guī)格、焦距大小以及是否含介質(zhì)、帶5.2.2.4探測器供應(yīng)商應(yīng)提供探測器5.2.2.5應(yīng)按照具體的探測器系統(tǒng)規(guī)定的圖像5.2.4.1圖像相對靈敏度采用線型像質(zhì)計(jì)進(jìn)行測定，線型像質(zhì)計(jì)的型號和規(guī)格應(yīng)符合GB/T23901.15.2.4.2數(shù)字圖像和陣列數(shù)字探測器基本空間分辨力采用雙線型像質(zhì)計(jì)5.2.4.3.1無包覆層、不含液態(tài)介質(zhì)管道線型值）不能滿足透照要求（見附錄A中表A.1～A.3），應(yīng)放置于靠近探測器的保溫5.2.4.3.3含液態(tài)介質(zhì)管道線型像質(zhì)計(jì)宜放置在探測器側(cè)5.2.4.3.4當(dāng)線型像質(zhì)計(jì)放置在探測器側(cè)時(shí)，應(yīng)在5.2.4.4.2焊縫雙壁雙影透照，雙線型像質(zhì)計(jì)5.2.4.4.3焊縫雙壁單影或單壁單影透照，雙線型像質(zhì)計(jì)5.2.4.4.4管道帶包覆層時(shí)，雙線型像質(zhì)計(jì)置于包覆層上5.2.4.4.5當(dāng)雙線型像質(zhì)計(jì)放置在探測器側(cè)時(shí)，應(yīng)應(yīng)與像質(zhì)計(jì)的標(biāo)記同時(shí)出現(xiàn)在圖像上，且應(yīng)在檢測報(bào)告5.2.4.4.6雙線型像質(zhì)計(jì)金屬絲與探測器的行或列成較小的夾角（2°~5°),且細(xì)絲置于外側(cè)。在透照5.2.6.1應(yīng)提供檢測系統(tǒng)性能測試證明文件。在第一次使用前應(yīng)進(jìn)行檢5.2.6.2在如下情況下應(yīng)進(jìn)行核查，核查主要指測試系統(tǒng)分辨力，核查方法按NB/T47013.11—20155.2.7.1應(yīng)按照檢測速度、檢測設(shè)備和檢測質(zhì)量的要求，通過協(xié)調(diào)影響5.2.8.1檢測環(huán)境應(yīng)滿足說明書中對相應(yīng)檢測系統(tǒng)的溫度、濕度、接地5.2.8.4現(xiàn)場通風(fēng)條件良好，氨濃度應(yīng)在人體安全水平以下6.1.1.2不帶包覆層、含液氨制冷管道對接焊縫X數(shù)字成像檢測檢測透照方式見圖4～圖6。f’——X射線源至工件之間的垂直距離；b’——工件至探測器之間的垂直距離；注：源至工件距離可采用f’代替f。6.1.2.1透照時(shí)射線束中心應(yīng)垂直指向成像區(qū)中心，需要時(shí)），6.1.3.4由于結(jié)構(gòu)原因不能進(jìn)行多次透照時(shí)，經(jīng)合同雙方商定采用切線技術(shù)測量管道壁厚的透照方式見圖13；采用雙壁厚技術(shù)測量管道壁厚損失的透照方式見對于圖1、圖2、圖4、圖5、圖7、圖8、圖10、圖11≥7.5b23………………（1）≥15b23若規(guī)定對面狀缺陷進(jìn)行檢測，為降低幾何不清晰度，即使A級圖像質(zhì)量合格，射線源至被檢工件表對于圖7～圖9、圖10～圖12透照方式，如果像質(zhì)計(jì)相對靈敏度A.5要求，可以通過幾何放大技術(shù)降低圖像不清晰度。幾何放大技術(shù)原如果圖像相對靈敏度和不清晰度不能同時(shí)達(dá)到表A.1～表A.5的規(guī)定，可通過增加曝光量提高信噪對于小型缺陷（缺陷在射線透過方向上的尺寸Δw遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于透照厚度補(bǔ)償原則基于下列理論近μeff-有效衰減系數(shù)；為保證獲得足夠相對靈敏度的X射線數(shù)字圖像，在以下三-6.6.4.2人工識別可通過窗位工具將計(jì)算機(jī)識別的灰度范圍轉(zhuǎn)6.6.5.2使用已知尺寸且經(jīng)過標(biāo)定的物），6.7.2.2檢測圖像應(yīng)備份不少于兩份，相應(yīng)按照現(xiàn)場操作的實(shí)際情況詳細(xì)記錄檢測過程的有關(guān)信息和數(shù)據(jù)。X射線數(shù)字成像檢測記錄除符合時(shí)間、射線機(jī)與探測器的相對關(guān)系、透照幾何f)圖像評定：灰度值、信噪比、圖像靈敏度、圖應(yīng)依據(jù)檢測記錄出具檢測報(bào)告，報(bào)告格式見N表A.1線型像質(zhì)計(jì)像質(zhì)值——單壁透照、表A.2線型像質(zhì)計(jì)像質(zhì)值——雙壁雙影透照、注：管道內(nèi)含液態(tài)介質(zhì)，應(yīng)將液態(tài)介質(zhì)深度折算成當(dāng)量厚度后計(jì)入透照厚度w；氨液當(dāng)量表A.3線型像質(zhì)計(jì)像質(zhì)值——雙壁單影或雙影透照，IQI注：管道內(nèi)含液態(tài)介質(zhì)，應(yīng)將液態(tài)介質(zhì)深度折算成當(dāng)量厚度后計(jì)入透照厚度w；氨液當(dāng)量表A.4圖像質(zhì)量A級最大不清晰度與圖像注1：對于管道內(nèi)不含液態(tài)介質(zhì)的雙壁單影透照方式，透照厚注3：最小可見IQI絲號和SR適用于接觸透照。如果采用幾何放大倍率透照技術(shù)見6.4節(jié)）IQI絲號和SR應(yīng)在參考圖像上讀取。注1：對于雙壁單影透照技術(shù)，透照厚度w=名義厚度t；計(jì)入透照厚度w。注3：最小可見IQI絲號和SR適用于接觸透照。如果采用幾何放大倍率透照技術(shù)見SR應(yīng)在參考圖像上讀取。d………………f-射線源至工件之間的距離，mm；規(guī)定最大圖像不清晰度uIm按公式（B.2）進(jìn)行估算：幾何放大倍率增加和/或焦點(diǎn)尺寸減小以降低圖像不清晰度，使之幾何放大倍率的正確選擇應(yīng)通過圖像中放置于工件之上的雙），），），），[2]質(zhì)檢總局特種設(shè)備局關(guān)于氨制3]ISO17636-2:2013（E）Non-destructivetestingofwelds—Radiographdgamma-raytechniqueswithdigitaldetindicators(wiretype)—Determinationofimagequalityvalueindicators(duplexwiretype)—Determinationofimageunsharpnessvalue[6]ISO5576Non-destruct