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文檔簡介
ICS31.120
CCSL47
團體標準
T/CESAXXXX—202X
反射型液晶顯示模塊技術規(guī)范
Technicalspecificationofreflectiveliquidcrystaldisplaymodules
(征求意見稿)
在提交反饋意見時,請將您知道的相關專利連同支持性文件一并附上。
已授權的專利證明材料為專利證書復印件或扉頁,已公開但尚未授權的專利申請
證明材料為專利公開通知書復印件或扉頁,未公開的專利申請的證明材料為專利申請
號和申請日期。
202X-XX-XX發(fā)布202X-XX-XX實施
中國電子工業(yè)標準化技術協(xié)會發(fā)布
T/CESAXXXX—202X
反射型液晶顯示模塊技術規(guī)范
1范圍
本文件規(guī)定了反射型液晶顯示模塊的技術要求、描述了對應的試驗方法。
本文件適用于采用反射型液晶顯示技術的顯示模塊,其他技術產(chǎn)品可參考使用。
2規(guī)范性引用文件
下列文件中的內容通過文中的規(guī)范性引用而構成本文件必不可少的條款。其中,注日期的引用文件,
僅該日期對應的版本適用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改單)適用于本
文件。
GB/T2423.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗A:低溫
GB/T2423.2電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗B:高溫
GB/T2423.3環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Cab:恒定濕熱試驗
GB/T2423.22環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗N:溫度變化
GB/T2423.24環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗S:模擬地面上的太陽輻射及太陽輻射試驗和氣
候老化試驗導則
GB/T17626.2電磁兼容試驗和測量技術靜電放電抗擾度試驗
GB/T18910.5-2008液晶和固態(tài)顯示器件第5部分:環(huán)境、耐久性和機械試驗方法
GB/T18910.11-2012液晶顯示器件第1-1部分:術語和符號
GB/T18910.61-2021液晶顯示器件第6-1部分:液晶顯示模塊測試方法光電參數(shù)
GB/T18910.62-2019液晶顯示器件第6-2部分:液晶顯示模塊測試方法反射型
3術語和定義
GB/T18910.11-2012界定的以及下列術語和定義適用于本文件。
反射型液晶顯示reflectiveliquidcrystaldisplay
采用反射式結構調制外部光源的液晶顯示技術。
[來源:GB/T18910.11-2012,2.2.25,有修改]
4縮略語
下列縮略語適用于本文件。
AA:有效區(qū)域(ActiveArea)
CIE:國際照明委員會(InternationalCommissiononIllumination)
DUT:待測設備(DeviceUnderTest)
LMD:光學測量設備(LightMeasuringDevice)
5要求
物理尺寸
模塊的物理尺寸應符合產(chǎn)品規(guī)格書的規(guī)定,至少應包括輪廓尺寸、AA尺寸、柔性印刷電路板尺寸
等。
外觀質量
除另有規(guī)定外,不加電條件下的外觀質量應符合表1的規(guī)定。
1
T/CESAXXXX—202X
表1外觀質量
判定標準
缺陷分類產(chǎn)品尺寸類型
缺陷尺寸(mm)要求(mm)
D≤0.2,非密集點忽略
AA區(qū)0.2<D≤0.5N≤5,DS≥10
點狀缺陷(含異
D>0.5不允許
物、凹凸點、氣
泡、針點等)D≤0.2,非密集點忽略
非AA區(qū)0.2<D≤0.5N≤5,DS≥10
中小尺寸D>0.5不允許
(22寸以下)W≤0.05,L≤20忽略
AA區(qū)0.05<W≤0.1,L≤20N≤3,DS≥10
線狀不良(含劃W>0.1,L>20不允許
傷、線性異物等)W≤0.05,L≤20忽略
非AA區(qū)0.05<W≤0.2,L≤50N≤5,DS≥10
W>0.2,L>50不允許
D≤0.5,非密集點忽略
0.5<D≤0.8N≤10,DS≥10
AA區(qū)
點狀缺陷(含異0.8<D≤1.2N≤3,DS≥20
物、凹凸點、氣D>1.2不允許
泡、針點等)D≤0.5,非密集點忽略
非AA區(qū)0.5<D≤1.2N≤10,DS≥10
中大尺寸D>1.5不允許
(22寸及以上)W≤0.05,L≤50忽略
0.05<W≤0.1,L≤50N≤5,DS≥10
AA區(qū)
0.1<W≤0.2,L≤50N≤2,DS≥20
線狀不良(含劃
>,>不允許
傷、線性異物等)W0.2L50
W≤0.05,L≤50忽略
非AA區(qū)0.05<W≤0.2,L≤50N≤5,DS≥10
W>0.2,L>50不允許
可擦拭忽略
表面臟污AA區(qū)
不可擦拭不允許
所有
蓋板油墨邊緣
參考限度樣本
蓋板異色
注1:表中符號含義如下:
N——數(shù)量;D——直徑;W——寬度;L——長度;DS——距離。
注2:非密集點定義D為30mm的圓內,N≤10。
顯示質量
除另有規(guī)定外,通電條件下的顯示質量應符合表2的規(guī)定。
表2顯示質量
判定標準
缺陷分類產(chǎn)品尺寸類型
缺陷尺寸(mm)要求(mm)
D≤0.2,非密集點忽略
異物規(guī)格中小尺寸前置光源開啟和關
0.2<D≤0.5N≤5,DS≥10
(氣泡、異物等)(22寸以下)閉時分別確認
D>0.5不允許
2
T/CESAXXXX—202X
表2(續(xù))
判定標準
缺陷分類產(chǎn)品尺寸類型
缺陷尺寸(mm)要求(mm)
單顆亮暗點N≤5,DS≥10
亮暗點無前置光源亮暗點二連亮暗點N≤2,DS≥10
三連亮暗點不可有
D≤0.2,非密集點忽略,DS≥10
中小尺寸前置光源開啟時亮
前光發(fā)亮點0.2<D≤0.5N≤5,DS≥10
(22寸以下)點
D>0.5不允許
W≤0.05,L≤20忽略
線狀不良(含劃前置光源開啟與關
<≤,≤≤,≥
傷、線性異物等)閉時分別確認0.05W0.1L20N3DS10
W>0.1,L>20不允許
D≤0.5,非密集點忽略
異物規(guī)格前置光源開啟和關0.5<D≤0.8N≤10,DS≥10
(氣泡、異物等)閉時分別確認0.8<D≤1.2N≤3,DS≥20
D>1.2不允許
單顆亮暗點,非密集點忽略,DS≥10
亮暗點無前置光源亮暗點二連亮暗點N≤5,DS≥10
三連亮暗點N≤2,DS≥20
中大尺寸
D≤0.3,非密集點無視,DS≥10
(22寸及以上)
前置光源開啟時亮0.3<D≤0.5N≤15,DS≥10
前光發(fā)亮點
點0.5<D≤0.8N≤5,DS≥10
D>0.8不允許
W≤0.05,L≤50無視
線狀不良(含劃前置光源開啟與關0.05<W≤0.1,L≤50N≤5,DS≥10
傷、線性異物等)閉時分別確認0.1<W≤0.2,L≤50N≤2,DS≥20
W>0.2,L>50不允許
異常顯示/無顯示不允許
點亮漏光所有前置光源開啟時,正視角檢查漏光燈影不可有
Mura、污漬對照限度樣本
注1:表中符號含義如下:
N——數(shù)量;D——直徑;W——寬度;L——長度;DS——距離。
注2:非密集點定義D為30mm的圓內,N≤10。
注3:以上判定,均需在前置光源開啟和關閉時分別確認。
光電特性
除另有規(guī)定外,產(chǎn)品的光學特性應符合表3的規(guī)定。
表3光電特性
條件要求
特性符號單位
除另有規(guī)定外,Top=25℃無前置光源關前置光源開前置光源
測量點為P0,全白畫面
反射率≥8%≥5%
R(不包含鏡面反射的反射率)--
3
T/CESAXXXX—202X
表3(續(xù))
條件要求
特性符號單位
除另有規(guī)定外,Top=25℃無前置光源關前置光源開前置光源
反射率均勻性UR5點測試,全白畫面≥80%≥80%--
亮度L測量點為P0--≥30cd/m2
亮度均勻性UL5點測試--≥70%-
對比度CR測量點為P0≥15:1≥10:1≥8:1-
θH33點鐘方向≥75≥70≥45°
水平
θH99點鐘方向≥75≥70≥45°
視角
≥
范圍CR2:1
θV1212點鐘方向≥75≥70≥45°
豎直
θV66點鐘方向≥75≥70≥45°
色域CGNTSC≥10%≥10%≥8%-
響應時間(Tr+Tf)/2-≤20≤20≤20ms
環(huán)境適應性
5.5.1高溫貯存
除另有規(guī)定外,顯示模塊應經(jīng)過如下條件的高溫貯存后,顯示模塊的外觀質量應符合5.2的規(guī)定、
顯示質量應符合5.3的規(guī)定:
a)常規(guī)產(chǎn)品:80℃溫度條件下,貯存240h;
b)戶外產(chǎn)品:80℃溫度條件下,貯存1000h。
5.5.2低溫貯存
除另有規(guī)定外,顯示模塊應經(jīng)過如下條件的低溫貯存后,顯示模塊的外觀質量應符合5.2的規(guī)定、
顯示質量應符合5.3的規(guī)定。
a)常規(guī)產(chǎn)品:-30℃溫度條件下,貯存240h;
b)戶外產(chǎn)品:-40℃溫度條件下,貯存1000h。
5.5.3高溫工作
除另有規(guī)定外,顯示模塊應經(jīng)過如下條件的高溫工作后,顯示模塊的外觀質量應符合5.2的規(guī)定、
顯示質量應符合5.3的規(guī)定:
a)常規(guī)產(chǎn)品:70℃溫度條件下,工作240h;
b)戶外產(chǎn)品:70℃溫度條件下,工作1000h。
5.5.4低溫工作
除另有規(guī)定外,顯示模塊應經(jīng)過如下條件的低溫工作后,顯示模塊的外觀質量應符合5.2的規(guī)定、
顯示質量應符合5.3的規(guī)定:
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T/CESAXXXX—202X
a)常規(guī)產(chǎn)品:-20℃溫度條件下,工作240h;
b)戶外產(chǎn)品:-40℃溫度條件下,工作1000h。
5.5.5溫度沖擊
除另有規(guī)定外,顯示模塊經(jīng)過如下條件的溫度沖擊后,外觀質量應符合5.2的規(guī)定、顯示質量應符
合5.3的規(guī)定:
a)高溫溫度:70℃;
b)低溫溫度:-30℃;
c)持續(xù)時間:高溫、低溫各30min;
d)轉換時間:小于5min;
e)循環(huán)次數(shù):100。
5.5.6高溫高濕工作
除另有規(guī)定外,顯示模塊經(jīng)過如下條件的高溫高濕工作后,外觀質量應符合5.2的規(guī)定、顯示質量
應符合5.3的規(guī)定:
a)常規(guī)產(chǎn)品:60℃溫度條件下,90%濕度條件下,工作240h;
b)戶外產(chǎn)品:60℃溫度條件下,90%濕度條件下,工作1000h。
5.5.7光輻射測試
除另有規(guī)定外,戶外產(chǎn)品的顯示模塊經(jīng)過如下條件的光輻射后,顯示模塊的外觀質量應符合5.2的
規(guī)定、顯示質量應符合5.3的規(guī)定:
a)測試溫度:40℃;
b)輻照度:1120w/m2;
c)持續(xù)時間:20h照射,4h不照射,共循環(huán)240h。
機械振動
除另有規(guī)定外,顯示模塊經(jīng)過如下條件的機械振動后,顯示模塊的外觀質量應符合5.2的規(guī)定、顯
示質量應符合5.3的規(guī)定:
a)中小尺寸(22寸以下):
1)振動頻率:5Hz-200Hz;
2)振動功率譜均方根值:1.47Grms;
3)振動方向:+X、+Y、±Z軸;
4)振動時間:每個方向30min;
b)中大尺寸(22寸及以上):
1)振動頻率:5Hz-200Hz;
2)振動功率譜均方根值:1.47Grms;
3)振動方向:+Z軸;
4)振動時間:1h。
靜電放電
顯示模塊按表4的要求進行靜電放電后,外觀質量應符合5.2的規(guī)定、顯示質量應符合5.3的規(guī)定。
表4靜電放電要求
顯示模塊狀態(tài)放電類型放電模型放電位置電壓等級單點放電次數(shù)
空氣放電100pF,1500Ω周邊100點±8kV1次
上電
接觸放電100pF,1500Ω周邊100點±4kV1次
功耗要求
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顯示模塊的功耗要求應符合產(chǎn)品規(guī)格書的要求。
6試驗方法
測試條件
6.1.1標準大氣條件
測量和試驗的標準大氣條件按下列規(guī)定進行:
a)溫度:25℃±3℃;
b)相對濕度:25%~85%;
c)氣壓:86kPa~106kPa。
6.1.2暗室條件
測量應在受控照明條件下進行,為把不需要的背景照明降到最低,通常在暗室中照射DUT進行測
量。來自暗室的背景照明光譜輻射亮度,即從DUT反射測得的光譜輻射亮度,應不大于打開照明光源
時DUT黑色狀態(tài)的光譜輻射亮度的1/100。如果不能滿足該條件,則應扣除背景照明在DUT反射的光譜
輻射亮度且在報告中注明。
6.1.3穩(wěn)定時間
為確保測量過程中顯示模塊的特性不隨時間有明顯的變化,測試需要等被測顯示模塊及測試設備穩(wěn)
定后再開始,穩(wěn)定時間至少30min。
6.1.4標準照明條件
顯示性能測試推薦在均勻半球漫射照明條件下進行:
a)使用積分球[圖1a)]或采樣球[圖1b)]實現(xiàn)均勻半球漫射照明,使用近似CIE15中定義的
CIE標準照明體A、CIE標準照明體D65或CIE標準照明體D50的光源。配置均應遵循標準
de:8°到de:10°照明/探測幾何條件,其中de是漫射(去除鏡面反射)的標準符號。
+2。
b)LMD置于通過積分球壁內的測試口與顯示模塊法線成(80)的方向觀測顯示模塊的中心,所需
LMD傾斜角也可傾斜積分球內的顯示模塊而實現(xiàn)。LMD應聚焦于顯示模塊表面。
c)顯示模塊上的光譜輻照度或照度可使用已知漫射半球光譜反射率或光加權(或發(fā)光)半球漫射
反射率的漫反射標準白板來測試。漫反射標準白板必須在均勻半球漫射照明下校準。標準白
的CIELAB的明度L*=100,色坐標a*=0,b*=0。
a)積分球b)采樣球
圖1半球照明測試幾何條件示例
6.1.5測試設備條件
通常LMD應該是亮度計、色度計或光譜輻射計。對于同時包含了光源和光測試儀器的接觸式光譜
輻射計,如果與經(jīng)校準的非接觸式光度計、色度計或分光輻射亮度計相比證實有效時,也可以使用。
6
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物理尺寸
采用符合準確度等級要求的量具對模塊進行檢驗,判斷是否符合5.1的要求。
外觀質量
采用目視法檢查模塊的外觀質量,按下列要求判斷是否滿足5.2的要求:
——觀察距離:50cm±5cm;
——觀察視角:產(chǎn)品與桌面成45°,檢視角度垂直于產(chǎn)品檢視面,視角上下左右各轉動30°;
——照度:前置光源關閉時,照度2000lx以上(避免鏡面反光);
前置光源開啟時,照度200lx±50lx。
顯示質量
采用目視法檢查模塊的顯示質量,按下列要求判斷是否滿足5.3的要求。
顯示缺陷檢驗環(huán)境按下列要求:
——觀察距離:50cm±5cm;
——觀察視角:產(chǎn)品與桌面成45°,檢視角度垂直于產(chǎn)品檢視面,視角上下左右各轉動30°;
——照度:前置光源關閉時,照度2000lx以上(避免鏡面反光);
前置光源開啟時,照度200lx±50lx。
光電特性
6.5.1反射率
反射率按照GB/T18910.62—2019中5.1規(guī)定的方法進行。
6.5.2反射率均勻性
反射均勻性的測試方法按如下步驟進行:
a)按6.5.1的要求測試白畫面下按圖2規(guī)定的Pi位置的反射率;
b)按公式(1)計算反射均勻性:
···············································(1)
??,??????,???
式中:??=??,???×100%
Rw,MAX——白畫面下顯示模塊的反射率最大值;
Rw,MIN——白畫面下顯示模塊的反射率最小值。
圖2測試點位示意圖
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T/CESAXXXX—202X
6.5.3亮度
顯示模塊(開前置光源)的亮度測試按照GB/T18910.61-2021中5.1規(guī)定的方法進行。
6.5.4亮度均勻性
顯示模塊(開前置光源)的亮度均勻性按照GB/T18910.61-2021中5.1規(guī)定的方法進行。
6.5.5對比度
顯示模塊(開前置光源)的對比度測試按照GB/T18910.61—2021中5.5規(guī)定的方法進行。
顯示模塊(關或無前置光源)的對比度測試按照如下步驟進行:
a)打開測試設備,待光源到達穩(wěn)定狀態(tài),將測試設備對準標準漫反射白板的中心進行矯正;
b)被測產(chǎn)品先后輸入黑畫面信號和白畫面信號進行重置;
c)被測產(chǎn)品輸入黑畫面后,按6.5.1的規(guī)定測試全黑畫面中心點的顯示屏反射率(不包含鏡面反
射的反射率);
d)被測產(chǎn)品輸入白畫面后,按6.5.1的規(guī)定測試全白畫面中心點的顯示屏反射率(不包含鏡面反
射的反射率);
e)按公式(2)計算對比度:
CR=·························································(2)
??
???
式中:
CR——顯示屏的對比度;
——白畫面下顯示屏的反射率;
——黑畫面下顯示屏的反射率。
??
6.5.6???視角范圍
顯示模塊(開前置光源)的視角范圍測試按照GB/T18910.61—2021中5.6規(guī)定的方法進行。
顯示模塊(關或無前置光源)的視角范圍測試按照GB/T18910.62—2019中5.3規(guī)定的方法進行。
6.5.7色域
顯示模塊(開前置光源)的色域按照GB/T18910.61-2021中5.10規(guī)定的方法進行。
顯示模塊(關或無前置光源)的色域按照如下步驟進行:
a)按GB/T18910.62—2019中5.4規(guī)定的方法測得顯示模塊RGB畫面下的色度坐標(xR,yR),
(xG,yG),(xB,yB);
b)按公式(3)~(4)計算色域:
SXY1/2*xRxByGyBxGxByRyB····························(3)
CG=SXY/0.1582·····················································(4)
式中:
SXY——色域面積;
CG——NTSC色域。
6.5.8響應時間
顯示模塊(開前置光源)的響應時間測試按照GB/T18910.61—2021中5.3規(guī)定的方法進行。
顯示模塊(關或無前置光源)的響應時間按照GB/T18910.62—2019中5.8規(guī)定的方法進行。
環(huán)境適應性
8
T/CESAXXXX—202X
6.6.1高溫貯存
高溫貯存試驗應按照GB/T2423.2的規(guī)定進行。試驗嚴酷等級按5.5.1,恢復時間2h。
6.6.2低溫貯存
低溫貯存試驗應按照GB/T2423.1的規(guī)定進行。試驗嚴酷等級按5.5.2,恢復時間2h。
6.6.3高溫工作
高溫工作試驗應按照GB/T2423.2的規(guī)定進行。試驗嚴酷等級按5.5.3,恢復時間2h。
6.6.4低溫工作
低溫工作試驗應按照GB/T2423.1的規(guī)定進行。試驗嚴酷等級按5.5.4,恢復時間2h。
6.6.5溫度沖擊
溫度沖擊試驗應按照GB/T2423.22的規(guī)定進行。試驗嚴酷等級按5.5.5,恢復時間2h。
6.6.6高溫高濕工作
高溫高濕工作試驗應按照GB/T2423.3的規(guī)定進行。試驗嚴酷等級按5.5.6,恢復時間2h。
6.6.7光輻射測試
光輻射測試應按照GB/T2423.24的規(guī)定進行。試驗嚴酷等級按5.5.7,恢復時間2h。
機械振動
振動試驗應按照GB/T18910.5-2008的規(guī)定進行。試驗嚴酷等級按5.6的規(guī)定,試驗前后檢測模塊的
外觀質量、顯示質量。
靜電放電
靜電放電試驗按照GB/T17626.2規(guī)定的方法進行,試驗嚴酷等級按5.7的規(guī)定,試驗后檢測模塊的外
觀質量、顯示質量。
功耗
功耗試驗按照GB/T18910.62-2019中5.9規(guī)定的方法進行。
9
T/CESAXXXX—202X
目次
前言...........................................................................III
1范圍.................................................................................1
2規(guī)范性引用文件.......................................................................1
3術語和定義...........................................................................1
4縮略語...............................................................................1
5要求.................................................................................1
物理尺寸.........................................................................1
外觀質量.........................................................................1
顯示質量.........................................................................2
光電特性.........................................................................3
環(huán)境適應性.......................................................................4
機械振動.........................................................................5
靜電放電.........................................................................5
功耗要求.........................................................................5
6試驗方法.............................................................................6
測試條件.........................................................................6
物理尺寸.........................................................................7
外觀質量.........................................................................7
顯示質量.........................................................................7
光電特性.........................................................................7
環(huán)境適應性.......................................................................8
機械振動.........................................................................9
靜電放電.........................................................................9
功耗.............................................................................9
II
T/CESAXXXX—202X
反射型液晶顯示模塊技術規(guī)范
1范圍
本文件規(guī)定了反射型液晶顯示模塊的技術要求、描述了對應的試驗方法。
本文件適用于采用反射型液晶顯示技術的顯示模塊,其他技術產(chǎn)品可參考使用。
2規(guī)范性引用文件
下列文件中的內容通過文中的規(guī)范性引用而構成本文件必不可少的條款。其中,注日期的引用文件,
僅該日期對應的版本適用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改單)適用于本
文件。
GB/T2423.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗A:低溫
GB/T2423.2電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗B:高溫
GB/T2423.3環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Cab:恒定濕熱試驗
GB/T2423.22環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗N:溫度變化
GB/T2423.24環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗S:模擬地面上的太陽輻射及太陽輻射試驗和氣
候老化試驗導則
GB/T17626.2電磁兼容試驗和測量技術靜電放電抗擾度試驗
GB/T18910.5-2008液晶和固態(tài)顯示器件第5部分:環(huán)境、耐久性和機械試驗方法
GB/T18910.11-2012液晶顯示器件第1-1部分:術語和符號
GB/T18910.61-2021液晶顯示器件第6-1部分:液晶顯示模塊測試方法光電參數(shù)
GB/T18910.62-2019液晶顯示器件第6-2部分:液晶顯示模塊測試方法反射型
3術語和定義
GB/T18910.11-2012界定的以及下列術語和定義適用于本文件。
反射型液晶顯示reflectiveliquidcrystaldisplay
采用反射式結構調制外部光源的液晶顯示技術。
[來源:GB/T18910.11-2012,2.2.25,有修改]
4縮略語
下列縮略語適用于本文件。
AA:有效區(qū)域(ActiveArea)
CIE:國際照明委員會(InternationalCommissiononIllumination)
DUT:待測設備(DeviceUnderTest)
LMD:光學測量設備(LightMeasuringDevice)
5要求
物理尺寸
模塊的物理尺寸應符合產(chǎn)品規(guī)格書的規(guī)定,至少應包括輪廓尺寸、AA尺寸、柔性印刷電路板尺寸
等。
外觀質量
除另有規(guī)定外,不加電條件下的外觀質量應符合表1的規(guī)定。
1
T/CESAXXXX—202X
表1外觀質量
判定標準
缺陷分類產(chǎn)品尺寸類型
缺陷尺寸(mm)要求(mm)
D≤0.2,非密集點忽略
AA區(qū)0.2<D≤0.5N≤5,DS≥10
點狀缺陷(含異
D>0.5不允許
物、凹凸點、氣
泡、針點等)D≤0.2,非密集點忽略
非AA區(qū)0.2<D≤0.5N≤5,DS≥10
中小尺寸D>0.5不允許
(22寸以下)W≤0.05,L≤20忽略
AA區(qū)0.05<W≤0.1,L≤20N≤3,DS≥10
線狀不良(含劃W>0.1,L>20不允許
傷、線性異物等)W≤0.05,L≤20忽略
非AA區(qū)0.05<W≤0.2,L≤50N≤5,DS≥10
W>0.2,L>50
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