集成電路設(shè)計驗證與測試方法考核試卷

一、單項選擇題(本題共20小題，每小題1分，共20分，在每小題給出只有一項是符合題目要求的)1.集成電路設(shè)計驗證的主要目的是()2.以下哪項不屬于集成電路設(shè)計驗證的方法()3.在集成電路設(shè)計驗證中，靜態(tài)時序分析主要關(guān)注()A.電路的功能B.電路的功耗D.電路的面積4.以下哪種方法通常用于檢測電路中的功能性故障()5.以下哪個工具不屬于EDA工具()6.在VerilogHDL中，描述時序邏輯的關(guān)鍵字是()7.以下哪種測試方法主要用于檢測電路中的互連故障()8.在進行集成電路設(shè)計驗證時，以下哪個步驟不是必須的()9.以下哪種方法通常用于提高電路的可測試性()10.在集成電路設(shè)計驗證中，以下哪個指標(biāo)用于評估測試的質(zhì)量()11.以下哪種故障模型通常用于模擬電路故障()C.熱故障模型12.在進行形式驗證時，以下哪個方法用于檢查電路的可達性()B.SAT-basedVerific13.以下哪個標(biāo)準(zhǔn)與集成電路設(shè)計驗證相關(guān)()14.以下哪個概念與邊界掃描測試相關(guān)()15.在VerilogHDL中，用于定義線網(wǎng)的關(guān)鍵字是()16.以下哪種方法通常用于降低測試成本()17.以下哪個工具主要用于功耗分析()18.以下哪個概念與測試向量生成相關(guān)()D.TestProgramGener19.在集成電路設(shè)計驗證中，以下哪個步驟用于確保電路的可靠性()A.功能仿真20.以下哪個指標(biāo)用于評估電路的性能()C.面積D.功耗(以下為其他題型，請自行添加)二、多選題(本題共20小題，每小題1.5分，共30分，在每小題給出的四個選項中，至少有一項是符合題目要求的)1.集成電路設(shè)計驗證過程包括以下哪些階段?()2.以下哪些是靜態(tài)時序分析工具?()3.以下哪些方法可以用于提高電路的可測試性?()4.以下哪些屬于數(shù)字集成電路的故障類型?()A.永久故障5.在VerilogHDL中，哪些關(guān)鍵字用于定義變量?()6.以下哪些工具可以用于模擬集成電路的功耗?()7.以下哪些方法可以用于生成測試向量?()8.以下哪些因素會影響集成電路的測試質(zhì)量?()9.以下哪些是與邊界掃描測試相關(guān)的概念?()10.以下哪些是常見的集成電路設(shè)計驗證方法?()11.以下哪些工具屬于EDA工具?()12.以下哪些技術(shù)可以用于提高集成電路的可靠性?()A.多重模塊冗余13.以下哪些因素會影響集成電路的時序性能?()C.電源噪聲14.以下哪些是常見的數(shù)字電路測試方法?()15.在VerilogHDL中，哪些關(guān)鍵字用于描述時序邏輯?()16.以下哪些方法可以用于檢測電路中的靜態(tài)故障?()17.以下哪些工具可以用于進行形式驗證?()B.SAT-basedVerific18.以下哪些因素會影響集成電路的功耗?()A.電路活動19.以下哪些是測試向量生成時需要考慮的因素?()C.測試時間20.以下哪些方法可以用于評估集成電路的性能?()三、填空題(本題共10小題，每小題2分，共20分，請將正確答案填到題目空白處)2.集成電路設(shè)計驗證通常分為_驗證和物理驗證兩個階段。5.測試是一種通過檢測電路的功耗變化來檢測故障的方法。6.是指在不違反電路設(shè)計規(guī)范的前提下，生成的測試向量能夠檢測出所有可7.在集成電路設(shè)計中，_是指電路在沒有外部輸入的情況下能夠達到穩(wěn)定8._是一種基于布爾可滿足性的驗證方法，用于檢查電路設(shè)計9.集成電路的面積主要取決于電路的和工藝技術(shù)。四、判斷題(本題共10小題，每題1分，共10分，正確的請在答題括號中畫v,錯誤的畫1.集成電路設(shè)計驗證的主要任務(wù)是發(fā)現(xiàn)并修正電路設(shè)計中的錯誤。()2.功能驗證是通過軟件模擬來驗證電路的功能是否正確。()3.形式驗證可以100%保證電路中沒有功能性錯誤。()4.時序驗證主要關(guān)注電路的功耗問題。()5.IDDQ測試可以檢測電路中的所有故障類型。()6.在VerilogHDL中，always塊只能用來描述時序邏輯。()7.邊界掃描測試可以檢測電路中的所有故障。()8.多項式時間復(fù)雜度的算法可以用于解決所有類型的驗證問題。()9.集成電路的面積和功耗與電路的性能無關(guān)。()10.判斷題的答案只能是v或x,不能留空或填寫其他字符。()五、主觀題(本題共4小題，每題10分，共40分)1.請簡述集成電路設(shè)計驗證的基本流程，并說明各個階段的主要任務(wù)2.描述形式驗證與功能驗證的區(qū)別和聯(lián)系，并給出至少兩種常用的形式驗證方法。3.請闡述IDDQ測試的原理，以及它在集成電路設(shè)計驗證中的作4.針對一個簡單的時序電路，請說明如何進行時序分析，以及需要關(guān)注哪些關(guān)鍵指標(biāo)準(zhǔn)答案一、單項選擇題二、多選題1.功能4.延遲/建立時間7.初始狀態(tài)四、判斷題