《鐵路軌道維護》課件-鋼軌焊縫探傷

焊縫探傷焊縫探傷儀靈敏度測試前準備1焊縫探傷儀靈敏度測試2焊縫探傷3目錄01PARTONE焊縫探傷儀靈敏度測試前準備1.焊縫靈敏度測試所需試塊：利用GHT-5試塊A區(qū)7號孔深度160mm直徑5mm橫孔測定0°單探頭探傷靈敏度GHT-5試塊A區(qū)1.焊縫靈敏度測試所需試塊：利用GHT-5試塊B區(qū)5號孔深度60mm直徑3mm橫孔測定軌頭K2.5單探頭靈敏度利用GHT-5試塊B區(qū)8號孔深度160mm直徑3mm橫孔測定軌腰K1/K0.8單探頭靈敏度GHT-5試塊B區(qū)1.焊縫靈敏度測試所需試塊：利用GHT-5試塊C區(qū)2號豎孔二次反射波（上棱角反射波）測定軌底K2.5單探頭靈敏度GHT-5試塊C區(qū)1.焊縫靈敏度測試所需試塊：HT-9D焊縫探傷儀軌腰串列式掃查架探頭：軌頭K2.5單探頭（晶片尺寸13*13mm）；軌底K2.5單探頭（晶片尺寸8*12mm）軌腰K1單探頭晶片（尺寸13*13mm）備品：機油、鋼板尺、探頭連線2.儀器及備品3.儀器連接軌腰串列式插接口3.儀器連接K1單探頭C發(fā)射軌頭K2.5單探頭A發(fā)射軌底K2.5單探頭B發(fā)射單探頭連接1.單探頭檢測參數(shù)設置：通道聲程設置：軌頭k2.5單探頭聲程設置為250mm，軌底K2.5單探頭聲程設置為200mm，軌腰K1單探頭聲程設置為300mm。零點校正和前沿距離先設置為0（為之后零點校正和前沿距離測試做準備）測量閘門：設置為開單雙收發(fā)：設置為單4.儀器設置02PARTTWO焊縫探傷儀靈敏度測試1.串列式探傷通道靈敏度校驗串列式通道測試：將HT-9D儀器與軌腰串列式掃查架連接好并開機，將掃查架置于GHT-5試塊，調(diào)整儀器單顯設置調(diào)整到串列式A或者B單通道上，使B區(qū)8號橫孔反射波調(diào)整到滿幅度的80%，然后根據(jù)探測面情況進行適當表面耦合補償（一般2db-6db），作為串列式A/B通道（K0.8）探頭探測軌腰部位的探傷靈敏度。2.

單探頭靈敏度校驗將（0°）單通道測試：將HT-9D儀器與0°探頭連接好并開機，將0°探頭置于GHT-5試塊，調(diào)整儀器單顯設置相應通道上，使A區(qū)7號橫孔反射波調(diào)整到滿幅度的80%；出波清晰完整，現(xiàn)場根據(jù)探測面耦合狀態(tài)進行補償（一般2db-6db），作為（0°）通道的探傷靈敏度。2.

單探頭靈敏度校驗軌頭K2.5單探頭測試：將GHT-5試塊B區(qū)5號橫通孔反射波調(diào)整到滿幅度的80%，然后根據(jù)探測面情況進行適當表面耦合補償（一般2db-6db），作為K2.5探頭探測軌頭部位的探傷靈敏度。2.

單探頭靈敏度校驗K1探頭測試：將GHT-5試塊B區(qū)8號橫孔反射波調(diào)整到滿幅度的80%，然后根據(jù)探測面情況進行適當表面耦合補償（一般為2db-6db），作為K1探頭探測軌腰部位的探傷靈敏度。03PARTTHREE焊縫探傷1.焊縫軌腰串列式探傷掃查將掃查架放置在鋼軌軌面中心位置，距焊縫中心340mm處分別對焊縫兩側(cè)進行掃查，每側(cè)要有2次合格數(shù)據(jù)，共計4次，每次掃查間隔不少于10s，如圖所示：2.焊縫軌頭單探頭法根據(jù)焊縫探傷需要，采用單晶K2.5探頭對焊縫軌頭進行探傷。為使鋼軌焊縫軌頭得到全面掃查，K2.5探頭在軌頂面采用縱向移動和偏角縱向移動兩種方式掃查。軌頭有效掃查時間不少于2min。2.焊縫軌頭單探頭法由于軌頭頂面作用邊呈圓弧狀，探頭接觸面過小，不利于焊縫軌頭內(nèi)外側(cè)上角缺陷的檢出，因此采用偏角縱向移動法探測。K2.5探頭置于軌面中心，以20°偏角縱向移動探頭，移動區(qū)域為焊縫中心約100-250mm，利用軌顎反射檢出焊縫軌頭內(nèi)外側(cè)缺陷，掃查次數(shù)為焊縫內(nèi)、外兩側(cè)共計4次。檢查焊縫軌顎時，探頭置于軌頭中心偏內(nèi)一側(cè)位置利用一次波偏角5°左右縱向移動掃查，也可以在軌頭側(cè)面探頭向下偏斜10°對軌顎進行掃查。鋼軌焊縫軌底是常規(guī)探傷無法檢測的部位，通常使用焊縫探傷儀，配單個K值探頭進行反射式探測。焊縫軌底按內(nèi)外兩側(cè)共分4個面，每面探傷有效掃查時間不少于30s，每一面探完點擊探傷方法重新轉(zhuǎn)換直至完成4個面探傷。2.焊縫軌頭單探頭法根據(jù)TB/T2658.21標準軌底分成二大部分：一是軌底角（即距焊縫軌底邊緣0mm-20mm范圍），另一部分是軌腰與軌底連接部分（簡稱軌底三角區(qū)）。根據(jù)軌底和聲速寬度對應關系，確保軌底得到全面掃查，又將軌底劃分6個探測區(qū)（如圖a），使用K2.5探頭，分別按不同的偏角和位置進行縱向移動探頭掃查，利用二次波探