工程材料表征技術(shù)知到智慧樹章節(jié)測試課后答案2024年秋湖南工學(xué)院

工程材料表征技術(shù)知到智慧樹章節(jié)測試課后答案2024年秋湖南工學(xué)院第一章單元測試

荷葉表面具有疏水性能原因是______

A:荷葉表面很干凈B:荷葉表面分泌油脂C:荷葉表面的納米結(jié)構(gòu)D:荷葉表面極為光滑

答案:荷葉表面的納米結(jié)構(gòu)材料科學(xué)中的結(jié)構(gòu)可包含以下哪些對象______

A:相B:缺陷C:大分子鏈D:組織E:單體

答案:相；缺陷；大分子鏈；組織；單體X射線晶體衍射技術(shù)將人們對材料結(jié)構(gòu)的認(rèn)識(shí)推進(jìn)到了_______尺度

A:原子B:厘米級(jí)C:晶體D:微米級(jí)

答案:原子人的肉眼為什么無法看到紅外線？

A:人眼僅能觀察到與周邊（背景）顏色有足夠差別的物體B:人眼接收光線的頻率范圍有限制C:人眼的分辨率只有0.1mmD:人眼的視網(wǎng)膜無法感知強(qiáng)度太弱的光線

答案:人眼接收光線的頻率范圍有限制材料科學(xué)中的結(jié)構(gòu)與性能的關(guān)系式______

A:性能改變結(jié)構(gòu)B:結(jié)構(gòu)決定性能C:性能決定結(jié)構(gòu)D:結(jié)構(gòu)與性能相互協(xié)調(diào)

答案:結(jié)構(gòu)決定性能你希望在學(xué)習(xí)完本課程之后，具備哪些方面的知識(shí)與初步能力。

A:結(jié)構(gòu)反求能力B:材料結(jié)構(gòu)表征能力C:材料表征的常用方法D:材料選擇能力

答案:結(jié)構(gòu)反求能力；材料結(jié)構(gòu)表征能力；材料表征的常用方法；材料選擇能力在倫琴之前已經(jīng)有不少人觀察到X射線使得底片感光的類似現(xiàn)象。

A:錯(cuò)B:對

答案:對金相顯微鏡的使用，建立了鋼鐵性能與顯微組織的聯(lián)系，使得鋼鐵質(zhì)量穩(wěn)定有章可循，同時(shí)也開辟了金相學(xué)這一學(xué)科。

A:對B:錯(cuò)

答案:對人類歷史上曾先后出現(xiàn)過對人類文明起到革命性推動(dòng)作用的新光源是哪些？

A:同步輻射光源B:X射線光源C:電光源D:激光光源

答案:同步輻射光源；X射線光源；電光源；激光光源同步輻射光源是指產(chǎn)生同步輻射的物理裝置，它是利用相對論性電子（或正電子）在磁場中偏轉(zhuǎn)時(shí)產(chǎn)生同步輻射的高性能新型強(qiáng)光源。

A:錯(cuò)B:對

答案:對以下關(guān)于航空發(fā)動(dòng)機(jī)地位正確的描述是_____。

A:噴氣發(fā)動(dòng)機(jī)的主要結(jié)構(gòu)部件有進(jìn)氣道、壓氣機(jī)、燃燒室、渦輪以及尾噴管等B:航空發(fā)動(dòng)機(jī),是大國重器,是一個(gè)國家國力的象征C:航空發(fā)動(dòng)機(jī)是飛機(jī)的心臟D:現(xiàn)代噴氣式發(fā)動(dòng)機(jī)，主要包括渦輪風(fēng)扇發(fā)動(dòng)機(jī)、渦輪噴氣發(fā)動(dòng)機(jī)等E:航空發(fā)動(dòng)機(jī)被譽(yù)為現(xiàn)代工業(yè)“皇冠上的明珠”

答案:噴氣發(fā)動(dòng)機(jī)的主要結(jié)構(gòu)部件有進(jìn)氣道、壓氣機(jī)、燃燒室、渦輪以及尾噴管等；航空發(fā)動(dòng)機(jī),是大國重器,是一個(gè)國家國力的象征；航空發(fā)動(dòng)機(jī)是飛機(jī)的心臟；現(xiàn)代噴氣式發(fā)動(dòng)機(jī)，主要包括渦輪風(fēng)扇發(fā)動(dòng)機(jī)、渦輪噴氣發(fā)動(dòng)機(jī)等；航空發(fā)動(dòng)機(jī)被譽(yù)為現(xiàn)代工業(yè)“皇冠上的明珠”下列方法中,(

)可用于測定方解石的點(diǎn)陣常數(shù)。

A:

原子吸收光譜B:

紅外光譜C:

X射線衍射線分析D:

紫外光譜子能譜

答案:

X射線衍射線分析合金鋼薄膜中極小彌散顆粒(直徑遠(yuǎn)小于

)的物相鑒定,可以選擇(

)。

A:

X射線衍射線分析B:

功能透射電鏡C:

紫外可見吸收光譜D:

差熱分析

答案:

功能透射電鏡下列(

)晶面不屬于[100]晶帶。

A:

(100)B:

(001)C:

(010)

答案:

(100)某半導(dǎo)體的表面能帶結(jié)構(gòu)測定,可以選擇(

)。

A:

紫外光電子能譜B:

X射線光電子能譜C:

透射電鏡D:

紅外光譜

答案:

紫外光電子能譜要分析鋼中碳化物成分和基體中碳含量,一般應(yīng)選用(

)電子探針儀。

A:

波譜儀型B:

能譜儀型C:

傅里葉紅外光譜儀型D:

質(zhì)譜儀型

答案:

波譜儀型要測定聚合物的熔點(diǎn),可以選擇(

)。

A:

X射線衍射B:

差熱分析C:

紫外可見光譜D:

紅外光譜

答案:

差熱分析下列分析方法中,(

)不能分析水泥原料的化學(xué)組成。

A:

紅外光譜B:

X射線熒光光譜C:

等離子體發(fā)射光譜D:

原子吸收光譜

答案:

紅外光譜下列有關(guān)光譜方面的說法,正確的是(

)。

A:

原子吸收屬于銳線吸收,其吸收峰寬度通常小于分子吸收峰B:

漫反射光譜儀可以直接測量固體表面或者粉末樣品的光譜C:

熒光是一種光至發(fā)光現(xiàn)象,而拉曼光譜基于光的散射原理D:

紫外可見光譜是吸收光譜,紅外光譜是散射光譜

答案:

原子吸收屬于銳線吸收,其吸收峰寬度通常小于分子吸收峰；

漫反射光譜儀可以直接測量固體表面或者粉末樣品的光譜；

熒光是一種光至發(fā)光現(xiàn)象,而拉曼光譜基于光的散射原理

在對樣品進(jìn)行拉曼光譜測量時(shí),下列說法正確的是(

)。

A:

固體粉末、液態(tài)樣品無需稀釋就可以直接測量B:

樣品的拉曼光譜與紅外光譜有些峰位置相同C:

較長的曝光時(shí)間會(huì)降低信噪比D:

無機(jī)樣品沒有拉曼光譜

答案:

固體粉末、液態(tài)樣品無需稀釋就可以直接測量；

樣品的拉曼光譜與紅外光譜有些峰位置相同

X射線衍射與光的反射一樣,只要滿足入射角等于反射角就行。

A:對B:錯(cuò)

答案:錯(cuò)

第二章單元測試

光學(xué)系統(tǒng)的主要構(gòu)件是什么？

A:偏光鏡B:物鏡C:目鏡D:物鏡和目鏡

答案:物鏡和目鏡金屬材料按它的晶體結(jié)構(gòu)不同，可分為什么？

A:各向異性B:各向同性C:各向同性和各向異性

答案:各向同性和各向異性在鑲嵌過程中，選擇相應(yīng)的塑料，應(yīng)考慮什么？

A:鑲樣塑料有強(qiáng)的抗腐蝕能力B:鑲樣塑料，應(yīng)該有足夠的硬度C:鑲嵌方便，鑲嵌時(shí)間不長，也不易出現(xiàn)缺陷D:鑲樣塑料必須不溶于酒精

答案:鑲樣塑料有強(qiáng)的抗腐蝕能力；鑲樣塑料，應(yīng)該有足夠的硬度；鑲嵌方便，鑲嵌時(shí)間不長，也不易出現(xiàn)缺陷；鑲樣塑料必須不溶于酒精腐蝕的操作方法是什么？

A:拋光面向下，傾入盛有腐蝕劑的玻璃器皿中，不斷擺動(dòng)，達(dá)到一定的時(shí)間后取出B:直接放入腐蝕液中進(jìn)行腐蝕C:將沾有腐蝕液的脫脂棉，擦拭拋光面，待一定時(shí)間后停止擦拭

答案:拋光面向下，傾入盛有腐蝕劑的玻璃器皿中，不斷擺動(dòng)，達(dá)到一定的時(shí)間后取出；將沾有腐蝕液的脫脂棉，擦拭拋光面，待一定時(shí)間后停止擦拭普通光學(xué)金相顯微鏡分為哪幾類？

A:立式顯微鏡B:臺(tái)式顯微鏡C:臥式顯微鏡D:偏光顯微鏡

答案:立式顯微鏡；臺(tái)式顯微鏡；臥式顯微鏡以下哪一選項(xiàng)不是自然光源？

A:水母B:螢火蟲C:太陽D:電筒

答案:電筒電燈，電筒，蠟燭都屬于人造光源

A:錯(cuò)B:對

答案:對光在兩種不同介質(zhì)分界面之間傳播可能會(huì)發(fā)生？

A:折射B:以上都有可能C:反射D:全發(fā)射

答案:以上都有可能把筷子放在水杯當(dāng)中，發(fā)現(xiàn)它看似“折斷”了，這是光的反射現(xiàn)象

A:對B:錯(cuò)

答案:錯(cuò)以下哪一選項(xiàng)不屬于單色像差？

A:色差B:球差C:像散D:慧差

答案:色差光學(xué)顯微鏡的放大倍數(shù)為？

A:目鏡倍數(shù)+物鏡倍數(shù)B:目鏡倍數(shù)C:目鏡倍數(shù)*物鏡倍數(shù)D:物鏡倍數(shù)

答案:目鏡倍數(shù)*物鏡倍數(shù)物鏡的好壞直接影響顯微鏡成像的質(zhì)量

A:對B:錯(cuò)

答案:對通過減小透鏡的直徑或增大物鏡的焦距可以提高數(shù)值孔徑

A:錯(cuò)B:對

答案:錯(cuò)物鏡的鑒別率越高，則兩個(gè)物點(diǎn)能清晰分辨的最小距離d的值越小

A:錯(cuò)B:對

答案:對目鏡除了有放大作用，還能對像差進(jìn)行校正的功能

A:對B:錯(cuò)

答案:對金相顯微鏡中常見的光源有？

A:碳弧燈B:氙燈C:水銀燈D:白織燈

答案:碳弧燈；氙燈；水銀燈；白織燈采用陽極覆膜的試樣應(yīng)采用哪種顯微鏡進(jìn)行觀察

A:干涉顯微鏡B:相襯顯微鏡C:偏光顯微鏡D:高溫顯微鏡

答案:偏光顯微鏡

第三章單元測試

X射線與可見光相比，以下說法正確的是______

A:本質(zhì)上都是電磁輻射B:X射線光子的能量更低C:X射線的頻率更低D:X射線的波長更短

答案:本質(zhì)上都是電磁輻射；X射線的波長更短X射線管中阻擋電子飛行的組件是______

A:聚焦杯B:陰極C:陽極靶D:鈹窗口

答案:陽極靶產(chǎn)生X射線的條件為______

A:極間放電B:電子作定向的高速運(yùn)動(dòng)C:產(chǎn)生自由電子D:加速電子運(yùn)動(dòng)的路徑上設(shè)置一個(gè)障礙物使電子突然減速或停止

答案:電子作定向的高速運(yùn)動(dòng)；產(chǎn)生自由電子；加速電子運(yùn)動(dòng)的路徑上設(shè)置一個(gè)障礙物使電子突然減速或停止硬X射線直接照射人體無任何危害。

A:對B:錯(cuò)

答案:錯(cuò)解釋X射線衍射與鏡面反射的區(qū)別在于_____

A:X射線只有在滿足布拉格方程的方向才能反射B:X射線的選擇反射的能量損失大部分C:反射后的波長發(fā)生變化D:

入射角不等于反射角

答案:X射線只有在滿足布拉格方程的方向才能反射；X射線的選擇反射的能量損失大部分布拉格方程僅能應(yīng)用于X射線衍射。

A:對B:錯(cuò)

答案:錯(cuò)當(dāng)反射面對應(yīng)的倒易矢量端點(diǎn)位于厄瓦爾德球的球面上時(shí)，此反射面滿足布拉格方程。

A:錯(cuò)B:對

答案:對厄瓦爾德圖解能解釋單晶衍射原理，但無法解釋多晶衍射原理。

A:對B:錯(cuò)

答案:錯(cuò)d值誤差隨2θ增大而(

)

A:不變B:不一定C:減小D:增大

答案:減小基于X射線衍射強(qiáng)度的測量項(xiàng)目是(

)

A:晶塊尺寸B:定量物相分析C:內(nèi)應(yīng)力

答案:定量物相分析對于內(nèi)標(biāo)法定量分析，下列說法正確的是（

）

A:在配制標(biāo)準(zhǔn)樣品和待測樣品時(shí)，標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的質(zhì)量百分?jǐn)?shù)應(yīng)保持恒定B:內(nèi)標(biāo)物質(zhì)衍射線數(shù)目適中、分布均勻C:測量強(qiáng)度所選用的衍射線，應(yīng)該是衍射角相近、衍射強(qiáng)度也較接近，并且不受其它衍射線干擾的衍射線D:內(nèi)標(biāo)物質(zhì)必須化學(xué)性質(zhì)穩(wěn)定，不氧化、不吸水、不受研磨影響

答案:在配制標(biāo)準(zhǔn)樣品和待測樣品時(shí)，標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的質(zhì)量百分?jǐn)?shù)應(yīng)保持恒定；內(nèi)標(biāo)物質(zhì)衍射線數(shù)目適中、分布均勻；測量強(qiáng)度所選用的衍射線，應(yīng)該是衍射角相近、衍射強(qiáng)度也較接近，并且不受其它衍射線干擾的衍射線；內(nèi)標(biāo)物質(zhì)必須化學(xué)性質(zhì)穩(wěn)定，不氧化、不吸水、不受研磨影響定量物相分析可以確定樣品中的元素含量。

A:錯(cuò)B:對

答案:錯(cuò)定性物相分析中的主要依據(jù)是d值和I值。

A:錯(cuò)B:對

答案:對布拉格方程的基本形式為(

)。

A:B:C:D:

答案:對于原子散射因子f,隨一個(gè)電子的散射振幅增大而(

)。

A:

減小B:

不變C:

增大D:

先增大后減小

答案:

增大普通X光管發(fā)出的光屬于(

)。

A:

偏振光B:

既能偏振,也能不偏振C:

非偏振光

答案:

偏振光區(qū)分晶體與非晶體最可靠的方法(

)。

A:

加熱B:

X-射線衍射實(shí)驗(yàn)C:

觀察外觀D:

稱量

答案:

X-射線衍射實(shí)驗(yàn)X射線衍射的方法是研究晶體微觀結(jié)構(gòu)的有效方法,其主要原因是由于下列的哪種?(

)

A:

X射線的波長和晶體點(diǎn)陣面間距大致相當(dāng)B:

X射線可使物質(zhì)電離而便于檢測C:

X射線的粒子不帶電D:

X射線的穿透能力強(qiáng)

答案:

X射線的波長和晶體點(diǎn)陣面間距大致相當(dāng)

電子衍射和X射線衍射一樣必須嚴(yán)格符合布拉格方程。

A:對B:錯(cuò)

答案:錯(cuò)

只要原子內(nèi)層電子被打出核外即產(chǎn)生特征X射線。

A:錯(cuò)B:對

答案:錯(cuò)X射線的穿透能力不取決于(

)。

A:

源的種類B:

源的尺寸C:

焦點(diǎn)尺寸D:

曝光時(shí)間

答案:

源的尺寸；

焦點(diǎn)尺寸；

曝光時(shí)間

第四章單元測試

電子束與樣品相互作用產(chǎn)生的信號(hào)。這一過程產(chǎn)生的信號(hào)比較豐富，主要有____

A:二次電子B:X射線和吸收電子C:背散射電子D:透射電子和俄歇電子

答案:二次電子；X射線和吸收電子；背散射電子；透射電子和俄歇電子掃描電鏡的塊體樣品通常要通過拋光和腐蝕等預(yù)處理。

A:錯(cuò)B:對

答案:對在入射電子作用下，使樣品原子的外層價(jià)電子或自由電子被擊出樣品表面，所以稱之為“二次電子”。

A:錯(cuò)B:對

答案:對掃描電鏡的二次電子信號(hào)的產(chǎn)額對_____非常敏感

A:樣品表面的晶體取向B:樣品表面形貌C:樣品原子序數(shù)D:樣品的電離程度

答案:樣品表面形貌掃描電鏡的二次電子信號(hào)的主要用途是______

A:原始表面形貌觀察B:顯微組織形貌分析C:晶體取向確定D:斷口表面形貌分析

答案:原始表面形貌觀察；顯微組織形貌分析；斷口表面形貌分析掃描電鏡的背散射電子產(chǎn)額與樣品的平均原子序數(shù)成正比。

A:對B:錯(cuò)

答案:對掃描電鏡的背散射電子信號(hào)的主要用途是______

A:顯示相的形狀和分布B:斷口表面形貌分析C:定性分析材料的成分分布D:晶體取向確定

答案:顯示相的形狀和分布；定性分析材料的成分分布特征X射線的信號(hào)特征是：能量或波長與樣品中元素的原子序數(shù)有對應(yīng)關(guān)系，而且強(qiáng)度隨著對應(yīng)元素含量的增大而增大。

A:錯(cuò)B:對

答案:對掃描電鏡的特征X射線的信號(hào)可用于材料微區(qū)成分定性和半定量分析。

A:對B:錯(cuò)

答案:對掃描電子顯微鏡主要由以下幾個(gè)部分構(gòu)成

A:電子光學(xué)系統(tǒng)B:圖像顯示記錄系統(tǒng)C:信號(hào)收集D:真空系統(tǒng)

答案:電子光學(xué)系統(tǒng)；圖像顯示記錄系統(tǒng)；信號(hào)收集；真空系統(tǒng)習(xí)慣上，將_______的分辨率作為掃描電子顯微鏡分辨率的指標(biāo)

A:背散射電子像B:二次電子像C:俄歇電子像D:吸收電子像

答案:二次電子像在能夠分辨樣品上最小細(xì)節(jié)的前提下，選用放大倍數(shù)的原則是，應(yīng)盡可能的選用較低的放大倍數(shù)，因?yàn)榭梢杂^察記錄到更大的樣品區(qū)。

A:對B:錯(cuò)

答案:對在用掃描電鏡觀察不導(dǎo)電的粉末時(shí)，不要進(jìn)行表面噴碳或噴金處理。

A:錯(cuò)B:對

答案:錯(cuò)可直接將粉末用于掃描電鏡觀測。

A:對B:錯(cuò)

答案:錯(cuò)人眼的平均分辨率為(

)。

A:

0.3mmB:

0.2mmC:

0.4mmD:

答案:

0.2mm電子槍產(chǎn)生的電子是(

)。

A:

彈性散射電子B:

入射電子C:

俄歇電子D:

二次電子E:

透射電子

答案:

入射電子二次電子的能量通常是:(

)。

A:

50eV以上B:

500eV以下C:

500eV以上D:

50eV以下

答案:

50eV以下在掃描電子顯微鏡中,下列二次電子像襯度最亮的區(qū)域是(

)。

A:

和電子束垂直的表面B:

和電子束成

的表面C:

和電子束成

的表面D:

和電子束成

的表面

答案:

和電子束成

的表面掃描電子顯微鏡配備的成分分析附件中最常見的儀器是(

)。

A:

波譜儀B:

特征電子能量損失譜C:

能譜儀D:

俄歇電子譜儀

答案:

能譜儀SEM的景深特別大,這主要是因?yàn)?(

)。

A:

電子束的束斑尺寸小B:

兩種因素都沒有C:

電子束的平行度好D:

兩種因素都有

答案:

電子束的平行度好掃描電鏡的成像原理有(

)。

A:

形貌襯度B:

衍射襯度C:

質(zhì)厚襯度D:

成分襯度

答案:

形貌襯度；

成分襯度

有效放大倍數(shù)與儀器可以達(dá)到的放大倍數(shù)不同,前者取決于儀器分辨率和人眼分辨率,后者僅僅是儀器的制造水平。

A:對B:錯(cuò)

答案:對

場發(fā)射式電子槍的電子產(chǎn)生率與真空度有密切的關(guān)系,其使用壽命也隨真空度變差而急劇縮短。

A:對B:錯(cuò)

答案:對

襯度是指圖像上不同區(qū)域間明暗程度的差別。

A:錯(cuò)B:對

答案:對

掃描電鏡中二次電子像比背散射電子像的分辨率高。

A:對B:錯(cuò)

答案:對

第五章單元測試

紅外光可引起物質(zhì)的能級(jí)躍遷是（

）

A:分子外層電子、振動(dòng)、轉(zhuǎn)動(dòng)能級(jí)的躍遷

B:分子外層電子的能級(jí)躍遷C:分子振動(dòng)-轉(zhuǎn)動(dòng)能級(jí)的躍遷

D:原子外層電子、振動(dòng)、轉(zhuǎn)動(dòng)能級(jí)的躍遷

答案:分子振動(dòng)-轉(zhuǎn)動(dòng)能級(jí)的躍遷

對應(yīng)于同一分子能級(jí)，斯托克斯線與反斯托克斯線的拉曼位移應(yīng)該相等，而且躍遷的幾率也應(yīng)相等。

A:對B:錯(cuò)

答案:對下列敘述正確的是（

）

A:拉曼光譜分析中，水可以作為溶劑B:拉曼光譜分析中，玻璃可以作為窗口材料C:紅外光譜與拉曼光譜在有對稱中心的分子中沒有同頻率的譜帶D:羰基在紅外中信號(hào)弱而在拉曼中信號(hào)較強(qiáng)

答案:拉曼光譜分析中，水可以作為溶劑；拉曼光譜分析中，玻璃可以作為窗口材料；紅外光譜與拉曼光譜在有對稱中心的分子中沒有同頻率的譜帶紅外光譜圖中，不同化合物中相同基團(tuán)的特征頻率峰總是在特定波長范圍內(nèi)出現(xiàn)，故可以根據(jù)紅外光譜圖中的特征頻率峰確定化合物中該基團(tuán)的存在。

A:錯(cuò)B:對

答案:對對稱結(jié)構(gòu)分子，如H2O分子，沒有紅外活性。

A:對B:錯(cuò)

答案:錯(cuò)分光光度計(jì)的可見光波長范圍是（

）

A:500nm～1000nmB:400nm～800nmC:200nm～400nmD:800nm～1000nm

答案:400nm～800nm在紅外光譜分析中，用KBr制作為試樣池，這是因?yàn)椋?/p>

）

A:KBr在4000～400cm-1范圍內(nèi)無紅外光吸收

B:KBr在4000～400cm-1范圍內(nèi)不會(huì)散射紅外光

C:在4000～400cm-1范圍內(nèi)，KBr對紅外無反射D:KBr在4000～400cm-1范圍內(nèi)有良好的紅外光吸收特性

答案:KBr在4000～400cm-1范圍內(nèi)無紅外光吸收

某化合物在1500~2800cm-1無吸收，該化合物可能是（

）

A:烯烴B:烷烴C:炔烴D:芳烴

答案:烷烴拉曼光譜是（

）

A:原子熒光光譜B:發(fā)射光譜C:散射光譜D:吸收光譜

答案:散射光譜指出下列哪種是拉曼光譜儀常用的光源(

)

A:激光器B:空心陰極燈C:硅碳棒D:鹵鎢燈

答案:激光器拉曼活性振動(dòng)能引起分子偶極矩變化（

）

A:對B:錯(cuò)

答案:錯(cuò)在測試紅外光譜時(shí)，聚合物的一般制樣方法主要有流延薄膜法、熱壓薄膜法和溴化鉀壓片法（

）

A:對B:錯(cuò)

答案:對基于吸收原理的分析方法是(

)

A:紅外光譜分析B:分子熒光光度法C:原子熒光光譜法D:紫外及可見光光度法

答案:紅外光譜分析；紫外及可見光光度法當(dāng)用紅外光激發(fā)分子振動(dòng)能級(jí)躍遷時(shí)，化學(xué)鍵越強(qiáng)，則（

）

A:吸收光子的波數(shù)越大B:吸收光子的波長越長C:吸收光子的能量越大D:吸收光子的頻率越大E:吸收光子的數(shù)目越多

答案:吸收光子的波數(shù)越大；吸收光子的能量越大；吸收光子的頻率越大一種能作為色散型紅外光譜儀色散元件的材料為(

)。

A:

玻璃B:有機(jī)玻璃

C:

鹵化物晶體D:

石英

答案:

鹵化物晶體下列四種化合物中,羰基化合物頻率出現(xiàn)最低者為(

)。

A:

ⅢB:

ⅡC:

ⅣD:

Ⅰ

答案:

Ⅳ下面四個(gè)化合物中的C=C伸縮振動(dòng)頻率最小的是(

)。

A:B:C:D:

答案:

化合物中只有一個(gè)羰基,卻在44325px-1和43400px-1處出現(xiàn)兩個(gè)吸收峰,這是因?yàn)?

)。

A:

共軛效應(yīng)B:

費(fèi)米共振C:

誘導(dǎo)效應(yīng)D:

空間位阻

答案:

費(fèi)米共振

當(dāng)分子受到紅外光激發(fā)，其振動(dòng)能級(jí)發(fā)生躍遷時(shí),化學(xué)鍵越強(qiáng)吸收的光子數(shù)目越多。

A:對B:錯(cuò)

答案:對

酮、羧酸等的羰基(>C=O)的伸縮振動(dòng)在紅外光譜中的吸收峰頻率相同。

A:錯(cuò)B:對

答案:錯(cuò)預(yù)測以下各個(gè)鍵的振動(dòng)頻率所落的區(qū)域,正確的是(

)。

A:

C-O伸縮振動(dòng)波數(shù)在2500～37500px-1B:C-N伸縮振動(dòng)波數(shù)在1500～25000px-1C:N-H彎曲振動(dòng)波數(shù)在4000～62500px-1D:

O-H伸縮振動(dòng)數(shù)在4000～62500px-1

答案:C-N伸縮振動(dòng)波數(shù)在1500～25000px-1；N-H彎曲振動(dòng)波數(shù)在4000～62500px-1；

O-H伸縮振動(dòng)數(shù)在4000～62500px-1紅外光譜分析中,用于固體試樣的制樣方法有(

)。

A:

液膜法B:

溶液法C:

壓片法D:

薄膜法

答案:

液膜法；

溶液法；

壓片法；

薄膜法當(dāng)用紅外光激發(fā)分子振動(dòng)能級(jí)躍遷時(shí),化學(xué)鍵越強(qiáng),則(

)。

A:

吸收光子的能量越大B:

吸收光子的頻率越大C:

吸收光子的波長越長D:

吸收光子的波數(shù)越大

答案:

吸收光子的能量越大；

吸收光子的頻率越大；

吸收光子的波數(shù)越大

第六章單元測試

超聲波的頻率范圍是？

A:20KHz≤f≤1000MHzB:20Hz≤f≤20KHzC:f<20HzD:f>1000MHz

答案:20KHz≤f≤1000MHz渦流檢測線圈按應(yīng)用方式分為哪幾類？

A:外通過式線圈B:放置式線圈C:內(nèi)穿過式線圈D:自比式線圈

答案:外通過式線圈；放置式線圈；內(nèi)穿過式線圈超聲波波速由介質(zhì)材料和超聲波波形決定。

A:對B:錯(cuò)

答案:對由于渦流集膚效應(yīng)：交變電流通過導(dǎo)線時(shí)，導(dǎo)線周圍變化的磁場也會(huì)在導(dǎo)線中產(chǎn)生感應(yīng)電流，從而會(huì)使沿導(dǎo)線截面的電流分布不均勻，表面的電流密度較大，越往中心處越小。

A:對B:錯(cuò)

答案:對關(guān)于振動(dòng)與波動(dòng),下列哪種說法是錯(cuò)誤的:

A:波動(dòng)是產(chǎn)生振動(dòng)的根源B:波動(dòng)是振動(dòng)在物體或空間中的傳播C:振動(dòng)可以是簡諧或非簡諧的D:波動(dòng)是物質(zhì)運(yùn)動(dòng)的一種形式

答案:波動(dòng)是產(chǎn)生振動(dòng)的根源在水/鋼界面上,水中入射角為17°在鋼中傳播的主要振動(dòng)波型為

A:B和CB:橫波C:表面波D:縱波

答案:橫波在液體中唯一能傳播的聲波波型是

A:剪切波?B:蘭姆波C:壓縮波?D:瑞利波

答案:壓縮波?在檢測條件相同情況下,直徑比為2的兩個(gè)實(shí)心圓柱體,其曲底面回波相差

A:6dBB:9dBC:3dBD:12dB

答案:6dB由材料晶粒粗大引起的衰減屬于

A:散射B:以上都是C:擴(kuò)散D:吸收

答案:散射以下（）不是2.5P13X13K2探頭的正確表述

A:晶片尺寸為13X13B:在鋼中橫波折射角的正切值為2C:橫波斜探頭D:晶片的實(shí)際共振頻率為2.5MHZ

答案:晶片的實(shí)際共振頻率為2.5MHZ探傷時(shí)采用較高的探測頻率，可有利于

A:改善聲束指向性??B:發(fā)現(xiàn)較小的缺陷C:區(qū)分開相鄰的缺陷??D:以上全部

答案:以上全部試塊按其來源可分為(標(biāo)準(zhǔn))試塊和（對比）試塊

A:對B:錯(cuò)

答案:對既然水波能在水面?zhèn)鞑ィ敲闯暠砻娌ㄒ材苎匾后w表面?zhèn)鞑?/p>

A:錯(cuò)B:對

答案:錯(cuò)第二介質(zhì)中折射的橫波平行于界面時(shí)的縱波入射角為第一臨界角

A:對B:錯(cuò)

答案:錯(cuò)

第七章單元測試

熱重分析技術(shù)是由本多光太郎發(fā)明的。

A:錯(cuò)B:對

答案:對下列方法不能測量玻璃化轉(zhuǎn)變溫度的是（

）

A:DMAB:TGAC:TMAD:DSC

答案:TGADSC由控溫爐、溫度控制器、熱量補(bǔ)償器、放大器、記錄儀組成。

A:錯(cuò)B:對

答案:對下列過程屬于放熱反應(yīng)的是（

）

A:蒸發(fā)B:燃燒C:結(jié)晶D:升華

答案:燃燒下列參數(shù)可以通過差示掃描量熱分析測得的是（

）

A:熔點(diǎn)B:分解溫度C:玻璃轉(zhuǎn)換溫度D:純度

答案:熔點(diǎn)；玻璃轉(zhuǎn)換溫度；純度材料常見的物理變化不包括________。

A:吸收與