材料研究方法（二）知到智慧樹章節(jié)測試課后答案2024年秋武漢科技大學

材料研究方法（二）知到智慧樹章節(jié)測試課后答案2024年秋武漢科技大學第一章單元測試

光學透鏡成像的基礎是光可以發(fā)生（）。

A:折射

B:衍射

C:反射

D:散射

答案:折射

照明光源的波長不單一造成的像差我們稱為（）。

A:色差

B:像散

C:球差

D:像差

答案:色差

（）是由于透鏡的遠軸區(qū)與近軸區(qū)的磁場對電子的折射能力不同而造成的。

A:球差

B:像散

C:像差

D:色差

答案:球差

像散是由于透鏡磁場的非旋轉對稱引起的。（）

A:錯B:對

答案:對低能電子束波長比較長，不容易被磁場會聚（）

A:對B:錯

答案:錯

第二章單元測試

透射電鏡的分辨率主要取決于（）。

A:投影鏡

B:物鏡

C:中間鏡

D:聚光鏡

答案:物鏡

透射電子顯微鏡的成像系統(tǒng)中有（）

A:樣品架、聚光鏡光闌、投影鏡

B:物鏡、中間鏡、投影鏡

C:物鏡光闌，投影鏡、聚光鏡

D:聚光鏡、物鏡、物鏡光闌

答案:物鏡、中間鏡、投影鏡

透射電子顯微鏡中的光闌有（）

A:物鏡光闌、投影鏡光闌、發(fā)散光闌

B:衍射光闌、聚焦光闌、發(fā)散光闌

C:物鏡光闌、聚光鏡光闌、選區(qū)光闌

D:中間鏡光闌、投影鏡光闌、衍射光闌

答案:物鏡光闌、聚光鏡光闌、選區(qū)光闌

透射電子顯微鏡操作的過程中，將中間鏡的物平面和物鏡的像平面重合，就是成像操作。（）

A:對B:錯

答案:對透射電子顯微鏡不需要在高真空下工作。（）

A:對B:錯

答案:錯

第三章單元測試

共帶軸的晶面在倒空間中的陣點是（）

A:共點

B:無規(guī)則

C:共線

D:共面

答案:共面

正空間中孿晶點陣與基體點陣存在對稱關系，其倒空間點陣（）

A:存在鏡面對稱關系，但對稱性質發(fā)生改變

B:完全重合

C:存在同樣的鏡面對稱關系

D:不存在晶面對稱關系

答案:存在同樣的鏡面對稱關系

單晶體的電子衍射花樣本質上是（）

A:垂直于電子束入射方向的+1層倒易陣點上的陣點在熒光屏上的投影

B:平行于電子束入射方向的零層倒易陣點上的陣點在熒光屏上的投影

C:平行于電子束入射方向的-1層倒易陣點上的陣點在熒光屏上的投影

D:垂直于電子束入射方向的零層倒易陣點上的陣點在熒光屏上的投影

答案:垂直于電子束入射方向的零層倒易陣點上的陣點在熒光屏上的投影

一個體心立方晶體，下面哪個衍射斑點()不消光。

A:(111)

B:（100）

C:（110）

D:(201)

答案:（110）

多晶體樣品的衍射花樣特點是（）

A:同心的衍射圓環(huán)

B:衍射斑點

C:漫散中心斑點

D:同心暈圓

答案:同心的衍射圓環(huán)

如果要獲得單晶衍射花樣，首先要有單晶樣品。（）

A:錯B:對

答案:錯只有不發(fā)生系統(tǒng)消光的晶面才能出現(xiàn)衍射斑點。（）

A:錯B:對

答案:對體心點陣中，當h+k+l=偶數(shù)的晶面會產(chǎn)生消光。（）

A:對B:錯

答案:錯電子衍射花樣的標定結果是唯一的。()

A:對B:錯

答案:錯每一個倒易矢量表示正空間中的一個晶面。（）

A:對B:錯

答案:錯

第四章單元測試

在三個假設的前提下，運動學理論在處理衍射強度時，采用了兩個基本近似（）

A:圓錐近似

B:柱體近似

C:衍射近似

D:雙光束近似

答案:柱體近似

；雙光束近似

對于完整晶體，當偏離矢量恒定時，厚度改變，會產(chǎn)生等厚條紋襯度。（）

A:對B:錯

答案:對衍襯運動學理論忽略動力學效應，沒有考慮入射波與衍射波的相互作用。（）

A:對B:錯

答案:對不存在位錯、第二相粒子等缺陷的晶體，稱為理想晶體或者是完整晶體。（）

A:錯B:對

答案:對質厚襯度與散射物體不同部位的密度和厚度的差異無關。（）

A:錯B:對

答案:錯

第五章單元測試

高分辨電子顯微術是一種基于（）的成像技術

A:相位襯度

B:衍襯襯度

C:振幅襯度

D:質厚襯度

答案:相位襯度

高分辨成像的電子束是（）

A:衍射束

B:多支衍射束

C:透射束+1支或多支衍射束

D:透射束

答案:透射束+1支或多支衍射束

影響高分辨像襯度的主要因素是（）

A:聚光鏡的球差和欠焦量

B:投影鏡的球差和欠焦量

C:中間鏡的球差和欠焦量

D:物鏡的球差和欠焦量

答案:物鏡的球差和欠焦量

高分辨成像分析試樣的厚度比一般透射電鏡試樣更厚。（）

A:錯B:對

答案:錯高分辨成像含兩個基本過程，分別對應著數(shù)學上的傅里葉變換和反傅里葉變換。（）

A:對B:錯

答案:對

第六章單元測試

電子束作用物質的區(qū)域是（）

A:輕元素和重元素都是“半球形”

B:輕元素是“半球形”，重元素是“梨形”

C:輕元素和重元素都是“梨形”

D:輕元素是“梨形”，重元素是“半球形”

答案:輕元素是“梨形”，重元素是“半球形”

掃描電子顯微鏡隨放大倍數(shù)的增大，電子束直徑（）

A:變粗、強度減弱

B:變細、強度減弱

C:變細、強度增強

D:不變

答案:變細、強度增強

電子背散射衍射系統(tǒng)的核心是（）

A:應用軟件

B:掃描電子顯微鏡

C:控制軟件

D:衍射譜采集設備

答案:衍射譜采集設備

掃描電子顯微鏡中電磁透鏡的作用是放大成像。（）

A:對B:錯

答案:錯與背散射電子作為調制信號成像的分辨率相比，二次電子成像的分辨率更高。（）

A:對B:錯

答案:對

第七章單元測試

.電子探針的主要作用是用來進行()分析

A:晶粒尺寸和微觀組織

B:微區(qū)成分

C:表面形貌

D:晶體結構

答案:微區(qū)成分

電子探針做定量分析時一般不需要進行修正。（）

A:對B:錯

答案:錯電子探針中能譜儀和波譜儀均需長期置于低溫狀態(tài)。（）

A:對B:錯

答案:錯電子探針中能譜儀的分辨率比波譜儀低。（）

A:錯B:對

答案:對電子探針只能用于定性分析，不能用于定量分析。（）

A:錯B:對

答案:錯

第八章單元測試

俄歇電子的產(chǎn)生通常有三種形式：KLL、LMM、MNN，它涉及到（）

A:四個能級

B:二個能級

C:一個能級

D:三個能級

答案:三個能級

下面氣體中，不吸收紅外光的是（）

A:N2

B:H2O

C:CO2

D:HCl

答案:N2

不能用X射線光電子能譜進行分析的是（）

A:樣品元素深度剖析

B:表面元素定量分析

C:表面元素定性分析

D:微區(qū)元素定性分析

答案:微區(qū)元素定性分析

與電子探針相比，離子探針的分析深度更深。（）

A:錯B:對

答案:錯與掃描隧道顯微鏡不同，原子力顯微鏡不受樣品導電性質的限制。（）

A:對B:錯

答案:對

第九章單元測試

對第二相的形狀、大小以及成分進行分析的復型方法是（）

A:塑料-碳二級復型

B:碳一級復型

C:塑料一級復型

D:萃取復型

答案:萃取復型

支持膜或復型薄膜不應該顯示出（）

A:自身組織結構

B:一定的機械強度

C:化學穩(wěn)定性

D:導電性

答案:自