測(cè)控儀器設(shè)計(jì)知到智慧樹章節(jié)測(cè)試課后答案2024年秋青島理工大學(xué)

測(cè)控儀器設(shè)計(jì)知到智慧樹章節(jié)測(cè)試課后答案2024年秋青島理工大學(xué)第一章單元測(cè)試

按照系統(tǒng)工程的技術(shù)觀點(diǎn)將產(chǎn)品生產(chǎn)的技術(shù)結(jié)構(gòu)分為（）。

A:材料流

B:能量流

C:技術(shù)流

D:信息流

答案:材料流

；能量流

；信息流

測(cè)量范圍包含示值范圍包含儀器的調(diào)節(jié)范圍。（）

A:錯(cuò)B:對(duì)

答案:對(duì)鑒別力是顯示裝置能有效辨別的最小示值。（）

A:對(duì)B:錯(cuò)

答案:錯(cuò)示值誤差越小則儀器的準(zhǔn)確度越高。（）

A:錯(cuò)B:對(duì)

答案:對(duì)測(cè)控儀器的要求有（）。

A:可靠性要求

B:檢測(cè)效率要求

C:經(jīng)濟(jì)性要求

D:精度要求

答案:可靠性要求

；檢測(cè)效率要求

；經(jīng)濟(jì)性要求

；精度要求

第二章單元測(cè)試

（）是系統(tǒng)誤差大小的反映。

A:準(zhǔn)確度

B:正確度

C:精確度

D:精密度

答案:正確度

精密度高則正確度一定高。（）

A:對(duì)B:錯(cuò)

答案:錯(cuò)把一對(duì)運(yùn)動(dòng)副上的一個(gè)源誤差所引起的作用線上的附加位移稱為（）。

A:運(yùn)動(dòng)誤差

B:位移誤差

C:作用誤差

D:附加誤差

答案:作用誤差

隨機(jī)誤差的合成方法有（）。

A:極限誤差法

B:均方法

C:代數(shù)和法

D:絕對(duì)和法

答案:極限誤差法

；均方法

已定誤差的合成方法有（）。

A:極限誤差法

B:絕對(duì)和法

C:代數(shù)和法

D:均方法

答案:代數(shù)和法

第三章單元測(cè)試

采用串聯(lián)方法對(duì)硅壓力傳感器進(jìn)行零點(diǎn)漂移補(bǔ)償后，電阻的溫度系數(shù)會(huì)（）。

A:不確定

B:升高

C:不變

D:降低

答案:降低

愛彭斯坦光學(xué)補(bǔ)償方法是一種用結(jié)構(gòu)布局來(lái)補(bǔ)償阿貝誤差的方法。（）

A:對(duì)B:錯(cuò)

答案:對(duì)測(cè)控儀器的設(shè)計(jì)原理有（）。

A:獨(dú)立作用原理

B:平均讀數(shù)原理

C:比較測(cè)量原理

D:補(bǔ)償原理

答案:平均讀數(shù)原理

；比較測(cè)量原理

；補(bǔ)償原理

光柵和激光干涉條紋屬于增量碼標(biāo)準(zhǔn)量。（）

A:錯(cuò)B:對(duì)

答案:對(duì)在設(shè)計(jì)零件時(shí)遵循坐標(biāo)系基準(zhǔn)統(tǒng)一的原則可以避免附加誤差。（）

A:錯(cuò)B:對(duì)

答案:對(duì)

第四章單元測(cè)試

為正確進(jìn)行信號(hào)調(diào)制，要求載波信號(hào)的頻率遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于被測(cè)信號(hào)的變化頻率，通常至少要求（）倍以上。

A:1

B:100

C:10

D:2

答案:100

為降低地線的長(zhǎng)度在高頻場(chǎng)合多數(shù)采用單點(diǎn)接地。（）

A:對(duì)B:錯(cuò)

答案:錯(cuò)干擾的耦合方式有（）。

A:電磁耦合

B:漏電流耦合

C:共阻抗耦合

D:靜電耦合

答案:電磁耦合

；漏電流耦合

；共阻抗耦合

；靜電耦合

軟件的可靠性設(shè)計(jì)方法有（）。

A:指令冗余

B:數(shù)字濾波

C:軟件陷阱

D:冗余設(shè)計(jì)

E:軟件看門狗

答案:指令冗余

；數(shù)字濾波

；