微束分析 掃描電鏡（SEM）或電子探針（EPMA）用X射線能譜儀（EDS）主要性能參數(shù)及核查方法 編制說明_第1頁
微束分析 掃描電鏡（SEM）或電子探針（EPMA）用X射線能譜儀（EDS）主要性能參數(shù)及核查方法 編制說明_第2頁
微束分析 掃描電鏡（SEM）或電子探針（EPMA）用X射線能譜儀（EDS）主要性能參數(shù)及核查方法 編制說明_第3頁
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2編制說明（征求意見稿）員會關于下達2024年第三批推薦性國家標準計劃及相關標準外文版計劃的通計劃下達后，中國科學院地質與地球物理研究所年10月完成征求意見初稿。在征詢部分業(yè)內專家意見后，3探針（EPMA）用X射線能譜儀（EDS）主要性能參數(shù)及核查方法》。與GB/T20726—2015相比，除結構調整和編輯性改動外，本標準的主要技術變化——更改了“死時間”的定義，使之更為詳細（見3.4，——增加了“術語和定義”的內容：零峰（見3.14）；）；4無《微束分析掃描電鏡（SEM）或電子探針（EPMA）用5

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