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碳化硅微結(jié)構(gòu)中子探測器研究動態(tài)綜述1.1碳化硅材料特點半導(dǎo)體材料到目前為止,經(jīng)歷了三次大的發(fā)展,第一代的代表材料有Si、Ge等;第二代的代表材料有GaAs、InP等;第三代的代表材料就是SiC等半導(dǎo)體材料,它的禁帶比較寬、臨界的擊穿電場比較高、晶體原子位移能比較大等特點。在SiC存在的多種同質(zhì)多型體中,4H-SiC工藝最成熟,更適合作為制作MSND的材料,在各個方面都具有很好的優(yōu)點,在科研以及商業(yè)領(lǐng)域都得到了使用較多。如圖1-1所示REF_Ref71384778\r\h[6],是4H-SiC材料和其他半導(dǎo)體材料的一些參數(shù)的對比和應(yīng)用。從下圖可看出,SiC與Si相比禁帶寬度、臨界電場、電子飽和率都要優(yōu)于Si;而在于GaN材料相比,擊穿電場要高很多,工藝也更成熟,使得SiC器件在高溫、高功率環(huán)境下工作更有優(yōu)勢。圖1-1不同半導(dǎo)體材料參數(shù)對比與應(yīng)用REF_Ref71384778\r\h[6]如表1-1REF_Ref71384778\r\h[6]所示,4H-SiC具有很多優(yōu)點。熱穩(wěn)定性不錯,可以在高溫環(huán)境下進行中子監(jiān)測。禁帶寬度較寬,決定了很多特性,包括抗輻射特性、抗高溫特性、擊穿電壓等,可用于探測高溫中的中子探測?;瘜W(xué)性質(zhì)穩(wěn)定,在表面加一層層來防止被氧化,六方結(jié)構(gòu)的4H-SiC化學(xué)性質(zhì)結(jié)構(gòu)更加穩(wěn)定,化學(xué)性質(zhì)更穩(wěn)定。硬度高、耐磨性好。在壓敏、壓電方面也具有優(yōu)良性能。在電學(xué)特性方面,如下表所示,與摻雜的種類和濃度、方法、材料有關(guān),4H-SiC在臨界擊穿電場、熱導(dǎo)性相較于其他材料都要優(yōu)秀許多。表1-1室溫300K幾種材料特性對比REF_Ref71384778\r\h[6].材料SiGe金剛石4H-SiCGaAs密度/2.335.333.5153.225.3禁帶寬度/eV1.120.675.53.271.424擊穿電場/0.30.173.00.4電離能/eV3.622.95137.784.3電阻率/1000501015-10181012107熱導(dǎo)率/1.480.599204.90.46熔點/K1410937.4400023801238熱膨脹系數(shù)/2.595.50.082.96.0莫氏硬度796.251.2碳化硅MSND國外研究動態(tài)1987年,R.A.Muninov與L.D.Tsvang就提出微結(jié)構(gòu)中子探測器的倡議,并創(chuàng)造性地指出,如果在半導(dǎo)體的襯底先蝕刻溝槽,在進行填充,在一定的轉(zhuǎn)換層物質(zhì)的填充下,可能會將半導(dǎo)體中子探測器的探測效率進一步提升,這一想法在后來其他人的研究中得到了證實,就此打開了MSND的研究篇章REF_Ref71379619\r\h[7]。2001年,D.S.McGregor等人成功實現(xiàn)了前人的假設(shè),世界上第一個微結(jié)構(gòu)中子探測器就此誕生。他們使用的方法是用GaAs作為探測器的襯底,并蝕刻了多個尺寸大小不一的圓孔陣列,在填充完轉(zhuǎn)換物質(zhì)后,對微結(jié)構(gòu)中子探測器的探測效率進行了檢測,結(jié)果發(fā)現(xiàn),和傳統(tǒng)結(jié)構(gòu)的探測器相比,微結(jié)構(gòu)的引入的確將探測效率進行了提升REF_Ref71380013\r\h[8]。2009年,S.L.Bellinger等人創(chuàng)造性地制作出了正弦溝槽型MSND,用n型硅作為襯底,蝕刻出兩種不同參數(shù)的正弦溝道微結(jié)構(gòu),并完成了對其探測效率的實驗,在同一年,J.K.Shultis等人對三種基本結(jié)構(gòu)的微結(jié)構(gòu)性能進行了研究,結(jié)果發(fā)現(xiàn),三種結(jié)構(gòu)各有優(yōu)缺點,溝槽型結(jié)構(gòu)不管是在探測效率方面,還是在穩(wěn)定性方面,性能都表現(xiàn)地最完美REF_Ref71380576\r\h[9]。2010年,C.MHenderson等人根據(jù)MSND的理論,成功研制出了中子個人劑量計,并利用核反應(yīng)堆,測試了其相關(guān)參數(shù)性能,結(jié)果表明,此裝置的中子計數(shù)等滿足實驗要求,但是這次研究也有一些不足,就是對于探測器的中子場能量類型研究不是特別深入。在同一年,C.J.Solimon等人就采用蒙特卡羅法,對正弦溝槽型微結(jié)構(gòu)探測器的探測性能以及中子的入射方向進行了模擬,并模擬出了最好的正弦溝槽尺寸REF_Ref71381336\r\h[10]。2013年,D.S.McGregor等人在制作垂直溝槽的MSND時,用到了KOH的濕法蝕刻技術(shù),并且制作了兩種結(jié)構(gòu)的MSND,包括單層堆疊和雙層堆疊,隨后,又對制作好的探測器進行了相關(guān)參數(shù)的測試,單層MSND雙面堆疊結(jié)構(gòu),不僅不會降低甄別率,還對MSND的探測效率有很大幅度的提升REF_Ref71381709\r\h[11]。2015年,R.G.Fronk等人制作出了和探測器在規(guī)格上差不多的探測系統(tǒng),包含30多個微結(jié)構(gòu)中子探測器,對比和探測器探測性能之后,測試結(jié)果發(fā)現(xiàn),兩種探測器的性能差別不大,基本相同REF_Ref71382073\r\h[12]。1.3碳化硅MSND國內(nèi)研究動態(tài)國內(nèi)中子探測器的研究相比于國外起步比較晚,而近年來,我國快中子脈沖堆建成以及對SiC材料、設(shè)備以及器件工藝技術(shù)的發(fā)展,基于碳化硅半導(dǎo)體中子探測器的研究和應(yīng)用也在多個領(lǐng)域展開。2012年,國防科學(xué)技術(shù)大學(xué)胡青青,針對利用SiC半導(dǎo)體材料制作中子探測器的可行與否以及探測器的探測性能進行分析,對多個電學(xué)特性進行評估。使用MonteCarlo方法,研究了碳化硅MSND的輸運過程,結(jié)果顯示在中子的探測效率和響應(yīng)的靈敏度方面,小型SiC探測器所表現(xiàn)出來的特性都很優(yōu)秀,在加上聚乙烯轉(zhuǎn)換膜后靈敏度高出3.8倍,最后還給出了SiC中子探測器的制備方案,為同類型的探測器制備提供了很好的借鑒REF_Ref71382203\r\h[13]。2013年,中國工程物理研究所的吳健等人利用4H-SiC制備肖特基二極管,主要研究了電荷收集特性,并探討了影響因素。結(jié)果表明,4H-SiC的電荷收集特性和承受高溫和輻照性能良好,適合于制備新一代的半導(dǎo)體探測器,在一些較高溫以及輻照比較強等極端環(huán)境的應(yīng)用前景REF_Ref71382330\r\h[14]非常有潛力。2016年,山東大學(xué)盧忠花結(jié)合了二極管的優(yōu)點,設(shè)計了碳化硅JBS的結(jié)構(gòu),研究了相關(guān)的電學(xué)特性。包括碳化硅JBS二極管的反向阻斷和正向?qū)C理,而且還研究了影響反向擊穿電壓的一些結(jié)構(gòu)因素REF_Ref71382545\r\h[15]。2017年,西安電子科技大學(xué)吳建魯利用4H-SiC為襯底材料,利用MonteCarlo法和TCAD軟件,研究MSND對熱中子探測能力、電流脈沖響應(yīng)能力以及電荷收集能力等方面進行了研究。通過對溝槽性、圓柱型、圓孔型三種不同的微結(jié)構(gòu)MSND在不同結(jié)構(gòu)影響下對熱中子的探測效率的模擬,發(fā)現(xiàn)溝槽性碳化硅MSND性能最好,得到了系統(tǒng)甄別閥是300KeV時,三種MSND的探測能力最好。并在最后總結(jié)了4H-SiC溝槽型MSND的制作工藝流程REF_Ref71382558\r\h[16]。2020年,國內(nèi)對于中子探測器的研究很多,中國科學(xué)院大學(xué)的唐彬利用蒙特卡羅法對4H-SiC中子探測器的相關(guān)物理過程和信息收集過程進行了設(shè)置,對不同中子源下的中子探測效率進行了仿真模擬REF_Ref71556768\r\h[17],研究發(fā)現(xiàn),源產(chǎn)生的γ射線在探測器里的能量沉積比較少,可以利用設(shè)置能量甄別閾方法進行γ和中子的甄別REF_Ref71554218\r\h[18];陜西科技大學(xué)馬毅超以及其他研究機構(gòu)的研究者共同對大面積GEM中子探測器進行研究REF_Ref71797359\r\h[19]。參考文獻ChadwickJ.PossibleExistenceofaNeutron[J].Nature,1990,129(129):402-402.丁大釗,葉春堂,趙志祥.中子物理學(xué):原理、方法與應(yīng)用[M].原子能出版社,2001.甘雷.微結(jié)構(gòu)半導(dǎo)體中子探測器技術(shù)研究[D].中國工程物理研究院,2015.萬波,熊幫平,黎剛,李昆,夏源.閃爍體光纖中子探測技術(shù)應(yīng)用研究[J].科技視界,2021(07):135-137.袁嬌.寬能譜多球中子譜儀的設(shè)計[D].北京:中國科學(xué)院大學(xué),2014.郭立建.溝槽結(jié)構(gòu)4H-SiC肖特基二極管電學(xué)特性的研究[D].北京工業(yè)大學(xué),2016.MUMINOVRA,TSVANGLD.HighEfficiencySemiconductorThermalNeutronDetector[J].InstrumentsandExperimentalTechniques,1985,28(4):782-784.MCGREGORDS,RAYMONDTK,HOLLYKG,etal.NewSurfaceMorphologyforLowStressThin-Film-CoatedThermalNeutronDetectors[J].IEEETransactionsonNuclearScience,2002,49(4):1999-2004.ShultisJK,McgregorDS.Designandperformanceconsiderationsforperforatedsemiconductorthermal-neutrondetectors[J].NuclearInstruments&MethodsinPhysicsResearch,2009,606(3):608-636.SolomonCJ,ShultisJK,McgregorDS.Reducedefficiencyvariationinperforatedneutrondetectorswithsinusoidaltrenchdesign[J].NuclearInstruments&MethodsinPhysicsResearch,2010,618(1-3):260-265.MCGREGORDS,BELLINGERSL,SHULTISJK.Presentstatusofmicrostructuredsemiconductorneutrondetectors[J].J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