核輻射測量知到智慧樹章節(jié)測試課后答案2024年秋煙臺大學

核輻射測量知到智慧樹章節(jié)測試課后答案2024年秋煙臺大學第一章單元測試

韌致輻射損失和把材料的原子序數成什么關系（）。

A:與原子序數平方呈反比B:與原子序數平方呈正比C:與原子序數呈正比D:與原子序數雖反比

答案:與原子序數平方呈正比—定能量的帶電粒子在它向所能穿透的物質中走過的距離叫在該物質中的（）。

A:平均路程B:最大射程C:最大路程D:平均射程

答案:最大射程伽馬射線通過物質時，主要有三種作用過程（）。

A:光電效應、電子對效應、康普頓效應B:泊松效應、康普頓效應、光電效應C:光電效應、泊松效應、電子對效應D:光電效應、電子對效應、泊松效應

答案:光電效應、電子對效應、康普頓效應電離損失對貝塔射線不重要。（）

A:對B:錯

答案:錯材料的密度越高，反散射越嚴重。（）

A:錯B:對

答案:對康普頓散射形成的譜是連續(xù)譜。（）

A:對B:錯

答案:對湮沒輻射的伽馬射線能量是0.511MEV。（）

A:對B:錯

答案:對

第二章單元測試

英國的工業(yè)革命所進行的時間是（）。

A:18世紀70年代到19世紀中期B:18世紀60年代到19世紀上半期C:18世紀30年代到18世紀末D:18世紀60年代到18世紀末

答案:18世紀60年代到19世紀上半期制約情緒的因素主要有（）。

A:情緒的生理基礎B:生理狀態(tài)C:外部事件D:認知過程

答案:生理狀態(tài)；外部事件；認知過程射線在氣體總電離產生的電子-離子對數，服從什么分布（）。

A:法諾分布B:高斯分布C:二項式分布D:泊松分布

答案:法諾分布氣體探測器中，一定能量的入射離子產生的電子離子對數和能量成什么比例（）。

A:無關B:正比C:反比

答案:正比下列不能工作于脈沖工作狀態(tài)的是（）。

A:G-M計數管B:屏柵電離室C:正比計數器D:電離室

答案:G-M計數管下列哪些儀器屬于氣體探測器（）。

A:電離室B:屏柵電離室C:正比計數器D:G-M計數管

答案:電離室；屏柵電離室；正比計數器；G-M計數管氣體吸附在氣體探測器中起到正面作用。（）

A:對B:錯

答案:錯當一個電子達到極板時，流過外回路的電量時e。（）

A:錯B:對

答案:錯電子脈沖電離室輸出的電壓脈沖和生成位置無關。（）

A:對B:錯

答案:錯圓柱形電離室是陽極在內陰極在外。（）

A:錯B:對

答案:對分辨時間和時間分辨本領不是一個參數。（）

A:錯B:對

答案:對正比計數器一般用非均勻電場才可以實現。（）

A:對B:錯

答案:對正比計數器的輸出信號由正離子和電子共同做貢獻。（）

A:錯B:對

答案:錯G-M計數管只能用來計數。（）

A:對B:錯

答案:對

第三章單元測試

下列哪個是光電轉化器件（）。

A:準直器B:光電倍增C:閃爍體

答案:光電倍增閃爍體產生的光是（）。

A:磷光B:可見光C:紫外光D:熒光

答案:可見光；熒光閃爍體的發(fā)射光譜要和光電倍增管的接收光譜要匹配。（）

A:對B:錯

答案:對光電倍增管工作時可以透光。（）

A:錯B:對

答案:錯閃爍體探測器輸出電壓和入射離子的能量成反比。（）

A:錯B:對

答案:錯閃爍體探測器的探測能量分辨率對不同能量的入射射線不同。（）

A:對B:錯

答案:對

第四章單元測試

下列可以作為半導體探測器的敏感體積的是（）。

A:N型半導體B:P型半導體C:半導體D:P-N結

答案:P-N結高純鍺探測器屬于（）。

A:氣體探測器B:閃爍體探測器C:半導體探測器

答案:半導體探測器半導體探測器內的信息載流子是電子離子對。（）

A:錯B:對

答案:錯一般的半導體材料不可以直接用于形成探測器的敏感體積。（）

A:對B:錯

答案:對外加電壓越高，P-N結越厚。（）

A:錯B:對

答案:對外加電壓越高，耗盡層越厚。（）

A:錯B:對

答案:對

第五章單元測試

核素的放射性衰變服從什么規(guī)律（）

A:雙曲遞減規(guī)律B:指數衰減規(guī)律C:隨機D:直線遞減規(guī)律

答案:指數衰減規(guī)律半導體探測器中，一定能量的入射粒子產生的電子-空穴對數服從什么分布（）

A:泊松分布B:高斯分布C:二項式分布D:法諾分布

答案:法諾分布單位時間內核的放射性核素的衰變概率可以用什么分布來描述（）

A:泊松分布B:法諾分布C:二項式分布D:高斯分布

答案:泊松分布；二項式分布；高斯分布泊松分布是對稱分布。（）

A:對B:錯

答案:錯4π計數法無法減小散射、吸收和幾何位置的影響。（）

A:錯B:對

答案:錯延遲符合方法就是用來選擇非同時事件。（）

A:錯B:對

答案:對全能峰就是光電峰（）

A:對B:錯

答案:錯反應堆中子源的能量比較單一。（）

A:對B:錯

答案:錯

第六章單元測試

用于判斷時間上同時事件的測量方法是（）

A:符合方法B:位置測量C:能譜測量D:活度測量

答案:符合方法下列影響活度的絕對測量的因素有（）

A:散射因素B:吸收因素C:幾何位置D:探測效率

答案:散射因素；吸收因素；幾何位置；探測效率符合測量方法是一種用符合電路判斷同時性事件的方法。（）

A:對B:錯

答案:對進行活度測量是要對儀器進行效率刻度。（）

A:錯B:對

答案:對進行核素識別的能譜測量時要對一起進行能量刻度。（）

A:對B:錯

答案:對

第七章單元測試

中子探測