AFM數(shù)據(jù)離線分析軟件Nanoscope-Analysis簡易使用方法

AFM數(shù)據(jù)離線分析軟件Nanoscope_Analysis簡易使用方法打開軟件任選一項，如需立即查看文件，直接按No2打開文件3測試條件4點擊可在下拉菜單中選擇0階（0th），1階（1st）,2階(2nd)，3階(3rd)確定后，執(zhí)行平滑圖像0階平滑對應平面內(nèi)高度值移動；1階平滑對應斜面拉平；2階平滑對應曲面拉平。高階平滑內(nèi)包含低階平滑的內(nèi)容。請根據(jù)自己樣品的特性選擇選擇相應階數(shù)。5如果樣品上有明顯過高的非基底特征，如下圖中亮點，需要使用遮蔽框?qū)⑦@些位置遮蔽后（點右鍵畫框），再execute，或?qū)lattenZthresholdingdirection設置為Z》=或Z《，將Markexcludeddata設置為Yes，設定FlattenZthreshold%值，使非基底部分被遮蔽后，再execute，之后將Markexcludeddata設置為No，即可完成操作。未遮蔽的flatten效果遮蔽后flatten效果，無陰影拖尾6執(zhí)行后，圖片變成這樣。生成三維圖片按鈕7右鍵點在色度條上出現(xiàn)colorscale后，左鍵選擇可更改圖像顏色點擊后，生成的三維圖片8大家學習辛苦了，還是要堅持繼續(xù)保持安靜9有色系和顏色區(qū)間等選項可選10背景顏色選項三個坐標軸顯示選項設定完各項參數(shù)后，點Export導出三維圖參數(shù)設定區(qū)域11更改高度條起始點：將高度條起始點從負值改為零。Commens—adjustimagecolor—modifydatascale--12按需要更該參數(shù)后，點export，命名后保存輸出彩色二維圖像（顏色深淺代表高度）13點擊section，進行圖片上特征位置高度、寬度等尺寸分析高度寬度分析14用鼠標左鍵在樣品圖像區(qū)域拖一條線，右側(cè)坐標圖中就會出現(xiàn)這條線上相應位置高度的折線圖，左鍵拖動折線圖中兩條豎直虛線的位置，就可以改變圖像區(qū)域與虛線顏色相同的相應十字叉的位置。將十字叉定位準確后，在圖像下方的三色條框中讀出相應顏色十字叉定位的數(shù)值。例如，下圖中藍色十字叉標記的線上讀出被測試樣品的高度為4.816nm（verticaldistance欄）；紅色十字叉標記的線上，可讀出目標顆粒的寬度為30.503nm（horizontaldistance欄）；基底線樣品線被測試顆粒在圖像區(qū)域點擊右鍵，出現(xiàn)如下對話框，點export可輸出做過標記的圖片同樣，在折線圖區(qū)域點右鍵，選擇export——graphic（輸出被激活折線圖像圖片）

/XZdata（輸出被激活折線數(shù)據(jù)txt文檔）。點擊右鍵，copytext,輸出此框數(shù)據(jù)。15讀取粗糙度,讀取Rq，Ra注意：用該軟件計算得到的粗糙度值僅僅是在該軟件設定的程序下的結(jié)果，軟件設定算法可以在相應窗口下按F1幫助鍵，彈出的相應窗口中有功能說明。