DB61T-檢驗檢測機構(gòu)資質(zhì)認定 設(shè)備校準周期的確定和調(diào)整要求

ICS?FORMTEXT點擊此處添加ICS號FORMTEXT點擊此處添加中國標準文獻分類號FORMTEXT?????DBFORMTEXT??DBFORMTEXTXX/FORMTEXTXXXXX—FORMTEXTXXXXFORMTEXT?????檢驗檢測機構(gòu)資質(zhì)認定設(shè)備校準周期確定和調(diào)整要求FORMTEXT點擊此處添加標準英文譯名FORMTEXT點擊此處添加與國際標準一致性程度的標識征求意見稿FORMTEXT?????FORMTEXTXXXX-FORMTEXTXX-FORMTEXTXX發(fā)布FORMTEXTXXXX-FORMTEXTXX-FORMTEXTXX實施FORMTEXT陜西省市場監(jiān)督管理局???發(fā)布DBXX/XXXXX—XXXX檢驗檢測機構(gòu)資質(zhì)認定第14部分設(shè)備校準周期確定和調(diào)整要求范圍本部分規(guī)定了檢驗檢測機構(gòu)設(shè)備校準周期確認的初始校準周期確定和后續(xù)校準周期的調(diào)整。本部分適用于陜西省所轄區(qū)域內(nèi)獲得資質(zhì)認定的檢驗檢測機構(gòu)，其他檢驗檢測機構(gòu)可參照執(zhí)行。規(guī)范性引用文件下列文件對于本文件的應用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，僅所注日期的版本適用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。JJF1001通用計量術(shù)語及定義ISO/IEC指南99（VIM）國際通用計量學基本術(shù)語（第三版）NCSLRP-1:2010校準間隔的確定與調(diào)整術(shù)語和定義ISO/IEC指南99（VIM）和JJF1001中界定的以及下列術(shù)語和定義適用于本文件。校準周期calibrationinterval特定項目的測量設(shè)備連續(xù)、有計劃的校準的時間間隔。測量可靠性measurementreliability指定屬性的項目的測量設(shè)備符合性能規(guī)范的概率（校準周期分析的一個基本假設(shè)是測量可靠性是設(shè)備校準之間時間的函數(shù)）。初始校準周期的確定考慮因素初始校準周期的確定可考慮以下因素：a)設(shè)備的工作原理、結(jié)構(gòu)型式與所用材質(zhì)；b)性能要求（如最大允許誤差、測量重復性、測量復現(xiàn)性、測量穩(wěn)定性）c)預期使用情況（如環(huán)境條件、使用頻率與維護狀況）；d)操作人員的經(jīng)歷、經(jīng)驗和習慣；校準結(jié)果確認情況（如接近臨界值的程度）；設(shè)備校準結(jié)果對檢驗檢測結(jié)果測量不確定度的貢獻程度；設(shè)備不滿足要求使用的風險,包括采取糾正措施的代價；相同或類似設(shè)備已確定的校準周期；設(shè)備生產(chǎn)商或供應商的建議。確定方法檢驗檢測機構(gòu)可按以下方法確認設(shè)備初始校準周期：依據(jù)設(shè)備校準依據(jù)的校準規(guī)范建議的復校時間間隔，結(jié)合4.1相關(guān)因素確定校準周期；依據(jù)設(shè)備校準依據(jù)的檢定規(guī)程給出的檢定周期，結(jié)合4.1相關(guān)因素確定校準周期；依據(jù)設(shè)備校準證書給出的建議復校時間間隔，結(jié)合4.1相關(guān)因素確定校準周期；依據(jù)設(shè)備的本身特點（如設(shè)備的工作原理、結(jié)構(gòu)型式與所用材質(zhì)）、性能要求（如最大允許誤差、測量重復性、測量復現(xiàn)性、測量穩(wěn)定性）以及設(shè)備的使用情況（如環(huán)境條件、使用頻率與維護狀況）確定校準周期;利用設(shè)備的測量可靠性目標R（見5.3.1）確認校準周期；利用相同或類似設(shè)備的校準周期確定校準周期；后續(xù)校準周期的調(diào)整考慮因素后續(xù)校準周期的確定可考慮以下因素：a)歷次校準結(jié)果的結(jié)果和趨勢（如接近臨界值的程度）；b)期間核查的頻率、質(zhì)量及結(jié)果；c)相關(guān)檢驗檢測項目的質(zhì)量控制情況及有效性；d)維護和維修的歷史記錄；e)使用或存儲的環(huán)境條件（氣候條件、振動、電離輻射等）；f)使用的程度和頻次；g)磨損和漂移的趨勢；h)設(shè)備不滿足要求使用的風險；包括采取糾正措施的代價；i)設(shè)備的運輸安裝及風險；操作人員的經(jīng)歷、經(jīng)驗和習慣；使用壽命；設(shè)備生產(chǎn)廠商或維修供應商的建議。調(diào)整原則設(shè)備初始校準后，經(jīng)過一定時間間隔（一個或幾個校準周期）后，校準或期間核查結(jié)果表明：校準或期間核查結(jié)果位于最大允許誤差的80%內(nèi)，后續(xù)的校準周期可延長；校準或期間核查結(jié)果超出最大允許誤差，應立即停止工作、加貼標識、查找原因、功能恢復、重新校準確認滿足要求后方可使用，同時對之前涉及的檢驗檢測報告進行風險評估，必要時追回已發(fā)出的檢驗檢測報告。后續(xù)的校準周期應縮短；c)校準或期間核查結(jié)果位于最大允許誤差80%和100%之間，或?qū)π式Y(jié)果的符合性難以做出判斷，檢驗檢測機構(gòu)應查找潛在的風險原因，宜采取加大核查頻次、重新校準、縮短校準周期等措施，對設(shè)備的性能做進一步驗證。注：在本文件中，檢測/校準方法對設(shè)備的要求用“最大允許誤差”來表述，泛指方法對設(shè)備所規(guī)定的各項技術(shù)指標，包括示值誤差、重復性、穩(wěn)定性、檢出限、鑒別閾等。調(diào)整方法5.3.1測量可靠性目標測量可靠性目標R(t)主要表征某種設(shè)備的整體性能隨時間變化后的置信水平，見圖1。測量可靠性目標R(t)是指某種設(shè)備的整體性能在進行重新確認（或再校準）時保持在所期望的合格范圍內(nèi)的概率。圖1測量可靠性R(t)變化示意圖5.3.2調(diào)整方法5.3.2.1反應法通過設(shè)備之前歷次校準結(jié)果，并采用簡單直接的方式或最簡便的算法，對設(shè)備校準周期進行調(diào)整和確認。反應法包括固定階梯調(diào)整法、增量反應調(diào)整法、間隔測試法等方法。5.3.2.1.1固定階梯調(diào)整法設(shè)備經(jīng)初次校準后，經(jīng)過一定的時間間隔，當校準結(jié)果符合5.2.1，可考慮適當延長校準時間間隔，也可以保持原定校準時間間隔不變。當校準結(jié)果符合5.2.2、5.2.3，應考慮適當縮短設(shè)備的校準時間間隔。采用該法進行調(diào)整，其凋整的校準時間間隔延長或縮短一般都取一個固定的整月數(shù)按階梯狀逐漸遞增或逐漸遞減；而且所取時間間隔增量系數(shù)a一般小于時間間隔減量系數(shù)b。例如，a取0.1、b取0.55可獲得大約90%的測量可靠性目標。通常情況下，為獲得長期平均測量可靠性目標Rt，b可以通過公式（1）取值：b=1-1+a-Rt/(1-Rt)式中：b——時間間隔減量系數(shù)a——時間間隔增量系數(shù)；Rt——新的校準周期I1可通過公式（2）進行計算：I1=I0×（1－a）或I1=I0×（1－b）……………（2）式中：I1——新的校準周期；I0——調(diào)整前的校準周期；a——時間間隔增量系數(shù)；b——時間間隔減量系數(shù)。檢驗檢測機構(gòu)在選擇時間間隔增量系數(shù)a時應進行權(quán)衡：若a值選的越大，則該方法可使校準周期從初始值到接近正確值的速度更快；若a值選的較小，校準周期一旦達到正確值，則該方法可以使其更好的保持在正確值附近。固定階梯調(diào)整法相應速度較快，成本較低，用于設(shè)備校準周期的確認時，對在用校準時間間隔的調(diào)整實現(xiàn)起來比較容易；但是這種方法需要經(jīng)過多次調(diào)整之后才能穩(wěn)定到所期望的測量可靠性目標Rt。例如：在確認某種設(shè)備初始校準時間間隔I0=3、6、12、18，36個月，測量可靠性目標Rt≥90%后，通過對試驗樣本校準結(jié)果的評估，其校準時間間隔的調(diào)整如表1所示。表1校準時間間隔調(diào)整表測量可靠性目標Rt時間間隔的調(diào)整校準時間間隔/月初始時間間隔36121824364860<90%間隔縮短到36121824364890%～95%間隔保持不變36121824364860>95%間隔延長到6121824364860605.3.2.1.2增量反應調(diào)整法增量反應調(diào)整法與固定階梯調(diào)整法的基本程序、基本方法相似，只是增量反應調(diào)整法，對校準時間間隔的確定，以及對所需調(diào)整的時間增量的確定，都與調(diào)整前有關(guān)參數(shù)的選擇與變化有著密切的函數(shù)關(guān)系。調(diào)整后的校準時間間隔lm與調(diào)整前的時間間隔Im-1的關(guān)系式見公式（3）：Im=Im-1[1+△m（-R）1-ym（-R）1-ym]……………（3）所需調(diào)整的時間增量△m與調(diào)整前的時間增量△m-1的關(guān)系式見公式（4）：?m=?m-12ym-ym-1△0=1，y0=1式中：Im——第m次校準時間間隔Im-1——第m-1次校準時間間隔△m——第m次調(diào)整的時間增量或減量；R——測量可靠性目標；ym——計算因子，當?shù)趍次校準滿足檢驗檢測需求時ym=1；當?shù)趍次校準不能滿足檢驗檢測要求時ym=0m——校準時間間隔調(diào)整序號。增量反應調(diào)整法的計算程序簡便，對于校準周期的確定，對在用校準時間間隔的調(diào)整實現(xiàn)起來也比較容易，但是對于時間間隔的調(diào)整與固定階梯調(diào)整法相同，只是根據(jù)孤立的校準結(jié)果來確定，依據(jù)不夠充分，同樣需要較長時間的調(diào)整才能達到正確的校準時間間隔。具體示例可參考附錄B。5.3.2.1.3間隔測試法間隔測試法與固定階梯調(diào)整法、增量反應調(diào)整法的不同之處，在于它不是根據(jù)一次校準結(jié)果而做出對時間間隔進行調(diào)整的決定，而是要通過計量一個顯著性水平限，據(jù)此來判定校準結(jié)果是否明顯高于或低于測量可靠性目標，如果是，再對時間間隔進行調(diào)整；如果不是，則不予調(diào)整。間隔測試法的顯著水平限可由式（5）、式（6）求得：k=0nn!k!n-k!RUkk=0nn!k!n-k!式中：RU——測量可靠性目標R的顯著水平上限RL——測量可靠性目標R的顯著水平下限；n——在I間隔中被校準的設(shè)備樣本數(shù)；如果測量可靠性目標R不在RU和RL之間，則時間間隔需要調(diào)整；調(diào)整可按間隔外延法和間隔內(nèi)插法分布進行。間隔外延法是先由式，求得在間隔l0時的可靠性R0，見公式（7）。再由R0通過指數(shù)可靠性模型，求得應調(diào)整的時間間隔I，見公式（8）。R0=nan式中：na——在間隔I0內(nèi)校準滿足檢驗檢測要求的合格數(shù)nc——在間隔I0內(nèi)校準的總數(shù)；……………（8）如R0低于測量可靠性目標R，則，即時間間隔縮短；如R0高于R，則l1>l0，即時間間隔延長。如果按公式（8）計算，一旦時間間隔的調(diào)整過頭，即在被延長的間隔下，所觀察到的可靠性顯著低于規(guī)定的目標，這時需按時間間隔內(nèi)插法將間隔調(diào)整到以前的時間間隔和新的時間間隔的中點，見公式（9）。I2=I0如調(diào)整的時間間隔仍太長或太短，新的間隔見公式（10）I3=I0+I注：間隔測試對時間間隔的調(diào)整，具有數(shù)量統(tǒng)計方法中的一些優(yōu)點，而且操作成本也較低；但是需對校準時間間隔進行嚴格控制，對初始間隔估計得正確性還有待探討。5.3.2.2最大似然估計法最大似然估計法是通過對似然函數(shù)的概率分布來研究評價被校準設(shè)備超出允許誤差的狀況，最終確定的計量器具的校準時間間隔。最大似然估計法建立在數(shù)理統(tǒng)計和大量數(shù)據(jù)分析的基礎(chǔ)上。由于該法是建立在數(shù)據(jù)分析的基礎(chǔ)上的，所以在采取最大似然估計法進行時間間隔的確認與調(diào)整時，應注意所有數(shù)據(jù)的有效性、一致性和連續(xù)性。最大似然估計法有三種具體算法：經(jīng)典法、二項式法與更新時間法。5.3.2.2.1經(jīng)典法經(jīng)典法是根據(jù)經(jīng)典的可靠性分析來構(gòu)成似然函數(shù)的；假定設(shè)備的測量不確定度按指數(shù)函數(shù)變化，根據(jù)校準后結(jié)果確認超差情況和其不確定度按指數(shù)增長的假定，先推斷設(shè)備開始超差時的時間，從而構(gòu)成其似然函數(shù)見公式（11）：L=i=1nf(l式中：xi=1,第n——所觀察到的校準樣本數(shù)Ii——第i按照可靠性函數(shù)R(Ii)為指數(shù)函數(shù)的假設(shè)，見公式（12RIi=e按照失效時間概率分布函數(shù)也為指數(shù)函數(shù)的假設(shè)，見公式（13）。f(Ii/2)=λeλI似然函數(shù)取對數(shù)后，見公式（14）。ln=i=1nXilnλ兩邊取偏導數(shù)后，見公式（15）。??λlnL=1當??λlnL=0時，λλ=i=1nXi式中：——所觀察到到校準結(jié)果不滿意總數(shù)；——所觀察到的校準時間的總和。通過上述方法求得可靠性函數(shù)的系數(shù)λ和可靠性函數(shù)，再通過確定的可靠性目標，即可確定要求的校準時間間隔。注：采用經(jīng)典法進行統(tǒng)計測算可以達到較好的可靠性目標，而且執(zhí)行起來較后述兩種最大似然估計法簡單，費用也較低，但該法的弱點是所采用的可靠性模型被局限在指數(shù)模型范圍。5.3.2.2.2二項式法和經(jīng)典法不同，二項式法不限于單一的可靠性模型，也不受未知超差時間而帶來的妨礙；然而它需要大規(guī)模的自動隔離分析系統(tǒng)。二項式法適用于各種可靠性模型和各種類設(shè)備校準時間間隔的調(diào)整和確定，但其運行費用較高，不僅需要高水平的系統(tǒng)分析，而且需要高水平的系統(tǒng)分析，而且需要有統(tǒng)計學方面的專門知識；具體運行分析可參考NCSLRP-1:2010附錄C。5.3.2.2.3更新時間法更新時間法是二項式法的細化，具體方法可詳細參考NCSLRP-1:2010附錄D。注：建立在對大量數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計分析基礎(chǔ)上的校準時間間隔調(diào)整與確定的最大似然估計法，是當前最為先進的一種現(xiàn)代校準時間間隔確定技術(shù)；但要運用好這一技術(shù)不僅需要考慮大量數(shù)據(jù)的收集、貯存與分析，而且需要認真考慮經(jīng)費的投入產(chǎn)出，以及運行人員技術(shù)水平的要求等。5.3.2.1調(diào)整方法的選擇和注意事項簡單反應調(diào)整法和增量反應調(diào)整法都是基于設(shè)備歷次校準結(jié)果來確定校準周期的，采用這兩種方法的前提條件是設(shè)備未發(fā)生大修或更換，大修或更換的設(shè)備不應參考設(shè)備之前的歷次校準結(jié)果，而應按新設(shè)備處理。期間核查法只是核查設(shè)備一個或幾個關(guān)鍵測量點/參量，若核查的測量點和設(shè)備實際使用的測量點接近，則核查結(jié)果具有較強的針對性和有效性；若設(shè)備的核查范圍遠遠小于設(shè)備的使用范圍，則核查結(jié)果不能作為設(shè)備是否需要校準的依據(jù)，校準周期也不宜確定的過長。檢驗檢測機構(gòu)確定和調(diào)整設(shè)備的校準周期時，除參考歷次校準結(jié)果和期間核查結(jié)果外，還應綜合考慮延長周期的風險和本文件5.1的相關(guān)因素。設(shè)備在使用過程中，檢驗檢測機構(gòu)應適時對設(shè)備的校準周期進行復評和必要調(diào)整。注：設(shè)備校準周期不宜超過3年；對于校準周期較長的設(shè)備，檢驗檢測機構(gòu)應有充分有效技術(shù)手段(如期間核查等)作為支撐。

（資料性附錄）

固定階梯調(diào)整法應用實例例如，設(shè)備為3等量塊（負10塊組），其初始校準的時間間隔I0=12月，取a=0.2、Rt=90%，按照公式（1）計算b=0.8，其歷次校準結(jié)果見表A.1。表A.13等量塊（負10塊組）的歷次校準結(jié)果標稱值/mm第1次校準第2次校準第3次校準中心長度偏差/μm長度變動量/μm長度年變化量/μm中心長度偏差/μm長度變動量/μm長度年變化量/μm中心長度偏差/μm長度變動量/μm長度年變化量/μm0.991+0.050.000.01+0.050.000.00+0.040.010.000.992+0.070.000.00+0.070.010.00+0.060.010.000.993-0.040.010.00-0.040.010.00-0.040.020.000.994+0.040.010.00+0.040.010.00+0.050.010.010.995+0.050.000.00+0.050.000.00+0.050.010.000.996+0.100.000.00+0.100.010.01+0.100.000.000.997-0.050.020.00-0.050.020.00-0.060.020.000.998+0.130.020.01+0.130.020.00+0.130.020.000.999-0.100.010.00-0.100.020.00-0.100.020.001.000+0.080.010.00+0.080.010.00+0.080.020.00擴展不確定度U=0.11μm、長度變動量最大允差0.16μm、長度的最大允許年變化量0.10μm第1次校準結(jié)果符合要求（符合3等）且小于最大允許誤差的80%：I1=I0(1＋a)=12×(1＋0.2)=14(月)第2次校準結(jié)果符合要求（符合3等）且小于最大允許誤差的80%：I2=I1(1＋a)=14×(1＋0.2)=17(月)第3次校準結(jié)果符合要求（符合3等）且小于最大允許誤差的80%：I3=I2(1＋a)=14×(1＋0.2)=20(月)

（資料性附錄）

增量反應調(diào)整法應用實例設(shè)備為M1等級砝碼（均帶調(diào)整腔），其初始校準的時間間隔I0=12月，測量可靠性目標設(shè)定為R=90%，其歷次