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文檔簡介

第1章緒論1.1選題背景與意義關(guān)于在早時期的時鐘緩沖器,它只是一個普通的器件,輸出波形隨著輸入波形的變化而變化。輸入信號后通過其中的設(shè)備傳播出去并且再一次驅(qū)動輸出緩沖器。因此,這樣的設(shè)備僅僅具有與它們相關(guān)聯(lián)的傳播延遲的缺點(劉佳怡,黃志豪,2021)。然而,通過每個輸入和輸出的路徑上的設(shè)備之間的傳播延遲存在著一些錯誤,依據(jù)此理論框架進行全面分析可獲知結(jié)果因此輸出之間存在一些偏差。例如,那些頻率低于20Hz的設(shè)備已經(jīng)使用了很多年,頻率低的那些設(shè)備只有一種性能,即僅含有建立和維持時間的同步接口,但是對于這種性能的要求不是現(xiàn)如今在數(shù)字設(shè)計高速時鐘樹[1]的要求。現(xiàn)在通過研究提升一種I/O設(shè)計技術(shù)來改善對于最近非PLL時鐘緩沖器的性能,改善了里面輸入到輸出的偏斜,從這些記錄中體現(xiàn)但是當縮短時鐘周期時,更大的不確定性與更大的偏斜就會發(fā)生在時鐘的分配系統(tǒng)中,可是在時鐘系統(tǒng)中如果不考慮偏斜的話就可能會導(dǎo)致整個系統(tǒng)性能的下降,也會增加系統(tǒng)的不可靠性[2],所以要研究如何更好的改善緩沖器性能(張雅靜,周赫連,2022)。時鐘緩沖器是由特用邏輯組件來組成的,但是有一個缺點是需要來維持時鐘的信號完整度,因為在時鐘樹運行時的速度可能會跟不上,并且時序容限會大大的降低[3],所以在應(yīng)用上是一個性能完成較差的電路,這在一定程度上反映出來這樣就使得提高時鐘緩沖器的性能和降低噪聲顯得越來越重要(林浩然,吳志明,2020)。本文就通過考慮對于緩沖器的性能與降低其提高性能時產(chǎn)生的噪聲而制定的方案,要完成這個方案其中離不開的就是現(xiàn)在正在快速發(fā)展的集成電路工業(yè)。1.2集成電路產(chǎn)業(yè)的發(fā)展現(xiàn)狀隨著電子信息技術(shù)產(chǎn)業(yè)的興起,集成電路慢慢發(fā)展成為電子信息產(chǎn)業(yè)的核心。到目前為止,發(fā)達國家中約75%的GDP增長是因為集成電路行業(yè)。在這種布局下?lián)烙?,在未來電子行業(yè)的發(fā)展中,全球的集成電路的銷售額處于一種快速增長的狀態(tài)(唐子凡,何悅彤,2019)[4]。集成電路也慢慢的發(fā)展成為了現(xiàn)在世界上經(jīng)濟競爭的中心,對于這一部分的創(chuàng)作借鑒了章和寧教授的相關(guān)主題的研究,主要體現(xiàn)在思路和手法方面,在思路上遵循了其強調(diào)的系統(tǒng)性與邏輯性的原則。慢慢的也成為了一種獨立的大工業(yè),日益成為了現(xiàn)如今經(jīng)濟發(fā)展的關(guān)鍵,也是社會慢慢進步發(fā)展的基礎(chǔ)(趙俊杰,王欣怡,2023)。集成電路工業(yè)的發(fā)展是非常快的,這就導(dǎo)致了現(xiàn)在的工藝復(fù)雜程度的升高,在數(shù)字化的市場上增加了大量關(guān)于單個芯片上容納的,因此設(shè)計工具也與之前有所不同。現(xiàn)在用的是計算機來復(fù)制設(shè)計。目前最主要使用的畫版圖的工具就是CaDence下的Virtuoso軟件。20世紀60年中國的集成電路工業(yè)開始了(徐子琪,陳立鋒,2020)。在這種布局里我國與國外的差距是規(guī)模小、檔次低、創(chuàng)新發(fā)展能力弱,在設(shè)計、技術(shù)、裝備、材料、應(yīng)用、市場等方面的發(fā)展能力不盡如人意[5]。這種雙重視角不僅促進了對研究對象內(nèi)部運作的理解,也為解決實際問題提出了更具針對性的方法。但近年來,由于受到國外晶體使用和芯片研發(fā)的限制,我國正在大力發(fā)展集成電路產(chǎn)業(yè),向這個產(chǎn)業(yè)投入大量的資金,并且廣招對這個行業(yè)感興趣的人才,大力培養(yǎng)這個方向的人才,為我國可以自主研發(fā)集成電路產(chǎn)業(yè)不受國外技術(shù)的限制做出著努力,現(xiàn)在成果已經(jīng)有些許的明顯(李東旭,郭昕怡,2020)。從這些程序可以發(fā)現(xiàn)在集成電路中的半導(dǎo)體技術(shù)到目前取得了巨大的進步,但是其中的模擬設(shè)計一直面臨著新的挑戰(zhàn),因此要求創(chuàng)新。所以更突出了研究模擬集成電路的重要性[6],必須要大力發(fā)展集成電路產(chǎn)業(yè)。本論文就是在集成電路CMOS工藝基礎(chǔ)下通過設(shè)計電路原理圖、仿真及版圖繪制對于高性能、低噪聲LVCMOS(LowVoltageComplementaryMetalOxiDeSemiconDuctor)扇出(時鐘)緩沖器的設(shè)計與實現(xiàn)(孫藝博,陳可欣,2020)。1.3方案對比因為之前的時鐘緩沖器是由通用的邏輯元件組成,有需要維持時鐘信號完整度的缺點,在電路的應(yīng)用中存在著較多的問題,而且當其中的時鐘樹運行時速度會增加,當提速時時鐘樹的時序容限又會大大的降低,這樣就使得提高時鐘緩沖器的性能和降低噪聲顯得越來越重要。本文中的數(shù)據(jù)處理技巧對比早期的方法而言,更加簡潔高效。采用了更為簡化的預(yù)處理程序,這一程序去除了不必須的轉(zhuǎn)換步驟,優(yōu)化了數(shù)據(jù)清理和歸一化過程,從而極大提高了處理效率。所以本論文為了研究高性能、低噪聲LVCMOS扇出(時鐘)緩沖器的設(shè)計與實現(xiàn)而進行了方案對比(劉昱辰,鄭馨月,2023)。方案一:電路中有較多的晶體管,在電路的交叉點上容易不穩(wěn)定,為了使其穩(wěn)定,采用了一種用條令電阻補償?shù)姆绞?,而且因為在實際應(yīng)用中的面積要盡可能的小,所以在本方案中輸出級采用了一種改進式AB類輸出級,可以確保建立速度,降低了電路結(jié)構(gòu)不對稱中產(chǎn)生的噪聲(王文博,蔡佳霖,2022)[7]。圖1.1ClassAB輸出級的電路結(jié)構(gòu)從這些措施中看出輸出級采用了AB類推挽輸出,如圖所示1.1所示,由一個偏置管M10和差分輸入對M6,M7以及負載管M8,M9組成的反相級的驅(qū)動由M14,M15,M16,M17組成的AB類的輸出級,這個反相級的負相輸入端電壓是M11,M12,M13構(gòu)成的一個輸入級的半邊復(fù)制電路提供,這個反相級的作用是產(chǎn)生與第一級輸出電壓Vout相同(楊柏林,范婷婷,2023)[8]。再就是,由于這個電路輸入做到與輸入級的電流完全相同,研究中遇到的難題和局限性為后續(xù)工作指引了改進的方向,激發(fā)研究人員不斷優(yōu)化和完善研究設(shè)計,以期實現(xiàn)更深入的理解和更廣泛的應(yīng)用價值。那么電路的匹配性就會更好,噪聲也就會更小,但是這個方案中只滿足了降低其產(chǎn)生的低噪聲的問題。然而可能這個電路對于CMOS圖像傳感器的緩沖器中,且需要耗費更多的時間跟精力[9],對于本論文研究的高性能、低噪聲LVCMOS扇出(時鐘)緩沖器還是有些許的差異的(郭紫萱,周俊熙,2022)。方案二:對于本論文高性能、低噪聲LVCMOS扇出(時鐘)緩沖器的設(shè)計,產(chǎn)生的想法是把本論文的名稱分開來。首先是低噪聲,在這等場景中可以利用扇出時鐘在上升沿到來時輸出才會產(chǎn)生變化,即輸出只跟隨著時鐘的上升沿的到來時才產(chǎn)生變化,這就可以有效地防止噪聲,高性能,即可以通過帶更多的負載來加大緩沖器的高性能的能力(趙思琦,劉凱旋,2019)。方案二,對于現(xiàn)階段的水平以及時間來說更好完成,且最后通過仿真發(fā)現(xiàn),對于本論文需要的要求都有完成且都滿足,所以最后選擇了方案二來完成(陳昊宇,吳麗娜,2019)。這一結(jié)論為相關(guān)領(lǐng)域提供了可靠的參考,并為進一步的研究構(gòu)建了堅實的基礎(chǔ)。1.4本論文研究內(nèi)容本論文研究的是高性能、低噪聲LVCMOS扇出(時鐘)緩沖器的設(shè)計與實現(xiàn),先是對于緩沖器基礎(chǔ)知識的掌握與了解,在這種設(shè)定里從最基礎(chǔ)的元器件如反相器、D觸發(fā)器的基本能特性來研究如何來提高扇出(時鐘)緩沖器的高性能與低噪聲兩個特性,同時還要滿足LVCMOS即滿足高電平下的條件(楊澤宇,林心怡,2019)。在電路版圖設(shè)計中所應(yīng)用到的是基于臺積電180nm標準數(shù)字工藝參數(shù),使用的是集成電路中的CMOS工藝。遇到這種情況時本論文的大致架構(gòu)安排如下(孫嘉祺,張浩辰,2023):第一章為緒論的部分,主要介紹了緩沖器的背景以及所用到的集成電路工藝的發(fā)展。第二、三章為設(shè)計的概述部分,主要介紹了電路設(shè)計中主要需要用到的基本模塊,即緩沖器部分與D觸發(fā)器部分,通過對緩沖器原理的介紹以及對反相器原理的介紹,為后面對于電路原理的設(shè)計提供了良好的理論支持。通過跨學(xué)科的合作與交流,本文成功地將多個領(lǐng)域的理論與方法相結(jié)合,為解決復(fù)雜問題提供了全新的視角和解決方案。第四章為電路的原理設(shè)計部分,主要講述了本論文研究題目的電路原理圖設(shè)計部分,并且詳細介紹了電路設(shè)計原理以及電路仿真與結(jié)果,最后通過仿真結(jié)果來檢驗設(shè)計的電路原理是否符合要求。第五章為版圖的設(shè)計與實現(xiàn)的部分,通過介紹了版圖所需軟件Virtuoso以及版圖設(shè)計規(guī)則與注意事項,來進行對版圖的設(shè)計。第六章為版圖的驗證部分,從這些過程中看出介紹了版圖驗證所需的工具的,主要講述了是如何對所設(shè)計的版圖進行版圖設(shè)計規(guī)則的檢查以及對版圖與原理圖之間是否一致進行了檢查,最后驗證所繪制的電路版圖是否合理,是否符合要求。最后為全文結(jié)論部分。

第2章緩沖器部分設(shè)計2.1緩沖器時鐘緩沖器中的時鐘,是現(xiàn)在所有數(shù)字模塊中所必須的一個單元,時鐘緩沖器中帶緩沖那一端門電路都是帶了一個反相器,最后門電路中輸出的能力只是被輸出級部分的晶體管的特性控制的,與門電路上每一個輸出端當時加入電壓后所處的邏輯狀態(tài)是無關(guān)的。如光想讓門電路的輸出的驅(qū)動能力與輸入的邏輯狀態(tài)有關(guān),那么就要在門電路中把緩沖器去除掉(韓思源,張文琪,2022)。借助實證分析、案例分析及綜合研究方法,本文不僅證實了理論構(gòu)想的可靠性,還揭示了實踐中的關(guān)鍵因素及其作用機理。從另一個方面來說,按照這種理論框架進行探究結(jié)論為帶有緩沖器的門電路的轉(zhuǎn)移信號的特性最少是由3次轉(zhuǎn)移特性相乘而得到的結(jié)果,因為這樣會使其中轉(zhuǎn)換區(qū)域變窄,最后得到的圖形更加接近理想的矩形,而且還不會隨著輸入端使用的次數(shù)的變化而變化。帶緩沖器的門電路相比于其他的門電路來說,從這些分析中證明會更好的阻止外部的干擾(王欣怡,李睿智,2021)[10]。并且,在含有緩沖器的門電路中波形輸出會較好,會形成對稱的圖形,這樣會使門電路具有輸入電容較小、交流電壓的增益大、帶寬窄等優(yōu)點。但是,因為又給門電路另外加上了緩沖的一級,所以不利于門電路的傳輸延遲時間。由上述可得,從這些章節(jié)中看出帶緩沖器的門電路更適合應(yīng)用在較高速度的數(shù)字設(shè)計電路系統(tǒng)中(魏弘宇,鄧彥霖,2022)[11]。2.2緩沖器原理分析2.2.1MOS管(1)MOS管結(jié)構(gòu)和工作原理MOS管構(gòu)成的緩沖器是數(shù)字電路中非常重要的概念。MOS管的英文全稱叫MOSFET(MetalOxiDeSemiconDuctorFielDEffectTransistor),即金屬氧化物半導(dǎo)體型場效應(yīng)管,其結(jié)構(gòu)圖如下圖2.1(a)和(b)所示(周子安,馬若彤,2021)。MOS管構(gòu)成基本的與門、或門電路。CMOS分為NMOS和PMOS如圖2.3。(b)圖2.1MOS管的結(jié)構(gòu)當柵源電壓VGS=0時,源-漏之間是不導(dǎo)通的,iD=0當柵源電壓VGS>VGS(th)時,通過這些細節(jié)表明在電壓的作用下,電子經(jīng)過運動會在襯底表面形成N型反型層,源極與漏極中會產(chǎn)生一個導(dǎo)電溝道,溝道中有iD流通(李俊凱,王佳琪,2021)[12]。在設(shè)計優(yōu)化的過程中,本文特別關(guān)注了經(jīng)濟合理性與方案的可復(fù)制性,相較于原始規(guī)劃,在多個方面進行了細致的改良與提升。(2)MOS管的特性MOS管中的柵極電壓VGS決定漏極的電流大小,所以要調(diào)節(jié)漏極電流大小就可以通過調(diào)節(jié)柵極電壓的大小[13]。因此可以看出,MOS管是一種電壓器件,這無疑地揭示了本質(zhì)其中各個極中的電流是通過調(diào)節(jié)電壓來調(diào)控的。圖2.3PMOS和CMOS2.2.2反相器反相器是數(shù)字設(shè)計電路中的一個基本功能模塊。某種程度看出基本的反相器應(yīng)用在鎖存器、數(shù)據(jù)選擇器、解碼器和狀態(tài)機(吳思源,韓依然,2022)。反相器將輸入信號的相位翻轉(zhuǎn)成與原來相反。在模擬電路中,如音頻放大器、時鐘振蕩器等,通常都會采用帶反相器的電路。在數(shù)字電路設(shè)計中,也是通常采用反相器。這些研究設(shè)想與探索領(lǐng)域不僅立足于對當前狀況的深刻洞察,還結(jié)合了領(lǐng)域內(nèi)的最新發(fā)展與未來預(yù)測,旨在探索未知地帶、解決現(xiàn)實問題并推動學(xué)術(shù)進步。在本文中應(yīng)用到的是CMOS反相器。這在某種程度上印證了在數(shù)字設(shè)計電路中,CMOS反相器是一個不可缺少的主要單元(楊子杰,王睿文,2020)。具有損耗功耗低、噪聲容限大、輸入電阻高、對噪聲和干擾不敏感等優(yōu)點,被廣泛應(yīng)用到數(shù)字電路設(shè)計中,在生活實際應(yīng)用中也用的很頻繁。反相器電路圖如下圖2.4所示。圖2.4反相器電路圖(1)CMOS反相器工作原理反相器是由一個NMOS和一個PMOS組合而成,兩個晶體管的柵極(G)相互連接作為反相器的輸入端,這在一定程度上確認了漏極相連作為反相器的輸出端,但是兩個晶體管的源極接的是不同的,NMOS的源極接地,PMOS的源極接電源VDD。CMOS反相器是CMOS邏輯電路中的一個最基本應(yīng)用最多的單元。CMOS中輸入端為柵極,輸出端為漏極。并且無論是P溝道還是N溝道,這在一定范圍內(nèi)顯示了兩種都是一種增強型的晶體管。當輸入電壓為低電壓時,兩個晶體管的邏輯狀態(tài)是不同的,P溝道晶體管處于導(dǎo)通狀態(tài);但是當電壓逐漸升高時,N溝道處于導(dǎo)通狀態(tài),而P溝道晶體管將要變成關(guān)閉狀態(tài)即截止狀態(tài)。所以在反相器中N與P兩個晶體管的狀態(tài)都是相反的(許雅萱,李子瑜,2022)。結(jié)果的吻合性說明理論模型中考慮的影響因素及其相互作用是合理的,對理解研究現(xiàn)象的本質(zhì)至關(guān)重要。(2)電路分析反相器電路的特性就是輸出的電壓與輸入的電壓邏輯電平是相反的。因為這種"阻性漏極"的方式只利用了其中一種晶體管,所以在制造就會降低成本使成本會很少。而且,反相器中有較多類型,比如CMOS反相器就是用兩個互補晶體管組合而成。CMOS反相器的結(jié)構(gòu)可以降低運行時的功耗過大問題,這在某種程度上表征所以可以很好的利用反相器的這一特性來研究提高性能??紤]到理論與實踐間的固有差異,本文進行了深入的分析與必要的調(diào)整。為了促使理論模型更好地適應(yīng)實際操作情境,我們不僅嚴謹?shù)赝茖?dǎo)和驗證了理論框架,還廣泛涉足實踐領(lǐng)域,通過多元化的研究方法等渠道,搜集了大量的第一手資料。因為在兩種邏輯狀態(tài)“1”或者“0”中,通過其中一個晶體管處于關(guān)閉狀態(tài)上可以較好的提高反相器處理的效率。CMOS反相器中的電阻較低,這在某種程度上指出會使電路中產(chǎn)生更低的噪聲干擾,相比于普通的NMOS型或者PMOS型反相器(陳梓萱,王俊熙,2022)[14]。(3)扇出扇出指的是該模塊直接調(diào)用的下級模塊的個數(shù)。在這種氛圍中扇出大那么調(diào)用的下級模塊就會增加,就要更多的下級模塊來進行調(diào)控跟均衡。在低頻(<1MHz)的工作條件下,CMOS電路的扇出數(shù)可以達到50以上。這一發(fā)現(xiàn)不僅增強了本文對該領(lǐng)域知識體系的信心,還為跨學(xué)科合作提供了共識基礎(chǔ)。但是扇出變大的時候?qū)﹄娐窌a(chǎn)生較多問題。所以在電路設(shè)計中,要降低扇出的大小(李浩然,張子和,2022)。(4)緩沖器與反相器現(xiàn)在數(shù)字電路設(shè)計應(yīng)用中用到范圍最大的就是CMOS反相器,因為它具有互補結(jié)構(gòu)的優(yōu)勢[15]。在這類條件當中一個簡單的緩沖器就是在CMOS的門電路的輸入輸出端口加入一個反相器。加入反相器的門電路的輸出電阻較其他電路來說更加穩(wěn)定一些,并且電壓傳輸特性也會更好一點(王晨曦,劉梓涵,2023)。電路中有一個反相器,無論所需電路如何組合,總是需要使用反相器輸出。它的優(yōu)點是可以保持穩(wěn)定的電壓傳輸特性,這些相似性不僅體現(xiàn)在分析設(shè)計的方法論上,如數(shù)據(jù)收集與分析手段的采用,還深刻反映在核心發(fā)現(xiàn)與推論之中。處于這種狀況下電壓傳輸曲線會因此變得更加直上直下。當一個反相器加到電路中時,曲線將變得更陡。曲線的斜率不會停止攀升,直到上升或下降邊緣足夠快,使柵極電容器的充放電“可見”。從這些證據(jù)可以看出這對于沒有電極間電阻的CMOS電路是正確的,這個斜率可以在最后的模擬中看到(陳浩宇,王思敏,2023)。2.3本章小結(jié)本章分析了關(guān)于組成緩沖器的基本單元,MOS管的構(gòu)成以及工作原理還有其特性,反相器的結(jié)構(gòu)以及工作原理還有電路分析特性等,更好的為接下來的電路原理圖的設(shè)計奠定了理論上的基礎(chǔ)。

第3章D觸發(fā)器3.1傳輸門(1)傳輸門CMOS傳輸門的構(gòu)造很簡單,當一個P溝道和一個N溝道增強型MOSFET并聯(lián)時,就可以成為一個CMOS傳輸門。CMOS傳輸門(TMG)就是一種傳輸模擬信號的模擬開關(guān),它還可以傳輸數(shù)字信號(張哲宇,趙穎慧,2022)。成本控制方面,通過精簡無效步驟、采用成本效益更高的方案,有效減少了總體成本,提升了方案的性價比。它具有較低電阻的特性,最低為幾百歐,還具有較高截止電阻的特性,大約大于109歐。在應(yīng)用中是一種可控開關(guān)電路[16]。傳輸門的管級電路圖如下圖3.1所示。圖3.1傳輸門(2)工作原理PMOS在高電平時是截止狀態(tài),在低電平時是導(dǎo)通狀態(tài);而NMOS在低電平時是截止狀態(tài),在高電平時是導(dǎo)通狀態(tài),柵極控制電壓(孫宇翔,劉嘉怡,2022),EP為PMOS柵極的控制端口,EN為NMOS柵極的控制端口,從這些細節(jié)中可以看出當EP接高電平,EN接低電平時,V1V2是處于截止的狀態(tài),當EP接低電平,EN接高電平時,V1V2是處于導(dǎo)通的狀態(tài),這就是傳輸門的工作原理。傳輸門的符號圖如下圖3.2所示(王思源,張若楠,2022)。本文還通過與其他相關(guān)研究的對比,驗證了研究結(jié)論的普適性和創(chuàng)新性。通過與已有文獻的結(jié)論進行對比分析,本文發(fā)現(xiàn)研究結(jié)果不僅支持了部分已有觀點,還提出了新的見解,為相關(guān)領(lǐng)域的理論發(fā)展提供了新的視角和證據(jù)。圖3.2傳輸門符號圖這在一定程度上反映出來如圖3.2所示傳輸門上帶有一個CK時鐘控制開關(guān),NCK即CK的非,當CK=0時,NCK=1,CK=1時,NCK=0。(3)應(yīng)用在這樣的背景下傳輸門中用到的MOS管有線性對稱關(guān)系的輸出特性,所以傳輸門都是用來當模擬開關(guān)。而模擬開關(guān)主要是應(yīng)用于像保持電路、模數(shù)或者數(shù)模轉(zhuǎn)換等電路(李芝和,王雨萱,2019)。在分析策略上,本文融合了定量與定性分析,以全面、客觀地解讀數(shù)據(jù),并運用統(tǒng)計軟件對數(shù)據(jù)進行處理同時進行了敏感性分析,以評估研究結(jié)果對關(guān)鍵預(yù)設(shè)變動的穩(wěn)定性。3.2D觸發(fā)器(1)關(guān)于D觸發(fā)器D觸發(fā)器具有記憶的功能,是一種信息存儲的器件,在數(shù)字邏輯中也是一種非常重要的基本單元電路。從這些模式中顯現(xiàn)它有兩種穩(wěn)定的狀態(tài)就是“0”和“1”。當輸入一定的外界信號時,D觸發(fā)器可以從一種穩(wěn)定的狀態(tài)跳轉(zhuǎn)到另一種穩(wěn)定的狀態(tài),比如從0跳到1,從1跳到0。本論文所需要的就是一種邊沿觸發(fā)的D觸發(fā)器(趙文博,張瑞琪,2020),某種程度看出邊沿觸發(fā)就是在輸入一定的信號后,在時鐘脈沖的前沿發(fā)生跳轉(zhuǎn),以往的研究多集中于目標的主流特征和直接關(guān)系,本文則專注于挖掘那些常被忽略的邊緣特性和間接聯(lián)系。它的狀態(tài)就會發(fā)生改變,而它下一次的狀態(tài)如何就要看時鐘脈沖上升沿到來之前D端口處的狀態(tài),就是在那一瞬間才會發(fā)生變化。D觸發(fā)器結(jié)構(gòu)圖如下圖3.3所示。圖3.3D觸發(fā)器的結(jié)構(gòu)DCLKQQ0↑011↑10×0QQ×1QQ表3.4D觸發(fā)器真值表(2)工作原理這在一定程度上確認了如圖3.3跟表3.4所示,D觸發(fā)器在觸發(fā)邊沿到來時,將輸入端的值存進去,并且這個值與當前存儲的值是無關(guān)的(劉志宏,李昊天,2022)。在兩個有效脈沖邊緣之間,D的翻轉(zhuǎn)不會影響觸發(fā)器中存儲的值,但是在脈沖邊緣到達之前,輸入D必須有足夠的設(shè)置時間來確保信號的穩(wěn)定性。在CLK上升沿到來之前,從這些對話中看出無論輸入什么值,觸發(fā)器的狀態(tài)都不會改變,下一個狀態(tài)等于當前狀態(tài)。當D=0時,時鐘上升沿到來時;Q=0,當D=1時,時鐘上升沿到來的時候,Q=1。(3)D觸發(fā)器部分如圖3.5所示(陳雨彤,周曉琳,2022)。在研究策略上,本文展示了獨特的方法論視角,創(chuàng)造性地融合了多種學(xué)科的研究方法。在理論層面,通過整合不同理論體系的內(nèi)容,構(gòu)建了一個更為綜合的理論框架。圖3.5D觸發(fā)器電路如圖3.5所示,本文設(shè)計的D觸發(fā)器里是由傳輸門與反相器構(gòu)成,反相器的工作原理為當輸入為高電平時輸出為底電平(鄧雅婷,朱晨曦,2021),從這些跡象表明當輸入為低電平時輸出為高電平。傳輸門即看EN的接入電平的狀況,高電平時V1V2導(dǎo)通,低電平時V1V2截止。在這一基礎(chǔ)上,結(jié)合研究主題,精心制定了科學(xué)合理的研究方案,包含數(shù)據(jù)收集方式、樣本選取標準以及分析體系。在電路中產(chǎn)生的模擬電壓信號是在持續(xù)變化的,要輸出這個信號就要用到傳輸門,此處是當作了一個模擬的開關(guān)。當輸入為1時通過傳輸門與反相器的工作最后輸出為0,這在一定程度上展現(xiàn)了當輸入為0時通過一系列的工作最后輸出為1。3.3本章小結(jié)本章主要說明了D觸發(fā)器部分,觸發(fā)器是時序邏輯電路中的基本單元,本章就講述了D觸發(fā)器里的傳輸門與反相器之間的關(guān)系,傳輸門的結(jié)構(gòu)工作原理以及它的邏輯功能,還通過D觸發(fā)器的結(jié)構(gòu)真值表分析了它的工作原理(徐昊宇,趙瑞琳,2022)。

第4章電路原理圖設(shè)計及仿真4.1電路原理圖分析本論文是關(guān)于高性能、低噪聲LVCMOS扇出(時鐘)緩沖器的研究,通過這些細節(jié)表明關(guān)于高性能的想法就是在反相器方面再串聯(lián)上8個并聯(lián)的反相器來增加它的負載,如下圖4.1反相器電路圖所示由一個反相器串聯(lián)兩個并聯(lián)的反相器(魏子怡,王雪瑩,2021),來增大了兩倍的負載,再用那兩個并聯(lián)的反相器串聯(lián)上四個并聯(lián)的反相器,在數(shù)據(jù)收集時,本文采用多種數(shù)據(jù)來源渠道,實現(xiàn)數(shù)據(jù)的相互補充與驗證,同時依據(jù)標準化的操作流程,減少數(shù)據(jù)采集中的主觀錯誤。負載能力又增大了4倍;為了讓其負載能力增加到夠大來提高它所需要的高性能的特性,依據(jù)此理論框架進行全面分析可獲知結(jié)果最后再串聯(lián)上8個并排的反相器,這樣最后由原來的MOS管2u變成8u,增加了4倍且有8個共32倍,提高了共32倍的帶負載的能力,即滿足了它所需的高性能要求且這樣帶負載能使電路運行起來更輕松且產(chǎn)生的噪聲小。關(guān)于低噪聲的想法就是利用時鐘(陳怡然,張語菲,2022),D觸發(fā)器中CK在上升沿時輸出OUT的狀態(tài)才會改變而等于輸入IN,且狀態(tài)的改變是在時鐘信號上升邊沿的那一瞬間才開始改變的,而且在時鐘信號改變的過程中噪聲是隨機出現(xiàn)的,從這些記錄中體現(xiàn)在那一瞬間,噪聲是無影響的,所以這樣大大的降低了噪聲,本文還著重強調(diào)了混合方法的應(yīng)用,即將量化研究與質(zhì)性分析相結(jié)合,以獲取更為全面的研究洞察。且提高了電路工作時的抗干擾的能力。給電路輸入一個0V~3.3V的電平信號,因為D觸發(fā)器的輸出OUT=IN輸入,這在一定程度上反映出來所以還得以滿足本論文的LVCMOS,最后就可以完成高性能、低噪聲LVCMOS扇出(時鐘)緩沖器的設(shè)計的電路原理圖(楊昕妍,劉國輝,2020),如下圖4.2電路設(shè)計原理圖。圖4.1反相器電路圖圖4.2電路設(shè)計原理圖4.2電路仿真分析仿真測試圖與仿真測試結(jié)果曲線圖如下圖4.3、4.4所示。圖4.3電路仿真測試圖由圖4.3可得,對電路原理圖進行仿真測試,對電路加入了3.3V的高電平輸入,并且加入了兩個方波信號,為了給電路加入接連不斷的高電平0和低電平1。圖4.4仿真結(jié)果曲線圖在這種布局下通過電路仿真測試圖的得出如圖4.4所示的仿真曲線圖,由圖中可得,第一行OUT為輸出曲線,第二行IN為輸入曲線,第三行CLK為時鐘變化曲線,從圖中可以看出來,當CK在上升沿時,這不僅有助于剔除隨機誤差,還能提高研究成果的信賴度和普遍適用性。另外,技術(shù)手段的發(fā)展水平也對結(jié)論的核實過程產(chǎn)生重要影響,隨著科技的不斷發(fā)展,新的研究工具和技術(shù)手段不斷涌現(xiàn),為科學(xué)研究提供了更多新的選擇和可能性。輸出OUT才會改變等于輸入IN,且輸出OUT只是在時鐘信號的上升沿那一瞬間才會改變,上升沿階段輸出OUT=IN輸入(鄒晨宇,馬雪琳,2022),因為在電路中噪聲是隨機出現(xiàn)的,用時鐘信號的上升沿來控制,在這種布局里可以大大的降低產(chǎn)生的噪聲,噪聲在那一瞬間是對電路無影響的,會大大的縮短輸入端的受干擾的時間,也就降低了輸入端所受到的外部影響,而且電壓是從低電平0V到3.3V滿足了論文中的LVCMOS的要求(李俊凱,王佳琪,2021)。這種設(shè)計不僅強化了模型的應(yīng)用價值,也為后續(xù)研究人員提供了一個開放的平臺,支持他們在現(xiàn)有基礎(chǔ)上進行創(chuàng)新和發(fā)展。4.3本章小結(jié)本章首先根據(jù)需要設(shè)計的高性能、低噪聲LVCMOS扇出(時鐘)緩沖器題目的要求,分析了需要設(shè)計考慮到的電路的結(jié)構(gòu),從這些程序可以發(fā)現(xiàn)如如何提高緩沖器的高性能,如何帶負載,以及降低噪聲的方法,根據(jù)前三章介紹的關(guān)于MOS管、反相器、D觸發(fā)器、傳輸門等基礎(chǔ)知識,來對本論文要設(shè)計的題目進行了電路原理圖的設(shè)計并進行了仿真來進行驗證看所設(shè)計出的電路原理圖是否符合論文要求,從這些措施中看出通過仿真結(jié)果分析發(fā)現(xiàn),所涉及的電路符合論文要求,這樣接下來就可以順利的進行電路版圖的設(shè)計。

第5章版圖設(shè)計5.1Virtuoso介紹Virtuoso軟件中配置了深亞微米(45nm)數(shù)字元件特性驗證。包含了進行項目原理圖的繪制、版圖的繪制和模擬電路仿真分析的功能。其他功能包括Verilog編輯器、VHDL編輯器等[17]。5.2版圖設(shè)計規(guī)則及注意事項(1)版圖設(shè)計版圖設(shè)計(Layout)就是設(shè)計師通過電路原理圖將電路圖轉(zhuǎn)化為平面上的幾何圖形。這些轉(zhuǎn)換的圖形上面包括了關(guān)于器件的物理信息,在這等場景中比如集成電路工藝中規(guī)定的尺寸、每一層的拓撲定義等(何雨婷,劉梓萱,2022)。版圖設(shè)計有特定的設(shè)計規(guī)則,集成電路工業(yè)廠商來根據(jù)自己公司所需來制定設(shè)計規(guī)則。在手法上本文采納了章教授所提倡的定量與定性相結(jié)合的研究方法為研究提供了堅實的數(shù)據(jù)支持和理論依據(jù)。于是,設(shè)計規(guī)則就會隨著工藝的不同而設(shè)定不同。在制造商沒有告知設(shè)計師需要設(shè)計的規(guī)則之前,設(shè)計師是不能提前開始設(shè)計的,在這種設(shè)定里若是設(shè)計的規(guī)則不符合公司所需要的,那么無法制成所需元件(龔志鵬,張怡然,2022)。本文所采用的工藝是臺積電的180nm標準CMOS工藝。因為它的功耗較低、運行起來的速度快、抗噪聲干擾的能力強,集成化程度高等一系列優(yōu)點,已變成目前大規(guī)模IC制造的主要工藝技術(shù),遇到這種情況時當前主要的IC都是采用該工藝制作的,能夠放大電壓。通過仔細研究相關(guān)理論文獻并對已有研究進行全面分析,本文的預(yù)期建立在一個合理且有據(jù)可循的基礎(chǔ)上,最終結(jié)果與預(yù)期一致,進一步驗證了這些研究工作的有效性。版圖在設(shè)計的全過程中要進行定期的檢查,避免錯誤的積累而導(dǎo)致后面難以修改(林浩然,薛思琪,2023)[18]。(2)版圖設(shè)計規(guī)則最小寬度(minWiDth):圖形與圖形之間規(guī)定的邊的寬度。最小間距(minSep):圖形與圖形之間最接近邊與邊的距離。最小交疊(minOverlap):兩個圖形相互之間的交叉。(3)版圖設(shè)計注意事項在正式畫電路版圖之前,一定要先思考好。從這些過程中看出要想好的就是每個管子要如何去安排放置,管子與管子之間的連接怎樣會更簡潔,在進行到最后的電源線、地線時要怎么連接。當采用的工藝里需要用到多晶硅和多層金屬時,連線就需要更加靈便。按照一般來說,信號線都是用金屬1,信號線互相連接的地方用金屬2,整個的電路要與外部焊盤需要有接口的時候要用金屬3,按照這種理論框架進行探究結(jié)論為在金屬1和金屬2,或者金屬2和金屬3之間連接時需要打孔,為了把金屬層次連接上,要在電路版圖更加簡潔的情況下適當?shù)脑黾咏佑|孔數(shù),目的為了增加連接的可靠性(李晨光,張雨彤,2022)。通過針對不同來源和類型的數(shù)據(jù)進行測試,證明了該方法的穩(wěn)固性和可靠性。這一結(jié)果與理論預(yù)測基本一致,表明在設(shè)定的條件下,實際情況與理論模型之間高度一致。為了減少從輸出到輸入的電磁干擾,要在芯片的兩端優(yōu)先放置輸入端與輸出端。布局設(shè)計中必須考慮金屬連線的寬度。當連線到柵極端金屬1的面積太大時,因為金屬之間有腐蝕,從這些分析中證明會有大量的離子聚集在金屬1周圍,所以會增加了電位,從而會導(dǎo)致柵極電壓升高,導(dǎo)致柵極氧化物被擊穿(陳星河,趙雨桐,2021)。通過嚴謹?shù)膶嵶C研究,這部分工作進一步確認了相關(guān)理論的合理性,并提出了若干新穎的觀點和見解,為現(xiàn)有理論體系提供了有力的支持和補充。因此,在進行版圖設(shè)計中要去避免天線效應(yīng),可以通過減少多晶硅或者是金屬1在連線時的面積,或者直接使用第二層金屬過渡層。電路中各處的電位要一致,襯底要接地。圖形中的連線要盡量的簡潔,從這些章節(jié)中看出要省去不必要的其他形狀同一層連接在一起,應(yīng)盡量合并,以此來減少布局中的數(shù)據(jù)存儲量,使布局簡單美觀。5.3電路圖版圖設(shè)計(1)反相器版圖如下圖5.1所示。圖5.1反相器版圖(2)傳輸門版圖如下圖5.2所示。圖5.2傳輸門版圖(3)緩沖器版圖如下圖5.3所示。圖5.3緩沖器版圖(4)D觸發(fā)器版圖如下圖5.4所示。圖5.4D觸發(fā)器版圖(5)最終版圖設(shè)計如下圖5.5所示。圖5.5最終版圖5.4本章小結(jié)本章主要介紹了關(guān)于繪制版圖的Virtuoso軟件以及介紹了版圖設(shè)計的主要方面,如版圖設(shè)計的規(guī)則跟版圖設(shè)計中需要注意的事項,因為版圖最終要在芯片上呈現(xiàn)出來,所以需要版圖的設(shè)計既要簡潔,面積還要小(劉佳怡,黃志豪,2021);通過這些細節(jié)表明還要考慮到減少其中會產(chǎn)生的寄生效應(yīng),并且在布局規(guī)劃這方面是開始畫版圖時最重要考慮的事。應(yīng)用集成電路中的CMOS工藝,然后展現(xiàn)了關(guān)于本論文的版圖的繪制圖,對于這一部分的創(chuàng)作借鑒了章和寧教授的相關(guān)主題的研究,主要體現(xiàn)在思路和手法方面,在思路上遵循了其強調(diào)的系統(tǒng)性與邏輯性的原則。關(guān)于每個元器件的繪制,以及一個大元器件的繪制,到最終的電路圖的繪制,這無疑地揭示了本質(zhì)以及說明了一下在版圖繪制中出現(xiàn)的問題以及其解決的方法。

第6章版圖驗證6.1驗證工具版圖繪制是有其特定的規(guī)則來設(shè)計的,先要對電路版圖進行設(shè)計,注意其中產(chǎn)生的錯誤,設(shè)計完后就要繪制,繪制完就要進行一系列的驗證。驗證有DRC(DesignRuleChecker)檢查與LVS(LayoutVersusSchemaitc)驗證(張雅靜,周赫連,2022)。某種程度看出在對版圖進行繪制時,是按照設(shè)計規(guī)則來繪制的,但是有的時候就算是按照設(shè)計規(guī)則來繪制的電路版圖,在進行驗證時還是會出現(xiàn)一些錯誤。這些錯誤可能不是因為不符合規(guī)則,而是因為繪制的版圖與電路原理圖不同導(dǎo)致的[19]。而且在版圖繪制中就算是少了一根小小的連線,在對后期芯片的制成也是有大問題的。所以要在版圖繪制后進行驗證,這在某種程度上印證了先是進行DRC驗證,通過后DRC驗證的版圖還需要通過LVS驗證(林浩然,吳志明,2020)。這種雙重視角不僅促進了對研究對象內(nèi)部運作的理解,也為解決實際問題提出了更具針對性的方法。在剛開始操作過程中,可能會發(fā)現(xiàn)DRC驗證比較難,因為要遵守太多的設(shè)計規(guī)則,但是在熟練操作后會發(fā)現(xiàn)LVS才是困難的地方,這在一定程度上確認了主要的原因是要繪制的電路面積太過于大,連線復(fù)雜的原理圖中需要連接的線過多,LVS錯誤有多種類型,比如有網(wǎng)表(nets)錯誤、器件(instance)錯誤、參數(shù)(parameter)錯誤和端點(terminal)錯誤等[20]。6.2LVS驗證(1)通過驗證所得LVS驗證圖如下圖6.1所示。圖6.1LVS驗證圖(2)LVS中常見錯誤及遇見的錯誤常見錯誤:INT(Internal)檢查一個圖形的寬度(WiDth)、EXT(External)檢查兩個圖形的間距(Space)、ENC(Enclosure)檢查一個圖形與另一個圖形的覆蓋(x包y)。遇見的錯誤:pin名稱的大小寫錯誤、N阱層沒有接到一起。6.3DRC驗證(1)通過驗證所得DRC驗證圖如下圖6.2所示。圖6.2DRC驗證圖(2)DRC中常見錯誤及遇見的錯誤常見錯誤:設(shè)備數(shù)目不對、線有錯、電源跟地有漏接、長跟寬有錯、漏掉特殊層次、打錯端口名字、對于線的連接一定要很注意,一根連錯會報出所有的線有錯,報告會比較抽象,很難理清是哪一根(唐子凡,何悅彤,2019)。遇見的錯誤:DRC的最小限寬應(yīng)該是0.28。6.4本章小結(jié)本章主要進行說明了版圖的驗證部分,首先介紹了版圖驗證,然后通過Virtuoso軟件進行了版圖的繪制以及驗證,在版圖繪制的部分中,關(guān)于版圖的驗證是非常重要的,版圖的驗證有DRC驗證和LVS驗證,這在一定范圍內(nèi)顯示了列舉了一些常見的錯誤以及在本論文下版圖驗證中出現(xiàn)的錯誤,以及錯誤的改正方法。結(jié)論本論文是關(guān)于完成一個關(guān)于高性能、低噪聲LVCMOS扇出(時鐘)緩沖器的設(shè)計與實現(xiàn),首先是通過對于各基本元件基礎(chǔ)知識的理解,如MOS管、反相器、緩沖器等的基礎(chǔ)原理,為更好的畢設(shè)做了準備。這在某種程度上表征然后在進行對電路圖原理圖的設(shè)計,設(shè)計后完成了仿真。關(guān)于本論文設(shè)計首先是通過給一個高電平3.3V來滿足LVCMOS的要求,設(shè)計了一個帶負載的反相器,為了增加其的性能,考慮通過增加更多的負載來達成高性能,后串聯(lián)了8個并聯(lián)的反相器增加了帶負載能力。本文中的數(shù)據(jù)處理技巧對比早期的方法而言,更加簡潔高效。采用了更為簡化的預(yù)處理程序,這一程序去除了不必須的轉(zhuǎn)換步驟,優(yōu)化了數(shù)據(jù)清理和歸一化過程,從而極大提高了處理效率。這在某種程度上指出然后考慮帶負載的同時產(chǎn)生的噪聲以及對于低噪聲性能的設(shè)計,是利用了一個D觸發(fā)器,通過時鐘信號時只在上升沿那一瞬間改變的特性來減少了干擾,降低噪聲,達到了低噪聲的性能。完成電路原理圖的設(shè)計后通過仿真,通過仿真結(jié)果看出滿足所預(yù)想的功能。然后使用Virtuoso軟件進行了電路版圖的繪制,繪制完成后通過LVS、DRC的驗證,最終完成了本論文的設(shè)計。參考文獻:[1]王耕耘,卜洪波,潘衛(wèi)軍.微光探測器MTF與SNR計算方法研究[J].激光與光電子學(xué)進展,1-17.[2]李澤宇,張曉峰.緊湊型D波段寬帶CMOS低噪聲放大器[J].空間

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