位置度﹑平面度的定義﹑標注及測量.ppt

,1,位置度平面度的定義標注及測量,目 錄,一提高認識達成統(tǒng)一 二公差基礎(chǔ)知識 三位置度的定義標注及測量 四平面度的定義標注與測量,一提高認識達成統(tǒng)一,在連接器設(shè)計中位置度平面度的標注與測量既是重點又是難點。目前D/T工程部品保部以及臺北就位置度平面度的標注與測量尚未達成統(tǒng)一認識。以MINI PCI 4.0H客戶圖為例從8月9日至8月29日D/T與臺北來回發(fā)了十多次電子郵件其中討論的一個重點就是位置度的標注?，F(xiàn)為提高并統(tǒng)一大家對位置度平面度的認識特制作此報告。,二公差基礎(chǔ)知識,(一) 公差實際尺寸相對理論尺寸的允許變化範圍即當用實際尺寸減去理論尺寸時如果所得差值在公差允許範圍之內(nèi)則該尺寸合格。例如30.000.05如果實際測得尺寸為30.03則30.03-30.00=0.03在-0.050.05範圍之內(nèi)故該尺寸合格。公差定義是公差標注和測量的依據(jù)。,二公差基礎(chǔ)知識,(二)基準為計算或參考的目的設(shè)定一實體上的點線平面柱軸等是精確的根據(jù)它們工件上其他形狀的位置和幾何關(guān)系才得以確立。基準表面基準形體都是用以建立基準的真實工件表面或形體故它們?nèi)杂兄砻婊蛐误w不精密的地方。 符號-A-,二公差基礎(chǔ)知識,基準符號形位公差符號的放置 1尺寸的下面,二公差基礎(chǔ)知識,基準符號形位公差符號的放置 2形體的延長線 3尺寸的延長線,尺寸線的延長線,形體的延長線,二公差基礎(chǔ)知識,(三）公差的分類 1尺寸公差控制形體大小 2形狀公差包括直線度平面度圓度圓柱度線輪廓度曲面輪廓度 3位置公差包括定位公差（位置度對稱度同心度）定向公差（傾斜度平行度垂直度）跳動公差（圓跳動全跳動）,二公差基礎(chǔ)知識,（四）公差帶限制實際要素變動的區(qū)域。 （五）公差原則 1.獨立原則圖樣上給定的形位公差與尺寸公差無關(guān)分別滿足功能要求的公差原則。此原則是形位公差與尺寸公差相互關(guān)系的基本原則。,二公差基礎(chǔ)知識,2.相關(guān)原則 2-1.最大實體原則測量時取被測要素的最大實體的公差原則如下圖所示左圖為尺寸標注右圖為實際測量時的取值,二公差基礎(chǔ)知識,2-2.最小實體原則測量時取被測要素的最小實體的公差原則,二公差基礎(chǔ)知識,2-3.包容原則使實際要素處處位于理想形狀的包容面之內(nèi)的公差原則。應(yīng)用包容原則時其形位公差數(shù)值隨著實際形體尺寸的變化而變化。 以0.6 B-T-B CONN W/POST 40P(M)的孔規(guī)設(shè)計為例其端子公差如下所示,二公差基礎(chǔ)知識,由端子的尺寸公差和位置度公差可知端子允許的變動范圍是以其理論位置為中心對稱的0.32的包容面之內(nèi)因此設(shè)計孔規(guī)時公差如下設(shè)計,二公差基礎(chǔ)知識,二公差基礎(chǔ)知識,其公差帶圖如下所示,二公差基礎(chǔ)知識,當尺寸公差為-0.02即尺寸為0.28時其位置度公差是0.04而當其尺寸公差為0.02即尺寸為0.32時其位置度公差是0。總之該孔的實際輪廓總是位于以理論位置為中心對稱的0.32的包容面之內(nèi)。,三位置度的定義標注及測量,(一）位置度定義一形體的軸線或中心平面允許自真位置變動的范圍即一形體的軸線或中心平面的實際位置相對理論位置的允許變動范圍。 定義軸線或中心曲面的意義在于避開形體尺寸的影響。,三位置度的標注與測量,（二）位置度的三要素 1.基準 2.理論位置值 3.位置度公差,三位置度的標注與測量,（三）位置度公差帶 位置度公差帶是一以理論位置為中心對稱的區(qū)域。,位置度公差帶,三位置度的標注與測量,(四）位置度的標注與測量 4-1.0.6 B-T-B CONN W/POST(M) 40P位置度標注與測量,三位置度的標注與測量,測量步驟 一對端子進行編號,三位置度的標注與測量,二置中歸零先測出左柱寬1.00然后第一次置中歸零（測量右柱寬也一樣）再測量其到右柱兩邊的距離14.2514.95進行第二次置中歸零,三位置度的標注與測量,三以中心線左邊第二根端子為例測出實際尺寸D1(0.82)D2(1.02)根據(jù)位置度公差定義 DE=abs(Da-Dt) =abs(D1+D2)/2-Dt)=abs(0.82+1.02)/2-0.90 =0.020.05,三位置度的標注與測量,其中DE表示實際偏差 abs表示絕對值 Da表示實際位置尺寸 Dt表示理論位置尺寸對于不同的端子它們的理論位置尺寸是不同的測量時測量者須自行計算,三位置度的標注與測量,注意位置度沒有正負之分但在此為區(qū)別其方向公式中的D1D2Dt以基準為零線采用正負符號。 此外根據(jù)上面公式我們還可以推出另一種測量方法但我個人還是推薦采用上述方法因為下面這種方法多了一次置中歸零置中歸零不僅測量繁瑣而且會增加測量誤差。,三位置度的標注與測量,DE=abs(Da-Dt) =abs(D1+D2)/2-Dt) = abs(d1+ Dt) +( Dt-d2)/2-Dt) =abs(d1-d2)/2=abs(0.12-0.08)/2 =0.020.05,三位置度的標注與測量,四制作位置度公差表,三位置度的標注與測量,4-2.IDE 44P垂直位置度標注與測量,如圖IDE 44P端子在垂直方向上具有以下特點排數(shù)少（只有兩排）每排端子數(shù)量多（達22PIN）長度值為端子材厚值對于不同的端子其值差異極小因此我們可把上排端子和下排端子分別看成兩個整體。下面以下排端子為例介紹其測量方法。,三位置度的標注與測量,一測出角柱垂直方向上1.70的實際尺寸然后置中歸零 二往下偏移2.00然后歸零,三位置度的標注與測量,三分別找出位置向上和向下偏離最大的端子測出其端子上下表面的距離并測出端子實際材厚值 DE1=d1-T/2=0.15-0.20/2=0.05 DE2=d2-T/2=0.17-0.20/2=0.07 下排端子的位置度最大偏差為max（DE1DE2）=0.070.10,三位置度的標注與測量,4-3.MINI PCI 4.0H位置度的標注與測量,對于MINI PCI 4.0H存在著兩個位置度一個是端子錫腳的位置度此位置度以POST為基準用于控制端子錫腳與與PCB板的配合現(xiàn)其位置度公差0.18另一個是端子接觸區(qū)域的位置度此位置度以KEY為基準用于控制端子接觸區(qū)域與對插件的配合現(xiàn)其位置度公差0.3。對于第一個位置度其標注方式已統(tǒng)一對于第二個位置度有如下兩種標注方式,三位置度的標注與測量,第一種標注方式直接測量,采用這種方式測量時直接對124根端子接觸區(qū)域一一測量其位置度由于端子接觸區(qū)域是包在主體內(nèi)部其測量繁瑣困難 。,三位置度的標注與測量,第二種標注方式間接測量,由于端子是下料成型且插在主體插槽中插槽控制了端子的平面度因此只須控制KEY相對POST的位置度與端子錫腳相對POST的位置度相應(yīng)地也就控制了端子接觸區(qū)域相對KEY的位置度且其測量誤差相對直接測量極其微小。建議采用此種標注方式。,三位置度的標注與測量,4-4.位置度的其它標注與測量,三位置度的標注與測量,此位置度的公差帶是以理論位置為中心的直徑為0.30的圓。對于每根端子測出其水平位置度Th和垂直位置度Tv后須再驗証其是否滿足公式Th+Tv0.15。,四平面度的定義標注及測量,(一）平面度的定義 曲面輪廓度一表面允許作單向的或雙向的輪廓均勻變移的區(qū)域。平面度其實是曲面輪廓度的一種特例。在連接器設(shè)計中我們將端子站腳及TAB(或LATCH)的表面看成一整體由于其要求相對PCB的表面在0.1mm之內(nèi)的平行區(qū)域之內(nèi)故平時我們將此三者的曲面輪廓度叫做平面度。,四平面度的定義標注及測量,(二）平面度的測量基準,如上圖所示測量平面度時以P1P2P3等不同平面為基準則所測得的平面度值顯然也不同。在這些基準面中只有以最終放置面或配合面為基準所測得的平面度才是被測面的有效平面度值。,四平面度的標注與測量,（三）平面度的標注與測量 如下圖所示在標注平面度時除了要將其輪廓變化范圍限制在0.10mm的公差帶范圍之內(nèi)外還須限制該公差帶的傾斜角度。在連接器設(shè)計中通過限制該公差帶的位置來限制其傾斜角度。下面以0.6 B-T-B(M) CONN W/POST為例介紹其標注與測量。,四平面度的