PCI-E硬件測試方法.doc

PCI-Express硬件測試方法目 錄1PCI-E物理層概述52PCI-E電氣子塊(Ver 1.0)62.1電氣子塊規(guī)則62.1.1規(guī)則：時鐘62.1.2規(guī)則：AC耦合72.1.3規(guī)則：互連72.1.4規(guī)則：終端匹配72.1.5規(guī)則：DC共模電壓72.1.6規(guī)則：ESD72.1.7規(guī)則：短路72.1.8規(guī)則：接收檢測72.1.9規(guī)則：電氣空閑態(tài)92.2電氣信號規(guī)則92.2.1規(guī)則：信號定義92.2.2規(guī)則：損耗102.2.3規(guī)則：抖動Jitter和誤碼率BER102.2.4規(guī)則：去加重De-emphasis102.2.5規(guī)則：Beacon喚醒信號112.3發(fā)送端眼圖模板122.4接收端眼圖模板122.5一致性測試負(fù)載133PHY電氣測試項目133.1通用測試項目143.2發(fā)送端測試項目143.3接收端測試項目163.4母板測試項目173.5插卡測試項目174TEK測試方案簡介184.1兩個SMA通道連接184.2一個帶SMA輸入差分探頭P7350SMA測試184.3兩個單端有源探頭P7260測試194.4一個差分探頭P73xx測試195PHY電氣測試用例205.1符合性_PCI-E時鐘精度測試205.2符合性_SSC擴(kuò)頻時鐘測試205.3符合性_PCI-E一致性測試215.4符合性_PCI-E眼圖測試235.5符合性_PCI-E抖動測試255.6符合性_PCI-E通道間偏斜測試265.7符合性_PCI-E插卡功耗測試266參考文檔27圖目錄圖1 Express物理層通道結(jié)構(gòu)5圖2 物理層的邏輯和電氣子部分5圖3 物理層邏輯子部分“鏈接訓(xùn)練狀態(tài)邏輯狀態(tài)機”6圖4 接收端檢測原理8圖5 接收端檢測結(jié)果9圖6 去加重采樣波形10圖7 30kHz Beacon采樣波形（周期33us）11圖8 500MHz Beacon采樣波形（周期2ns）12圖9 近端（發(fā)送端）眼圖模板12圖10 遠(yuǎn)端（接收端）眼圖模板13圖11 一致性測試負(fù)載13圖12 兩個SMA通道連接18圖13 一個帶SMA輸入差分探頭P7350SMA測試19圖14 兩個單端有源探頭P7260測試19圖15 一個差分探頭P73xx測試201 PCI-E物理層概述物理層的基本連接構(gòu)成是兩對低壓差分信號：一對用于接收，另一對用于發(fā)送。數(shù)據(jù)以8bit/10bit編碼單向傳送速率可達(dá)2.5Gbps，時鐘信號內(nèi)嵌入數(shù)據(jù)流。物理層將物理層數(shù)據(jù)包從一個PCI Express器件的數(shù)據(jù)鏈路層傳到另一PCI Express器件的數(shù)據(jù)鏈路層。圖1 Express物理層通道結(jié)構(gòu)物理層由兩個子部分組成，分為邏輯子塊和電氣子塊，如下圖所示：圖2 物理層的邏輯和電氣子部分邏輯子塊和電氣子塊通過一個控制和狀態(tài)寄存器，或者類似功能的單元進(jìn)行接口，實現(xiàn)每個發(fā)送端狀態(tài)的協(xié)調(diào)。邏輯子塊直接控制和管理物理層的功能。邏輯子塊包含發(fā)送和接收2個部分，主要功能包括：重啟、鏈路初始化、配置（速率、鏈路帶寬、通道映射、Lane之間的de-skew等）、數(shù)據(jù)編碼/解碼(8B/10B)、數(shù)據(jù)擾碼等。圖3 物理層邏輯子部分“鏈接訓(xùn)練狀態(tài)邏輯狀態(tài)機”電氣子塊包括一個發(fā)送端和一個接收端，主要功能包括包轉(zhuǎn)換、電源管理、熱插拔等。PCI Express規(guī)范電氣子塊部分對通道的串行收發(fā)差分對的時鐘精度、終端匹配、直流共模電壓、ESD、短路、接收端檢測、電氣空閑狀態(tài)定義和識別、發(fā)送和接收信號的指標(biāo)、抖動、損耗、信號眼圖指標(biāo)等都進(jìn)行了詳細(xì)和明確的定義，以下章節(jié)詳細(xì)描述。2 PCI-E電氣子塊(Ver 1.0)2.1 電氣子塊規(guī)則2.1.1 規(guī)則：時鐘判據(jù)1：擴(kuò)頻信號頻率為2.5GHz額定頻率的+0%-0.5%內(nèi)（考慮SSC帶來的偏差）；判據(jù)2：調(diào)制信號頻率為30kHz33kHz；判據(jù)3：時鐘精度為+/-300ppm、鏈路兩端設(shè)備間時鐘精度不超過600ppm（包括SSC和非SSC兩種模式）；備注：一般使用SSC調(diào)制時鏈路兩端設(shè)備時鐘頻率相同。2.1.2 規(guī)則：AC耦合判據(jù)1：75nF 發(fā)送端AC耦合電容 200nF；2.1.3 規(guī)則：互連判據(jù)1：包括測試儀器探頭等效電容在內(nèi)，互連線對地總電容最大3nF；2.1.4 規(guī)則：終端匹配判據(jù)1：傳輸差分信號時發(fā)送端差分輸出阻抗ZTX-DIFF-DC：最小80、最大120、典型值100；發(fā)送端輸出阻抗ZTX-DC最小40；判據(jù)2：差分信號空閑時發(fā)送端輸出阻抗ZTX-DC最小40；判據(jù)3：接收端差分輸入阻抗ZRX-DIFF-DC：最小80、最大120、典型值100；輸入阻抗ZRX-DC：最小40、最大60、典型值50；判據(jù)4：設(shè)備掉電、重啟或檢測時：接收端輸入阻抗ZRX-HIGH-IMP-DC最小200k；2.1.5 規(guī)則：DC共模電壓判據(jù)1：接收端共模電壓為0V+/-10mV；判據(jù)2：發(fā)送端共模電壓小于3.6V；2.1.6 規(guī)則：ESD判據(jù)1：所有信號和電源能忍受2000V ESD（human body model）；判據(jù)2：或者所有信號和電源能忍受500V ESD（charged device model without damage）；判據(jù)3：滿足JEDEC JESE22-A114-A Class2標(biāo)準(zhǔn)；2.1.7 規(guī)則：短路判據(jù)1：所有發(fā)送端和接收端支持熱插拔，且不損壞設(shè)備；判據(jù)2：發(fā)送端和接收端D+和D-能長時間對地短路；判據(jù)3：發(fā)送端短路電流ITX-SHORT最大值90mA；2.1.8 規(guī)則：接收檢測備注：接收檢測電路檢測輸入阻抗ZRX-DC步驟如下：、 檢測開始前保證發(fā)送端穩(wěn)定電壓到VDD或者GND，或者VDD與GND間的一個固定電平；、 發(fā)送端轉(zhuǎn)變D+和D-共模電壓：將共模電壓從VDD轉(zhuǎn)變?yōu)镚ND；或?qū)⒐材ｋ妷簭腉ND轉(zhuǎn)變?yōu)閂DD；或?qū)⒐材ｋ妷簭腣DD與GND間的固定電平轉(zhuǎn)變?yōu)橄鄬Ψ措妷?；?判斷有無接收端基于電壓轉(zhuǎn)換的速率：如果檢測出快速的轉(zhuǎn)變沿，則表示接收端未連接；如果檢測出慢速的轉(zhuǎn)變沿，則表示存在發(fā)送端阻抗、互連線容抗、一系列電容和接收端終端匹配，即接收端已連接；圖4 接收端檢測原理圖5 接收端檢測結(jié)果2.1.9 規(guī)則：電氣空閑態(tài)發(fā)送端D+和D-電壓保持相同恒定值時為電氣空閑狀態(tài)，主要用于省電模式和非使能態(tài)。判據(jù)1：跳出電氣空閑態(tài)門限電壓VRX-IDLE-DET-DIFFp-p最小65mV，最大175mV；2.2 電氣信號規(guī)則2.2.1 規(guī)則：信號定義定義差分電壓：VDIFF = VD+ VD-定義共模電壓：VCM = VD+ + VD-/2定義差分電壓峰峰值（差分?jǐn)[幅對稱時）：VDIFFp-p = 2*max|VD+ VD-|定義差分電壓峰峰值（差分?jǐn)[幅不對稱時）：VDIFFp-p = max|VD+ VD-| VD+ VD- + max|VD+ VD-| VD+ VD- or max|VD+ VD-| VD+ VD-定義共模峰值電壓：VCMp = max|VD+ + VD-|/22.2.2 規(guī)則：損耗判據(jù)1：使用眼圖來測量差分電壓衰減幅度，眼圖要求如后所述；備注：根據(jù)衰減量來定量互連線損耗能夠指明發(fā)送端和接收端之間的衰減容限，譬如1.25GHz速率數(shù)據(jù)的最壞情況下?lián)p耗裕量可以用發(fā)送最小輸出電壓VTX-DIFFp-p = 800 mV和接收最小輸入電壓VRX-DIFFp-p = 175 mV來計算，最大損耗為：20log(175/800)-13.2dB；625MHz速率數(shù)據(jù)的最壞情況下?lián)p耗裕量可以用發(fā)送最小去加重輸出電壓VTX-DIFFp-p = 505 mV和接收最小輸入電壓VRX-DIFFp-p = 175 mV來計算，最大損耗為：20log(175/505)-9.2dB；2.2.3 規(guī)則：抖動Jitter和誤碼率BER抖動可分類為隨機抖動Rj和確定性抖動Dj，總抖動Tj是所有無關(guān)抖動源的概率密度卷積，而隨機抖動Rj呈高斯分布，常被用來確定鏈路比特誤碼率BER。滿足BER為10-12時的最大Tj；2.2.4 規(guī)則：去加重De-emphasis判據(jù)1：跳變位差分電壓峰峰值VTX-DIFFp-p最小0.8V，最大1.2V；判據(jù)2：非跳變位差分電壓可小于跳變位3.5dB(+/-0.5 dB)；圖6 去加重采樣波形2.2.5 規(guī)則：Beacon喚醒信號判據(jù)1：周期直流平衡數(shù)據(jù)信號Beacon要求：2ns=脈寬=16us;判據(jù)2：平衡對稱信號最大恢復(fù)時間32us；判據(jù)3：當(dāng)脈寬超過500ns時電壓幅度去加重-6dB；判據(jù)4：當(dāng)脈寬小于500ns時電壓幅度去加重-3.5dB；圖7 30kHz Beacon采樣波形（周期33us）圖8 500MHz Beacon采樣波形（周期2ns）2.3 發(fā)送端眼圖模板判據(jù)1：大小兩個不同的發(fā)送端眼圖定義跳變位和非跳變位（即去加重位）的區(qū)別；判據(jù)2：采集超過3500個連續(xù)UIs中選擇250個有效穩(wěn)定的UIs來計算和創(chuàng)建眼圖；備注：測試時保證負(fù)載串聯(lián)75nF200nF交流耦合電容和50單端/100差分端接電阻，可參考2.5節(jié)無源測試負(fù)載；圖9 近端（發(fā)送端）眼圖模板2.4 接收端眼圖模板判據(jù)1：采集超過3500個連續(xù)UIs中選擇250個有效穩(wěn)定的UIs來計算和創(chuàng)建眼圖；備注：測試時保證負(fù)載串聯(lián)75nF200nF交流耦合電容和50單端/100差分端接電阻，可參考2.5節(jié)無源測試負(fù)載；圖10 遠(yuǎn)端（接收端）眼圖模板2.5 一致性測試負(fù)載備注：眼圖和電氣測試時保證負(fù)載串聯(lián)75nF200nF交流耦合電容和50單端/100差分端接電阻，如廠商未指定測試點，可選擇D+和D-輸出管腳（小于0.2英寸）；圖11 一致性測試負(fù)載3 PHY電氣測試項目PHY Electrical Test Considerations Revision 1.0規(guī)范推薦測試項目，其中黑色字體代表重點測試項目。3.1 通用測試項目編號測試項目描述用例編號PHY.3.1#1發(fā)送端和接收端的時鐘精度+/-300ppm測試1.1PHY.3.1#2使用SSC，擴(kuò)頻信號頻率為2.5GHz額定頻率的+0%-0.5%（考慮SSC帶來的偏差）測試1.2PHY.3.1#3使用SSC，調(diào)制信號頻率范圍為30kHz33kHz測試1.2PHY.3.1#4互連通信端口間擴(kuò)頻信號頻率精度不超過600ppm（包括SSC和非SSC兩種模式）測試1.33.2 發(fā)送端測試項目編號測試項目描述用例編號PHY.3.1#12TX DC共模電壓(Vtx-dc-cm)范圍為03.6V(+/-100mV)測試1.6PHY.3.1#14在接收端檢測時電壓變化不能超過600mV(Vtx-rcv-detect)測試1.8PHY.3.1#17高阻抗臨界值Zrx-high-imp-dc Min （3nF容抗，輸入阻抗200k），檢測出接收端未連接測試1.9PHY.3.1#18低阻抗臨界值Zrx-com-dc Min（交流耦合電容75nF，輸入阻抗40)，檢測出接收端已連接測試1.10PHY.3.1#19從電氣空閑態(tài)轉(zhuǎn)到發(fā)送差分信號后發(fā)送端滿足眼圖模板測試1.16PHY.3.1#23進(jìn)入電氣空閑態(tài)前發(fā)送端須發(fā)送電氣空閑命令，即三個K28.3(IDL)后跟隨一個K28.5(COM)測試1.7PHY.3.1#24發(fā)送端發(fā)送完最后一個電氣空閑態(tài)命令，通過20UI時間后進(jìn)入電氣空閑有效狀態(tài)，即通過8ns (Ttx-idle-set-to-idle)時間來滿足電氣空閑電壓要求測試1.7PHY.3.1#26進(jìn)入或者退出電氣空閑態(tài)時發(fā)送端滿足DC共模電壓規(guī)范：數(shù)據(jù)線間保持 25mV DC CM (Vtx-cm-dc-line-delta)；L0態(tài)和電氣空閑態(tài)轉(zhuǎn)變間保持 100mV DC CM(Vtx-cm-dc-active-idle-delta)測試1.6PHY.3.1#27進(jìn)入電氣空閑態(tài)后發(fā)送端保持最小50UI (Ttx-idle-min)時間，該20ns時間可供接收端響應(yīng)退出命令測試1.7PHY.3.1#30進(jìn)入共模模式檢測前發(fā)送端在VDDGND間保持穩(wěn)定值測試1.17PHY.3.1#31接收端檢測時，D+和D-共模電壓可從VDD轉(zhuǎn)變?yōu)镚ND測試1.17PHY.3.1#32接收端檢測時，D+和D-共模電壓可從GND轉(zhuǎn)變?yōu)閂DD測試1.17PHY.3.1#33接收端檢測時，D+和D-共模電壓可從VDD和GND之間轉(zhuǎn)變?yōu)橄鄬Ψ措妷簻y試1.17PHY.3.2#1連續(xù)發(fā)送相同電平數(shù)據(jù)時須去加重，降低跳變位差分電壓3.5 dB (+/- 0.5 dB)測試1.5PHY.3.2#2差分信號滿足0.81.2 V DIFFp-p(Vtx-diffp-p)差分電壓峰峰值要求（Beacon信號除外）測試1.5PHY.3.2#3通用PCI Express設(shè)備支持遠(yuǎn)程喚醒機制，需要支持Beacon信號，其他情況Beacon可選測試1.18PHY.3.2#4在多通道連接（n）時通道0須發(fā)送和接收Beacon信號測試1.18PHY.3.2#5Beacon信號是周期任意的DC平衡數(shù)據(jù)信號，2ns=脈寬30Khz)共模電壓為20mV(Vtx-cm-acp)測試1.13PHY.3.3#6連接測試負(fù)載后在發(fā)送端封裝管腳處測量到電氣空閑差分峰值輸出電壓(Vtx-idle-diffp) 20mV測試1.15PHY.3.3#7在接收端檢測到信號幅度大于Vrx-idle-det-diffpp (65mV)時退出電氣空閑狀態(tài)測試1.19PHY.3.3#8通道間輸出偏斜1300ps(500ps+2UI)，對于單鏈接來說此為任意兩條發(fā)送端通道間的靜態(tài)偏斜測試1.11PHY.3.3#9連接測試負(fù)載后在發(fā)送端封裝管腳處測量到最小TX眼寬(Ttx-eye)為280ps測試1.53.3 接收端測試項目編號測試項目描述用例編號PHY.3.1#10當(dāng)接收數(shù)據(jù)時（LTSSM所有狀態(tài)），接收端差分阻抗為80120(Zrx-diff-dc)測試1.20PHY.3.1#11接收端DC共模電壓為0V+/-10mV測試1.14PHY.3.4#1接收端滿足最小接收眼圖和電壓一致性規(guī)范；測試時采用一致性測試負(fù)載代替RX設(shè)備管腳；設(shè)計時須給封裝和器件對RX信號質(zhì)量帶來的影響留有裕量測試1.21PHY.3.4#2當(dāng)AC峰值共模電壓小于150mV(Vrx-cm-acp)時，接收端須可靠接收數(shù)據(jù)測試1.21PHY.3.4#3接收端能檢測出意外電氣空閑狀態(tài)發(fā)生：在接收端管腳處測量到持續(xù)時間超過10ms的差分峰峰值電壓跌落值小于65mV(Vrx-idle-det-dffp-p min)測試1.22PHY.3.4#6接收端可靠接收數(shù)據(jù)的抖動 (Ttx-eye-medianto-max-jitter)最大120ps測試1.21PHY.3.4#9通道間偏斜(Lrx-skew)不超過20ns時接收端能可靠接收和匯集數(shù)據(jù)；包括SKP指令設(shè)置RX的偏斜量和互連線本身帶來的偏斜量測試1.233.4 母板測試項目編號測試項目描述用例編號EM.4#4如果平臺喚醒功能使能則可向PCI Express插卡連接器提供+3.3Vaux電壓和每個連接器375mA電流測試1.24EM.4#5如果平臺喚醒功能非使能（不支持WAKE#信號）則可向PCI Express插卡連接器提供+3.3Vaux電壓和每個連接器20mA電流測試1.25EM.4#7PCI Express連接器的電源分配滿足PCI Express插卡機電規(guī)范（PCI Express Card Electromechanical Specification表4-1）；母板設(shè)計與75W電源ECN一致，滿足額外的電源需求測試1.26EM.4#14母板按照要求最小化抖動值（PCI Express Card Electromechanical Specification 4.6.3節(jié)表4-4要求）測試1.5EM.4#16母板按照要求最小化通道間偏斜，最大1.25ns（PCI Express Card Electromechanical Specification 4.6.5節(jié)表4-5要求）測試1.9EM.4#20在連接器后真實負(fù)載處測試，母板滿足發(fā)送端眼圖模板要求（PCI Express Card Electromechanical Specification 4.7.3節(jié)表4-8要求）測試1.5EM.4#22母板接收端滿足接收端靈敏度要求（PCI Express Card Electromechanical Specification 4.7.4節(jié)表4-9要求）測試1.213.5 插卡測試項目編號測試項目描述用例編號EM.2#27每個設(shè)備能進(jìn)入“初始激活鏈接訓(xùn)練態(tài)”（退出電氣空閑態(tài)），持續(xù)80ms，以PERST#有效來結(jié)束測試1.27EM.4#13母板按照要求最小化抖動值（PCI Express Card Electromechanical Specification 4.6.3節(jié)表4-4要求）測試1.5EM.4#15母板按照要求最小化通道間偏斜，最大0.35ns（PCI Express Card Electromechanical Specification 4.6.5節(jié)表4-5要求）測試1.5EM.4#19金手指處，插卡滿足插卡發(fā)送端眼圖模板要求（PCI Express Card Electromechanical Specification 4.7.1節(jié)表4-6要求）測試1.5EM.4#21插卡接收端滿足接收端靈敏度要求（PCI Express Card Electromechanical Specification 4.7.2節(jié)表4-7要求）測試1.21EM.4#23插卡功耗滿足最大功耗要求（PCI Express Card Electromechanical Specification 4.2節(jié)表4-2要求）測試1.31EM.6#4一個8插卡可兼容作為4卡插卡使用測試1.284 TEK測試方案簡介4.1 兩個SMA通道連接通過設(shè)置示波器數(shù)學(xué)運算功能CH1CH3得到差分信號，通過（CH1CH3）/2得到共模信號；50單端匹配電阻在示波器內(nèi)部端接；圖12 兩個SMA通道連接4.2 一個帶SMA輸入差分探頭P7350SMA測試高速差分SMA輸入探頭P7350SMA在探頭中集成雙50端子網(wǎng)絡(luò)和差分放大器來測量差分信號對；圖13 一個帶SMA輸入差分探頭P7350SMA測試4.3 兩個單端有源探頭P7260測試通過設(shè)置示波器數(shù)學(xué)運算功能CH1CH3得到差分信號，通過（CH1CH3）/2得到共模信號；可測試線路實際碼流，探頭盡量縮短地線長度，并靠近端接電阻處。圖14 兩個單端有源探頭P7260測試4.4 一個差分探頭P73xx測試可測試線路實際碼流，探頭靠近端接電阻處。圖15 一個差分探頭P73xx測試5 PHY電氣測試用例5.1 符合性_PCI-E時鐘精度測試用例名稱符合性_PCI-E時鐘精度測試測試目的測試正常通信時時鐘精度差，適用于鏈路兩端使用自身的源時鐘信號（包括擴(kuò)頻時鐘SSC應(yīng)用）測試設(shè)計無測試組網(wǎng)圖無測試步驟1、 使用頻率計測量發(fā)送端時鐘源頻率；2、 使用頻率計測量接收端時鐘源頻率；3、 比較兩個時鐘頻率精度差（包含使用SSC和非SSC兩種模式）；4、 也可使用實時示波器來同步捕獲兩者時鐘，使用示波器分析軟件來計算和比較每個時鐘的頻率；預(yù)期結(jié)果SSC和非SSC兩種模式下時鐘頻率精度保持在600ppm之內(nèi)；測試說明無5.2 符合性_SSC擴(kuò)頻時鐘測試用例名稱符合性_SSC擴(kuò)頻時鐘符合性測試測試目的檢測擴(kuò)頻時鐘的低頻調(diào)制信號是否滿足接收端解調(diào)的上下限測試設(shè)計無測試組網(wǎng)圖測試環(huán)境建立有兩種方式：方式1（推薦）：采用50同軸電纜將信號直接引入示波器同軸電纜的帶寬可達(dá)到10G以上，對信號中的高頻部分的衰減很小，測試結(jié)果最為真實；方式2：示波器的高速探頭用高帶寬探頭差分或2個單端探頭點擊在最靠近接收芯片的測試點上即可測試信號。目前TEK DPO、Agilent DSO、LeCroy Wave Pro等都有各自的抖動測試軟件，但對擴(kuò)頻時鐘的測量對示波器硬件要求很高，尤其是內(nèi)存，在測試時可根據(jù)需要選擇合適的測試工具。測試步驟1、 測試環(huán)境建立后，引入測試信號（實時采樣）；2、 打開示波器的抖動測試軟件（TEK JIT3、Agilent EZJIT或者相應(yīng)測試應(yīng)用軟件）；3、 設(shè)置足夠的存儲深度，一般調(diào)制時鐘的頻率都相對較低，要分辨調(diào)制波形至少需要測試其兩個周期以上的波形。（推薦存儲深度16M以上，對測試儀器要求很高）4、 選擇抖動測量項為TIE，并使能該項繪圖功能，用來顯示是否還有其他抖動成分存在；5、 選擇抖動的時間趨勢圖測試，實行TIE的時間趨勢測量，并使能該項繪圖功能。根據(jù)測試需要可能需要選擇適當(dāng)?shù)臑V波功能，使某些頻段的抖動趨勢更加明顯。該項測試可考察調(diào)制信號波形是否合格；6、 選擇抖動的頻譜圖測試，實行TIE的頻譜測量，并使能該項繪圖功能。該項測試可考察調(diào)制信號頻率是否合格；7、 一般選擇單次觸發(fā)減少由于示波器觸發(fā)抖動引起的測量誤差；8、 開始測量；預(yù)期結(jié)果1、 數(shù)據(jù)速率為2.5Gb/s+300ppm/-5300ppm（該數(shù)據(jù)速率包含SSC帶來的偏差）：上限頻率為：2.50075 Gb/s = Nominal UI + 300 ppm；下限頻率為：2.48675 Gb/s = Nominal UI 5000 ppm (SSC Budget) 300 ppm；即400.12 397.88ps UI 402.12ps2、 SSC調(diào)制信號頻率為30-33 kHz.；3、 下面給出一個實際測試得到的擴(kuò)頻時鐘的調(diào)制波形供參考測試說明5.3 符合性_PCI-E一致性測試用例名稱符合性_PCI-E一致性測試測試目的PCI-E一致性測試項目包括：發(fā)送端（數(shù)據(jù)單位間隔UI、差分輸出電壓峰峰值、去加重差分輸出電壓比例、發(fā)射眼圖寬度、抖動分布中值與最大值之時間差、輸出上升/下降時間、AC共模輸出電壓峰值、發(fā)送端差分回波損耗、DC差分發(fā)射端阻抗），接收端（數(shù)據(jù)單位間隔UI、差分輸入電壓峰峰值、接收眼圖寬度、抖動分布中值與最大值之時間差、AC共模輸入電壓峰值、接收端差分回波損耗、DC差分接收端阻抗），檢測信號實時波形各項參數(shù)是否滿足要求。測試設(shè)計無測試組網(wǎng)圖測試環(huán)境建立有兩種方式：方式1（推薦）：采用50同軸電纜將信號直接引入示波器同軸電纜的帶寬可達(dá)到10G以上，對信號中的高頻部分的衰減很小，測試結(jié)果最為真實；方式2：示波器的高速探頭用高帶寬探頭差分或2個單端探頭點擊在最靠近接收芯片的測試點上即可測試信號。測試發(fā)送端：測試接收端：測試步驟1、 測試環(huán)境建立后，測試高速差分信號單端和差分的實時波形，在信號的接收端靠近芯片側(cè)選取測試點；2、 選擇所要采集的數(shù)據(jù)量（SDA6000有這項選擇項，建議采集2M樣本）；3、 通過后臺軟件控制發(fā)送端芯片發(fā)送測試碼流或者使設(shè)備進(jìn)入一致性測試模式（PCI-Express規(guī)范為了方便測試，只要輸出端在一定的閑置的時間后得不到接收端的應(yīng)答，芯片便會進(jìn)入一致性測試狀態(tài)，該狀態(tài)下芯片將會重復(fù)輸出連續(xù)的K28.5、D21.5、K28.5、D10.5的序列為一致性測試碼形）；4、 進(jìn)入示波器專用測試軟件，選擇測試發(fā)送端（數(shù)據(jù)單位間隔UI、差分輸出電壓峰峰值、去加重差分輸出電壓比例、發(fā)射眼圖寬度、抖動分布中值與最大值之時間差、輸出上升/下降時間、AC共模輸出電壓峰值、發(fā)送端差分回波損耗、DC差分發(fā)射端阻抗）或接收端（數(shù)據(jù)單位間隔UI、差分輸入電壓峰峰值、接收眼圖寬度、抖動分布中值與最大值之時間差、AC共模輸入電壓峰值、接收端差分回波損耗、DC差分接收端阻抗）；5、 讀取測試所得數(shù)據(jù)；預(yù)期結(jié)果1、 數(shù)據(jù)速率為2.5 Gb/s +/- 300ppm內(nèi)（該數(shù)據(jù)速率不包含SSC帶來的偏差）：上限頻率為：2.50075 Gb/s = Nominal UI + 300 ppm；下限頻率為：2.49925 Gb/s = Nominal UI 300 ppm，即數(shù)據(jù)單位間隔：399.88ps UI 400.12ps；2、 差分輸出電壓峰峰值（差分?jǐn)[幅對稱時）：VDIFFp-p = 2*max|VD+VD-|為0.8V1.2V；3、 差分接收電壓峰峰值（差分?jǐn)[幅對稱時）：VDIFFp-p = 2* max|VD+VD-|為0.175V1.2V；4、 去加重差分輸出電壓比例：-3.0dB-4.0dB；5、 發(fā)送眼圖寬度：最小0.7UI；6、 接收眼圖寬度：最小0.4UI；7、 發(fā)送抖動分布中值與最大值之時間差：最大0.15UI；8、 接收抖動分布中值與最大值之時間差：最大0.3UI；9、 發(fā)送輸出上升/下降時間最小0.125UI，即最小49.985ps；10、 RMS AC共模輸出電壓峰值最大20mV；11、 RMS AC共模輸入電壓峰值最大150mV；12、 發(fā)送端差分回波損耗：最小12dB；13、 接收端差分回波損耗：最小15dB；14、 DC差分發(fā)送阻抗：最小80、典型100、最大120；15、 DC差分接收阻抗：最小80、典型100、最大120；測試說明建議采用實時示波器進(jìn)行測試；測試Rise time和Fall time時，按 20%80進(jìn)行測試。5.4 符合性_PCI-E眼圖測試用例名稱符合性_PCI-E眼圖測試測試目的信號質(zhì)量眼圖測試，該測試驗證發(fā)送端傳送有效PCI Express信號的能力。使用帶有單端有源探頭的高速示波器捕獲波形，示波器軟件將捕獲數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為眼圖模式測試設(shè)計無測試組網(wǎng)圖測試環(huán)境建立有兩種方式：方式1（推薦）：采用50 同軸電纜將信號直接引入示波器同軸電纜的帶寬可達(dá)到10G以上，對信號中的高頻部分的衰減很小，測試結(jié)果最為真實；方式2：示波器的高速探頭用高帶寬探頭差分或2個單端探頭點擊在最靠近接收芯片的測試點上即可測試信號。測試發(fā)送端：測試接收端：測試步驟1、 搭建測試環(huán)境，將DUT發(fā)送端連接測試負(fù)載；2、 啟動眼圖測試，選擇合適的眼圖模板；建議測試遠(yuǎn)端眼圖，在問題定位分析時，可以測試近端眼圖，在信號的接收端靠近芯片側(cè)選取測試點；3、 選擇數(shù)據(jù)采集量（不同示波器由各自采用算法決定，建議采集2M樣本）；4、 通過后臺軟件控制發(fā)送端芯片發(fā)送測試碼流或者使設(shè)備進(jìn)入一致性測試模式（PCI-Express規(guī)范為了方便測試，只要輸出端在一定的閑置的時間后得不到接收端的應(yīng)答，芯片便會進(jìn)入一致性測試狀態(tài)，該狀態(tài)下芯片將會重復(fù)輸出連續(xù)的K28.5、D21.5、K28.5、D10.5的序列為一致性測試碼形）；5、 啟動眼圖測試；6、 比較眼圖是否滿足模板要求；預(yù)期結(jié)果信號眼圖符合模板；近端眼圖（發(fā)送端）眼圖模板的要求：遠(yuǎn)端（接收端）眼圖模板的要求：測試說明近端大小眼圖定義跳變位和非跳變位（即去加重位）的區(qū)別5.5 符合性_PCI-E抖動測試用例名稱符合性_PCI-E抖動測試測試目的檢測信號在接收端抖動指標(biāo)是否滿足接收芯片的要求測試設(shè)計無測試組網(wǎng)圖測試環(huán)境建立有兩種方式：方式1（推薦）：采用50 同軸電纜將信號直接引入示波器同軸電纜的帶寬可達(dá)到10G以上，對信號中的高頻部分的衰減很小，測試結(jié)果最為真實；方式2：示波器的高速探頭用高帶寬探頭差分或2個單端探頭點