數(shù)字電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)一 集成邏輯門電路的測(cè)試.doc_第1頁(yè)
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實(shí)驗(yàn)一:集成邏輯門電路的測(cè)試一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康模? 學(xué)會(huì)檢測(cè)常用集成門電路的好壞的簡(jiǎn)易方法;2 掌握TTL與非門邏輯功能和主要參數(shù)的測(cè)試方法;3 掌握TTL門電路與CMOS門電路的主要區(qū)別。二、實(shí)驗(yàn)儀器與器件:4 元器件:74LS20、74LS00(TTL門電路);4011(CMOS門電路);電阻、電位器若干;5 穩(wěn)壓電源、萬(wàn)用表、數(shù)字邏輯箱。三、實(shí)驗(yàn)原理:6 集成邏輯門電路的管腳排列:(1)74LS20(4輸入端雙與非門): VCC 2A 2B NC 2C 2D 2Y14 13 12 11 10 9 81 2 3 4 5 6 7 1A 1B NC 1C 1D 1Y GND VCC:表示電源正極、GND:表示電源負(fù)極、NC:表示空腳。(2) 74LS00(2輸入端4與非門): VCC 4A 4B 4Y 3A 3B 3Y14 13 12 11 10 9 81 2 3 4 5 6 7 1A 1B 1Y 2A 2B 2Y GND(3) 4011(2輸入端4與非門): 14 13 12 11 10 9 81 2 3 4 5 6 7VCC 4A 4B 4Y 3Y 3B 3A 1A 1B 1Y 2Y 2B 2A GND集成門電路管腳的識(shí)別方法:將集成門電路的文字標(biāo)注正對(duì)著自己,左下角為1,然后逆時(shí)針?lè)较驍?shù)管腳。A) TTL與非門的主要參數(shù)有:導(dǎo)通電源電流ICCL、低電平輸入電流IIL、高電平輸入電流IIH、輸出高電平VOH、輸出低電平VOL、閾值電壓VTH等。注意:不同型號(hào)的集成門電路其測(cè)試條件及規(guī)范值是不同的。B)檢測(cè)集成門電路的好壞的簡(jiǎn)易方法:1)在未加電源時(shí),利用萬(wàn)用表的電阻檔檢查各管腳之間是否有短路現(xiàn)象;2)加電源:利用萬(wàn)用表的電壓檔首先檢查集成電路上是否有電,然后再利用門電路的邏輯功能檢查電路。例如:“與非”門邏輯功能是:“有低出高,全高出低”。對(duì)于TTL與非門:若將全部輸入端懸空測(cè)得輸出電壓為0.1V左右,將任一輸入端接地測(cè)得輸出電壓為3V左右,則說(shuō)明該門是好的。思考:COMS與非門如何測(cè)試。四、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容和步驟:(1) 將74LS20加上+5V電壓,檢查集成門電路的好壞。(2)TTL與非門的主要參數(shù)測(cè)試:導(dǎo)通電源電流ICCL= 。測(cè)試條件:VCC=5V,輸入端懸空,輸出空載,如圖(1)。 圖(1) 圖(2) 低電平輸入電流IIL= 。測(cè)試條件:VCC=5V,被測(cè)輸入端通過(guò)電流表接地,其余輸入端懸空,輸出空載,如圖(2),依次測(cè)量每個(gè)輸入端。高電平輸入電流IIH= 。測(cè)試條件:VCC=5V,被測(cè)輸入端通過(guò)電流表接VCC,其余輸入端接地,輸出空載,如圖(3),每個(gè)輸入端都測(cè)一下。注意:在測(cè)試中萬(wàn)用表應(yīng)串入電路中,檔位選擇應(yīng)由10mA檔逐漸減小。 圖(3) 圖(4) 比較TTL門電路和CMOS門電路的性能:在下列情況下,用萬(wàn)用表電壓檔測(cè)量圖(4)Vi2端得到的電壓填入表(2):表(2):在不同的Vi1下74LS004011Vi1接高電平(3V)Vi1接低電平(0.4V)Vi1經(jīng)100電阻接地Vi1經(jīng)10k電阻接地思考:請(qǐng)回答為何結(jié)果不同? 五、實(shí)驗(yàn)報(bào)告要求:(2) 記錄本次實(shí)驗(yàn)中所得到的各種數(shù)據(jù)。根據(jù)測(cè)試數(shù)據(jù)判斷所測(cè)

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