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文檔簡介

SEM原理及應(yīng)用實(shí)例 主要內(nèi)容 SEM工作原理 掃描電鏡是用于檢驗(yàn)和分析固體微觀結(jié)構(gòu)特的最有用的儀器之一 與透射電鏡的成像方式不同 掃面電鏡是用聚焦電子束在試樣表面逐點(diǎn)掃描成像 由三極電子槍發(fā)射出來的電子束 在加速電壓作用下 經(jīng)過2 3個(gè)電子透鏡聚焦后 在樣品表面按順序逐行進(jìn)行掃描 激發(fā)樣品產(chǎn)生各種物理信號(hào) 如二次電子 背散射電子 吸收電子 X射線 俄歇電子等 這些物理信號(hào)的強(qiáng)度隨樣品表面特征而變 它們分別被相應(yīng)的收集器接受 經(jīng)放大器按順序 成比例地放大后 送到顯像管成像 得到樣品表面特征圖像 SEM示意圖 SEM特點(diǎn) 可以觀察直徑為10 30mm的大塊試樣 制樣簡單場深大 適用于粗糙表面和斷口的分析 試樣有立體感 易于識(shí)別放大倍數(shù)范圍大具有相當(dāng)?shù)姆直媛士梢酝ㄟ^電子學(xué)方法有效的控制和改善圖像質(zhì)量可進(jìn)行多種功能的分析可使用加熱 冷卻和拉伸等樣品臺(tái)進(jìn)行動(dòng)態(tài)試驗(yàn) SEM應(yīng)用實(shí)例1 SEM應(yīng)用實(shí)例1 SEM應(yīng)用實(shí)例1 SEM應(yīng)用實(shí)例1 SEM應(yīng)用實(shí)例1 ThankYou

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