推力測試指引.xls

序 號 日 期 最小拉力數(shù) 附件三 東 莞 新 進 電 子 有 限 公 司 文件名稱文 號SDE IN Q0062管制印章 幫線拉力測試指引 版 本1 日 期28 Apr 2004 統(tǒng)計 者 審核 者 L C L 7 0 U C L 15 0 C L 11 0 15 13 11 9 0 7 0 5 0 3 0 X控制圖 g 12 10 8 6 4 2 R控制圖 g 3231 3029282725 26232221 2419 17182016151413111281097465213 L C L 0U C L 10 0 型號 班次 幫線拉力測試控制圖 X R SMT東莞新進電子有限公司 機器編號 第 6 共 6 頁 幫線拉力測試指引 SDE FM Q042 REV 1 管制印章 序 號 日 期 最小推力數(shù) 附件三 東 莞 新 勁 電 子 有 限 公 司 文件名稱文 號SDE IN Q0062管制印章 晶片推力測試指引 版 本1 日 期28 Apr 2004 統(tǒng)計 者 審核 者 L C L 5 0 U C L 9 0C L X 7 0 10 9 0 8 0 7 0 6 0 5 0 4 0 X控制圖 kg 6 5 4 3 2 1 R控制圖 kg 323130 29282725 2623222124191718201615 14131112 8 10974652 1 3 L C L 0U C L 4 0 0 型號 班 次 晶片推力測試控制圖 X R SMT東莞新進電子有限公司 第 6 共 6 頁 晶片推力測試指引 SDE FM Q0043 REV 1 管制印章 這是東莞新勁電子有限公司之管制文件 只有得到品質(zhì)規(guī)劃部 經(jīng)理特別授權(quán) 此份文件才可以非管制文件形式復印使用或交 予第三者或用于其它目的 修 訂 履 歷 修訂號修訂內(nèi)容摘要發(fā)行日期 0 首次發(fā)行 9 DEC 2002 1內(nèi)容修改 28 Apr 2004 起草者 劉 彬日期 28 Apr 2004 核對者 肖德興日期 Apr 2004 批準者 肖德興日期 Apr 2004 東 莞 新 勁 電 子 有 限 公 司 文件名稱文 號SDE IN Q0062管制印章 晶片推力測試指引 版 本1 日 期 28 Apr 2004 第 1 共 6 頁 晶片推力測試指引 東 莞 新 勁 電 子 有 限 公 司 管制印章 SMT 東莞新進電子有限公司 晶片推力測試表 MODEL 日期 NO U1U2檢驗結(jié)果 OK NG 批號 推力標準 5kg 接著面積 75 推力標準 5kg 接著面 積 75 處理方法 1 2 白班 11 12 133 夜班 22 22 23 統(tǒng)計 X 平均數(shù) 統(tǒng)計 X 平均數(shù) 檢驗次數(shù) 1 2 R 極差數(shù)R 極差數(shù)檢驗者 推力總數(shù)推力總數(shù)核對者 日期 NO U1U2檢驗結(jié)果 OK NG 批號 推力標準 5kg 接著面積 75 推力標準 5kg 接著面積 75 處理方法 1 2 白班 11 12 133 夜班 22 22 23 統(tǒng)計 X 平均數(shù) 統(tǒng)計 X 平均數(shù) 檢驗次數(shù) 1 2 R 極差數(shù)R 極差數(shù)檢驗者 推力總數(shù)推力總數(shù)核對者 日期 NO U1U2檢驗結(jié)果 OK NG 批號 推力標準 5kg 接著面積 75 推力標準 5kg 接觸著積 75 處理方法 1 2 白班 11 12 133 夜班 22 22 23 統(tǒng)計 X 平均數(shù) 統(tǒng)計 X 平均數(shù) 檢驗次數(shù) 1 2 R 極差數(shù)R 極差數(shù)檢驗者 推力總數(shù)推力總數(shù)核對者 日期 NO U1U2檢驗結(jié)果 OK NG 批號 推力標準 5kg 接著面積 75 推力標準 5kg 接著面積 75 處理方法 1 2 白班 11 12 133 夜班 22 22 23 統(tǒng)計 X 平均數(shù) 統(tǒng)計 X 平均數(shù) 檢驗次數(shù) 1 2 R 極差數(shù)R 極差數(shù)檢驗者 推力總數(shù)推力總數(shù)核對者 備注 1 每班次抽3PCS出來作推力測試 若有1PCS不合格 必須再作測試 若兩次 不合格 則整批交予品質(zhì)經(jīng)理處理 2 總數(shù)由測量的3臺推力數(shù)相加後得出 3 X 平均數(shù)由總數(shù)除以3得出 4 R 極差數(shù)由最大拉力數(shù)減去最小拉力數(shù)得出 SDE FM Q002 REV 0 晶片推力測試表 附件二 東 莞 新 勁 電 子 有 限 公 司 文件名稱文 號SDE IN Q0062管制印章 晶片推力測試指引 版 本1 日 期28 Apr 2004 第 5 共 6 頁 晶片推力測試表 附件二 東 莞 新 勁 電 子 有 限 公 司 管制印章 晶片推力測試指引 一一 目目的的 檢查晶片粘力是否附合要求 以便對生產(chǎn)過程進行控制 二二 適適用用范范圍圍 適用于所有幫定的型號 三三 職職責責 3 1 品質(zhì)部 3 1 1 IPQC對粘膠且烘干后之產(chǎn)品進行抽檢 當出現(xiàn)不良時 必須通知PE進 行改善 並重新抽檢改善后之推力 直至合格為止 3 1 2 IPQC需將抽檢結(jié)果記錄于 晶片推力測試表 及將晶片推力平均值X和極差R繪 于 晶片推力控制圖 中 並需對X R數(shù)據(jù)進行監(jiān)察 3 1 3 品質(zhì)主管需對抽檢結(jié)果進行確認並對X R的大小及走向進行監(jiān)控 3 1 4 品質(zhì)經(jīng)理視不良情形對不良批進行處理 3 2 PE 3 2 1 當IPQC測得晶片推力不符合標準時 PE必須即時分析原因並采取相應(yīng)措施 3 2 2 PE須根據(jù)晶片推力測試結(jié)果對點膠機進行日常維護和調(diào)整 3 3 生產(chǎn)部 生產(chǎn)部必須配合品質(zhì)部及PE進行工作 四四 測測試試工工具具 4 1 推力計 量程為0 10kg 4 2 晶片推力測試工裝 五五 測測試試頻頻率率 5 1 測試時間 粘膠且烘干首批產(chǎn)品后 5 2 測試頻率 每班次各抽3PCS進行晶片推力測試 東 莞 新 勁 電 子 有 限 公 司 文件名稱文 號SDE IN Q0062管制印章 晶片推力測試指引 版 本1 日 期 28 Apr 2004 第 2 共 6 頁 六六 測測試試步步驟驟及及要要求求 6 1 將粘膠烘干后之PCB放于晶片推力測試工裝上 如圖一所示 6 2 確認推力計的校正日期是否在有效期內(nèi) 如超過有效期限需 送校合格後方可使用 6 3 將推力計放于晶片測試工裝上 並讓測試頭垂直對準晶片 如圖一所示 6 4 確認推力計的指針指到0位置 如沒指到0位置必須調(diào)至0位置 6 5 如圖一所示的方向推動推力計 當指針指到大于或等于5KG時 如晶 片沒從PCB上脫落 即時停止推動推力計並將此時的測試數(shù)據(jù)記錄于 晶片推力測試記錄 上 當推動過程中晶片從PCB上脫落 需即時 將此時的測試數(shù)據(jù)記錄下來 如測試數(shù)據(jù)小于5KG 需即時通知PE跟進 同時IPQC再抽3PCS作測試 若兩次不合格 則整批交給品質(zhì)經(jīng)理處理 七七 附附表表 7 1 附件一 7 2 附件二 7 3 附件三 東 莞 新 勁 電 子 有 限 公 司 文件名稱文 號SDE IN Q0062管制印章 晶片推力測試指引 版 本1 晶片推力測試指引 日 期 28 Apr 2004 第 3 共 6 頁 晶片推力測試示意圖 附件一 東 莞 新 勁 電 子 有 限 公 司 文件名稱文 號SDE IN Q0062管制印章 向此方向推動推力計 測試頭垂直對準晶片 晶片推力測試指引 晶片推力測試指引 版 本1 日 期 28 Apr 2004 第 4 共 6 頁 晶片推力測試指引 3 1 2