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文檔簡介
1、第6章電子與物質(zhì)的交互作用,6.1、散射,當(dāng)一束聚焦電子沿一定方向射到固體上時,在固體原子的庫侖電場作用下,入射電子方向?qū)l(fā)生改變,這種現(xiàn)象稱為(電子)散射。 有散射彈性和非彈性散射之分。 原子中的原子核和核外電子對入射電子均有散射作用。,圖3-1 電子散射示意圖 (a)與原子核作用;(b)與核外電子作用,1、彈性散射 (El=0): 入射電子在原子的庫侖場作用下改變方向而無能量變化,產(chǎn)生衍射和成像。 與核外電子云作用的散射角0.2,可形成BRAGG衍射。 TEM:structure,morphology, composition,Figure 6.1Bright-field image of
2、 the as-cast Al sample. 圖6.1原始鑄鋁材顯微結(jié)構(gòu)的明場像。,圖4-9原始鑄鋁材顯微結(jié)構(gòu)的明場像,2、非彈散射作用(E0) 入射(primarye)電子不僅改變方向,而且與物質(zhì)交換能量,產(chǎn)生熱、光、X射線及二次電子發(fā)射等等,主要用于分析樣品的成分及電子結(jié)構(gòu)。,6.2 電子與物質(zhì)的相互作用產(chǎn)生的電子信息,1:電子的能量范圍在幾個eV數(shù)百eV; 2:可用來成像,甚至可獲得原子像; 3:可得到X射線光譜,作元素和結(jié)構(gòu)分析; 4:可產(chǎn)生俄歇電子,作表面分析; 5:發(fā)生電子衍射,用于研究樣品結(jié)構(gòu)分析; 6:從電子的能量變化可得電子能量損失譜,用于測量原子簇結(jié)構(gòu)。 7:被轟擊的分子
3、電離,獲得質(zhì)譜,作分子結(jié)構(gòu)推定。,一、 電子與物質(zhì)相互作用:,透射電鏡,掃描電鏡,1.透射電子-TEM 2.二次電子-SEM 3.背散射電子-SEM 4.特征X射線-EDS、WDS 5.俄歇電子-AES,X射線衍射儀 電子探針儀 掃描電鏡 X 射 線 二次電子 韌致輻射 入射電子 背散射電子 陰極熒光 吸收電子 俄歇電子 試 樣 透射電子 衍射電子 俄歇電鏡 透射電子顯微鏡 電子衍射儀 圖13 電子與物質(zhì)相互作用產(chǎn)生的信息及相應(yīng)儀器,形成的結(jié)構(gòu)分析儀器:,透射電子顯微鏡, 掃描電子顯微鏡, 低能電子衍射儀, 電子探針, 質(zhì)譜儀等。,1、二次電子:X射線與物質(zhì)相互作用產(chǎn)生的各種帶能粒子在原子中穿
4、行時,與其它電子相碰而激發(fā)的電子。 二次電子的特點: 1.對樣品表面形貌敏感; 2.空間分辨率高; 3.信號收集效率高; 4.是掃描電鏡成像的主要手段。,(a) 加偏壓前 (b) 加偏壓后 圖4.62 加偏壓前后的二次電子收集情況,圖 入射電子產(chǎn)生的各種信息的深度和廣度范圍 (a) 電子束散射區(qū)域形狀(梨形作用體積) (b)重元素樣品的電子束散射區(qū)域形狀(半球形作用體積) 1-入射電子束;2-俄歇電子激發(fā)體積;3-樣品表面;4-二次電子激發(fā)體積;5-背散射電子激發(fā)體積;6-初級X射線激發(fā)體積,2.背散射電子,1.對樣品的原子序數(shù)敏感; 2.分辨率及信號收集率低; 3.對原子序數(shù)差異較大的材料的相分析。,3.俄歇電子,1.輕元素及超輕元素的分析; 2.適于材料表面或薄膜分析;,K激發(fā)態(tài),發(fā)射K光子 (重元素) 平均自由程mm,發(fā)射俄歇電子(輕元素) 平均自由程,表面幾層原子,圖3-5 電子與固體作用產(chǎn)生的發(fā)射電子譜(示意圖),4.電子激發(fā)產(chǎn)生的其
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