cpk制程能力分析課件

1、制程能力分析,目 錄,定義及術語 二. 計數(shù)值分析 三. 計量值分析 四. 制程能力指數(shù),制程能力分析定義 針對一個過程, 在滿足顧客的期望(CTQ)上, 表現(xiàn)得有多好的一種研究,我們必須了解過程經過變異後, 是否還能滿足顧客 要求.進行制程能力分析使我們了解制程當前的績效基 線, 以作為評估制程改善的參考點,定 義 與 術 語,過程績效衡量指標: 在6領域中,過程績效是以通用的衡量指標 -來體現(xiàn)的,可用於計數(shù)數(shù)據及計量數(shù)據之計算 任何過程的績效可與其它過程的績效相比較 能代表以短期或長期數(shù)據樣本為基礎的過程績效,定 義 與 術 語,短期(照相機): 資料在有限的周期或區(qū)間收集 資料在有限的機

2、器或作業(yè)員中收集 大多數(shù)為連續(xù)型變數(shù) 長期(攝像機): 資料在很多有周期,區(qū)間,機器,作業(yè)員中收集 可以是不連續(xù)或連續(xù)資料 離散型資料幾乎都是長期性的,定 義 與 術 語,Lot 1,Lot 2,gm/bulb,Lot 3,Lot 4,Lot 5,長期數(shù)據 Long Term Study,短期數(shù)據 Short Term Studies,長期與短期 Long Term vs Short Term,定 義 與 術 語,制程能力隨 時間延續(xù)而 產生變化 稱為偏移 /漂移現(xiàn)象,偏移是制程的突然變化. 漂移是制程隨時間緩慢發(fā)生的變化,定 義 與 術 語,1.5漂移,定 義 與 術 語,制程能力分析- 計

3、數(shù)值數(shù)據,單位(N-Unit) 缺點(D-Defect) 機會(O-Opportunity) 每百萬個機會的缺點數(shù)(DPMO,計 數(shù) 值 分 析,單位,計算單位產品缺陷數(shù)(DPU,計算每百萬機會的缺陷數(shù)(DPMO,單位,出錯機會: 一單位中可能發(fā)生的錯誤總數(shù) 如:文員key人事資料, 對於andy 139XXX XXXXX, 出錯機會為2 而印刷廠的出錯機會為15,問:DPMO相對於DPU有何優(yōu)點,制程能力分析- 計數(shù)值數(shù)據,計 數(shù) 值 分 析,財務部門結算工資單,經常會有不準確 的現(xiàn)象發(fā)生,七月份總共發(fā)現(xiàn)有25個不準 確的現(xiàn)象,每張工資單可能出錯的機會為 5個,該公司有1200人,求DPU,

4、DPMO,思考題,計 數(shù) 值 分 析,財務部門結算工資單,經常會有不準確 的現(xiàn)象發(fā)生,七月份總共發(fā)現(xiàn)有25個不準 確的現(xiàn)象,每張工資單可能出錯的機會為 5個,該公司有1200人,求DPU,DPMO. DPU=25/1200=0.0208 DPMO=0.0208X1000000/5=4160,思考題,計 數(shù) 值 分 析,Z值換算表,計 數(shù) 值 分 析,思考題:以Z值換算表將DPMO轉換成值,思考題 : 計算Z值 根據訂購零件數(shù)量收集的短期數(shù)據資料 訂購零件數(shù)量(N) 800 機會(O) 2 零件錯誤/標示錯誤 缺點數(shù)(D) 63 線上發(fā)現(xiàn)缺點數(shù) 17 顧客發(fā)現(xiàn)缺點數(shù) 46,計 數(shù) 值 分 析,根

5、據訂購零件數(shù)量收集的短期數(shù)據資料 訂購零件數(shù)量(N) 800 機會(O) 2 零件錯誤/標示錯誤 缺點數(shù)(D) 63 線上發(fā)現(xiàn)缺點數(shù) 17 顧客發(fā)現(xiàn)缺點數(shù) 46,DPMO=(D/N*O)*1000000 =(63/800*2)*1000000 =39375 查Z值換算表: Z=1.76,計 數(shù) 值 分 析,制程能力分析- 計量值數(shù)據 基本術語及定義: 目標值(Target) 每一種可量測的特性, 都會有一個想要的績效水準,就是通常所說的目標值.專案過程中的目標值應與顧客的CTQ保持一致. 例如: 體溫- 36.8 上班時間- AM8:00,計 量 值 分 析,規(guī)格界限(上限/下限)(Speci

6、fication Limits) 很多過程活動與過程結果有一個規(guī)格范圍,對滿 足CTQ來說仍是符合要求的.規(guī)格界限提供允許 超出或低於績效目標值的界限. 例如: LSL 目標值 USL 體溫 36.5 36.8 37.3 上班時間 AM6:30 AM8:00 AM8:02,計 量 值 分 析,數(shù)據分布(Distribution of Data) 量測所得之數(shù)據於目標值, 規(guī)格上/下限之間 的分布狀況 例如: 上班時間(量測上班人數(shù),計 量 值 分 析,常態(tài)分配(Normal Distribution) 數(shù)據分配特性是一條平滑的鐘形曲線,計 量 值 分 析,平均數(shù)(Mean): 一組數(shù)據的平均值

7、, 通常以“X”表示. 例如: 體溫 36.7 36.9 37.3 37.1 37.2 36.8 37.0 平均值=37.0,計 量 值 分 析,離差(Deviation): 指某個特定量測值與所有量測值平均數(shù)之間的距離,並非所有的量測結果與目標值都是一致的, 此現(xiàn)象稱為變異 並非所有的變異都是不符合要求的, 某個變異雖然偏離目標, 但仍 是符合規(guī)格要求的,計 量 值 分 析,標準差(Standard Deviation): 指整個數(shù)據組的整體離差,計 量 值 分 析,缺點率: 根據目標值,規(guī)格上/下限繪制某一過程量測結果 的分布曲線時,一些量測結果會超出規(guī)格界限.位 於曲線以下但超出規(guī)格上/

8、下限范圍的數(shù)據所佔 的比例或百分比,計 量 值 分 析,合格率/良率(Yield): 生產一個合格產品成功的機率.位於曲線以下且在 規(guī)格上/下限范圍以內的數(shù)據所佔的比例或百分比. 過程的目標就是使量測結果落在曲線以下且在規(guī) 格界限內的百比分最大,計 量 值 分 析,USL=160,X-Bar,100,Z,USL,160-100,20,3.0,From Z table, for Z=3.0 , P(defect)= 0.00135,Sigma水準-Z 僅有單側上規(guī)范限,制 程 能 力 指 數(shù),USL=160,X-Bar,110,P(defect)= 0.0061+ 0.000233=0.0064

9、4,雙側規(guī)范限,LSL=40,From Z table, for P(defect)= 0.00644, Z=2.487,ZUSL,USL,160-110,20,2.5,P(d)us=0.00621,LSL,ZLSL,40-110,20,3.5,P(d)ls=0.000233,制 程 能 力 指 數(shù),CpPP CPKPPK,過程應達的潛能,實際過程表現(xiàn),短期能力,長期表現(xiàn),過程能力和表現(xiàn),計 量 值 分 析,CP,變量型數(shù)據指數(shù) Indicators with Variables Data,計 量 值 分 析,過程可能或實際接近規(guī)格界限的程度,分布可能或實際有多窄,CpPp CpkPpk,變量

10、型數(shù)據指數(shù) Indicators with Variables Data,計 量 值 分 析,短期過程分布 Short Term Process Spread,公差寬度 Tolerance Width,C,p,ST,p,LSL,USL,C,s,6,能力指數(shù) - Cp,Lower Specification,Cp 1,Cp = 2.0,Upper Specification,Improvement,Cp = 1,Cp = 1.5,Limit,Limit,計 量 值 分 析,Ca,實績中心值-規(guī)格中心值,規(guī)格容許差,u -M,T/2,P,p,LT,p,LSL,USL,P,s,6,能力指數(shù) - Pp

11、,Pp 1,Improvement,Pp = 1,Pp = 1.5,Lower Specification,Upper Specification,Limit,Limit,長期過程分布 Long Term Process Spread,公差寬度 Tolerance Width,計 量 值 分 析,Potentialcapability,Lower specification,Upper specification,Cp = 2.0Cpk = 2.0 Cp = 2.0Cpk = 1 Cp = 2.0Cpk 1 Cp = 2.0Cpk = 0 Cp = 2.0Cpk 0 Cp = 2.0Cpk -

12、1,Increase in the number of rejects,Realcapability,能力指數(shù) - Cpk,計 量 值 分 析,Cpk= (1-Ca)*Cp,Potentialcapability,Lower specification,Upper specification,Pp = 1.5Ppk = 1.5 Pp = 1.5Ppk = 1 Pp = 1.5 Ppk 1 Pp = 1.5 Ppk = 0 Pp = 1.5 Ppk 0 Pp = 1.5 Ppk -1,Increase in the number of rejects,Realcapability,能力指數(shù) -

13、Ppk,計 量 值 分 析,過程能力指數(shù)解釋 INTERPRETING PROCESS CAPABILITY INDICATORS,CP,CPK,1.601.60 低波動，居中的 LOW VARIABILITIY, CENTERED 1.600.40 低波動，不居中 LOW VARIABILITY, NOT CENTERED 0.400.40 高波動，居中的 HIGH VARIABILITY, CENTERED 0.400.15 高波動，不居中 HIGH VARIABILITY, NOT CENTERED,解釋 Interpretation,在6 ，我們首先解決中位問題，接著解決波動問題 In 6, we attack centering problems first, then special causes of variation,計 量 值 分 析,因此 . . . 什么是“好”或“不怎么好？”So . . .